Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Zhu, Y.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Ren, Z.; Haensch, W.; Tega, N.; Yamaoka, M.; Miki, H.; Torii, K.; Kobayashi, M.; Park, D.; Guillorn, M.A.; Frank, D.J.; Zhu, Y.; D'Emic, C.P.;
By: Ren, Z.; Haensch, W.; Tega, N.; Yamaoka, M.; Miki, H.; Torii, K.; Kobayashi, M.; Park, D.; Guillorn, M.A.; Frank, D.J.; Zhu, Y.; D'Emic, C.P.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Yamashita, T.; Basker, V.S.; Standaert, T.; Yeh, C.-C.; Yamamoto, T.; Maitra, K.; Lin, C.-H.; Faltermeier, J.; Kanakasabapathy, S.; Wang, M.; Sunamura, H.; Jagannathan, H.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Inada, A.; Wang, J.; Adhikari, H.; Berliner, N.; Lee, K.-L.; Kulkarni, P.; Zhu, Y.; Kumar, A.; Bryant, A.; Wu, S.; Kanarsky, T.; Cho, J.; Mclellan, E.; Holmes, S.J.; Johnson, R.C.; Levin, T.; Demarest, J.; Li, J.; Oldiges, P.; Arnold, J.; Colburn, M.; Hane, M.; Mcherron, D.; Paruchuri, V.K.; Doris, B.; Miller, R.J.; Bu, H.; Khare, M.; O'Neill, J.; Leobandung, E.;
By: Yamashita, T.; Basker, V.S.; Standaert, T.; Yeh, C.-C.; Yamamoto, T.; Maitra, K.; Lin, C.-H.; Faltermeier, J.; Kanakasabapathy, S.; Wang, M.; Sunamura, H.; Jagannathan, H.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Inada, A.; Wang, J.; Adhikari, H.; Berliner, N.; Lee, K.-L.; Kulkarni, P.; Zhu, Y.; Kumar, A.; Bryant, A.; Wu, S.; Kanarsky, T.; Cho, J.; Mclellan, E.; Holmes, S.J.; Johnson, R.C.; Levin, T.; Demarest, J.; Li, J.; Oldiges, P.; Arnold, J.; Colburn, M.; Hane, M.; Mcherron, D.; Paruchuri, V.K.; Doris, B.; Miller, R.J.; Bu, H.; Khare, M.; O'Neill, J.; Leobandung, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2084-0
By: Lung, H.-L.; Ray, A.; Lai, E.K.; Joseph, E.A.; Wang, T.Y.; Wu, J.Y.; Lai, S.-C.; Cheng, H.Y.; Raoux, S.; Schrott, A.; Lee, M.H.; Hsu, T.-H.; Cheek, R.; Mittal, S.; Zhu, Y.; Breitwisch, M.; Li, J.; Du, P.Y.; Kim, S.; Lam, C.;
By: Lung, H.-L.; Ray, A.; Lai, E.K.; Joseph, E.A.; Wang, T.Y.; Wu, J.Y.; Lai, S.-C.; Cheng, H.Y.; Raoux, S.; Schrott, A.; Lee, M.H.; Hsu, T.-H.; Cheek, R.; Mittal, S.; Zhu, Y.; Breitwisch, M.; Li, J.; Du, P.Y.; Kim, S.; Lam, C.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
Radiation Damage Effects by Molecular Dynamics Simulation in ${\rm BaTiO}_{3}$ Ferroelectric Crystal
2012 / IEEEBy: Zhu, Y.; Xie, G.; Li, B.; Xiong, Y.; Li, J.; Tang, M.; Xiao, Y.; Gu, X.;
2012 / IEEE
By: Gonsalvez, J.; Zhu, Y.; Lee, H.; Teherani, J.T.; Shahidi, G.G.; Chern, W.; Hashemi, O.; Hoyt, J.L.;
By: Gonsalvez, J.; Zhu, Y.; Lee, H.; Teherani, J.T.; Shahidi, G.G.; Chern, W.; Hashemi, O.; Hoyt, J.L.;
