Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Alpha-particle Detection
Results
2012 / IEEE
By: Rauch, S.E.; Zhu, Z.; Ronsheim, P.; Tang, H.H.K.; McNally, B.D.; Gordon, M.S.; Rodbell, K.P.; Coleman, S.;
By: Rauch, S.E.; Zhu, Z.; Ronsheim, P.; Tang, H.H.K.; McNally, B.D.; Gordon, M.S.; Rodbell, K.P.; Coleman, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Kah, D.H.; Hyun, H.J.; Bae, J.B.; Park, H.; Kim, H.O.; Kim, H.J.;
By: Kah, D.H.; Hyun, H.J.; Bae, J.B.; Park, H.; Kim, H.O.; Kim, H.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Budakovsky, S.V.; Tarasenko, O.A.; Panikarskaya, V.D.; Martynenko, E.V.; Karavaeva, N.L.; Grinyov, B.V.; Galunov, N.Z.;
By: Budakovsky, S.V.; Tarasenko, O.A.; Panikarskaya, V.D.; Martynenko, E.V.; Karavaeva, N.L.; Grinyov, B.V.; Galunov, N.Z.;
High-flux experiments and simulations of pulse-mode 3D-position-sensitive CdZnTe pixelated detectors
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6By: Rodrigues, M.L.; Zhong He;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Cazalas, E.; Foxe, M.; Jovanovic, I.; Chen, Y.P.; Lamm, H.; Patil, A.; Childres, I.; Piotrowski, C.; Majcher, A.;
By: Cazalas, E.; Foxe, M.; Jovanovic, I.; Chen, Y.P.; Lamm, H.; Patil, A.; Childres, I.; Piotrowski, C.; Majcher, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Yang, F.; Guohao Ren; Zaiwei Fu; Ru Jia; Yuekun Heng; Shangke Pan; Sen Qian; Gangming Huang; Xiaohui Chen; Shaoli Li;
By: Yang, F.; Guohao Ren; Zaiwei Fu; Ru Jia; Yuekun Heng; Shangke Pan; Sen Qian; Gangming Huang; Xiaohui Chen; Shaoli Li;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0927-2
By: Nad, K.; Kollar, R.; Majetic, S.; Sudac, D.; Valkovic, V.; Obhodas, J.;
By: Nad, K.; Kollar, R.; Majetic, S.; Sudac, D.; Valkovic, V.; Obhodas, J.;
2012 / American Institute of Physics
By: Hatim Azzouz; Sander N. Dorenbos; Daniel De Vries; Esteban Bermúdez Ureña; Valery Zwiller;
By: Hatim Azzouz; Sander N. Dorenbos; Daniel De Vries; Esteban Bermúdez Ureña; Valery Zwiller;
2010 / American Institute of Physics
By: Robert D. Horansky; Gregory M. Stiehl; James A. Beall; Kent D. Irwin; Alexander A. Plionis; Michael W. Rabin; Joel N. Ullom;
By: Robert D. Horansky; Gregory M. Stiehl; James A. Beall; Kent D. Irwin; Alexander A. Plionis; Michael W. Rabin; Joel N. Ullom;
2010 / American Institute of Physics
By: M. Nishiura; T. Nagasaka; K. Fujioka; Y. Fujimoto; T. Tanaka; T. Ido; M. Sasao; S. Yamamoto; S. Kashiwa;
By: M. Nishiura; T. Nagasaka; K. Fujioka; Y. Fujimoto; T. Tanaka; T. Ido; M. Sasao; S. Yamamoto; S. Kashiwa;
2012 / American Institute of Physics
By: G. Bonheure; J. Mlynar; G. Van Wassenhove; M. Hult; R. González de Orduña; G. Lutter; P. Vermaercke; A. Huber; B. Schweer; G. Esser; W. Biel;
By: G. Bonheure; J. Mlynar; G. Van Wassenhove; M. Hult; R. González de Orduña; G. Lutter; P. Vermaercke; A. Huber; B. Schweer; G. Esser; W. Biel;
1995 / IEEE
By: Sotnikov, V.T.; Raigorodski, I.M.; Budakovski, S.V.; Andryushchenko, L.A.; Grinyov, B.V.;
By: Sotnikov, V.T.; Raigorodski, I.M.; Budakovski, S.V.; Andryushchenko, L.A.; Grinyov, B.V.;
1995 / IEEE
By: Klamra, W.; Moszynska, K.; Wolski, D.; Moszynski, M.; Norlin, L.O.; Ludziejewski, T.; Kozlov, V.; Devitsin, E.;
