Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Zimmermann, F.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Mueller, G.; An, W.; Engelko, V.; Zimmermann, F.; Weisenburger, A.; Wegner, L.; Straessner, R.; Singer, J.; Schuhmacher, G.; Sack, M.; Leber, K.; Lang, F.; Jianu, A.; Hoppe, P.; Heinzel, A.; Gusbeth, C.; Gottel, M.; Giese, H.; Frey, W.; Berghofer, T.; DelGiacco, M.; Eing, C.; Fetzer, R.; Flickinger, B.;
By: Mueller, G.; An, W.; Engelko, V.; Zimmermann, F.; Weisenburger, A.; Wegner, L.; Straessner, R.; Singer, J.; Schuhmacher, G.; Sack, M.; Leber, K.; Lang, F.; Jianu, A.; Hoppe, P.; Heinzel, A.; Gusbeth, C.; Gottel, M.; Giese, H.; Frey, W.; Berghofer, T.; DelGiacco, M.; Eing, C.; Fetzer, R.; Flickinger, B.;
1996 / IEEE / 0-7803-3255-5
By: Decker, K.M.; Clemencon, C.; Zimmermann, F.; Wylie, B.J.N.; Sawyer, W.; Ruhl, R.; Muller, A.; Masuda, N.; Lorenzo, P.A.R.; Fritscher, J.; Endo, A.; Deshpande, V.R.;
By: Decker, K.M.; Clemencon, C.; Zimmermann, F.; Wylie, B.J.N.; Sawyer, W.; Ruhl, R.; Muller, A.; Masuda, N.; Lorenzo, P.A.R.; Fritscher, J.; Endo, A.; Deshpande, V.R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Turner, J.; Woodley, M.; Tang, H.; Stege, R.; Spence, W.; Slaton, T.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Tian, F.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Hendrickson, L.J.; Frisch, J.; Emma, P.; Decker, F.J.; Assmann, R.; Adolphsen, C.; Zimmermann, F.;
By: Turner, J.; Woodley, M.; Tang, H.; Stege, R.; Spence, W.; Slaton, T.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Tian, F.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Hendrickson, L.J.; Frisch, J.; Emma, P.; Decker, F.J.; Assmann, R.; Adolphsen, C.; Zimmermann, F.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Placidi, M.; Toge, N.; Turner, J.; Tian, E.; Slaton, T.; Ross, M.; Woodley, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; McCormick, D.; Emma, P.; Ecklund, S.; Barklow, T.; Zimmermann, F.; Walker, N.;
By: Placidi, M.; Toge, N.; Turner, J.; Tian, E.; Slaton, T.; Ross, M.; Woodley, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; McCormick, D.; Emma, P.; Ecklund, S.; Barklow, T.; Zimmermann, F.; Walker, N.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Wilson, P.; Tenenbaum, P.; Irwin, J.; Helm, R.; Emma, P.; Brown, K.; Zimmermann, F.;
By: Wilson, P.; Tenenbaum, P.; Irwin, J.; Helm, R.; Emma, P.; Brown, K.; Zimmermann, F.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Thompson, K.A.; Berg, J.S.; Bane, K.L.F.; Raubenheimer, T.; Zimmermann, F.; Wilson, P.B.; Byrd, J.; Scott, B.; Minty, M.; Kubo, K.; Heifets, S.; Furman, M.; Corlett, J.;
By: Thompson, K.A.; Berg, J.S.; Bane, K.L.F.; Raubenheimer, T.; Zimmermann, F.; Wilson, P.B.; Byrd, J.; Scott, B.; Minty, M.; Kubo, K.; Heifets, S.; Furman, M.; Corlett, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Bane, K.L.F.; Adolphsen, C.; Zimmermann, F.; Thompson, K.A.; Ruth, R.D.; Raubenheimer, T.; Kubo, K.;
By: Bane, K.L.F.; Adolphsen, C.; Zimmermann, F.; Thompson, K.A.; Ruth, R.D.; Raubenheimer, T.; Kubo, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Adolphsen, C.; Bane, K.L.F.; Zimmermann, F.; Krejcik, P.; Emma, P.; Decker, F.-J.;
