Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Zhao, S.
Results
Flashover Voltage Prediction of Composite Insulators Based on the Characteristics of Leakage Current
2013 / IEEEBy: Zhao, S.; Shu, L.; Hu, J.; Zhang, Z.; Jiang, X.;
2015 / IEEE
By: Lv, J.; Jiang, X.; Liu, T.; Guo, L.; Ye, J.; Han, J.; Hu, X.; Zhang, T.; Chen, H.; Zhao, S.; Zhang, S.; Zhu, D.; Li, X.;
By: Lv, J.; Jiang, X.; Liu, T.; Guo, L.; Ye, J.; Han, J.; Hu, X.; Zhang, T.; Chen, H.; Zhao, S.; Zhang, S.; Zhu, D.; Li, X.;
2014 / IEEE
By: Shi, H.; Zou, X.; Luo, H.; Zhang, R.; Zhu, X.; Yap, S.; Wang, X.; Zhao, S.; Wong, C.S.;
By: Shi, H.; Zou, X.; Luo, H.; Zhang, R.; Zhu, X.; Yap, S.; Wang, X.; Zhao, S.; Wong, C.S.;
2015 / IEEE
By: Zhang, H.; Zhao, J.; Zhao, B.; Wang, Y.; Qiao, W.; Li, D.; Li, G.; Li, T.; Zhao, S.; Yang, K.;
By: Zhang, H.; Zhao, J.; Zhao, B.; Wang, Y.; Qiao, W.; Li, D.; Li, G.; Li, T.; Zhao, S.; Yang, K.;
2015 / IEEE
By: Chu, H.; Zhao, S.; Hang, Y.; Xu, J.; Qiao, W.; Zhao, J.; Li, D.; Li, G.; Yang, K.; Li, T.;
By: Chu, H.; Zhao, S.; Hang, Y.; Xu, J.; Qiao, W.; Zhao, J.; Li, D.; Li, G.; Yang, K.; Li, T.;
2014 / IEEE
By: Jin, R.; Zhao, S.; Zhu, Z.; Kang, J.; Li, X.; Ma, M.; Luo, W.; Li, X.; Yan, B.; Guo, J.;
By: Jin, R.; Zhao, S.; Zhu, Z.; Kang, J.; Li, X.; Ma, M.; Luo, W.; Li, X.; Yan, B.; Guo, J.;
2014 / IEEE
By: Molina, J. M.; Zhao, S.; Cobos, J. A.; Garcia, O.; Arevalo, F.; Torres, J.; Alou, P.; Oliver, J. A.; Silva, M.;
By: Molina, J. M.; Zhao, S.; Cobos, J. A.; Garcia, O.; Arevalo, F.; Torres, J.; Alou, P.; Oliver, J. A.; Silva, M.;
2014 / IEEE
By: Zhao, S.; Molina, J. M.; Cobos, J. A.; Garcia, O.; Arevalo, F.; Torres, J.; Alou, P.; Oliver, J. A.; Silva, M.;
By: Zhao, S.; Molina, J. M.; Cobos, J. A.; Garcia, O.; Arevalo, F.; Torres, J.; Alou, P.; Oliver, J. A.; Silva, M.;
2014 / IEEE
By: Feng, T.; Li, T.; Xu, J.; Zhang, P.; Hang, Y.; Qiao, W.; Zhao, J.; Yang, K.; Zhao, S.;
By: Feng, T.; Li, T.; Xu, J.; Zhang, P.; Hang, Y.; Qiao, W.; Zhao, J.; Yang, K.; Zhao, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Butler, J.F.; Apotovsky, B.; Lingren, C.L.; Zhao, S.; Conwell, R.L.; Pi, B.; Oganesyan, A.; Friesenhahn, S.J.; Doty, F.P.;
By: Butler, J.F.; Apotovsky, B.; Lingren, C.L.; Zhao, S.; Conwell, R.L.; Pi, B.; Oganesyan, A.; Friesenhahn, S.J.; Doty, F.P.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Apotovsky, B.; Augustine, F.L.; Conwell, R.L.; Ashburn, W.L.; Doty, F.P.; Friesenhahn, S.J.; Pi, B.; Butler, J.F.; Isaacson, C.; Lingren, C.L.; Zhao, S.; Collins, T.;
By: Apotovsky, B.; Augustine, F.L.; Conwell, R.L.; Ashburn, W.L.; Doty, F.P.; Friesenhahn, S.J.; Pi, B.; Butler, J.F.; Isaacson, C.; Lingren, C.L.; Zhao, S.; Collins, T.;
1998 / IEEE
By: Butler, J.F.; Isaacson, C.; Zhao, S.; Collins, T.; Pi, B.; Friesenhahn, S.J.; Lingren, C.L.; Augustine, F.L.; Conwell, R.L.; Ashburn, W.L.; Doty, F.P.; Apotovsky, B.;
By: Butler, J.F.; Isaacson, C.; Zhao, S.; Collins, T.; Pi, B.; Friesenhahn, S.J.; Lingren, C.L.; Augustine, F.L.; Conwell, R.L.; Ashburn, W.L.; Doty, F.P.; Apotovsky, B.;
1998 / IEEE
By: Oganesyan, A.; Friesenhahn, S.J.; Doty, F.P.; Conwell, R.; Pi, B.; Apotovsky, B.; Lingren, C.L.; Butler, J.F.; Zhao, S.;
By: Oganesyan, A.; Friesenhahn, S.J.; Doty, F.P.; Conwell, R.; Pi, B.; Apotovsky, B.; Lingren, C.L.; Butler, J.F.; Zhao, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Ishi, Y.; Furuya, T.; Asano, K.; Mitsunobu, S.; Kijima, Y.; Takahashi, T.; Zhao, S.; Tajima, T.; Sennyu, K.;
