Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Zafar, S.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4503-0715-4
By: Goswami, D.; Schneider, R.; Lukasiewycz, M.; Chakraborty, S.; Zafar, S.;
By: Goswami, D.; Schneider, R.; Lukasiewycz, M.; Chakraborty, S.; Zafar, S.;
Predictive block-matching motion estimation schemes for video compression. I. Inter-block prediction
1991 / IEEE / 0-7803-0033-5By: Baras, J.S.; Zhang, Y.-Q.; Zafar, S.;
1994 / IEEE / 0-7803-1460-3
By: Morel, D.L.; Ferekides, C.S.; Zafar, S.; Karthikeyan, S.; Attar, G.; Natarajan, H.; Muthaiah, A.; Nierman, D.;
By: Morel, D.L.; Ferekides, C.S.; Zafar, S.; Karthikeyan, S.; Attar, G.; Natarajan, H.; Muthaiah, A.; Nierman, D.;
1996 / IEEE / 0-7803-3510-4
By: Jones, R.E., Jr; Zurcher, P.; Gillespie, S.J.; Lii, Y.T.; Taylor, D.J.; Jiang, B.; Zafar, S.; White, B.E., Jr; Chu, P.;
By: Jones, R.E., Jr; Zurcher, P.; Gillespie, S.J.; Lii, Y.T.; Taylor, D.J.; Jiang, B.; Zafar, S.; White, B.E., Jr; Chu, P.;
1997 / IEEE
By: Bo Jiang; Zafar, S.; White, B.E., Jr.; Taylor, D.J.; Yeong-Jyh Tom Lii; Jones, R.E.; Zurcher, P.; Chu, P.Y.; Gillespie, S.J.;
By: Bo Jiang; Zafar, S.; White, B.E., Jr.; Taylor, D.J.; Yeong-Jyh Tom Lii; Jones, R.E.; Zurcher, P.; Chu, P.Y.; Gillespie, S.J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3355-1
By: Jones, R.E.; Taylor, D.J.; Gillespie, S.J.; Zafar, S.; White, B.; Zurcher, P.; Chu, P.Y.;
By: Jones, R.E.; Taylor, D.J.; Gillespie, S.J.; Zafar, S.; White, B.; Zurcher, P.; Chu, P.Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3355-1
By: Jones, R.E., Jr.; Melnick, B.; Jiang, B.; Zafar, S.; White, B.E.; Gillespie, S.J.; Taylor, D.J.; Chu, P.Y.; Cave, N.; Zurcher, P.; Wei Chen;
By: Jones, R.E., Jr.; Melnick, B.; Jiang, B.; Zafar, S.; White, B.E.; Gillespie, S.J.; Taylor, D.J.; Chu, P.Y.; Cave, N.; Zurcher, P.; Wei Chen;
1997 / IEEE / 0-7803-3767-0
By: Morel, D.L.; Ferekides, C.S.; Narayanaswamy, R.; Jayapalan, A.; Sankaranarayanan, H.; Zafar, S.;
By: Morel, D.L.; Ferekides, C.S.; Narayanaswamy, R.; Jayapalan, A.; Sankaranarayanan, H.; Zafar, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Cabral, C., Jr.; Jammy, R.; Carruthers, R.; Kozlowski, P.; Linder, B.; Kedzierski, J.; Fang, S.; Narayanan, V.; Zafar, S.; Steegen, A.;
By: Cabral, C., Jr.; Jammy, R.; Carruthers, R.; Kozlowski, P.; Linder, B.; Kedzierski, J.; Fang, S.; Narayanan, V.; Zafar, S.; Steegen, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
2005 / IEEE
By: Kedzierski, J.; Meikei Ieong; Ott, J.A.; Kozlowski, P.M.; Boyd, D.; Ronsheim, P.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.;
By: Kedzierski, J.; Meikei Ieong; Ott, J.A.; Kozlowski, P.M.; Boyd, D.; Ronsheim, P.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Maitra, K.; McFeely, F.R.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Duch, E.; D'Emic, C.; Chudzik, M.; LaTulipe, D.; Carruthers, R.; Callegari, A.; Bojarczuk, N.; Carrier, E.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.; Narayanan, V.; Gusev, E.P.; Steen, M.; Paruchuri, V.; Newbury, J.;
By: Maitra, K.; McFeely, F.R.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Duch, E.; D'Emic, C.; Chudzik, M.; LaTulipe, D.; Carruthers, R.; Callegari, A.; Bojarczuk, N.; Carrier, E.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.; Narayanan, V.; Gusev, E.P.; Steen, M.; Paruchuri, V.; Newbury, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Andreoni, W.; Curioni, A.; Gribelyuk, M.; Jammy, R.; Feely, F.M.; Lacey, D.; Shepard, J.; D'Emic, C.; Narayanan, V.; Gusev, E.; Zafar, S.; Carrier, E.; Jamison, P.; Callegari, A.; Pignedoli, C.;
By: Andreoni, W.; Curioni, A.; Gribelyuk, M.; Jammy, R.; Feely, F.M.; Lacey, D.; Shepard, J.; D'Emic, C.; Narayanan, V.; Gusev, E.; Zafar, S.; Carrier, E.; Jamison, P.; Callegari, A.; Pignedoli, C.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Zafar, S.; Jammy, R.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.; Narayanan, V.; Jamison, P.; McFeely, F.R.; Callegari, A.;
By: Zafar, S.; Jammy, R.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.; Narayanan, V.; Jamison, P.; McFeely, F.R.; Callegari, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8680-9