By: Adolphsen, C.; Bane, K.L.F.; Zimmermann, F.; Krejcik, P.; Emma, P.; Decker, F.-J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Bane, K.; Bowers, J.; Zimmermann, F.; Wright, D.; Whittum, D.; Weinberg, J.; Turner, J.; Tian, F.; Stege, R.; Spencer, J.; Spence, W.; Simopoulos, C.; Siemann, R.H.; Ross, M.C.; Raubenheimer, T.; Rago, C.; Rackelmann, A.; Podobedov, B.; Pietryka, M.; Ng, C.-K.; Minty, M.G.; McKee, B.; Lisin, A.; Limberg, T.; Krejcik, P.; Holtzapple, R.L.; Decker, F.J.; Chen, T.; Chao, A.;
By: Bane, K.; Bowers, J.; Zimmermann, F.; Wright, D.; Whittum, D.; Weinberg, J.; Turner, J.; Tian, F.; Stege, R.; Spencer, J.; Spence, W.; Simopoulos, C.; Siemann, R.H.; Ross, M.C.; Raubenheimer, T.; Rago, C.; Rackelmann, A.; Podobedov, B.; Pietryka, M.; Ng, C.-K.; Minty, M.G.; McKee, B.; Lisin, A.; Limberg, T.; Krejcik, P.; Holtzapple, R.L.; Decker, F.J.; Chen, T.; Chao, A.;
1996 / IEEE / 0-8186-7551-9
By: Deshpande, V.R.; Decker, K.M.; Clemencon, C.; Zimmermann, F.; Wylie, B.J.N.; Sawyer, W.; Endo, A.; Ruhl, R.; Muller, A.; Masuda, N.; Lorenzo, P.A.R.; Fritscher, J.;
By: Deshpande, V.R.; Decker, K.M.; Clemencon, C.; Zimmermann, F.; Wylie, B.J.N.; Sawyer, W.; Endo, A.; Ruhl, R.; Muller, A.; Masuda, N.; Lorenzo, P.A.R.; Fritscher, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Rusch, D.; Schultheiss, C.; Muller, G.; Kessler, G.; Neubert, N.; Hoppe, P.; Giese, H.; Frey, W.; Bohme, R.; Bluhm, H.; Kurets, V.I.; Dulson, A.; Engelko, V.; Zimmermann, F.; Vath, V.; Strauss, D.; Strassner, H.; Sohner, M.; Schumacher, G.;
By: Rusch, D.; Schultheiss, C.; Muller, G.; Kessler, G.; Neubert, N.; Hoppe, P.; Giese, H.; Frey, W.; Bohme, R.; Bluhm, H.; Kurets, V.I.; Dulson, A.; Engelko, V.; Zimmermann, F.; Vath, V.; Strauss, D.; Strassner, H.; Sohner, M.; Schumacher, G.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Zimmermann, F.; Yeremian, A.D.; Walz, D.; Thompson, K.; Tenenbaum, P.; Tang, H.; Spencer, J.; Ross, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Jarvis, H.; Irwin, J.; Hertzbach, S.; Hendrickson, L.; Helm, R.; Emma, P.; Decker, F.J.; Burke, D.; Batte, K.; Assmann, R.; Adolphsen, C.;
By: Zimmermann, F.; Yeremian, A.D.; Walz, D.; Thompson, K.; Tenenbaum, P.; Tang, H.; Spencer, J.; Ross, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Jarvis, H.; Irwin, J.; Hertzbach, S.; Hendrickson, L.; Helm, R.; Emma, P.; Decker, F.J.; Burke, D.; Batte, K.; Assmann, R.; Adolphsen, C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Minty, M.; Heifets, S.; Chao, A.; Byrd, J.; Raubenheimer, T.O.; Thomson, J.; Zimmermann, F.; Stupakov, G.; Seeman, J.;
By: Minty, M.; Heifets, S.; Chao, A.; Byrd, J.; Raubenheimer, T.O.; Thomson, J.; Zimmermann, F.; Stupakov, G.; Seeman, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Raubenheimer, T.; Pritzkau, D.; Krejcik, P.; Zimmermann, F.; Ross, M.;
By: Raubenheimer, T.; Pritzkau, D.; Krejcik, P.; Zimmermann, F.; Ross, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Shintake, T.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Jobe, K.; Zimmermann, F.; McCormick, D.; Alley, R.; Kotseroglou, T.; Horton-Smith, S.;
By: Shintake, T.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Jobe, K.; Zimmermann, F.; McCormick, D.; Alley, R.; Kotseroglou, T.; Horton-Smith, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Bane, K.; McCormick, D.; Ng, C.K.; Raimondi, P.; Zimmermann, F.; Seidel, M.; Whittum, D.; Yocky, G.;
By: Bane, K.; McCormick, D.; Ng, C.K.; Raimondi, P.; Zimmermann, F.; Seidel, M.; Whittum, D.; Yocky, G.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Thompson, K.; Siemann, R.; Emma, P.; Raubenheimer, T.O.; Zimmermann, F.; Bane, K.; Adolphsen, C.; Assmann, R.;
