Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Yoshida, S.
Results
2012 / IEEE
By: Tsuritani, T.; Lei Liu; Hayashi, R.; Kubo, K.; Yoshida, S.; Shaowei Huang; Nishioka, I.;
By: Tsuritani, T.; Lei Liu; Hayashi, R.; Kubo, K.; Yoshida, S.; Shaowei Huang; Nishioka, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8115-6
By: Xiao, N.; Guo, S.; Jian Guo; Kawanishi, M.; Tamiya, T.; Yoshida, S.; Ma, X.;
By: Xiao, N.; Guo, S.; Jian Guo; Kawanishi, M.; Tamiya, T.; Yoshida, S.; Ma, X.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8115-6
By: Kawanishi, M.; Tamiya, T.; Yoshida, S.; Jian Guo; Nan Xiao; Shuxiang Guo; Xu Ma;
By: Kawanishi, M.; Tamiya, T.; Yoshida, S.; Jian Guo; Nan Xiao; Shuxiang Guo; Xu Ma;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9563-4
By: Tsubouchi, K.; Takagi, T.; Suematsu, N.; Kameda, S.; Tanifuji, S.; Yoshida, S.;
By: Tsubouchi, K.; Takagi, T.; Suematsu, N.; Kameda, S.; Tanifuji, S.; Yoshida, S.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Ishikawa, G.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kinoshita, S.;
By: Ishikawa, G.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kinoshita, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Yoshida, S.; Yoshikawa, E.; Mega, T.; Kawasaki, Z.; Ushio, T.; Morimoto, T.;
By: Yoshida, S.; Yoshikawa, E.; Mega, T.; Kawasaki, Z.; Ushio, T.; Morimoto, T.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Ninomiya, S.; Mizoguchi, M.; Yoshida, S.; Yoshida, H.; Yonekawa, S.; Tsukaguchi, T.; Tanaka, K.; Takahashi, W.; Shiozawa, S.; Saito, H.; Oida, T.; Ohno, H.; Ohishi, R.; Nishida, K.; Nomura, M.; Nakazono, K.; Miura, H.; Minamiyama, M.; Kubo, N.; Kominami, Y.; Kimura, M.; Ishigooka, Y.; Inoue, K.; Iida, T.; Hirafuji, M.; Guo, W.; Doi, R.; Kato, C.; Kuwagata, T.; Nakagawa, H.; Nishimura, T.; Kiura, T.;
By: Ninomiya, S.; Mizoguchi, M.; Yoshida, S.; Yoshida, H.; Yonekawa, S.; Tsukaguchi, T.; Tanaka, K.; Takahashi, W.; Shiozawa, S.; Saito, H.; Oida, T.; Ohno, H.; Ohishi, R.; Nishida, K.; Nomura, M.; Nakazono, K.; Miura, H.; Minamiyama, M.; Kubo, N.; Kominami, Y.; Kimura, M.; Ishigooka, Y.; Inoue, K.; Iida, T.; Hirafuji, M.; Guo, W.; Doi, R.; Kato, C.; Kuwagata, T.; Nakagawa, H.; Nishimura, T.; Kiura, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Yoshikawa, E.; Ushio, T.; Kawasaki, Z.; Morimoto, T.; Yoshida, S.; Shimamura, S.; Wakayama, N.;
By: Yoshikawa, E.; Ushio, T.; Kawasaki, Z.; Morimoto, T.; Yoshida, S.; Shimamura, S.; Wakayama, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Akita, M.; Kawasaki, Z.-I.; Ushio, T.; Nakamura, Y.; Morimoto, T.; Yoshida, S.;
By: Akita, M.; Kawasaki, Z.-I.; Ushio, T.; Nakamura, Y.; Morimoto, T.; Yoshida, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8327-3
By: Yoshida, S.; Yamamoto, K.; Murata, H.; Morikura, M.; Umehara, D.; Denno, S.; Taya, A.;
By: Yoshida, S.; Yamamoto, K.; Murata, H.; Morikura, M.; Umehara, D.; Denno, S.; Taya, A.;
2011 / IEEE / 978-2-87487-022-4
By: Kameda, S.; Tanifuji, S.; Yoshida, S.; Suematsu, N.; Tsubouchi, K.; Takagi, T.;
