Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Zhu, Z.
Results
2012 / IEEE
By: Rauch, S.E.; Zhu, Z.; Ronsheim, P.; Tang, H.H.K.; McNally, B.D.; Gordon, M.S.; Rodbell, K.P.; Coleman, S.;
By: Rauch, S.E.; Zhu, Z.; Ronsheim, P.; Tang, H.H.K.; McNally, B.D.; Gordon, M.S.; Rodbell, K.P.; Coleman, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
Dynamic and static impedance spectroscopy for single particle characterization in microfluidic chips
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5By: Hierlemann, A.; Frey, O.; Haandbak, N.; Zhu, Z.; Burgel, S.C.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
2012 / IEEE / 978-1-936968-43-5
By: Hardegger, M.; Mazilu, S.; Hausdorff, J.M.; Plotnik, M.; Troster, G.; Roggen, D.; Zhu, Z.;
By: Hardegger, M.; Mazilu, S.; Hausdorff, J.M.; Plotnik, M.; Troster, G.; Roggen, D.; Zhu, Z.;
2013 / IEEE
By: Zhu, Z.; Dai, S.; Lin, L.; Ma, T.; Zhang, G.; Xu, X.; Qiu, Q.; Zhang, Z.; Song, N.; Gao, Z.; Zhang, D.; Guo, W.; Teng, Y.; Zhang, J.; Xiao, L.;
By: Zhu, Z.; Dai, S.; Lin, L.; Ma, T.; Zhang, G.; Xu, X.; Qiu, Q.; Zhang, Z.; Song, N.; Gao, Z.; Zhang, D.; Guo, W.; Teng, Y.; Zhang, J.; Xiao, L.;
2014 / IEEE
By: Mansuripur, M.; Balakrishnan, K.; Mankowski, T.; Zhu, Z.; Falco, C.M.; Touati, F.; Popelka, A.; Shikoh, A.S.; Benammar, M.A.;
By: Mansuripur, M.; Balakrishnan, K.; Mankowski, T.; Zhu, Z.; Falco, C.M.; Touati, F.; Popelka, A.; Shikoh, A.S.; Benammar, M.A.;
2015 / IEEE
By: Zhao, L.; Zhu, Z.; Zhang, K.; Zhang, X.; Hou, Z.; Ning, F.; Yao, W.; Zhang, G.; Wang, M.; Wang, Z.;
By: Zhao, L.; Zhu, Z.; Zhang, K.; Zhang, X.; Hou, Z.; Ning, F.; Yao, W.; Zhang, G.; Wang, M.; Wang, Z.;
2015 / IEEE
By: Wang, Z.; Zhang, X.; Wang, M.; Hou, Z.; Zhang, G.; Yao, W.; Zhang, K.; Dai, Z.; Zhao, L.; Chang, Z.; Zhu, Z.; Ning, F.;
By: Wang, Z.; Zhang, X.; Wang, M.; Hou, Z.; Zhang, G.; Yao, W.; Zhang, K.; Dai, Z.; Zhao, L.; Chang, Z.; Zhu, Z.; Ning, F.;
2014 / IEEE
By: Cheng, K.; Seo, S.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Nowak, E.; Rim, K.; Doris, B.; Wu, T.; Oldiges, P.; Faltermeier, J.; Lu, D.; Standaert, T.; Ok, I.; Khakifirooz, A.; Vega, R.; Levin, T.; Li, J.; Demarest, J.; Surisetty, C.; Song, D.; Utomo, H.; Chao, R.; He, H.; Madan, A.; DeHaven, P.; Klymko, N.; Zhu, Z.; Naczas, S.; Yin, Y.; Kuss, J.; Jacob, A.; Bae, D.; Seo, K.; Kleemeier, W.; Sampson, R.; Hook, T.; Haran, B.; Gifford, G.; Gupta, D.; Shang, H.; Bu, H.; Na, M.;
By: Cheng, K.; Seo, S.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Nowak, E.; Rim, K.; Doris, B.; Wu, T.; Oldiges, P.; Faltermeier, J.; Lu, D.; Standaert, T.; Ok, I.; Khakifirooz, A.; Vega, R.; Levin, T.; Li, J.; Demarest, J.; Surisetty, C.; Song, D.; Utomo, H.; Chao, R.; He, H.; Madan, A.; DeHaven, P.; Klymko, N.; Zhu, Z.; Naczas, S.; Yin, Y.; Kuss, J.; Jacob, A.; Bae, D.; Seo, K.; Kleemeier, W.; Sampson, R.; Hook, T.; Haran, B.; Gifford, G.; Gupta, D.; Shang, H.; Bu, H.; Na, M.;
2014 / IEEE
By: Jin, R.; Zhao, S.; Zhu, Z.; Kang, J.; Li, X.; Ma, M.; Luo, W.; Li, X.; Yan, B.; Guo, J.;
By: Jin, R.; Zhao, S.; Zhu, Z.; Kang, J.; Li, X.; Ma, M.; Luo, W.; Li, X.; Yan, B.; Guo, J.;
2014 / IEEE
By: Zhang, W.; Peh, L.; Soo-Jin, C.; Michel, J.; Lee, K.E.K.; Zhu, Z.; Wang, B.; Zhang, L.;
By: Zhang, W.; Peh, L.; Soo-Jin, C.; Michel, J.; Lee, K.E.K.; Zhu, Z.; Wang, B.; Zhang, L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Zhu, Z.; Kang, Y.; Lo, Y.H.; Yu, P.K.L.; Zhou, Y.; Lau, S.S.; Clawson, A.R.; Baek, J.H.; Mages, P.;
By: Zhu, Z.; Kang, Y.; Lo, Y.H.; Yu, P.K.L.; Zhou, Y.; Lau, S.S.; Clawson, A.R.; Baek, J.H.; Mages, P.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Taylor, J.; Hernandez, V.; Zhu, Z.; Pan, Z.; Wang, Z.; Bansal, Y.; Akella, V.; Jeon, M.; Cao, J.; Kamei, S.; Okamoto, K.; Yoo, S.;
By: Taylor, J.; Hernandez, V.; Zhu, Z.; Pan, Z.; Wang, Z.; Bansal, Y.; Akella, V.; Jeon, M.; Cao, J.; Kamei, S.; Okamoto, K.; Yoo, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7995-0
By: Koide, T.; Mattausch, H.J.; Johguchi, K.; Zhu, Z.; Hironaka, T.; Hirakawa, T.;
By: Koide, T.; Mattausch, H.J.; Johguchi, K.; Zhu, Z.; Hironaka, T.; Hirakawa, T.;
2005 / IEEE
By: Hu, J.; Huang, B.; Yang, H.; Zhao, L.; Yi, C.; Xu, S.; Chen, H.; Zhu, Z.; Wang, M.; Juang, T.; Chen, C.; Taylor, C.; Wahrer, B.; Wang, B.; Zhou, J.;
By: Hu, J.; Huang, B.; Yang, H.; Zhao, L.; Yi, C.; Xu, S.; Chen, H.; Zhu, Z.; Wang, M.; Juang, T.; Chen, C.; Taylor, C.; Wahrer, B.; Wang, B.; Zhou, J.;