2013 / IEEE
By: Chen, K.; Li, Z.; Zhu, Y.; Chen, L.; Cai, B.; Zhang, W.; Wang, Y.; Duan, R.; Liu, J.;
By: Chen, K.; Li, Z.; Zhu, Y.; Chen, L.; Cai, B.; Zhang, W.; Wang, Y.; Duan, R.; Liu, J.;
2013 / IEEE
By: Geng, C.; Zhao, B.; Zhao, W.; Duan, K.; Li, X.; Mu, J.; Yang, H.; Zhu, Y.; Tan, Y.; Zhang, E.; Luo, W.;
By: Geng, C.; Zhao, B.; Zhao, W.; Duan, K.; Li, X.; Mu, J.; Yang, H.; Zhu, Y.; Tan, Y.; Zhang, E.; Luo, W.;
2015 / IEEE
By: Zimmerman, R. D.; Murillo-Sanchez, C. E.; Shawhan, D. L.; Lamadrid, A. J.; Dar, Z.; Kindle, A. G.; Tylavsky, D. J.; Zhu, Y.;
By: Zimmerman, R. D.; Murillo-Sanchez, C. E.; Shawhan, D. L.; Lamadrid, A. J.; Dar, Z.; Kindle, A. G.; Tylavsky, D. J.; Zhu, Y.;
2014 / IEEE
By: Wu, J.Y.; Lee, M.H.; Lam, C.; Lung, H.L.; Zhu, Y.; Lai, E.K.; Cheng, H.Y.; Cheek, R.; Wang, T.Y.; Chen, T. S.; Khwa, W. S.; Lu, H. C.; Li, H. P.; Chen, Y.Y.; BrightSky, M.;
By: Wu, J.Y.; Lee, M.H.; Lam, C.; Lung, H.L.; Zhu, Y.; Lai, E.K.; Cheng, H.Y.; Cheek, R.; Wang, T.Y.; Chen, T. S.; Khwa, W. S.; Lu, H. C.; Li, H. P.; Chen, Y.Y.; BrightSky, M.;
2014 / IEEE
By: Lung, H.L.; BrightSky, M.; Lam, C.; Bruce, R.; Cheek, R.; Wang, T.Y.; Zhu, Y.; Cheng, H.Y.; Kim, W.; Kim, S.; Chien, W. C.; Wu, J.Y.;
By: Lung, H.L.; BrightSky, M.; Lam, C.; Bruce, R.; Cheek, R.; Wang, T.Y.; Zhu, Y.; Cheng, H.Y.; Kim, W.; Kim, S.; Chien, W. C.; Wu, J.Y.;
2014 / IEEE
By: Xu, J.; Wang, J.; Teng, Y.; Horneman, K.; Liu, L.; Wang, S.; Zheng, X.; Yang, Y.; Zhu, Y.;
By: Xu, J.; Wang, J.; Teng, Y.; Horneman, K.; Liu, L.; Wang, S.; Zheng, X.; Yang, Y.; Zhu, Y.;
2014 / IEEE
By: Majumdar, A.; Sun, Y.; Leobandung, E.; Park, D.; Sadana, D.K.; Duch, E.A.; Kobayashi, M.; Cheng, S.; Frank, M.M.; de Souza, J.P.; Cheng, C.; Kim, Y.; Rana, U.; Martin, R.M.; Bruce, R.L.; Shiu, K.; Zhu, Y.; Farmer, D.B.; Hopstaken, M.; Joseph, E.A.;
By: Majumdar, A.; Sun, Y.; Leobandung, E.; Park, D.; Sadana, D.K.; Duch, E.A.; Kobayashi, M.; Cheng, S.; Frank, M.M.; de Souza, J.P.; Cheng, C.; Kim, Y.; Rana, U.; Martin, R.M.; Bruce, R.L.; Shiu, K.; Zhu, Y.; Farmer, D.B.; Hopstaken, M.; Joseph, E.A.;
2014 / IEEE
By: Zhu, Y.; Nguyen, N.-T.; Wang, L.; Dao, D. V.; Tanner, P.; Phan, H.-P.; Dimitrijev, S.;
By: Zhu, Y.; Nguyen, N.-T.; Wang, L.; Dao, D. V.; Tanner, P.; Phan, H.-P.; Dimitrijev, S.;
2014 / IEEE
By: Zhu, Y.; Khater, M.H.; Zhang, Z.; Liu, F.; Koswatta, S.O.; Engelmann, S.U.; Price, W.; Gonsalves, J.; Chang, J.; Guillorn, M.A.;
By: Zhu, Y.; Khater, M.H.; Zhang, Z.; Liu, F.; Koswatta, S.O.; Engelmann, S.U.; Price, W.; Gonsalves, J.; Chang, J.; Guillorn, M.A.;
