Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Dosimetry
Results
2011 / IEEE
By: Jackson, E.M.; Messenger, S.R.; Reed, B.; Kippen, R.M.; Warner, J.H.; Friedel, R.W.; Yue Chen; Cayton, T.E.; Walters, R.J.;
By: Jackson, E.M.; Messenger, S.R.; Reed, B.; Kippen, R.M.; Warner, J.H.; Friedel, R.W.; Yue Chen; Cayton, T.E.; Walters, R.J.;
2011 / IEEE
By: Garcia Inza, M.A.; Carbonetto, S.H.; Faigon, A.; Salomone, L.S.; Redin, E.G.; Lipovetzky, J.;
By: Garcia Inza, M.A.; Carbonetto, S.H.; Faigon, A.; Salomone, L.S.; Redin, E.G.; Lipovetzky, J.;
2012 / IEEE
By: Liberti, M.; Apollonio, F.; d'Inzeo, G.; Casciola, M.; Paffi, A.; Denzi, A.; Merla, C.;
By: Liberti, M.; Apollonio, F.; d'Inzeo, G.; Casciola, M.; Paffi, A.; Denzi, A.; Merla, C.;
2011 / IEEE
By: Lovisolo, G.A.; Liberti, M.; Pinto, R.; D'Attis, A.; Paffi, A.; Merla, C.; Apollonio, F.;
By: Lovisolo, G.A.; Liberti, M.; Pinto, R.; D'Attis, A.; Paffi, A.; Merla, C.; Apollonio, F.;
2012 / IEEE
By: Reinhard, M.I.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Prokopovich, D.A.; Livingstone, J.; Rosenfeld, A.B.; Yasuda, H.; Dicello, J.F.; Perevertaylo, V.L.; Pisacane, V.L.; Ziegler, J.F.; Zaider, M.;
By: Reinhard, M.I.; Petasecca, M.; Lerch, M.L.F.; Prokopovich, D.A.; Livingstone, J.; Rosenfeld, A.B.; Yasuda, H.; Dicello, J.F.; Perevertaylo, V.L.; Pisacane, V.L.; Ziegler, J.F.; Zaider, M.;
2012 / IEEE
By: Wang, K.L.W.; Fleetwood, D.M.; En Xia Zhang; Cher Xuan Zhang; Alles, M.L.; Galatsis, K.; Sung Min Kim; Song, E.B.; Schrimpf, R.D.;
By: Wang, K.L.W.; Fleetwood, D.M.; En Xia Zhang; Cher Xuan Zhang; Alles, M.L.; Galatsis, K.; Sung Min Kim; Song, E.B.; Schrimpf, R.D.;
2012 / IEEE
By: Pillon, M.; Milani, E.; Marinelli, M.; Magrin, G.; Prestopino, G.; Rollet, S.; Verona-Rinati, G.; Angelone, M.; Verona, C.;
By: Pillon, M.; Milani, E.; Marinelli, M.; Magrin, G.; Prestopino, G.; Rollet, S.; Verona-Rinati, G.; Angelone, M.; Verona, C.;
2012 / IEEE
By: Fleetwood, D.M.; Schrimpf, R.D.; Law, M.E.; Rowsey, N.L.; Pantelides, S.T.; Tuttle, B.R.;
By: Fleetwood, D.M.; Schrimpf, R.D.; Law, M.E.; Rowsey, N.L.; Pantelides, S.T.; Tuttle, B.R.;
2012 / IEEE
By: Goiffon, V.; Estribeau, M.; Marcelot, O.; Cervantes, P.; Magnan, P.; Gaillardin, M.; Marcandella, C.; Martin-Gonthier, P.; Molina, R.; Corbiere, F.; Girard, S.; Paillet, P.; Virmontois, C.;
By: Goiffon, V.; Estribeau, M.; Marcelot, O.; Cervantes, P.; Magnan, P.; Gaillardin, M.; Marcandella, C.; Martin-Gonthier, P.; Molina, R.; Corbiere, F.; Girard, S.; Paillet, P.; Virmontois, C.;
2012 / IEEE
By: McMorrow, J.J.; Friedman, A.L.; Robinson, J.T.; Esqueda, I.S.; Champlain, J.G.; Cress, C.D.;
By: McMorrow, J.J.; Friedman, A.L.; Robinson, J.T.; Esqueda, I.S.; Champlain, J.G.; Cress, C.D.;
2012 / IEEE
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
2012 / IEEE
By: Schwank, J.; Gerardin, S.; Gouker, P.; Girard, S.; Pease, R.; Brown, D.; Marshall, P.;
By: Schwank, J.; Gerardin, S.; Gouker, P.; Girard, S.; Pease, R.; Brown, D.; Marshall, P.;
2012 / IEEE
By: Salcudean, S.E.; Fichtinger, G.; Morris, W.J.; Dehghan, E.; Chng, N.; Moradi, M.; Lobo, J.R.;
By: Salcudean, S.E.; Fichtinger, G.; Morris, W.J.; Dehghan, E.; Chng, N.; Moradi, M.; Lobo, J.R.;
2012 / IEEE
By: Musy, F.; Leveque, P.; Lanteri, S.; Drissaoui, M.A.; Voyer, D.; Perrussel, R.; Nicolas, L.;
