Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Bioengineering
Results
2011 / IEEE
By: Peng Du; Gao, J.; Pullan, A.J.; Cheng, L.K.; Farrugia, G.; Gibbons, S.J.; OrGrady, G.; Archer, R.;
By: Peng Du; Gao, J.; Pullan, A.J.; Cheng, L.K.; Farrugia, G.; Gibbons, S.J.; OrGrady, G.; Archer, R.;
2011 / IEEE
By: Rizzo, I.J.F.; Wyatt, J.L.; Theogarajan, L.; Behan, S.; Drohan, W.A.; Kelly, S.K.; Cogan, S.F.; Gingerich, M.D.; Doyle, P.; Jinghua Chen; Shire, D.B.;
By: Rizzo, I.J.F.; Wyatt, J.L.; Theogarajan, L.; Behan, S.; Drohan, W.A.; Kelly, S.K.; Cogan, S.F.; Gingerich, M.D.; Doyle, P.; Jinghua Chen; Shire, D.B.;
2011 / IEEE
By: Fotiou, E.; Stefanou, K.; Karvounis, E.; Athanasiou, L.; Exarchos, T.P.; Sakellarios, A.; Fotiadis, D.I.; Siogkas, P.; Parodi, O.; Filipovic, N.; Michalis, L.K.; Naka, K.K.;
By: Fotiou, E.; Stefanou, K.; Karvounis, E.; Athanasiou, L.; Exarchos, T.P.; Sakellarios, A.; Fotiadis, D.I.; Siogkas, P.; Parodi, O.; Filipovic, N.; Michalis, L.K.; Naka, K.K.;
2011 / IEEE
By: Deary, I.J.; Fox, H.C.; Waiter, G.D.; Ahearn, T.S.; Starr, J.M.; Staff, R.T.; Sokunbi, M.O.; Murray, A.D.; Whalley, L.J.;
By: Deary, I.J.; Fox, H.C.; Waiter, G.D.; Ahearn, T.S.; Starr, J.M.; Staff, R.T.; Sokunbi, M.O.; Murray, A.D.; Whalley, L.J.;
2011 / IEEE
By: Su, M.Y.; Shuenn-Yuh Lee; Qiang Fang; Jou-Wei Lin; Hsin-Yi Lai; Chung-Min Yang; Cheng-Han Hsieh; You-Yin Chen; Ming-Chun Liang;
By: Su, M.Y.; Shuenn-Yuh Lee; Qiang Fang; Jou-Wei Lin; Hsin-Yi Lai; Chung-Min Yang; Cheng-Han Hsieh; You-Yin Chen; Ming-Chun Liang;
2011 / IEEE
2011 / IEEE
By: Gajendiran, V.; Jee Lean Lim; Yong Cheng Poh; Peng Du; OrGrady, G.; Cheng, L.K.; Pullan, A.J.; Buist, M.L.;
By: Gajendiran, V.; Jee Lean Lim; Yong Cheng Poh; Peng Du; OrGrady, G.; Cheng, L.K.; Pullan, A.J.; Buist, M.L.;
2011 / IEEE
2011 / IEEE
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
2011 / IEEE
2011 / IEEE
By: Potamias, G.; Stathopoulos, E.; Ioannou, M.; Sanidas, E.; Tsiknakis, M.; Zervakis, M.; Tsiliki, G.; Kafetzopoulos, D.;
By: Potamias, G.; Stathopoulos, E.; Ioannou, M.; Sanidas, E.; Tsiknakis, M.; Zervakis, M.; Tsiliki, G.; Kafetzopoulos, D.;
2011 / IEEE
By: Yazicioglu, R.F.; Seidl, K.; Erismis, M.A.; Aarts, A.A.A.; Torfs, T.; Neves, H.P.; Van Hoof, C.; Ruther, P.; Paul, O.; Puers, R.; Aslam, J.; Kerekes, B.P.; Fiath, R.; Dombovari, B.; Ulbert, I.; Herwik, S.;