2013 / IEEE
By: Coslovich, G.; Huber, B.; Kaindl, R. A.; Schoenlein, R. W.; Shen, Z.-X.; Martin, M. C.; Bechtel, H. A.; Hussain, Z.; Sasagawa, T.; Zhu, Y.; Lee, W.-S.; Chuang, Y.-D.;
By: Coslovich, G.; Huber, B.; Kaindl, R. A.; Schoenlein, R. W.; Shen, Z.-X.; Martin, M. C.; Bechtel, H. A.; Hussain, Z.; Sasagawa, T.; Zhu, Y.; Lee, W.-S.; Chuang, Y.-D.;
2013 / IEEE
By: Zhu, Y.; Lin, S.K.; Mao, R.W.; Tsai, C.S.; Tsai, S.C.; Mukai, D.; Mahon, S.; Brenner, M.; Boss, G.;
By: Zhu, Y.; Lin, S.K.; Mao, R.W.; Tsai, C.S.; Tsai, S.C.; Mukai, D.; Mahon, S.; Brenner, M.; Boss, G.;
1992 / IEEE
By: Roberts, J.B.; Mutchler, G.S.; Clement, J.M.; Chiou, C.N.; Buchanan, J.A.; Bonner, B.E.; Ahmad, S.; Madansky, L.; Hallman, T.J.; Zhu, Y.; Zhao, K.H.; Kramer, M.A.; Chan, C.S.; Lindenbaum, S.J.; Saulys, A.C.; Platner, E.D.; Morris, T.W.; Love, W.A.; Longacre, R.S.; Hackenburg, R.W.; Foley, K.J.; Eiseman, S.E.; Etkin, A.;
By: Roberts, J.B.; Mutchler, G.S.; Clement, J.M.; Chiou, C.N.; Buchanan, J.A.; Bonner, B.E.; Ahmad, S.; Madansky, L.; Hallman, T.J.; Zhu, Y.; Zhao, K.H.; Kramer, M.A.; Chan, C.S.; Lindenbaum, S.J.; Saulys, A.C.; Platner, E.D.; Morris, T.W.; Love, W.A.; Longacre, R.S.; Hackenburg, R.W.; Foley, K.J.; Eiseman, S.E.; Etkin, A.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Etkin, A.; Eiseman, S.E.; Roberts, J.B.; Mutchler, G.S.; Clement, J.M.; Chiou, C.N.; Buchanan, J.A.; Bonner, B.E.; Ahmad, S.; Madansky, L.; Hallman, T.J.; Zhu, Y.; Zhao, K.H.; Kramer, M.A.; Chan, C.S.; Lindenbaum, S.J.; Saulys, A.C.; Platner, E.D.; Morris, T.W.; Love, W.A.; Longacre, R.S.; Hackenburg, R.W.; Foley, K.J.;
By: Etkin, A.; Eiseman, S.E.; Roberts, J.B.; Mutchler, G.S.; Clement, J.M.; Chiou, C.N.; Buchanan, J.A.; Bonner, B.E.; Ahmad, S.; Madansky, L.; Hallman, T.J.; Zhu, Y.; Zhao, K.H.; Kramer, M.A.; Chan, C.S.; Lindenbaum, S.J.; Saulys, A.C.; Platner, E.D.; Morris, T.W.; Love, W.A.; Longacre, R.S.; Hackenburg, R.W.; Foley, K.J.;
1995 / IEEE
By: Kadyk, J.; Smy, M.; Hearty, C.; Aston, D.; Zhu, Y.; Yellin, S.; Wilson, R.J.; Wenzel, W.; Warner, D.; Wang, M.Z.; Stiles, P.; Staengle, H.; Kawahara, H.; Simopoulos, C.; Reif, R.; Ratcliff, B.; Pripstein, M.; Pope, W.; Oxoby, G.; Muller, D.; Meadows, B.; McShurley, D.; Lynch, G.; Lu, A.;
By: Kadyk, J.; Smy, M.; Hearty, C.; Aston, D.; Zhu, Y.; Yellin, S.; Wilson, R.J.; Wenzel, W.; Warner, D.; Wang, M.Z.; Stiles, P.; Staengle, H.; Kawahara, H.; Simopoulos, C.; Reif, R.; Ratcliff, B.; Pripstein, M.; Pope, W.; Oxoby, G.; Muller, D.; Meadows, B.; McShurley, D.; Lynch, G.; Lu, A.;