Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Energy Threshold
Results
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Bernstein, A.; Blackburn, B.W.; Hynes, M.V.; Lanza, R.C.; Erickson, A.S.; Dazeley, S.;
By: Bernstein, A.; Blackburn, B.W.; Hynes, M.V.; Lanza, R.C.; Erickson, A.S.; Dazeley, S.;
1988 / IEEE
By: Mettout, B.; Espigat, P.; Bruere-Dawson, R.; Broskiewicz, D.; Perrin, N.; Waysand, G.; de Bellefon, A.; Yuan, L.C.L.; Limagne, D.;
By: Mettout, B.; Espigat, P.; Bruere-Dawson, R.; Broskiewicz, D.; Perrin, N.; Waysand, G.; de Bellefon, A.; Yuan, L.C.L.; Limagne, D.;
1991 / IEEE / 0-7803-0003-3
By: O'Shaughnessy, D.; Seitz, F.; Kenny, P.; Mermelstein, P.; Lennig, M.; Gupta, V.N.;
By: O'Shaughnessy, D.; Seitz, F.; Kenny, P.; Mermelstein, P.; Lennig, M.; Gupta, V.N.;
1993 / IEEE
By: Corba, M.; Traci, A.; Rossi, E.; Spizzichino, A.; Schiavone, F.; Quadrini, M.E.; Labanti, C.; Gomm, A.J.M.; Carter, T.; Bird, A.J.;
By: Corba, M.; Traci, A.; Rossi, E.; Spizzichino, A.; Schiavone, F.; Quadrini, M.E.; Labanti, C.; Gomm, A.J.M.; Carter, T.; Bird, A.J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Uchida, H.; Watanabe, M.; Tanaka, E.; Yamashita, T.; Shimizu, K.; Ohmura, T.; Yoshikawa, E.; Satoh, N.; Okada, H.;
By: Uchida, H.; Watanabe, M.; Tanaka, E.; Yamashita, T.; Shimizu, K.; Ohmura, T.; Yoshikawa, E.; Satoh, N.; Okada, H.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Geissbuhler, A.; Nutt, R.; Byars, L.; Wensveen, M.; Townsend, D.; Tochon-Danguy, H.; Grootoonk, S.; Kuijk, S.; Defrise, M.; Christin, A.;
By: Geissbuhler, A.; Nutt, R.; Byars, L.; Wensveen, M.; Townsend, D.; Tochon-Danguy, H.; Grootoonk, S.; Kuijk, S.; Defrise, M.; Christin, A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Corba, M.; Traci, A.; Spizzichino, A.; Schiavone, F.; Rossi, E.; Quadrini, M.E.; Gomm, A.J.M.; Labanti, C.; Carter, T.; Bird, A.J.;
By: Corba, M.; Traci, A.; Spizzichino, A.; Schiavone, F.; Rossi, E.; Quadrini, M.E.; Gomm, A.J.M.; Labanti, C.; Carter, T.; Bird, A.J.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Tzanakos, C.; Pagoulatos, N.; Monoyiou, E.; Kechribaris, C.; Alexandratou, E.; Economou, Y.;
By: Tzanakos, C.; Pagoulatos, N.; Monoyiou, E.; Kechribaris, C.; Alexandratou, E.; Economou, Y.;
1996 / IEEE
By: Ludziejewski, T.; Moszynski, M.; Kapusta, M.; Szawlowski, M.; Klamra, W.; Wolski, D.;
By: Ludziejewski, T.; Moszynski, M.; Kapusta, M.; Szawlowski, M.; Klamra, W.; Wolski, D.;
YAP-PET: first results of a small animal positron emission tomograph based on YAP:Ce finger crystals
1998 / IEEEBy: Di Domenico, G.; Del Guerra, A.; Zavattini, G.; Scandola, M.;
1999 / IEEE
By: Fernandez, E.; Dosil, M.; Cavalli-Sforza, M.; Bosman, M.; Blanchot, G.; Blanch, O.; Llopart, X.; Petry, D.; Ostankov, A.; Pimpl, W.; Mirzoyan, R.; Martinez, M.; Lorenz, E.;
By: Fernandez, E.; Dosil, M.; Cavalli-Sforza, M.; Bosman, M.; Blanchot, G.; Blanch, O.; Llopart, X.; Petry, D.; Ostankov, A.; Pimpl, W.; Mirzoyan, R.; Martinez, M.; Lorenz, E.;
Investigation of accelerated Monte Carlo techniques for PET simulation and 3D PET scatter correction
2001 / IEEEBy: Farquhar, T.H.; Levin, C.S.; Holdsworth, C.H.; Hoffman, E.J.; Dahlbom, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Newcomer, F.M.; Saffer, J.R.; Liu, F.; Kononenko, W.; Lockyer, N.S.; Karp, J.S.;
By: Newcomer, F.M.; Saffer, J.R.; Liu, F.; Kononenko, W.; Lockyer, N.S.; Karp, J.S.;
2004 / IEEE
By: Aloisio, A.; Parascandolo, P.; Mastroianni, S.; Marsella, G.; Branchini, P.; Creti, P.; Cavaliere, S.; Catalanotti, S.;
By: Aloisio, A.; Parascandolo, P.; Mastroianni, S.; Marsella, G.; Branchini, P.; Creti, P.; Cavaliere, S.; Catalanotti, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Branchini, P.; Aloisio, A.; Parascandolo, P.; Mastroianni, S.; Creti, P.; Cavaliere, S.; Catalanotti, S.;
By: Branchini, P.; Aloisio, A.; Parascandolo, P.; Mastroianni, S.; Creti, P.; Cavaliere, S.; Catalanotti, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Mayers, G.M.; Saffer, J.R.; Liu, F.; Lockyer, N.S.; Karp, J.S.; Newcomer, F.M.; Kononenko, W.;
By: Mayers, G.M.; Saffer, J.R.; Liu, F.; Lockyer, N.S.; Karp, J.S.; Newcomer, F.M.; Kononenko, W.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Pereira, A.; Lopes, M.I.; Chepel, V.; Neves, F.; Solovov, V.; Meleiro, R.; Fonseca, A.C.;
By: Pereira, A.; Lopes, M.I.; Chepel, V.; Neves, F.; Solovov, V.; Meleiro, R.; Fonseca, A.C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: McElroy, D.P.; Ziegler, S.I.; Spanoudaki, V.; Huisman, M.; Rafecas, M.;
By: McElroy, D.P.; Ziegler, S.I.; Spanoudaki, V.; Huisman, M.; Rafecas, M.;
2007 / IEEE
By: Rosso, V.; Retico, A.; Quattrocchi, M.; Novelli, M.; Stefanini, A.; Delogu, P.; Carpentieri, C.; Fantacci, M.E.; Bisogni, M.G.;
By: Rosso, V.; Retico, A.; Quattrocchi, M.; Novelli, M.; Stefanini, A.; Delogu, P.; Carpentieri, C.; Fantacci, M.E.; Bisogni, M.G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Fontaine, R.; Lecomte, R.; Brunet, C.-A.; Rechka, S.; Michaud, J.-B.;
By: Fontaine, R.; Lecomte, R.; Brunet, C.-A.; Rechka, S.; Michaud, J.-B.;