Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Zhou, F.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-1769-7
By: Xie, D.J.; Yang, D.G.; Wu, B.Y.; Cai, M.; Zhou, F.; Su, X.X.; Tao, Y.;
By: Xie, D.J.; Yang, D.G.; Wu, B.Y.; Cai, M.; Zhou, F.; Su, X.X.; Tao, Y.;
2013 / IEEE
By: Chang, Y. F.; Chen, P. Y.; Lee, J. C.; Zhou, F.; Wang, Y.; Xue, F.; Chen, Y. T.; Fowler, B.;
By: Chang, Y. F.; Chen, P. Y.; Lee, J. C.; Zhou, F.; Wang, Y.; Xue, F.; Chen, Y. T.; Fowler, B.;
2015 / IEEE
By: Zhou, F.; Li, L.; Cheng, J.; Li, Y.; Liu, J.; Yan, L.; Dai, Y.; Hu, X.; Cui, C.; Cheng, S.;
By: Zhou, F.; Li, L.; Cheng, J.; Li, Y.; Liu, J.; Yan, L.; Dai, Y.; Hu, X.; Cui, C.; Cheng, S.;
2014 / IEEE
By: Chang, Y. F.; Ji, L.; Lee, J. C.; Yu, E. T.; Fowler, B.; Chang, T. C.; Chen, M. C.; Chang, K. C.; Tsai, T. M.; Chen, Y. C.; Zhou, F.;
By: Chang, Y. F.; Ji, L.; Lee, J. C.; Yu, E. T.; Fowler, B.; Chang, T. C.; Chen, M. C.; Chang, K. C.; Tsai, T. M.; Chen, Y. C.; Zhou, F.;
1994 / IEEE / 0-7803-1791-2
By: Pepler, D.A.; Danson, C.N.; Zhou, F.; Winstone, T.B.; Barr, J.R.M.; Barzanti, L.J.; Ebbage, M.D.; Edwards, C.B.; Gander, M.J.; Hanna, D.C.; Hughes, D.W.; Hutchinson, M.H.R.; Key, M.H.; Majdabadi, A.A.; Mercer, I.P.; Neely, D.; Norreys, P.A.; Rivers, S.; Ross, I.N.; Taday, P.F.; Toner, W.T.; Walsh, F.N.;
By: Pepler, D.A.; Danson, C.N.; Zhou, F.; Winstone, T.B.; Barr, J.R.M.; Barzanti, L.J.; Ebbage, M.D.; Edwards, C.B.; Gander, M.J.; Hanna, D.C.; Hughes, D.W.; Hutchinson, M.H.R.; Key, M.H.; Majdabadi, A.A.; Mercer, I.P.; Neely, D.; Norreys, P.A.; Rivers, S.; Ross, I.N.; Taday, P.F.; Toner, W.T.; Walsh, F.N.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Zhang, X.L.; Yokoya, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Qin, Q.; Li, S.P.; Liu, D.K.;
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Zhang, X.L.; Yokoya, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Qin, Q.; Li, S.P.; Liu, D.K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Yokoya, K.; Tsukamoto, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Ye, K.R.; Xu, J.W.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Li, S.P.; Liu, D.K.; Luo, Y.; Ma, L.; Qin, Q.;
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Yokoya, K.; Tsukamoto, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Ye, K.R.; Xu, J.W.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Li, S.P.; Liu, D.K.; Luo, Y.; Ma, L.; Qin, Q.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Skaritka, J.; Yakimenko, V.; Kusche, K.P.; Gallardo, J.C.; Ben-Zvi, I.; Pogorelsky, I.V.; Babzien, M.; Quimby, D.C.; Gottschalk, S.C.; Dilley, C.E.; Campbell, L.P.; Kimura, W.D.; Pantell, R.H.; Steinhauer, L.C.; Cline, D.B.; Zhou, F.;