By: Kameda, S.; Tanifuji, S.; Yoshida, S.; Suematsu, N.; Tsubouchi, K.; Takagi, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Samonji, K.; Takigawa, S.; Yamanaka, K.; Hagino, H.; Yoshida, S.;
By: Samonji, K.; Takigawa, S.; Yamanaka, K.; Hagino, H.; Yoshida, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0031-6
By: Murata, H.; Morikura, M.; Umehara, D.; Denno, S.; Yoshida, S.; Yamamoto, K.;
By: Murata, H.; Morikura, M.; Umehara, D.; Denno, S.; Yoshida, S.; Yamamoto, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0031-6
By: Yamamoto, K.; Miyagoshi, M.; Yoshida, S.; Murata, H.; Haneda, K.;
By: Yamamoto, K.; Miyagoshi, M.; Yoshida, S.; Murata, H.; Haneda, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0031-6
By: Denno, S.; Umehara, D.; Yoshida, S.; Murata, H.; Yamamoto, K.; Kumagawa, S.; Morikura, M.;
By: Denno, S.; Umehara, D.; Yoshida, S.; Murata, H.; Yamamoto, K.; Kumagawa, S.; Morikura, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0990-5
By: Morikura, M.; Yamamoto, K.; Denno, S.; Taya, A.; Yoshida, S.; Murata, H.; Umehara, D.;
By: Morikura, M.; Yamamoto, K.; Denno, S.; Taya, A.; Yoshida, S.; Murata, H.; Umehara, D.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1088-8
By: Lo, W.; Chen, C.; Lin, J.; Yoshida, S.; Chinga, R. A.; Chen, W.;
By: Lo, W.; Chen, C.; Lin, J.; Yoshida, S.; Chinga, R. A.; Chen, W.;
2013 / IEEE
By: Fukuda, G.; Yoshida, S.; Kawasaki, S.; Muraguchi, M.; Suda, T.; Suzuki, T.; Hasegawa, M.; Shirosaki, T.; Noji, T.; Kobayashi, Y.; Tashiro, S.;
By: Fukuda, G.; Yoshida, S.; Kawasaki, S.; Muraguchi, M.; Suda, T.; Suzuki, T.; Hasegawa, M.; Shirosaki, T.; Noji, T.; Kobayashi, Y.; Tashiro, S.;
2013 / IEEE
By: Tsubouchi, K.; Takagi, T.; Suematsu, N.; Kameda, S.; Ta, T. T.; Suzuki, Y.; Yoshida, S.;
By: Tsubouchi, K.; Takagi, T.; Suematsu, N.; Kameda, S.; Ta, T. T.; Suzuki, Y.; Yoshida, S.;
2014 / IEEE
By: Yoshida, S.; Hasegawa, N.; Maekawa, C.; Urushibara, I.; Yamazawa, H.; Sato, H.; Kawasaki, S.;
By: Yoshida, S.; Hasegawa, N.; Maekawa, C.; Urushibara, I.; Yamazawa, H.; Sato, H.; Kawasaki, S.;
2014 / IEEE
By: Domae, A.; Maruyama, M.; Kaneko, N.; Fukuyama, Y.; Yamamori, T.; Yamada, T.; Urano, C.; Kiryu, S.; Yoshida, S.; Yamazawa, K.;
By: Domae, A.; Maruyama, M.; Kaneko, N.; Fukuyama, Y.; Yamamori, T.; Yamada, T.; Urano, C.; Kiryu, S.; Yoshida, S.; Yamazawa, K.;
2014 / IEEE
By: Kuribayashi, H.; Noguchi, S.; Yoshida, S.; Takahashi, K.; Nashida, N.; Ikeda, Y.; Mochizuki, K.; Kobayashi, H.; Kobayashi, Y.; Ikawa, O.;
By: Kuribayashi, H.; Noguchi, S.; Yoshida, S.; Takahashi, K.; Nashida, N.; Ikeda, Y.; Mochizuki, K.; Kobayashi, H.; Kobayashi, Y.; Ikawa, O.;
2014 / IEEE
By: Hikita, M.; Kozako, M.; Yoshida, S.; Tsurimoto, T.; Muto, H.; Kainaga, S.; Umemoto, T.;
By: Hikita, M.; Kozako, M.; Yoshida, S.; Tsurimoto, T.; Muto, H.; Kainaga, S.; Umemoto, T.;
2014 / IEEE
By: Yoshida, S.; Kozako, M.; Hikita, M.; Umemoto, T.; Kainaga, S.; Muto, H.; Tsurimoto, T.;
By: Yoshida, S.; Kozako, M.; Hikita, M.; Umemoto, T.; Kainaga, S.; Muto, H.; Tsurimoto, T.;
2014 / IEEE
By: Takahashi, K.; Yoshida, S.; Ikawa, O.; Ikeda, Y.; Mochizuki, K.; Kobayashi, H.; Kobayashi, Y.; Nashida, N.; Kuribayashi, H.; Noguchi, S.;