By: Thompson, K.; Siemann, R.; Emma, P.; Raubenheimer, T.O.; Zimmermann, F.; Bane, K.; Adolphsen, C.; Assmann, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Wienands, U.; Anderson, S.; Assmannt, R.; Bharadwaj, V.; Cai, Y.; Clendenin, J.; Corredoura, P.; Decker, F.J.; Donald, M.; Ecklund, S.; Emma, P.; Erickson, R.; Fox, J.; Fieguth, T.; Fisher, A.; Heifets, S.; Hill, A.; Himel, T.; Iverson, R.; Johnson, R.; Judkins, J.; Krejcik, P.; Kulikov, A.; Lee, M.; Mattison, T.; Minty, M.; Nosochkov, Y.; Phinney, N.; Placidi, M.; Prabhakar, S.; Reichel, I.; Ross, M.; Safranek, J.; Smith, S.; Smith, V.; Schwarz, H.; Seeman, J.; Stanek, M.; Sullivan, M.; Teytelman, D.; Tighe, R.; Traller, R.; Turner, J.; Zimmermann, F.; Barry, W.; Byrd, J.; Chattopadhyay, S.; Corlett, J.; Decking, W.; Furman, M.; Li, D.; Nishimura, H.; Portmann, G.; Rimmer, R.; Zholents, A.; Zisman, M.; Kozanecki, W.; Hofmann, A.; Zotter, B.; Steier, C.; Bialowons, W.; Lomperski, M.; Lumpkin, A.;
By: Wienands, U.; Anderson, S.; Assmannt, R.; Bharadwaj, V.; Cai, Y.; Clendenin, J.; Corredoura, P.; Decker, F.J.; Donald, M.; Ecklund, S.; Emma, P.; Erickson, R.; Fox, J.; Fieguth, T.; Fisher, A.; Heifets, S.; Hill, A.; Himel, T.; Iverson, R.; Johnson, R.; Judkins, J.; Krejcik, P.; Kulikov, A.; Lee, M.; Mattison, T.; Minty, M.; Nosochkov, Y.; Phinney, N.; Placidi, M.; Prabhakar, S.; Reichel, I.; Ross, M.; Safranek, J.; Smith, S.; Smith, V.; Schwarz, H.; Seeman, J.; Stanek, M.; Sullivan, M.; Teytelman, D.; Tighe, R.; Traller, R.; Turner, J.; Zimmermann, F.; Barry, W.; Byrd, J.; Chattopadhyay, S.; Corlett, J.; Decking, W.; Furman, M.; Li, D.; Nishimura, H.; Portmann, G.; Rimmer, R.; Zholents, A.; Zisman, M.; Kozanecki, W.; Hofmann, A.; Zotter, B.; Steier, C.; Bialowons, W.; Lomperski, M.; Lumpkin, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kubo, K.; Kotseroglou, T.; Kamada, S.; Hayano, H.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Ross, M.; Minty, M.; Naito, T.; Bane, K.; Takano, M.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Toge, N.; Terunuma, N.; Oide, K.;
By: Kubo, K.; Kotseroglou, T.; Kamada, S.; Hayano, H.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Ross, M.; Minty, M.; Naito, T.; Bane, K.; Takano, M.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Toge, N.; Terunuma, N.; Oide, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Beck, U.; Bellomo, P.; Bowden, G.; Boyce, R.; Choi, B.; Corbett, J.; Daly, E.; Dell'Orco, D.; Dormiani, M.; Elioff, T.; Evans, I.; Garren, A.; Hettel, R.; Judkins, J.; Kennedy, K.; Klaisner, L.; Kurita, N.; Leblanc, G.; Limborg, C.; Martin, D.; Ng, C.; Nosochkov, Y.; Park, S.; Rabcdeau, T.; Safranek, J.; Schwarz, H.; Scott, B.; Sebek, J.; Tanabe, J.; Trautwein, A.; Wermelskirchen, C.; Wiedemann, H.; Wille, K.; Yotam, R.; Zimmermann, F.; Zuo, K.;
By: Beck, U.; Bellomo, P.; Bowden, G.; Boyce, R.; Choi, B.; Corbett, J.; Daly, E.; Dell'Orco, D.; Dormiani, M.; Elioff, T.; Evans, I.; Garren, A.; Hettel, R.; Judkins, J.; Kennedy, K.; Klaisner, L.; Kurita, N.; Leblanc, G.; Limborg, C.; Martin, D.; Ng, C.; Nosochkov, Y.; Park, S.; Rabcdeau, T.; Safranek, J.; Schwarz, H.; Scott, B.; Sebek, J.; Tanabe, J.; Trautwein, A.; Wermelskirchen, C.; Wiedemann, H.; Wille, K.; Yotam, R.; Zimmermann, F.; Zuo, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kamada, S.; Kubo, K.; Hayano, H.; Takayama, Y.; Okugi, T.; Hirose, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Minty, M.; Takano, M.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Naito, T.;