By: Klamra, W.; Moszynska, K.; Wolski, D.; Moszynski, M.; Norlin, L.O.; Ludziejewski, T.; Kozlov, V.; Devitsin, E.;
1995 / IEEE
By: Sellin, P.J.; Cowperthwaite, M.; Brozel, M.R.; Berwick, K.; Manolopoulos, S.; Buttar, C.M.;
By: Sellin, P.J.; Cowperthwaite, M.; Brozel, M.R.; Berwick, K.; Manolopoulos, S.; Buttar, C.M.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Sotnikov, V.T.; Raigorodski, I.M.; Budakovski, S.V.; Andryushchenko, L.A.; Grinyov, B.V.;
By: Sotnikov, V.T.; Raigorodski, I.M.; Budakovski, S.V.; Andryushchenko, L.A.; Grinyov, B.V.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Devitsin, E.; Norlin, L.O.; Wolski, D.; Klamra, W.; Kozlov, V.; Moszynska, K.; Ludziejewski, T.; Moszynski, M.;
By: Devitsin, E.; Norlin, L.O.; Wolski, D.; Klamra, W.; Kozlov, V.; Moszynska, K.; Ludziejewski, T.; Moszynski, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Nohtomi, A.; Koori, N.; Matoba, M.; Uozumi, Y.; Sakae, T.; Narita, K.;
By: Nohtomi, A.; Koori, N.; Matoba, M.; Uozumi, Y.; Sakae, T.; Narita, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Buttar, C.M.; Sellin, P.J.; Cowperthwaite, M.; Brozel, M.R.; Berwick, K.;
By: Buttar, C.M.; Sellin, P.J.; Cowperthwaite, M.; Brozel, M.R.; Berwick, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Moore, W.J.; Katzer, D.S.; Henry, R.L.; Dietrich, H.B.; King, S.E.; Mania, R.C.; Phillips, G.W.;
By: Moore, W.J.; Katzer, D.S.; Henry, R.L.; Dietrich, H.B.; King, S.E.; Mania, R.C.; Phillips, G.W.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Canali, C.; Alietti, M.; Nava, F.; Lanzieri, C.; Re, V.; del Papa, C.; Cavallini, A.;
By: Canali, C.; Alietti, M.; Nava, F.; Lanzieri, C.; Re, V.; del Papa, C.; Cavallini, A.;
1996 / IEEE
By: Nava, F.; del Papa, C.; Lanzieri, C.; Re, V.; Alietti, M.; Chiossi, C.; Cavallini, A.; Canali, C.;
By: Nava, F.; del Papa, C.; Lanzieri, C.; Re, V.; Alietti, M.; Chiossi, C.; Cavallini, A.; Canali, C.;
1996 / IEEE
By: Mania, R.C.; Phillips, G.W.; Moore, W.J.; Katzer, D.S.; Henry, R.L.; Dietrich, H.B.; King, S.E.;
By: Mania, R.C.; Phillips, G.W.; Moore, W.J.; Katzer, D.S.; Henry, R.L.; Dietrich, H.B.; King, S.E.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Kudin, A.M.; Tarasov, V.A.; Chernikov, V.V.; Zverev, N.D.; Zagarij, L.B.; Grinyov, B.V.; Viday, Y.T.;
By: Kudin, A.M.; Tarasov, V.A.; Chernikov, V.V.; Zverev, N.D.; Zagarij, L.B.; Grinyov, B.V.; Viday, Y.T.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Chichikalyuk, Yu.A.; Budakovsky, S.V.; Zelenskaya, O.V.; Nagornaya, L.L.;
By: Chichikalyuk, Yu.A.; Budakovsky, S.V.; Zelenskaya, O.V.; Nagornaya, L.L.;
1996 / IEEE
By: Maughan, R.; Allen, B.J.; Carolan, M.G.; Kaplan, G.I.; Yudelev, M.; Rosenfeld, A.B.; Coderre, J.; Kota, C.;
By: Maughan, R.; Allen, B.J.; Carolan, M.G.; Kaplan, G.I.; Yudelev, M.; Rosenfeld, A.B.; Coderre, J.; Kota, C.;
1996 / IEEE / 0-7803-3179-6
By: Liu, X.; Schmid, Th.; Ebling, D.G.; Runge, K.; Ludwig, J.; Irsigler, R.; Kruger, J.; Goppert, R.; Geppert, R.; Chen, J.W.; Rogalla, M.; Kienzle, M.; Weber, E.R.;
By: Liu, X.; Schmid, Th.; Ebling, D.G.; Runge, K.; Ludwig, J.; Irsigler, R.; Kruger, J.; Goppert, R.; Geppert, R.; Chen, J.W.; Rogalla, M.; Kienzle, M.; Weber, E.R.;
