Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Ziegler, W.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Menge, P.R.; Ziegler, W.; Shestakova, I.; Roscoe, B.; Radtke, R.J.; Philip, O.; Miles, J.; Madio, D.; Lorente, M.; Jorion, B.; Herron, S.; Hackbart, M.; Grau, J.; Fricke, S.; Crowder, B.; Crary, S.; Clevinger, P.; Brill, T.; Berheide, M.; Adolph, B.; Stoller, C.;
By: Menge, P.R.; Ziegler, W.; Shestakova, I.; Roscoe, B.; Radtke, R.J.; Philip, O.; Miles, J.; Madio, D.; Lorente, M.; Jorion, B.; Herron, S.; Hackbart, M.; Grau, J.; Fricke, S.; Crowder, B.; Crary, S.; Clevinger, P.; Brill, T.; Berheide, M.; Adolph, B.; Stoller, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0090-2
By: Djemame, K.; Armstrong, D.; Ziegler, W.; Tordsson, J.; Nair, S.;
By: Djemame, K.; Armstrong, D.; Ziegler, W.; Tordsson, J.; Nair, S.;
2013 / IEEE
By: Reinhard, A.; Schmidt, A.; Herzer, S.; Singh, P.; Gopal, A.; Gibbon, P.; Ziegler, W.; Broemmel, D.; Meyer, H-G.; May, T.; Dillner, U.; Paulus, G. G.; Karmakar, A.;
By: Reinhard, A.; Schmidt, A.; Herzer, S.; Singh, P.; Gopal, A.; Gibbon, P.; Ziegler, W.; Broemmel, D.; Meyer, H-G.; May, T.; Dillner, U.; Paulus, G. G.; Karmakar, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5207-6
By: Ziegler, W.; Dempewolf, J.; Zimmerman, R.; Etzrodt, N.; Holz, A.; Vietmeier, J.;
By: Ziegler, W.; Dempewolf, J.; Zimmerman, R.; Etzrodt, N.; Holz, A.; Vietmeier, J.;
2001 / IEEE / 0-7695-1010-8
By: Russell, M.; Ziegler, W.; Cafaro, M.; Aloisio, G.; Kersken, H.-P.; Pukacki, J.; Nabrzyski, J.; Ludwiczak, B.; Schintke, F.; Reinefeld, A.; Merzky, A.; Knipp, H.; Krenek, A.; Ruda, M.; Matyska, L.; Streit, A.; Keller, A.; Gehring, J.; Szalai, F.; Kacsuk, P.; Balaton, Z.; Verstoep, K.; Kielmann, T.; Seidel, E.; Radke, T.; Lanfermann, G.; Goodale, T.; Dramlitsch, T.; Allen, G.;
By: Russell, M.; Ziegler, W.; Cafaro, M.; Aloisio, G.; Kersken, H.-P.; Pukacki, J.; Nabrzyski, J.; Ludwiczak, B.; Schintke, F.; Reinefeld, A.; Merzky, A.; Knipp, H.; Krenek, A.; Ruda, M.; Matyska, L.; Streit, A.; Keller, A.; Gehring, J.; Szalai, F.; Kacsuk, P.; Balaton, Z.; Verstoep, K.; Kielmann, T.; Seidel, E.; Radke, T.; Lanfermann, G.; Goodale, T.; Dramlitsch, T.; Allen, G.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ziener, C.; Ziegler, W.;
By: Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ziener, C.; Ziegler, W.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Ziegler, W.; Schwoerer, H.; Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Bischoff, M.;
By: Ziegler, W.; Schwoerer, H.; Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Bischoff, M.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Ziegler, W.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Schwoerer, H.; Sauerbrey, R.; Jackel, O.; Pfotenhauer, S.; Esirkepov, T.; Ledingham, K.W.D.;
By: Ziegler, W.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Schwoerer, H.; Sauerbrey, R.; Jackel, O.; Pfotenhauer, S.; Esirkepov, T.; Ledingham, K.W.D.;