By: Takahashi, K.; Yoshida, S.; Ikawa, O.; Ikeda, Y.; Mochizuki, K.; Kobayashi, H.; Kobayashi, Y.; Nashida, N.; Kuribayashi, H.; Noguchi, S.;
1988 / IEEE
By: Hata, R.; Iwata, Z.; Fukagawa, H.; Watanabe, Y.; Fujiwara, Y.; Saitoh, H.; Yoshida, S.;
By: Hata, R.; Iwata, Z.; Fukagawa, H.; Watanabe, Y.; Fujiwara, Y.; Saitoh, H.; Yoshida, S.;
1988 / IEEE
By: Yabu, T.; Nishibe, H.; Yoshida, S.; Nishi, T.; Kodama, Y.; Ema, T.; Taguchi, M.; Kawanago, S.; Nakano, T.;
By: Yabu, T.; Nishibe, H.; Yoshida, S.; Nishi, T.; Kodama, Y.; Ema, T.; Taguchi, M.; Kawanago, S.; Nakano, T.;
1990 / IEEE
By: Yoshida, S.; Mukai, K.; Koyabu, K.; Nagataki, Y.; Morisaki, S.; Matsui, T.; Akata, M.; Ueki, I.; Eda, M.;
By: Yoshida, S.; Mukai, K.; Koyabu, K.; Nagataki, Y.; Morisaki, S.; Matsui, T.; Akata, M.; Ueki, I.; Eda, M.;
1990 / IEEE
By: Yokoyama, S.; Yamanouchi, H.; Yoshida, S.; Okiai, R.; Terashima, K.; Maekawa, Y.; Ogata, S.;
By: Yokoyama, S.; Yamanouchi, H.; Yoshida, S.; Okiai, R.; Terashima, K.; Maekawa, Y.; Ogata, S.;
1991 / IEEE
By: Kotani, S.; Kamioka, Y.; Sano, T.; Yoshida, S.; Miyagawa, F.; Fukase, K.; Takenouchi, T.; Hasuo, S.; Suzuki, H.; Inoue, A.;
By: Kotani, S.; Kamioka, Y.; Sano, T.; Yoshida, S.; Miyagawa, F.; Fukase, K.; Takenouchi, T.; Hasuo, S.; Suzuki, H.; Inoue, A.;
1990 / IEEE
By: Yoshida, S.; Okuno, T.; Matsuda, S.; Kurakata, H.; Matsumoto, H.; Ohmura, M.; Takata, N.; Ohkubo, M.; Goto, M.;
By: Yoshida, S.; Okuno, T.; Matsuda, S.; Kurakata, H.; Matsumoto, H.; Ohmura, M.; Takata, N.; Ohkubo, M.; Goto, M.;
1993 / IEEE
By: Yamasaki, H.; Kajimura, K.; Yoshida, S.; Misawa, S.; Umeda, M.; Kosaka, S.; Endo, K.;
By: Yamasaki, H.; Kajimura, K.; Yoshida, S.; Misawa, S.; Umeda, M.; Kosaka, S.; Endo, K.;
Intelligent receiver consisting of Viterbi equalizer and sector-antenna diversity for cellular radio
1992 / IEEE / 0-7803-0803-4By: Yoshida, S.; Murata, H.;
1994 / IEEE
By: Shimizu, T.; Satomura, R.; Saitou, K.; Matsubara, K.; Ikeda, K.; Bandoh, T.; Nakano, T.; Katsura, K.; Shimamura, K.; Yoshida, S.; Yamada, H.; Murabayashi, F.; Hotta, T.; Tanaka, S.;
By: Shimizu, T.; Satomura, R.; Saitou, K.; Matsubara, K.; Ikeda, K.; Bandoh, T.; Nakano, T.; Katsura, K.; Shimamura, K.; Yoshida, S.; Yamada, H.; Murabayashi, F.; Hotta, T.; Tanaka, S.;
1995 / IEEE
By: Fueki, K.; Nakamura, K.; Kajimura, K.; Tokumoto, H.; Endo, K.; Yoshida, S.; Teherani, F.H.; Matsuhata, H.; Shimizu, T.;
By: Fueki, K.; Nakamura, K.; Kajimura, K.; Tokumoto, H.; Endo, K.; Yoshida, S.; Teherani, F.H.; Matsuhata, H.; Shimizu, T.;
1995 / IEEE
By: Yamasaki, H.; Kajimura, K.; Yoshida, S.; Umeda, M.; Kosaka, S.; Mawatari, Y.; Endo, K.;
By: Yamasaki, H.; Kajimura, K.; Yoshida, S.; Umeda, M.; Kosaka, S.; Mawatari, Y.; Endo, K.;
1995 / IEEE
By: Satoh, K.; Yoshida, S.; Leong, J.; Miyagaki, K.; Hirayama, H.; Umemoto, T.; Miya, T.;
By: Satoh, K.; Yoshida, S.; Leong, J.; Miyagaki, K.; Hirayama, H.; Umemoto, T.; Miya, T.;
1995 / IEEE
By: Kafuku, K.; Inoue, M.; Nakajima, J.; Imada, N.; Doi, S.; Suzuki, H.; Takeuchi, T.; Nakamura, M.; Yoshida, S.;
By: Kafuku, K.; Inoue, M.; Nakajima, J.; Imada, N.; Doi, S.; Suzuki, H.; Takeuchi, T.; Nakamura, M.; Yoshida, S.;