By: Aftab, S.; Fatima, N.; Zafar, S.; Majid, A.; Hashmi, B.M.; Shah, S.A.H.; Sultan, R.;
By: Aftab, S.; Fatima, N.; Zafar, S.; Majid, A.; Hashmi, B.M.; Shah, S.A.H.; Sultan, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Cai, J.; Jammy, R.; Linder, B.; Jamison, P.; Acevedo, J.; Price, B.; Newbury, J.; Narayanan, V.; Natzle, W.; Copel, M.; Zafar, S.; Cartier, E.; Gribelyuk, M.; Gignac, L.; Carruthers, R.; Gusev, E.P.; Cabral, C.; Kim, Y.H.; Ieong, M.;
By: Cai, J.; Jammy, R.; Linder, B.; Jamison, P.; Acevedo, J.; Price, B.; Newbury, J.; Narayanan, V.; Natzle, W.; Copel, M.; Zafar, S.; Cartier, E.; Gribelyuk, M.; Gignac, L.; Carruthers, R.; Gusev, E.P.; Cabral, C.; Kim, Y.H.; Ieong, M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Chudzik, M.; Callegari, A.; Stathis, J.; Doris, B.; Zafar, S.; Cabral, C.; Narayanan, V.; Kim, Y.H.; Paruchuri, V.;
By: Chudzik, M.; Callegari, A.; Stathis, J.; Doris, B.; Zafar, S.; Cabral, C.; Narayanan, V.; Kim, Y.H.; Paruchuri, V.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Singco, G.; Narayanan, V.; Gribelyuk, M.; Flaitz, P.; Sikorski, E.; Newbury, J.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Steen, M.; Rubino, J.; Wang, X.; Bojarczuk, N.; Linder, B.; Cartier, E.; Paruchuri, V.; Frank, M.M.; Lee, K.L.; Ieong, M.; Jammy, R.; Oldiges, P.; Guha, S.; Zafar, S.;
By: Singco, G.; Narayanan, V.; Gribelyuk, M.; Flaitz, P.; Sikorski, E.; Newbury, J.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Steen, M.; Rubino, J.; Wang, X.; Bojarczuk, N.; Linder, B.; Cartier, E.; Paruchuri, V.; Frank, M.M.; Lee, K.L.; Ieong, M.; Jammy, R.; Oldiges, P.; Guha, S.; Zafar, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Chudzik, M.; Doris, B.; Chen, T.C.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Zhang, Y.; Wise, R.; Narayanan, V.; Takayanagi, M.; Iijima, R.; Ando, T.; Zafar, S.; Wang, X.; Vayshenker, A.; Steen, M.; Stathis, J.; Paruchuri, V.K.; Moumen, N.; Linder, B.; Kim, Y.; He, W.; Hargrove, M.; Gribelyuk, M.; Casarotto, D.; Carter, R.; Callegari, S.; Mo, R.; Sleight, J.; Cartier, E.; Dewan, C.; Park, D.; Bu, H.; Natzle, W.; Yan, W.; Ouyang, C.; Henson, K.; Boyd, D.;
By: Chudzik, M.; Doris, B.; Chen, T.C.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Zhang, Y.; Wise, R.; Narayanan, V.; Takayanagi, M.; Iijima, R.; Ando, T.; Zafar, S.; Wang, X.; Vayshenker, A.; Steen, M.; Stathis, J.; Paruchuri, V.K.; Moumen, N.; Linder, B.; Kim, Y.; He, W.; Hargrove, M.; Gribelyuk, M.; Casarotto, D.; Carter, R.; Callegari, S.; Mo, R.; Sleight, J.; Cartier, E.; Dewan, C.; Park, D.; Bu, H.; Natzle, W.; Yan, W.; Ouyang, C.; Henson, K.; Boyd, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2888-5
By: Jae-Joon Kim; Rao, R.; Bansal, A.; Ching-Te Chuang; Stathis, J.H.; Zafar, S.;
By: Jae-Joon Kim; Rao, R.; Bansal, A.; Ching-Te Chuang; Stathis, J.H.; Zafar, S.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Choi, C.; Callegari, A.; Jagannathan, H.; Choi, K.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.; Iacoponi, J.; Stathis, J.; Brown, S.; Yang, Q.; Edge, L.; Linder, B.; Kerber, A.; Bruley, J.; Zafar, S.; Cartier, E.; Wang, M.; Jamison, P.; Frank, M.; Ando, T.;
By: Choi, C.; Callegari, A.; Jagannathan, H.; Choi, K.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.; Iacoponi, J.; Stathis, J.; Brown, S.; Yang, Q.; Edge, L.; Linder, B.; Kerber, A.; Bruley, J.; Zafar, S.; Cartier, E.; Wang, M.; Jamison, P.; Frank, M.; Ando, T.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4135-8
By: Fahim-ul-Aqib, J.M.; Zafar, S.; Khan, K.; Ahmed, J.; Manarvi, I.;
By: Fahim-ul-Aqib, J.M.; Zafar, S.; Khan, K.; Ahmed, J.; Manarvi, I.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5892-9
By: Morel, D.L.; Ferekides, C.S.; Zafar, S.; Anders, R.; Jayadevan, K.;
By: Morel, D.L.; Ferekides, C.S.; Zafar, S.; Anders, R.; Jayadevan, K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8058-6
By: Jung Seuk; Chaudhry, S.A.; Shams, S.; Amjad, M.; Byeong-hee Roh; Zafar, S.; Akbar, A.H.; Ki-Hyung Kim;
By: Jung Seuk; Chaudhry, S.A.; Shams, S.; Amjad, M.; Byeong-hee Roh; Zafar, S.; Akbar, A.H.; Ki-Hyung Kim;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap