Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Calorimeters
Results
2012 / IEEE
By: Lyoussi, A.; Merroun, O.; Brun, J.; Villard, J.; Malo, J.; Guimbal, P.; Gonnier, C.; Fourmentel, D.; Reynard-Carette, C.; Chauvin, J.; Bignan, G.; Andre, J.; Zerega, Y.; Janulyte, A.; Carette, M.;
By: Lyoussi, A.; Merroun, O.; Brun, J.; Villard, J.; Malo, J.; Guimbal, P.; Gonnier, C.; Fourmentel, D.; Reynard-Carette, C.; Chauvin, J.; Bignan, G.; Andre, J.; Zerega, Y.; Janulyte, A.; Carette, M.;
2012 / IEEE
By: Sauter, T.; Kohl, F.; Cerimovic, S.; Dalola, S.; Beigelbeck, R.; Keplinger, F.; Marioli, D.; Ferrari, V.; Schalko, J.;
By: Sauter, T.; Kohl, F.; Cerimovic, S.; Dalola, S.; Beigelbeck, R.; Keplinger, F.; Marioli, D.; Ferrari, V.; Schalko, J.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Rupasov, A.A.; Lahtushko, N.I.; Kartashov, A.V.; Zaitsev, V.I.; Volkov, G.S.; Shikanov, A.S.;
By: Rupasov, A.A.; Lahtushko, N.I.; Kartashov, A.V.; Zaitsev, V.I.; Volkov, G.S.; Shikanov, A.S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0158-9
By: Haihui Lu; Xiaofeng Gong; Shaofeng Zhang; Lukaszewski, R.A.; Morris, G.; Lixiang Wei; Flek, O.;
By: Haihui Lu; Xiaofeng Gong; Shaofeng Zhang; Lukaszewski, R.A.; Morris, G.; Lixiang Wei; Flek, O.;
2012 / American Institute of Physics
By: G. M. Stiehl; W. B. Doriese; J. W. Fowler; G. C. Hilton; K. D. Irwin; C. D. Reintsema; D. R. Schmidt; D. S. Swetz; J. N. Ullom; L. R. Vale;
By: G. M. Stiehl; W. B. Doriese; J. W. Fowler; G. C. Hilton; K. D. Irwin; C. D. Reintsema; D. R. Schmidt; D. S. Swetz; J. N. Ullom; L. R. Vale;
2006 / American Institute of Physics
By: B. L. Zink; J. N. Ullom; J. A. Beall; K. D. Irwin; W. B. Doriese; W. D. Duncan; L. Ferreira; G. C. Hilton; R. D. Horansky; C. D. Reintsema; L. R. Vale;
By: B. L. Zink; J. N. Ullom; J. A. Beall; K. D. Irwin; W. B. Doriese; W. D. Duncan; L. Ferreira; G. C. Hilton; R. D. Horansky; C. D. Reintsema; L. R. Vale;
2008 / American Institute of Physics
By: N. Iyomoto; S. R. Bandler; R. P. Brekosky; A.-D. Brown; J. A. Chervenak; F. M. Finkbeiner; R. L. Kelley; C. A. Kilbourne; F. S. Porter; J. E. Sadleir; S. J. Smith; E. Figueroa-Feliciano;
By: N. Iyomoto; S. R. Bandler; R. P. Brekosky; A.-D. Brown; J. A. Chervenak; F. M. Finkbeiner; R. L. Kelley; C. A. Kilbourne; F. S. Porter; J. E. Sadleir; S. J. Smith; E. Figueroa-Feliciano;
2010 / American Institute of Physics
By: K. Rostem; D. J. Goldie; S. Withington; H. F. C. Hoevers; L. Gottardi; J. van der Kuur;
By: K. Rostem; D. J. Goldie; S. Withington; H. F. C. Hoevers; L. Gottardi; J. van der Kuur;
2007 / American Institute of Physics
By: Mark. A. Lindeman; Kathleen A. Barger; Donald E. Brandl; S. Gwynne Crowder; Dan McCammon; Lindsay Rocks;
By: Mark. A. Lindeman; Kathleen A. Barger; Donald E. Brandl; S. Gwynne Crowder; Dan McCammon; Lindsay Rocks;
2008 / American Institute of Physics
By: G. Barreiro-Rodríguez; J. M. Yáñez-Limón; C. A. Contreras-Servin; A. Herrera-Gomez;
By: G. Barreiro-Rodríguez; J. M. Yáñez-Limón; C. A. Contreras-Servin; A. Herrera-Gomez;
2008 / American Institute of Physics
By: E. Perinati; M. Barbera; S. Varisco; E. Silver; C. Pigot; J. Beeman;
By: E. Perinati; M. Barbera; S. Varisco; E. Silver; C. Pigot; J. Beeman;
2008 / American Institute of Physics
By: Y. Miyoshi; K. Morrison; J. D. Moore; A. D. Caplin; L. F. Cohen;
By: Y. Miyoshi; K. Morrison; J. D. Moore; A. D. Caplin; L. F. Cohen;
2009 / American Institute of Physics
By: S. Kraft-Bermuth; V. A. Andrianov; C. Vockenhuber; A. Bleile; A. Echler; P. Egelhof; A. Kiseleva; O. Kiselev; H. J. Meier; J. P. Meier; A. Shrivastava; M. Weber; R. Golser; W. Kutschera; A. Priller; P. Steier;
By: S. Kraft-Bermuth; V. A. Andrianov; C. Vockenhuber; A. Bleile; A. Echler; P. Egelhof; A. Kiseleva; O. Kiselev; H. J. Meier; J. P. Meier; A. Shrivastava; M. Weber; R. Golser; W. Kutschera; A. Priller; P. Steier;
2010 / American Institute of Physics
By: Yoshimitsu Kohama; Christophe Marcenat; Thierry Klein; Marcelo Jaime;
By: Yoshimitsu Kohama; Christophe Marcenat; Thierry Klein; Marcelo Jaime;
2010 / American Institute of Physics
By: A. F. Lopeandia; E. André; J.-L. Garden; D. Givord; O. Bourgeois;
By: A. F. Lopeandia; E. André; J.-L. Garden; D. Givord; O. Bourgeois;
2010 / American Institute of Physics
By: Essmaiil Djamali; Peter J. Turner; Richard C. Murray; James W. Cobble;
By: Essmaiil Djamali; Peter J. Turner; Richard C. Murray; James W. Cobble;
2011 / American Institute of Physics
By: U. Zammit; M. Marinelli; F. Mercuri; S. Paoloni; F. Scudieri;
By: U. Zammit; M. Marinelli; F. Mercuri; S. Paoloni; F. Scudieri;
2011 / American Institute of Physics
By: David W. Cooke; F. Hellman; J. R. Groves; B. M. Clemens; E. E. Fullerton; S. Moyerman;
By: David W. Cooke; F. Hellman; J. R. Groves; B. M. Clemens; E. E. Fullerton; S. Moyerman;
2012 / American Institute of Physics
By: P. Beiersdorfer; G. V. Brown; A. T. Graf; M. Bitter; K. W. Hill; R. L. Kelley; C. A. Kilbourne; M. A. Leutenegger; F. S. Porter;
By: P. Beiersdorfer; G. V. Brown; A. T. Graf; M. Bitter; K. W. Hill; R. L. Kelley; C. A. Kilbourne; M. A. Leutenegger; F. S. Porter;
2012 / American Institute of Physics
By: M. De Muri; M. Dalla Palma; D. Fasolo; R. Pasqualotto; N. Pomaro; A. Rizzolo; G. Serianni; M. Tollin;
By: M. De Muri; M. Dalla Palma; D. Fasolo; R. Pasqualotto; N. Pomaro; A. Rizzolo; G. Serianni; M. Tollin;
2012 / American Institute of Physics
By: G. Serianni; M. Dalla Palma; M. De Muri; D. Fasolo; R. Pasqualotto; N. Pomaro; A. Rizzolo; M. Tollin;
By: G. Serianni; M. Dalla Palma; M. De Muri; D. Fasolo; R. Pasqualotto; N. Pomaro; A. Rizzolo; M. Tollin;
2012 / American Institute of Physics
By: D. A. Bennett; R. D. Horansky; D. R. Schmidt; A. S. Hoover; R. Winkler; B. K. Alpert; J. A. Beall; W. B. Doriese; J. W. Fowler; C. P. Fitzgerald; G. C. Hilton; K. D. Irwin; V. Kotsubo; J. A. B. Mates; G. C. O’Neil; M. W. Rabin; C. D. Reintsema; F. J. Schima; D. S. Swetz; L. R. Vale; J. N. Ullom;
By: D. A. Bennett; R. D. Horansky; D. R. Schmidt; A. S. Hoover; R. Winkler; B. K. Alpert; J. A. Beall; W. B. Doriese; J. W. Fowler; C. P. Fitzgerald; G. C. Hilton; K. D. Irwin; V. Kotsubo; J. A. B. Mates; G. C. O’Neil; M. W. Rabin; C. D. Reintsema; F. J. Schima; D. S. Swetz; L. R. Vale; J. N. Ullom;
2013 / American Institute of Physics
By: Nikolay K. Kharchev; German M. Batanov; Leonid V. Kolik; Dmitrii V. Malakhov; Aleksandr Ye. Petrov; Karen A. Sarksyan; Nina N. Skvortsova; Vladimir D. Stepakhin; Vladimir I. Belousov; Sergei A. Malygin; Yevgenii M. Tai;
By: Nikolay K. Kharchev; German M. Batanov; Leonid V. Kolik; Dmitrii V. Malakhov; Aleksandr Ye. Petrov; Karen A. Sarksyan; Nina N. Skvortsova; Vladimir D. Stepakhin; Vladimir I. Belousov; Sergei A. Malygin; Yevgenii M. Tai;
2012 / American Institute of Physics
By: B. K. Alpert; R. D. Horansky; D. A. Bennett; W. B. Doriese; J. W. Fowler; A. S. Hoover; M. W. Rabin; J. N. Ullom;
By: B. K. Alpert; R. D. Horansky; D. A. Bennett; W. B. Doriese; J. W. Fowler; A. S. Hoover; M. W. Rabin; J. N. Ullom;
2014 / IEEE
By: Carette, M.; Vita, C. D.; Lyoussi, A.; Reynard-Carette, C.; Muraglia, M.; Villard, J.-F.; Guimbal, P.; Fourmentel, D.; Brun, J.;
By: Carette, M.; Vita, C. D.; Lyoussi, A.; Reynard-Carette, C.; Muraglia, M.; Villard, J.-F.; Guimbal, P.; Fourmentel, D.; Brun, J.;
1989 / IEEE
By: Spiegel, L.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.W.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
By: Spiegel, L.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.W.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
1989 / IEEE
By: Fretwurst, E.; Giubellino, P.; Borchi, E.; Lemeilleur, F.; Penzo, A.; Barbiellini, G.; Riccati, L.; Ramello, L.; Lindstroem, G.; Seidman, A.; Vismara, L.; Rancoita, P.G.; Pensotti, S.; Furetta, C.; Leroy, C.; Lamarche, L.;
By: Fretwurst, E.; Giubellino, P.; Borchi, E.; Lemeilleur, F.; Penzo, A.; Barbiellini, G.; Riccati, L.; Ramello, L.; Lindstroem, G.; Seidman, A.; Vismara, L.; Rancoita, P.G.; Pensotti, S.; Furetta, C.; Leroy, C.; Lamarche, L.;
1989 / IEEE
By: Kroeger, R.S.; Du, Y.C.; Chen, Y.; Brau, J.E.; Bugg, W.M.; Pitts, K.T.; Berridge, P.K.; Berridge, S.C.; White, S.L.; Weidemann, A.W.;
By: Kroeger, R.S.; Du, Y.C.; Chen, Y.; Brau, J.E.; Bugg, W.M.; Pitts, K.T.; Berridge, P.K.; Berridge, S.C.; White, S.L.; Weidemann, A.W.;
1989 / IEEE
By: Zucchini, A.; Valenti, G.; Rovelli, T.; Privitera, P.; Navarria, F.L.; Camporesi, T.; Molinari, G.; Laurenti, G.; Giordano, V.; Cavallo, F.R.;
By: Zucchini, A.; Valenti, G.; Rovelli, T.; Privitera, P.; Navarria, F.L.; Camporesi, T.; Molinari, G.; Laurenti, G.; Giordano, V.; Cavallo, F.R.;
1989 / IEEE
By: Cihangir, S.; Sampson, W.M.; Funayama, Y.; Fukui, Y.; Zamble, F.; Webb, R.C.; Thane, J.M.; Atac, M.; Meyer, T.; McIntyre, P.; Kamon, T.; Hessing, T.; Franke, H.; DiBitonto, D.; Cao, H.;
By: Cihangir, S.; Sampson, W.M.; Funayama, Y.; Fukui, Y.; Zamble, F.; Webb, R.C.; Thane, J.M.; Atac, M.; Meyer, T.; McIntyre, P.; Kamon, T.; Hessing, T.; Franke, H.; DiBitonto, D.; Cao, H.;
1989 / IEEE
By: Coughlan, J.; Eisenhandler, E.; Charlton, D.; Cawthraw, M.; Campbell, D.; Bains, N.; Baird, S.A.; Stephens, R.; Shah, T.P.; Landon, M.; Kenyon, I.R.; Jovanovic, P.; Jimack, M.P.; Halsall, R.; Gregory, J.; Grayer, G.; Garvey, J.; Galagadera, S.; Flynn, P.; Fensome, J.; Ellis, N.;
By: Coughlan, J.; Eisenhandler, E.; Charlton, D.; Cawthraw, M.; Campbell, D.; Bains, N.; Baird, S.A.; Stephens, R.; Shah, T.P.; Landon, M.; Kenyon, I.R.; Jovanovic, P.; Jimack, M.P.; Halsall, R.; Gregory, J.; Grayer, G.; Garvey, J.; Galagadera, S.; Flynn, P.; Fensome, J.; Ellis, N.;
1989 / IEEE
By: Karbstein, W.; Hellmann, G.; Heep, W.; Fromhein, O.; Deimling, B.; Husson, L.; Zeitnitz, B.; Wochele, J.; Plischke, P.; Maschuw, R.; Gemmeke, H.;
By: Karbstein, W.; Hellmann, G.; Heep, W.; Fromhein, O.; Deimling, B.; Husson, L.; Zeitnitz, B.; Wochele, J.; Plischke, P.; Maschuw, R.; Gemmeke, H.;
1990 / IEEE
By: Lamarche, F.; Lemeilleur, F.; Giubellino, P.; Furetta, C.; Bruzzi, M.; Borchi, E.; Vismara, L.; Seidman, A.; Riccati, L.; Rancoita, P.G.; Ramello, L.; Penzo, A.; Pensotti, S.; Paludetto, R.; Macii, R.; Leroy, C.;
By: Lamarche, F.; Lemeilleur, F.; Giubellino, P.; Furetta, C.; Bruzzi, M.; Borchi, E.; Vismara, L.; Seidman, A.; Riccati, L.; Rancoita, P.G.; Ramello, L.; Penzo, A.; Pensotti, S.; Paludetto, R.; Macii, R.; Leroy, C.;
1990 / IEEE
By: Du, P.; Bugg, W.M.; Brau, J.E.; Berridge, S.C.; Zeitlin, C.J.; Furuno, K.; Weidemann, A.; White, S.L.; Pitts, K.T.; Kroeger, R.S.; Hargis, H.J.;
By: Du, P.; Bugg, W.M.; Brau, J.E.; Berridge, S.C.; Zeitlin, C.J.; Furuno, K.; Weidemann, A.; White, S.L.; Pitts, K.T.; Kroeger, R.S.; Hargis, H.J.;
1991 / IEEE
By: Lin, Q.; Masullo, G.; Losasso, M.; Gaggero, G.; Dormicchi, O.; Valente, P.; Parodi, S.; Penco, R.; Bonito Oliva, A.;
By: Lin, Q.; Masullo, G.; Losasso, M.; Gaggero, G.; Dormicchi, O.; Valente, P.; Parodi, S.; Penco, R.; Bonito Oliva, A.;
1992 / IEEE
By: Beuville, E.; Griffiths, J.L.; Cerri, C.; Buytaert, S.; Joudon, A.; Jarron, P.; Grabit, R.; Pascual, J.; Stefanini, G.;
By: Beuville, E.; Griffiths, J.L.; Cerri, C.; Buytaert, S.; Joudon, A.; Jarron, P.; Grabit, R.; Pascual, J.; Stefanini, G.;