By: Ishi, Y.; Furuya, T.; Asano, K.; Mitsunobu, S.; Kijima, Y.; Takahashi, T.; Zhao, S.; Tajima, T.; Sennyu, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Asano, K.; Takahashi, T.; Akai, K.; Furuya, T.; Sennyu, K.; Murai, T.; Kijima, Y.; Ishi, Y.; Zhao, S.; Yoshimoto, S.; Ezura, E.; Tajima, T.; Nakanishi, H.; Nakai, H.; Morita, Y.; Mitsunobu, S.; Kojima, Y.; Kabe, A.; Hosoyama, K.; Hara, K.;
By: Asano, K.; Takahashi, T.; Akai, K.; Furuya, T.; Sennyu, K.; Murai, T.; Kijima, Y.; Ishi, Y.; Zhao, S.; Yoshimoto, S.; Ezura, E.; Tajima, T.; Nakanishi, H.; Nakai, H.; Morita, Y.; Mitsunobu, S.; Kojima, Y.; Kabe, A.; Hosoyama, K.; Hara, K.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Shichijo, H.; Yang, J.-Y.; Madhani, P.; Ashburn, S.; Mahalingam, N.; Tang, S.-P.; Blythe, T.; Zhao, S.; Boselli, G.; Ai, J.; Sridhar, S.; Williams, B.; Crenshaw, D.; Benaissa, K.;
By: Shichijo, H.; Yang, J.-Y.; Madhani, P.; Ashburn, S.; Mahalingam, N.; Tang, S.-P.; Blythe, T.; Zhao, S.; Boselli, G.; Ai, J.; Sridhar, S.; Williams, B.; Crenshaw, D.; Benaissa, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Zhao, S.; Chatterjee, A.; Scott, D.; Wu, J.; Tsao, A.; Rosal, J.; Hossain, I.; Meek, C.; Riley, T.; Olsen, L.; Chang, S.; Hall, C.; Laaksonen, T.; Zhang, G.; Siddiqui, S.; Chen, Y.; Redwine, D.; Wang, Y.; Jain, A.; Sadra, K.; Houston, T.; Bu, H.; Crank, S.; Yoon, J.; Tang, S.;
By: Zhao, S.; Chatterjee, A.; Scott, D.; Wu, J.; Tsao, A.; Rosal, J.; Hossain, I.; Meek, C.; Riley, T.; Olsen, L.; Chang, S.; Hall, C.; Laaksonen, T.; Zhang, G.; Siddiqui, S.; Chen, Y.; Redwine, D.; Wang, Y.; Jain, A.; Sadra, K.; Houston, T.; Bu, H.; Crank, S.; Yoon, J.; Tang, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8523-3
By: Seskar, I.; Zhao, S.; Anepu, B.; Raju, L.; Ganu, S.; Raychaudhuri, D.;
By: Seskar, I.; Zhao, S.; Anepu, B.; Raju, L.; Ganu, S.; Raychaudhuri, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8412-1
By: Borden, M.; Zhao, S.; Dayton, P.A.; Ferrara, K.W.; Kruse, M.E.; Bloch, S.H.;
By: Borden, M.; Zhao, S.; Dayton, P.A.; Ferrara, K.W.; Kruse, M.E.; Bloch, S.H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Chatterjee, A.; Yoon, J.; Tsao, A.; Ashburn, S.; Scott, D.; Nagaraj, N.S.; Wu, J.; Houston, T.; Rosal, J.; Jain, M.; Jacobs, J.; Williams, B.; Crenshaw, D.; Yang, J.Y.; Mosher, D.; Adam, L.; Mehrotra, M.; Mair, H.; Aldrich, D.; Meek, C.; Zhang, G.; Kirmse, K.; Quevedo-Lopez, M.; Olsen, L.; Kim, T.; Hong, Q.Z.; Zhao, S.; Tang, S.; Sadra, K.; Crank, S.; Mogul, H.; Aggarwal, R.; Chatterjee, B.; Lytle, S.; Lin, C.T.; Lee, K.D.; Kim, J.;
By: Chatterjee, A.; Yoon, J.; Tsao, A.; Ashburn, S.; Scott, D.; Nagaraj, N.S.; Wu, J.; Houston, T.; Rosal, J.; Jain, M.; Jacobs, J.; Williams, B.; Crenshaw, D.; Yang, J.Y.; Mosher, D.; Adam, L.; Mehrotra, M.; Mair, H.; Aldrich, D.; Meek, C.; Zhang, G.; Kirmse, K.; Quevedo-Lopez, M.; Olsen, L.; Kim, T.; Hong, Q.Z.; Zhao, S.; Tang, S.; Sadra, K.; Crank, S.; Mogul, H.; Aggarwal, R.; Chatterjee, B.; Lytle, S.; Lin, C.T.; Lee, K.D.; Kim, J.;
2009 / IEEE
By: Amemiya, K.; Tamaki, N.; Zhao, S.; Kubo, N.; Kitaguchi, H.; Ueno, Y.; Kojima, S.; Yanagita, N.; Tsuchiya, K.; Morimoto, Y.; Ishitsu, T.;
By: Amemiya, K.; Tamaki, N.; Zhao, S.; Kubo, N.; Kitaguchi, H.; Ueno, Y.; Kojima, S.; Yanagita, N.; Tsuchiya, K.; Morimoto, Y.; Ishitsu, T.;