Your Search Results

Use materials by this author in your textbook!

AcademicPub holds over eight million pieces of educational content – such as case studies and journal articles – for you to mix-and-match your way.

Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.

Author: Dos Anjos, A.

Results

2004 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonzalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Le Vine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner- Sadenius, T.; Segura, E.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;
2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;