1996 / IEEE / 0-7803-3179-6
By: Castaldini, A.; Nava, F.; del Papa, C.; Canali, C.; Polenta, L.; Cavallini, A.;
By: Castaldini, A.; Nava, F.; del Papa, C.; Canali, C.; Polenta, L.; Cavallini, A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Tamura, T.; Gunji, S.; Noma, M.; Saito, S.; Sakurai, H.; Tsukahara, M.;
By: Tamura, T.; Gunji, S.; Noma, M.; Saito, S.; Sakurai, H.; Tsukahara, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Tamara, H.; Sasaki, S.; Prokopets, A.G.; Miyajima, M.; Shibamura, E.;
By: Tamara, H.; Sasaki, S.; Prokopets, A.G.; Miyajima, M.; Shibamura, E.;
1997 / IEEE / 0-8186-7901-8
By: Iliev, S.; Sukhov, A.M.; Polyakov, A.N.; Subbotin, V.G.; Tsyganov, Yu.S.; Vakatov, D.V.;
By: Iliev, S.; Sukhov, A.M.; Polyakov, A.N.; Subbotin, V.G.; Tsyganov, Yu.S.; Vakatov, D.V.;
1997 / IEEE
By: Fioretto, E.; Lucarelli, F.; Giacchini, M.; Lollo, M.; Prete, G.; Burch, R.; Caldogno, M.; Fabris, D.; Lunardon, M.; Nebbia, G.; Viesti, G.; Boiano, A.; Brondi, A.; La Rana, G.; Moro, R.; Ordine, A.; Vardaci, E.; Zaghi, A.; Gelli, N.; Cinausero, M.;
By: Fioretto, E.; Lucarelli, F.; Giacchini, M.; Lollo, M.; Prete, G.; Burch, R.; Caldogno, M.; Fabris, D.; Lunardon, M.; Nebbia, G.; Viesti, G.; Boiano, A.; Brondi, A.; La Rana, G.; Moro, R.; Ordine, A.; Vardaci, E.; Zaghi, A.; Gelli, N.; Cinausero, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Bounds, J.A.; Koster, J.E.; Whitley, C.R.; Steadman, P.A.; Kerr, P.L.;
By: Bounds, J.A.; Koster, J.E.; Whitley, C.R.; Steadman, P.A.; Kerr, P.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Bounds, J.A.; Conaway, J.G.; Koster, J.E.; Kerr, P.L.; Whitley, C.W.; Steadman, P.A.;
By: Bounds, J.A.; Conaway, J.G.; Koster, J.E.; Kerr, P.L.; Whitley, C.W.; Steadman, P.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Martinengo, P.; Chesi, E.; Jensen, G.U.; Evensen, L.; Mo, S.; Avset, B.S.; Westgaard, T.; Weilhammer, P.; Seguinot, J.;
By: Martinengo, P.; Chesi, E.; Jensen, G.U.; Evensen, L.; Mo, S.; Avset, B.S.; Westgaard, T.; Weilhammer, P.; Seguinot, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Brambilla, A.; Jany, C.; Marshall, R.D.; Foulon, F.; Bergonzo, P.; Jackman, R.B.; McKeag, R.D.;
By: Brambilla, A.; Jany, C.; Marshall, R.D.; Foulon, F.; Bergonzo, P.; Jackman, R.B.; McKeag, R.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Charon, Y.; Aubineau-Laniece, I.; Valentin, L.; Pinot, L.; Menard, L.; Mastrippolito, R.; Laniece, P.;
By: Charon, Y.; Aubineau-Laniece, I.; Valentin, L.; Pinot, L.; Menard, L.; Mastrippolito, R.; Laniece, P.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Svishch, V.M.; Kirsanov, S.P.; Koval, A.F.; Lubinskii, V.R.; Pirogov, E.N.; Piven, L.A.; Burachas, S.F.; Ryzhikov, V.D.; Korchagin, P.A.; Grinchuk, I.R.; Solomatin, Yu.P.; Tabachnyi, L.Ya.; Sadovnikov, L.V.; Bondar'kov, V.D.; Zheltonozhskii, V.A.;
By: Svishch, V.M.; Kirsanov, S.P.; Koval, A.F.; Lubinskii, V.R.; Pirogov, E.N.; Piven, L.A.; Burachas, S.F.; Ryzhikov, V.D.; Korchagin, P.A.; Grinchuk, I.R.; Solomatin, Yu.P.; Tabachnyi, L.Ya.; Sadovnikov, L.V.; Bondar'kov, V.D.; Zheltonozhskii, V.A.;
1998 / IEEE
By: Manfredotti, C.; Apostolo, G.; Canali, C.; Vanni, P.; Nava, F.; Vittone, E.; Polesello, P.;