By: Kamada, S.; Kubo, K.; Hayano, H.; Takayama, Y.; Okugi, T.; Hirose, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Minty, M.; Takano, M.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Naito, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: McCormick, D.J.; Minty, M.; Hendrickson, L.J.; Markiewicz, T.; Field, C.; Decker, F.J.; Bower, G.; Barklow, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.D.; Usher, T.; Thompson, K.A.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Phinney, N.;
By: McCormick, D.J.; Minty, M.; Hendrickson, L.J.; Markiewicz, T.; Field, C.; Decker, F.J.; Bower, G.; Barklow, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.D.; Usher, T.; Thompson, K.A.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Phinney, N.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Li, D.; DeSantis, S.; Cheng, W.-H.; Byrd, J.M.; Zimmermann, F.; Stupakov, G.;
By: Li, D.; DeSantis, S.; Cheng, W.-H.; Byrd, J.M.; Zimmermann, F.; Stupakov, G.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Strauss, D.; Schumacher, G.; Muller, G.; Engelko, V.I.; Zimmermann, F.;
By: Strauss, D.; Schumacher, G.; Muller, G.; Engelko, V.I.; Zimmermann, F.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Cornelis, K.; Burkhardt, H.; Arduini, G.; Zorzano, M.-P.; Zimmermann, F.; Klem, J.;
By: Cornelis, K.; Burkhardt, H.; Arduini, G.; Zorzano, M.-P.; Zimmermann, F.; Klem, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Kurokawa, S.I.; Masuzawa, M.; Matsumoto, T.; Mimashi, T.; Nakamura, T.T.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohsawa, S.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Perevedentsev, E.A.; Satoh, K.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Suwada, T.; Takasaki, F.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Uno, S.; Wu, Y.; Yamamoto, N.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshioka, M.; Zimmermann, F.;
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Kurokawa, S.I.; Masuzawa, M.; Matsumoto, T.; Mimashi, T.; Nakamura, T.T.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohsawa, S.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Perevedentsev, E.A.; Satoh, K.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Suwada, T.; Takasaki, F.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Uno, S.; Wu, Y.; Yamamoto, N.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshioka, M.; Zimmermann, F.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Mayoud, M.; Leros, N.; Aleksa, M.; Guignard, G.; Coosemans, W.; Assmann, R.; Redaelli, S.; Zimmermann, F.; Wilson, I.; Schulte, D.; Russenschuck, S.; Ruggiero, F.;
By: Mayoud, M.; Leros, N.; Aleksa, M.; Guignard, G.; Coosemans, W.; Assmann, R.; Redaelli, S.; Zimmermann, F.; Wilson, I.; Schulte, D.; Russenschuck, S.; Ruggiero, F.;
2002 / IEEE / 0-7803-7540-8
By: Bluhm, H.; Mueller, G.; Engelko, V.; Notchovnaia, N.; Shulov, V.; Heinzel, A.; Zimmermann, F.; Weisenburger, A.; Strauss, D.; Schumacher, G.;
By: Bluhm, H.; Mueller, G.; Engelko, V.; Notchovnaia, N.; Shulov, V.; Heinzel, A.; Zimmermann, F.; Weisenburger, A.; Strauss, D.; Schumacher, G.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Jimenez, M.; Rossi, A.; Hilleret, N.; Henrist, B.; Cornelis, K.; Jenninger, B.; Collins, I.; Collier, P.; Cimino, R.; Benedetto, E.; Baglin, V.; Arduini, G.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Rumolo, G.; Ruggiero, F.;