By: Musy, F.; Leveque, P.; Lanteri, S.; Drissaoui, M.A.; Voyer, D.; Perrussel, R.; Nicolas, L.;
2012 / IEEE
By: Di Matteo, F.M.; Caponero, M.A.; Schena, E.; Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Pandolfi, M.; Martino, M.;
By: Di Matteo, F.M.; Caponero, M.A.; Schena, E.; Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Pandolfi, M.; Martino, M.;
The Effect of Diode Response of Electromagnetic Field Probes for the Measurements of Complex Signals
2012 / IEEEBy: Douglas, M.; Fehr, M.; Kuhn, S.; Nadakuduti, J.; Kuster, N.; Pokovic, K.;
2012 / IEEE
By: Duvillaret, L.; Ticaud, N.; Jarrige, P.; Kohler, S.; Gaborit, G.; Leveque, P.; Arnaud-Cormos, D.; O'Connor, R.P.;
By: Duvillaret, L.; Ticaud, N.; Jarrige, P.; Kohler, S.; Gaborit, G.; Leveque, P.; Arnaud-Cormos, D.; O'Connor, R.P.;
2012 / IEEE
By: Chavannes, N.; Gabriel, S.; Derat, B.; Ofli, E.; Douglas, M.; Chung-Huan Li; Kuster, N.;
By: Chavannes, N.; Gabriel, S.; Derat, B.; Ofli, E.; Douglas, M.; Chung-Huan Li; Kuster, N.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Grunin, A.V.; Gerasimov, A.I.; Grishin, A.V.; Gordeev, V.S.; Basmanov, V.F.; Zavyalov, N.V.; Punin, V.T.; Zverev, O.V.; Model, B.I.; Musin, I.Z.; Lazarev, S.A.; Tikhonov, A.I.; Gritsina, V.P.; Gornostay-Pol'sky, S.A.;
By: Grunin, A.V.; Gerasimov, A.I.; Grishin, A.V.; Gordeev, V.S.; Basmanov, V.F.; Zavyalov, N.V.; Punin, V.T.; Zverev, O.V.; Model, B.I.; Musin, I.Z.; Lazarev, S.A.; Tikhonov, A.I.; Gritsina, V.P.; Gornostay-Pol'sky, S.A.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Vana, N.; Rollet, S.; Latocha, M.; Reitz, G.; Zechner, A.; Hajek, M.; Berger, T.; Beck, P.;
By: Vana, N.; Rollet, S.; Latocha, M.; Reitz, G.; Zechner, A.; Hajek, M.; Berger, T.; Beck, P.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-764-1
By: Padmapriya, B.; Rajeshwari, T.K.; Natarajan, P.; Subhashini, N.;
By: Padmapriya, B.; Rajeshwari, T.K.; Natarajan, P.; Subhashini, N.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-726-9
By: Saijun Fan; Jiahua Yu; Haiyan Liu; Fenju Liu; Jinping Yu; Zhiqiang Sun; Xueqin Yang;
By: Saijun Fan; Jiahua Yu; Haiyan Liu; Fenju Liu; Jinping Yu; Zhiqiang Sun; Xueqin Yang;
2011 / IEEE / 978-1-61284-726-9
By: Ming Li; Honggang Qian; Lijun Wang; Guolong Sun; Haiyu Zhang; Yuxing Shan;
By: Ming Li; Honggang Qian; Lijun Wang; Guolong Sun; Haiyu Zhang; Yuxing Shan;
2010 / IEEE / 978-1-4577-1281-4
By: Zadeh, A.; Poizat, M.; Latocha, M.; Dusseau, L.; Boch, J.; Beck, P.; Wind, M.;
By: Zadeh, A.; Poizat, M.; Latocha, M.; Dusseau, L.; Boch, J.; Beck, P.; Wind, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Fischer, U.; Arbeiter, F.; Klix, A.; Serikov, A.; Kondo, K.; Heinzel, V.;
By: Fischer, U.; Arbeiter, F.; Klix, A.; Serikov, A.; Kondo, K.; Heinzel, V.;
2010 / IEEE / 978-1-4577-1281-4
By: Peyrard, P.; Thomas, J.; Pourrouquet, P.; Rolland, G.; Ecoffet, R.;
By: Peyrard, P.; Thomas, J.; Pourrouquet, P.; Rolland, G.; Ecoffet, R.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-993-5
By: Nakatani-Enomoto, S.; Watanabe, S.; Wake, K.; Simba, A.Y.; Ugawa, Y.;
By: Nakatani-Enomoto, S.; Watanabe, S.; Wake, K.; Simba, A.Y.; Ugawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1386-6
By: Sharma, S.; Bandyopadhyay, T.; Mishra, S.K.; Ravishankar, R.; Sarkar, D.; Datta, C.; Agashe, V.; Sarkar, B.; Datta, K.; Bhaumik, T.K.; Jena, S.C.; Purkait, M.; Pal, P.K.;