By: Manfredotti, C.; Apostolo, G.; Canali, C.; Vanni, P.; Nava, F.; Vittone, E.; Polesello, P.;
On the electrical and detection performances of particle detectors based on bulk semi-insulating InP
1998 / IEEE / 0-7803-4909-1By: Rucek, M.; Sekacova, M.; Gombia, E.; Krempask, M.; Pelfer, P.G.; Darmo, J.; Fornari, R.; Dubecky, F.; Pikna, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Rossi, R.; Melone, G.; Fucci, R.; Quaranta, F.; Cola, A.; Passaseo, A.; Bisogni, M.G.; Fantacci, M.E.; Russo, P.; Mettivier, G.; Conti, M.;
By: Rossi, R.; Melone, G.; Fucci, R.; Quaranta, F.; Cola, A.; Passaseo, A.; Bisogni, M.G.; Fantacci, M.E.; Russo, P.; Mettivier, G.; Conti, M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4354-9
By: Gombia, E.; Fornari, R.; Darmo, J.; Krempasky, M.; Pikna, M.; Dubecky, F.; Rucek, M.; Sekacova, M.; Pelfer, P.G.;
By: Gombia, E.; Fornari, R.; Darmo, J.; Krempasky, M.; Pikna, M.; Dubecky, F.; Rucek, M.; Sekacova, M.; Pelfer, P.G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5696-9
By: Katagiri, M.; Sakasai, K.; Nakazawa, M.; Takahashi, H.; Toh, K.; Nakamura, T.; Kishimoto, M.;
By: Katagiri, M.; Sakasai, K.; Nakazawa, M.; Takahashi, H.; Toh, K.; Nakamura, T.; Kishimoto, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5696-9
By: Vasanelli, L.; Quaranta, F.; Russo, P.; Mettivier, G.; Bertolucci, E.; Conti, M.; Cola, A.; De Luca, A.;
By: Vasanelli, L.; Quaranta, F.; Russo, P.; Mettivier, G.; Bertolucci, E.; Conti, M.; Cola, A.; De Luca, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5696-9
By: Guardala, N.A.; Weiss, R.G.; Brown, G.O.; Readshaw, A.K.; Price, J.L.; Moscovitch, M.; Phillips, G.W.; Mueller, S.C.;
By: Guardala, N.A.; Weiss, R.G.; Brown, G.O.; Readshaw, A.K.; Price, J.L.; Moscovitch, M.; Phillips, G.W.; Mueller, S.C.;
2000 / IEEE / 0-7803-5908-9
By: Mistry, A.; Tucker, M.; Weeks, D.; Mathew, V.; Mitchell, D.; Carroll, B.; Enman, C.; Lee, S.;
By: Mistry, A.; Tucker, M.; Weeks, D.; Mathew, V.; Mitchell, D.; Carroll, B.; Enman, C.; Lee, S.;
2000 / IEEE
By: Mettivier, G.; Cola, A.; De Luca, A.; Conti, M.; Russo, P.; Bertolucci, E.; Vasanelli, L.; Quaranta, F.;
By: Mettivier, G.; Cola, A.; De Luca, A.; Conti, M.; Russo, P.; Bertolucci, E.; Vasanelli, L.; Quaranta, F.;
2000 / IEEE
By: Sakasai, K.; Nakazawa, M.; Takahashi, H.; Toh, K.; Nakamura, T.; Kishimoto, M.; Katagiri, M.;
By: Sakasai, K.; Nakazawa, M.; Takahashi, H.; Toh, K.; Nakamura, T.; Kishimoto, M.; Katagiri, M.;
2000 / IEEE
By: Silin, V.; Kvitnitskaya, V.; Danshin, E.; Galkin, S.; Gal'chinetski, L.; Ryzhikov, V.; Chernikov, V.;
By: Silin, V.; Kvitnitskaya, V.; Danshin, E.; Galkin, S.; Gal'chinetski, L.; Ryzhikov, V.; Chernikov, V.;
2000 / IEEE
By: Brambilla, A.; Claus, G.; Turchetta, R.; Dulinski, W.; Foulon, F.; Hordequin, C.; Bergonzo, P.;
By: Brambilla, A.; Claus, G.; Turchetta, R.; Dulinski, W.; Foulon, F.; Hordequin, C.; Bergonzo, P.;
2001 / IEEE
By: Gramegna, F.; Carturan, S.; Quaranta, A.; Pieri, U.; Maggioni, G.; Della Mea, G.; Abbondanno, U.; Milazzo, P.M.;
By: Gramegna, F.; Carturan, S.; Quaranta, A.; Pieri, U.; Maggioni, G.; Della Mea, G.; Abbondanno, U.; Milazzo, P.M.;