By: Jimenez, M.; Rossi, A.; Hilleret, N.; Henrist, B.; Cornelis, K.; Jenninger, B.; Collins, I.; Collier, P.; Cimino, R.; Benedetto, E.; Baglin, V.; Arduini, G.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Rumolo, G.; Ruggiero, F.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Sen, T.; Zimmermann, F.; Schmidt, F.; Fischer, W.; Moore, R.; Zhang, X.L.; Syphers, M.; Shiltsev, V.; Lebrun, P.;
By: Sen, T.; Zimmermann, F.; Schmidt, F.; Fischer, W.; Moore, R.; Zhang, X.L.; Syphers, M.; Shiltsev, V.; Lebrun, P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Shiltsev, V.; Sen, T.; Xiaolong Zhang; Zimmermann, F.; Schmidt, F.; Alexahin, Yu.; Meiqin Xiao;
By: Shiltsev, V.; Sen, T.; Xiaolong Zhang; Zimmermann, F.; Schmidt, F.; Alexahin, Yu.; Meiqin Xiao;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Rossi, A.; Laurent, J.M.; Jenninger, B.; Jensen, L.; Hilleret, N.; Henrist, B.; Weiss, K.; Ferioli, G.; Collier, P.; Baglin, V.; Arduini, Q.; Jimenez, J.M.; Zimmermann, F.;
By: Rossi, A.; Laurent, J.M.; Jenninger, B.; Jensen, L.; Hilleret, N.; Henrist, B.; Weiss, K.; Ferioli, G.; Collier, P.; Baglin, V.; Arduini, Q.; Jimenez, J.M.; Zimmermann, F.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Schulte, D.; Guignard, G.; Coosemans, W.; Abmann, R.; Redaelli, S.; Zimmermann, F.; Wilson, I.;
By: Schulte, D.; Guignard, G.; Coosemans, W.; Abmann, R.; Redaelli, S.; Zimmermann, F.; Wilson, I.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Seryi, A.; Tenenbaum, P.; Raubenheimer, T.; Napoly, O.; Mokhov, N.; Schulte, D.; Maruyama, T.; Markiewicz, T.; Kozanecki, W.; Keller, L.; Blair, G.; Drozhdin, A.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Walker, N.;
By: Seryi, A.; Tenenbaum, P.; Raubenheimer, T.; Napoly, O.; Mokhov, N.; Schulte, D.; Maruyama, T.; Markiewicz, T.; Kozanecki, W.; Keller, L.; Blair, G.; Drozhdin, A.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Walker, N.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Papaphilippou, Y.; Ohmi, K.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Benedetto, E.; Rumolo, G.;
By: Papaphilippou, Y.; Ohmi, K.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Benedetto, E.; Rumolo, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Feng, B.; Ghalam, A.; Katsoueleas, T.; Ohmi, K.; Franchetti, G.; Rumolo, G.; Zimmermann, F.; Roncarolo, F.; Arduini, G.; Benedetto, E.;
By: Feng, B.; Ghalam, A.; Katsoueleas, T.; Ohmi, K.; Franchetti, G.; Rumolo, G.; Zimmermann, F.; Roncarolo, F.; Arduini, G.; Benedetto, E.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Rumolo, G.; Ghalam, A.Z.; Zimmermann, F.; Benedetto, E.; Katsouleas, T.; Mori, W.B.; Huang, C.K.; Decyk, V.K.;
By: Rumolo, G.; Ghalam, A.Z.; Zimmermann, F.; Benedetto, E.; Katsouleas, T.; Mori, W.B.; Huang, C.K.; Decyk, V.K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Pivi, M.; Ohmi, K.; Rumolo, G.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Bellodi, G.; Zobov, M.; Vaccarezza, C.; Drago, A.; Cimino, R.;