By: Yazicioglu, R.F.; Seidl, K.; Erismis, M.A.; Aarts, A.A.A.; Torfs, T.; Neves, H.P.; Van Hoof, C.; Ruther, P.; Paul, O.; Puers, R.; Aslam, J.; Kerekes, B.P.; Fiath, R.; Dombovari, B.; Ulbert, I.; Herwik, S.;
2011 / IEEE
By: Wright, G.A.; Ayache, N.; McVeigh, E.; Beiping Qiang; Lashevsky, I.; Pop, M.; Ghate, S.; Crystal, E.; Mansi, T.; Sermesant, M.; Peyrat, J.;
By: Wright, G.A.; Ayache, N.; McVeigh, E.; Beiping Qiang; Lashevsky, I.; Pop, M.; Ghate, S.; Crystal, E.; Mansi, T.; Sermesant, M.; Peyrat, J.;
2011 / IEEE
By: Roche, N.J.-H.; Perez, S.; Azais, B.; Auriel, G.; Bezerra, F.; Calvel, P.; Marec, R.; Buchner, S.P.; Saigne, F.; Vaille, J.-R.; Boch, J.; Dusseau, L.; Velo, Y.G.; Mekki, J.;
By: Roche, N.J.-H.; Perez, S.; Azais, B.; Auriel, G.; Bezerra, F.; Calvel, P.; Marec, R.; Buchner, S.P.; Saigne, F.; Vaille, J.-R.; Boch, J.; Dusseau, L.; Velo, Y.G.; Mekki, J.;
2011 / IEEE
By: Hennig, J.; Weber, H.; Schultz, G.; Zaitsev, M.; Gallichan, D.; Cocosco, C.A.; Welz, A.M.; Witschey, W.R.T.;
By: Hennig, J.; Weber, H.; Schultz, G.; Zaitsev, M.; Gallichan, D.; Cocosco, C.A.; Welz, A.M.; Witschey, W.R.T.;
2011 / IEEE
By: VanMil, B.L.; Zhao, J.H.; Xiaobin Xin; Jun Hu; Gaskill, D.K.; Eddy, C.R.; Myers-Ward, R.;
By: VanMil, B.L.; Zhao, J.H.; Xiaobin Xin; Jun Hu; Gaskill, D.K.; Eddy, C.R.; Myers-Ward, R.;
2011 / IEEE
2011 / IEEE
By: Palke, D.; Guoning Chen; Zhang, E.; Laramee, R.S.; Vincent, P.; Yeh, H.; Zhongzang Lin;
By: Palke, D.; Guoning Chen; Zhang, E.; Laramee, R.S.; Vincent, P.; Yeh, H.; Zhongzang Lin;
2011 / IEEE
By: Agus, M.; Suter, S.K.; Marton, F.; Iglesias Guitian, J.A.; Elsener, A.; Pajarola, R.; Gobbetti, E.; Gopi, M.; Zollikofer, C.P.E.;
By: Agus, M.; Suter, S.K.; Marton, F.; Iglesias Guitian, J.A.; Elsener, A.; Pajarola, R.; Gobbetti, E.; Gopi, M.; Zollikofer, C.P.E.;
2011 / IEEE
By: Groller, M.E.; Clough, R.E.; Breeuwer, M.; Olivan Bescos, J.; van Pelt, R.; Vilanova, A.; ter Haar Romeny, B.;
By: Groller, M.E.; Clough, R.E.; Breeuwer, M.; Olivan Bescos, J.; van Pelt, R.; Vilanova, A.; ter Haar Romeny, B.;
2011 / IEEE
By: Arunachalam, K.; Jacobsen, S.K.; Klemetsen, O.; Birkelund, Y.; Stauffer, P.R.; Maccarini, P.;
By: Arunachalam, K.; Jacobsen, S.K.; Klemetsen, O.; Birkelund, Y.; Stauffer, P.R.; Maccarini, P.;
2011 / IEEE
By: Pfister, H.; Feldman, C.; Rybicki, F.; Melchionna, S.; Borkin, M.; Mitsouras, D.; Peters, A.; Gajos, K.;
By: Pfister, H.; Feldman, C.; Rybicki, F.; Melchionna, S.; Borkin, M.; Mitsouras, D.; Peters, A.; Gajos, K.;