Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Van Bentum, R.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-0192-3
By: Trentzsch, M.; van Bentum, R.; Schloesser, T.; Slesazeck, S.; Sundquist, J.; Paul, J.; Schroeder, U.; Muller, S.; Yurchuk, E.; Martin, D.; Muller, J.; Mikojajick, T.;
By: Trentzsch, M.; van Bentum, R.; Schloesser, T.; Slesazeck, S.; Sundquist, J.; Paul, J.; Schroeder, U.; Muller, S.; Yurchuk, E.; Martin, D.; Muller, J.; Mikojajick, T.;
HfO2-Based Ferroelectric Field-Effect Transistors with 260 nm Channel Length and Long Data Retention
2012 / IEEE / 978-1-4673-1081-9By: Slesazeck, S.; Muller, S.; Schlosser, T.; Boschke, R.; Martin, D.; Paul, J.; van Bentum, R.; Muller, J.; Yurchuk, E.; Mikolajick, T.; Hoffmann, R.; Schroder, U.; Trentzsch, M.;
2014 / IEEE
By: Martin, D.; Schlosser, T.; Paul, J.; Muller, J.; Yurchuk, E.; Hoffmann, R.; van Bentum, R.; Boschke, R.; Schroeder, U.; Slesazeck, S.; Mueller, S.; Mikolajick, T.;
By: Martin, D.; Schlosser, T.; Paul, J.; Muller, J.; Yurchuk, E.; Hoffmann, R.; van Bentum, R.; Boschke, R.; Schroeder, U.; Slesazeck, S.; Mueller, S.; Mikolajick, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8528-4
By: Burbach, G.; Gerhardt, M.; Frohberg, K.; Wei, A.; Feudel, T.; Greenlaw, D.; Horstmann, M.; Kepler, N.; Raab, M.; Krishnan, S.; Buller, J.; Cheek, J.; Schwan, C.; Grasshoff, G.; van Bentum, R.; Luning, S.; Huebler, P.; Klais, J.; Ruelke, H.; Hohage, J.; Schaller, M.; Wieczorek, K.; Stephan, R.; Lenski, M.;
By: Burbach, G.; Gerhardt, M.; Frohberg, K.; Wei, A.; Feudel, T.; Greenlaw, D.; Horstmann, M.; Kepler, N.; Raab, M.; Krishnan, S.; Buller, J.; Cheek, J.; Schwan, C.; Grasshoff, G.; van Bentum, R.; Luning, S.; Huebler, P.; Klais, J.; Ruelke, H.; Hohage, J.; Schaller, M.; Wieczorek, K.; Stephan, R.; Lenski, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;