By: Pivi, M.; Ohmi, K.; Rumolo, G.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Bellodi, G.; Zobov, M.; Vaccarezza, C.; Drago, A.; Cimino, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Kumada, M.; Danagoulian, S.; Mtingwa, S.; Delerue, N.; Howell, D.; Reichold, A.; Urner, D.; Choi, J.; Huang, J.-Y.; Kang, H.S.; Kim, E.-S.; Kim, S.; Ko, I.S.; Burrows, P.; Christian, G.; Molloy, S.; White, G.; Agapov, I.; Blair, G.; Boorman, G.; Carter, J.; Driouichi, C.; Price, M.; Walker, N.; Bane, K.; Brachmann, A.; Himel, T.; Markiewicz, T.; Nelson, J.; Phinney, N.; Pivi, M.; Raubenheimer, T.; Ross, M.; Ruland, R.; Seryi, A.; Spencer, C.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.; Boogert, S.; Liapine, A.; Malton, S.; Torrence, E.; Sanuki, T.; Suehara, T.; Araki, S.; Hayano, H.; Higashi, Y.; Honda, Y.; Kanazawa, K.; Kubo, K.; Kume, T.; Kuriki, M.; Kuroda, S.; Masuzawa, M.; Naito, T.; Okugi, T.; Sugahara, R.; Takahashi, T.; Tauchi, T.; Terunuma, N.; Toge, N.; Urakawa, J.; Vogel, V.; Yamaoka, H.; Yokoya, K.; Gao, J.; Liu, W.; Pei, G.; Wang, J.; Grishanov, B.; Logachev, P.; Podgorny, F.; Telnov, V.; Angal-Kalinin, D.; Appleby, R.; Jones, J.; Kalinin, A.; Napoly, O.; Payet, J.; Braun, H.; Schulte, D.; Zimmermann, F.; Takahashi, T.; Iwashita, Y.; Mihara, T.; Bambade, P.; Gronberg, J.;
By: Kumada, M.; Danagoulian, S.; Mtingwa, S.; Delerue, N.; Howell, D.; Reichold, A.; Urner, D.; Choi, J.; Huang, J.-Y.; Kang, H.S.; Kim, E.-S.; Kim, S.; Ko, I.S.; Burrows, P.; Christian, G.; Molloy, S.; White, G.; Agapov, I.; Blair, G.; Boorman, G.; Carter, J.; Driouichi, C.; Price, M.; Walker, N.; Bane, K.; Brachmann, A.; Himel, T.; Markiewicz, T.; Nelson, J.; Phinney, N.; Pivi, M.; Raubenheimer, T.; Ross, M.; Ruland, R.; Seryi, A.; Spencer, C.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.; Boogert, S.; Liapine, A.; Malton, S.; Torrence, E.; Sanuki, T.; Suehara, T.; Araki, S.; Hayano, H.; Higashi, Y.; Honda, Y.; Kanazawa, K.; Kubo, K.; Kume, T.; Kuriki, M.; Kuroda, S.; Masuzawa, M.; Naito, T.; Okugi, T.; Sugahara, R.; Takahashi, T.; Tauchi, T.; Terunuma, N.; Toge, N.; Urakawa, J.; Vogel, V.; Yamaoka, H.; Yokoya, K.; Gao, J.; Liu, W.; Pei, G.; Wang, J.; Grishanov, B.; Logachev, P.; Podgorny, F.; Telnov, V.; Angal-Kalinin, D.; Appleby, R.; Jones, J.; Kalinin, A.; Napoly, O.; Payet, J.; Braun, H.; Schulte, D.; Zimmermann, F.; Takahashi, T.; Iwashita, Y.; Mihara, T.; Bambade, P.; Gronberg, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Faus-Golfe, A.; Resta, J.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Robert-Demolaize, G.; Redaelli, S.; Assmann, R.;
By: Faus-Golfe, A.; Resta, J.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Robert-Demolaize, G.; Redaelli, S.; Assmann, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Zimmermann, F.; Yoshimoto, S.; Yoshida, Mi.; Yoshida, Ma.; Yokoyama, K.; Yano, Y.; Yamamoto, Y.; Yamamoto, N.; Uno, S.; Uehara, S.; Tokuda, N.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Stanic, S.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.;
By: Funakoshi, Y.; Akai, K.; Zimmermann, F.; Yoshimoto, S.; Yoshida, Mi.; Yoshida, Ma.; Yokoyama, K.; Yano, Y.; Yamamoto, Y.; Yamamoto, N.; Uno, S.; Uehara, S.; Tokuda, N.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Stanic, S.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Ross, M.; Urakawa, J.; Naito, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.;
By: Ross, M.; Urakawa, J.; Naito, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Burkhardt, H.; Arduini, G.; Zimmermann, F.; Wenninger, J.; Steinhagen, R.; Schulte, D.; Roncarolo, F.; Robert-Demolaize, G.; Redaelli, S.; Metral, E.; Kroyer, T.; Jones, R.; Grudiev, A.; Assmann, R.; Caspers, F.; Gasior, M.;