By: Skaritka, J.; Yakimenko, V.; Kusche, K.P.; Gallardo, J.C.; Ben-Zvi, I.; Pogorelsky, I.V.; Babzien, M.; Quimby, D.C.; Gottschalk, S.C.; Dilley, C.E.; Campbell, L.P.; Kimura, W.D.; Pantell, R.H.; Steinhauer, L.C.; Cline, D.B.; Zhou, F.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Naumenko, G.A.; Potylitsyn, A.P.; Karataev, P.V.; Muto, T.; Hamatsu, R.; Tobiyama, M.; Aryshev, A.S.; Urakawa, J.; Bolton, P.; Ross, M.; Zhou, F.; Cline, D.B.; Fukui, Y.;
By: Naumenko, G.A.; Potylitsyn, A.P.; Karataev, P.V.; Muto, T.; Hamatsu, R.; Tobiyama, M.; Aryshev, A.S.; Urakawa, J.; Bolton, P.; Ross, M.; Zhou, F.; Cline, D.B.; Fukui, Y.;
2005 / IEEE
By: Zhou, F.; Kimura, W.D.; Zigler, A.; Yakimenko, V.; Ting, A.; Steinhauer, L.C.; Pogosova, A.A.; Pogorelsky, I.V.; Pavlishin, I.V.; Kuznetsov, S.V.; Kusche, K.P.; Hooker, S.M.; Gottschalk, S.C.; Dilley, C.E.; Cline, D.B.; Ben-Zvi, I.; Babzien, M.; Andreev, N.E.;
By: Zhou, F.; Kimura, W.D.; Zigler, A.; Yakimenko, V.; Ting, A.; Steinhauer, L.C.; Pogosova, A.A.; Pogorelsky, I.V.; Pavlishin, I.V.; Kuznetsov, S.V.; Kusche, K.P.; Hooker, S.M.; Gottschalk, S.C.; Dilley, C.E.; Cline, D.B.; Ben-Zvi, I.; Babzien, M.; Andreev, N.E.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Rosenzweig, J.; Zhou, F.; Yakimenko, V.; Ben-Zvi, I.; Agusstson, R.; Murokh, A.; Cline, D.; Andonian, G.;
By: Rosenzweig, J.; Zhou, F.; Yakimenko, V.; Ben-Zvi, I.; Agusstson, R.; Murokh, A.; Cline, D.; Andonian, G.;
2006 / IEEE / 0-7803-9773-8
By: Pan, J.Q.; Wang, W.; Feng, W.; An, X.; Bian, J.; Zhu, H.L.; Wang, B.J.; Wang, L.F.; Zhou, F.; Zhao, L.J.;
By: Pan, J.Q.; Wang, W.; Feng, W.; An, X.; Bian, J.; Zhu, H.L.; Wang, B.J.; Wang, L.F.; Zhou, F.; Zhao, L.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Kimura, W.; Yakimenko, V.; Kusche, K.P.; Babzien, M.; Cline, D.; Ding, X.; Zhou, F.;
By: Kimura, W.; Yakimenko, V.; Kusche, K.P.; Babzien, M.; Cline, D.; Ding, X.; Zhou, F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Batygin, Y.; Zhou, F.; Woodley, M.D.; Sheppard, J.C.; Nosochkov, Y.; Liu, W.;
By: Batygin, Y.; Zhou, F.; Woodley, M.D.; Sheppard, J.C.; Nosochkov, Y.; Liu, W.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Sheppard, J.C.; Miller, R.H.; Clendenin, J.; Brachmann, A.; Batygin, Y.; Zhou, F.; Woodley, M.D.;
By: Sheppard, J.C.; Miller, R.H.; Clendenin, J.; Brachmann, A.; Batygin, Y.; Zhou, F.; Woodley, M.D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Rosenzweig, J.B.; Murokh, A.Y.; Kabel, A.C.; Cline, D.B.; Yakimenko, V.; Agustsson, R.B.; Zhou, F.; Andonian, G.;
By: Rosenzweig, J.B.; Murokh, A.Y.; Kabel, A.C.; Cline, D.B.; Yakimenko, V.; Agustsson, R.B.; Zhou, F.; Andonian, G.;