By: Sharma, S.; Bandyopadhyay, T.; Mishra, S.K.; Ravishankar, R.; Sarkar, D.; Datta, C.; Agashe, V.; Sarkar, B.; Datta, K.; Bhaumik, T.K.; Jena, S.C.; Purkait, M.; Pal, P.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9306-7
By: Sung-Yi Tsai; Yung-Chi Liu; Chao-Hung Chen; Chia-Hao Liang; Cheng-Kuo Chung; Yung-Hui Huang; Shy-Chyi Chin; Chih-Sheng Yeh;
By: Sung-Yi Tsai; Yung-Chi Liu; Chao-Hung Chen; Chia-Hao Liang; Cheng-Kuo Chung; Yung-Hui Huang; Shy-Chyi Chin; Chih-Sheng Yeh;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0077-4
By: Duofang Li; Tianguang Cao; Jinpeng Geng; Yong Zhan; Hailong An; Yafei Chen; Chunlei Hu;
By: Duofang Li; Tianguang Cao; Jinpeng Geng; Yong Zhan; Hailong An; Yafei Chen; Chunlei Hu;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Voss, B.; Panse, R.; Mairani, A.; Jakel, O.; Brons, S.; Rinaldi, I.; Parodi, K.;
By: Voss, B.; Panse, R.; Mairani, A.; Jakel, O.; Brons, S.; Rinaldi, I.; Parodi, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Marchetto, F.; Marasso, E.; Cirio, R.; Lavagno, M.; Ansarinejad, A.; Peroni, C.; Garella, M.A.; Donetti, M.; Giordanengo, S.; Sacchi, R.;
By: Marchetto, F.; Marasso, E.; Cirio, R.; Lavagno, M.; Ansarinejad, A.; Peroni, C.; Garella, M.A.; Donetti, M.; Giordanengo, S.; Sacchi, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Del Guerra, A.; Straub, K.; Rosso, V.; Belcari, N.; Attanasi, F.; Aiello, M.;
By: Del Guerra, A.; Straub, K.; Rosso, V.; Belcari, N.; Attanasi, F.; Aiello, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Romano, F.; Scaringella, M.; Pallotta, S.; Lo Presti, D.; Cuttone, G.; Randazzo, N.; Civinini, C.; Cirrone, G.A.P.; Bucciolini, M.; Brianzi, M.; Bruzzi, M.; Sipala, V.; Tesi, M.; Talamonti, C.; Stancampiano, C.;
By: Romano, F.; Scaringella, M.; Pallotta, S.; Lo Presti, D.; Cuttone, G.; Randazzo, N.; Civinini, C.; Cirrone, G.A.P.; Bucciolini, M.; Brianzi, M.; Bruzzi, M.; Sipala, V.; Tesi, M.; Talamonti, C.; Stancampiano, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Herranz, E.; Udias, J.M.; Guerra, P.; Corzo, P.M.G.; Cal-Gonzalez, J.; Herraiz, J.L.;
By: Herranz, E.; Udias, J.M.; Guerra, P.; Corzo, P.M.G.; Cal-Gonzalez, J.; Herraiz, J.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Boursier, Y.; El Bitar, Z.; Perez-Ponce, H.; Bert, J.; Vintache, D.; Visvikis, D.; Brasse, D.; Morel, C.; Bonissent, A.;
By: Boursier, Y.; El Bitar, Z.; Perez-Ponce, H.; Bert, J.; Vintache, D.; Visvikis, D.; Brasse, D.; Morel, C.; Bonissent, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Stankova, V.; Solaz, C.; Raux, L.; Rafecas, M.; de La Taille, C.; Lacasta, C.; Torres-Espallardo, I.; Gillam, J.E.; Callier, S.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.;
By: Stankova, V.; Solaz, C.; Raux, L.; Rafecas, M.; de La Taille, C.; Lacasta, C.; Torres-Espallardo, I.; Gillam, J.E.; Callier, S.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Bezerra, F.; Vaille, J.; Deneau, C.; Dusseau, L.; Ecoffet, R.; Mekki, J.; Lorfevre, E.;
By: Bezerra, F.; Vaille, J.; Deneau, C.; Dusseau, L.; Ecoffet, R.; Mekki, J.; Lorfevre, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Di Capua, F.; Menichelli, M.; Alpat, B.; Pilicer, E.; Servoli, L.; Caraffini, D.; Italiani, M.; Tucceri, P.;
By: Di Capua, F.; Menichelli, M.; Alpat, B.; Pilicer, E.; Servoli, L.; Caraffini, D.; Italiani, M.; Tucceri, P.;