By: Burkhardt, H.; Arduini, G.; Zimmermann, F.; Wenninger, J.; Steinhagen, R.; Schulte, D.; Roncarolo, F.; Robert-Demolaize, G.; Redaelli, S.; Metral, E.; Kroyer, T.; Jones, R.; Grudiev, A.; Assmann, R.; Caspers, F.; Gasior, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Franchetti, G.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Benedetto, E.; Ohmi, K.;
By: Franchetti, G.; Zimmermann, F.; Schulte, D.; Benedetto, E.; Ohmi, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Baglin, V.; Arduini, G.; Schulte, D.; Zimmermann, F.; Ruggiero, F.; Jimenez, J.M.;
By: Baglin, V.; Arduini, G.; Schulte, D.; Zimmermann, F.; Ruggiero, F.; Jimenez, J.M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Ghalam, A.; Feng, B.; Katsouleas, T.; Mori, W.; Decyk, V.; Zimmermann, F.; Benedetto, E.;
By: Ghalam, A.; Feng, B.; Katsouleas, T.; Mori, W.; Decyk, V.; Zimmermann, F.; Benedetto, E.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Shiltsev, V.; Zhang, X.L.; Tkachenko, L.; Sytnik, V.; Kozub, S.; Kashtanov, E.; Bogdanov, I.; Kuzmin, A.; Tiunov, M.; Zimmermann, F.; Bishofberger, K.; Klebaner, A.; Martinez, A.; Kuznetsov, G.; Pfeffer, H.; Saewert, G.; Semenov, A.; Wolff, D.; Hively, R.; Kamerdzhiev, V.;
By: Shiltsev, V.; Zhang, X.L.; Tkachenko, L.; Sytnik, V.; Kozub, S.; Kashtanov, E.; Bogdanov, I.; Kuzmin, A.; Tiunov, M.; Zimmermann, F.; Bishofberger, K.; Klebaner, A.; Martinez, A.; Kuznetsov, G.; Pfeffer, H.; Saewert, G.; Semenov, A.; Wolff, D.; Hively, R.; Kamerdzhiev, V.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Woods, M.; Erickson, R.; Frisch, J.; Hast, C.; Jobe, R.K.; Keller, L.; Markiewicz, T.; Maruyama, T.; McCormick, D.; Nelson, J.; Phinney, N.; Raubenheimer, T.; Ross, M.; Seryi, A.; Smith, S.; Szalata, Z.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.; Angal-Kalinin, D.; Beard, C.; Densham, C.; Greenhalgh, J.; Jackson, F.; Kalinin, A.; Zimmermann, F.; Zagorodnov, I.; Sugimoto, Y.; Walston, S.; Smith, J.; Sopczak, A.; Burton, D.; Tucker, R.; Shales, N.; Barlow, R.; Mercer, A.; Kurevlev, G.; Hildreth, M.; Burrows, P.; Christian, G.; Clarke, C.; Hartin, A.; Molloy, S.; White, G.; Mueller, W.; Weiland, T.; Watson, N.; Bailey, D.; Cussans, D.; Kolomensky, Y.; Slater, M.; Thomson, M.; Ward, D.; Boogert, S.; Liapine, A.; Malton, S.; Miller, D.J.; Wing, M.; Arnold, R.; Sinev, N.; Torrence, E.;
By: Woods, M.; Erickson, R.; Frisch, J.; Hast, C.; Jobe, R.K.; Keller, L.; Markiewicz, T.; Maruyama, T.; McCormick, D.; Nelson, J.; Phinney, N.; Raubenheimer, T.; Ross, M.; Seryi, A.; Smith, S.; Szalata, Z.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.; Angal-Kalinin, D.; Beard, C.; Densham, C.; Greenhalgh, J.; Jackson, F.; Kalinin, A.; Zimmermann, F.; Zagorodnov, I.; Sugimoto, Y.; Walston, S.; Smith, J.; Sopczak, A.; Burton, D.; Tucker, R.; Shales, N.; Barlow, R.; Mercer, A.; Kurevlev, G.; Hildreth, M.; Burrows, P.; Christian, G.; Clarke, C.; Hartin, A.; Molloy, S.; White, G.; Mueller, W.; Weiland, T.; Watson, N.; Bailey, D.; Cussans, D.; Kolomensky, Y.; Slater, M.; Thomson, M.; Ward, D.; Boogert, S.; Liapine, A.; Malton, S.; Miller, D.J.; Wing, M.; Arnold, R.; Sinev, N.; Torrence, E.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Naito, T.; Hayano, H.; Ross, M.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.; Nakamura, N.; Sakai, H.; Urakawa, J.; Terunuma, N.; Muto, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Honda, Y.;
By: Naito, T.; Hayano, H.; Ross, M.; Zimmermann, F.; Korostelev, M.; Nakamura, N.; Sakai, H.; Urakawa, J.; Terunuma, N.; Muto, T.; Kuroda, S.; Kuriki, M.; Kubo, K.; Honda, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Wolski, A.; Wanzenberg, R.; Ohmi, K.; Harkay, K.; Ghalam, A.; Raubenheimer, T.; Pivi, M.; Zimmermann, F.;
By: Wolski, A.; Wanzenberg, R.; Ohmi, K.; Harkay, K.; Ghalam, A.; Raubenheimer, T.; Pivi, M.; Zimmermann, F.;
Improved algorithms to determine the non-linear optics model of the SPS from non-linear chromaticity
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7By: Zimmermann, F.; Rumolo, G.; Arduini, G.; Tomas, R.; Faus-Golfe, A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Baumbach, T.; Kostka, B.; Mueller, A.-S.; Wollmann, D.; Bernhard, A.; Rossmanith, R.; Hagelstein, M.; Grau, A.; Casalbuoni, S.; Zimmermann, F.; Papaphilippou, Y.; Korostelev, M.; Braun, H.; Steffens, E.; Mashkina, E.;
By: Baumbach, T.; Kostka, B.; Mueller, A.-S.; Wollmann, D.; Bernhard, A.; Rossmanith, R.; Hagelstein, M.; Grau, A.; Casalbuoni, S.; Zimmermann, F.; Papaphilippou, Y.; Korostelev, M.; Braun, H.; Steffens, E.; Mashkina, E.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Todesco, E.; Metral, E.; Assmann, R.; Koutchouk, J.-P.; Sterbini, G.; De Maria, R.; Zimmermann, F.;
By: Todesco, E.; Metral, E.; Assmann, R.; Koutchouk, J.-P.; Sterbini, G.; De Maria, R.; Zimmermann, F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Aiba, M.; Franchetti, G.; Shiltsev, V.; Zimmermann, F.; Scandale, W.; Dorda, U.; Chanel, M.; Metral, E.; Martini, M.; Koutchouk, J.-P.; Garoby, R.; Papaphilippou, Y.;
By: Aiba, M.; Franchetti, G.; Shiltsev, V.; Zimmermann, F.; Scandale, W.; Dorda, U.; Chanel, M.; Metral, E.; Martini, M.; Koutchouk, J.-P.; Garoby, R.; Papaphilippou, Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Zimmermann, F.; Tomas, R.; Schulte, D.; Rumolo, G.; Benedetto, E.; Vay, J.-L.; Franchetti, G.; Fischer, W.; Sonnad, K.; Raubenheimer, T.; Pivi, M.; Ohmi, K.;
By: Zimmermann, F.; Tomas, R.; Schulte, D.; Rumolo, G.; Benedetto, E.; Vay, J.-L.; Franchetti, G.; Fischer, W.; Sonnad, K.; Raubenheimer, T.; Pivi, M.; Ohmi, K.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Nergiz, Z.; Ciftci, A.K.; Aksakal, H.; Zimmermann, F.; Schulte, D.;
By: Nergiz, Z.; Ciftci, A.K.; Aksakal, H.; Zimmermann, F.; Schulte, D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Funakoshi, Y.; Agho, T.; Akai, K.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, K.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, N.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Zimmermann, F.;
By: Funakoshi, Y.; Agho, T.; Akai, K.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuma, H.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Haba, J.; Hiramatsu, S.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Kageyama, T.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kato, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Koiso, H.; Masuzawa, M.; Mimashi, T.; Morita, A.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, K.; Nakayama, H.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Shimada, M.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, N.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Zimmermann, F.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap