Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Yoshida, M.
Results
2012 / IEEE
By: Terashima, A.; Tsuchiya, K.; Ogitsu, T.; Xinzhe Jin; Iio, M.; Nakamoto, T.; Amemiya, N.; Nakagawa, K.; Takeuchi, T.; Sasaki, K.; Kikuchi, A.; Yoshida, M.; Yamamoto, A.; Qingjin Xu;
By: Terashima, A.; Tsuchiya, K.; Ogitsu, T.; Xinzhe Jin; Iio, M.; Nakamoto, T.; Amemiya, N.; Nakagawa, K.; Takeuchi, T.; Sasaki, K.; Kikuchi, A.; Yoshida, M.; Yamamoto, A.; Qingjin Xu;
1974 / IEEE
By: Yamauchi, Y.; Mito, S.; Inoguchi, T.; Nakata, Y.; Kishishita, H.; Kawaguchi, J.; Yoshida, M.; Kakihara, Y.; Takeda, M.;
By: Yamauchi, Y.; Mito, S.; Inoguchi, T.; Nakata, Y.; Kishishita, H.; Kawaguchi, J.; Yoshida, M.; Kakihara, Y.; Takeda, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: Shijie Guo; Nakashima, H.; Yoshida, M.; Hirano, S.; Mukai, T.; Hayakawa, Y.;
By: Shijie Guo; Nakashima, H.; Yoshida, M.; Hirano, S.; Mukai, T.; Hayakawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0531-1
By: Yoshida, M.; Kambayashi, T.; Umakoshi, K.; Matsuo, M.; Takemoto, M.;
By: Yoshida, M.; Kambayashi, T.; Umakoshi, K.; Matsuo, M.; Takemoto, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-456-5
By: Yoshida, M.; Hirano, S.; Mukai, T.; Hayakawa, Y.; Shijie Guo; Nakashima, H.;
By: Yoshida, M.; Hirano, S.; Mukai, T.; Hayakawa, Y.; Shijie Guo; Nakashima, H.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Miyamoto, Y.; Kubota, H.; Sakano, T.; Matsuura, A.; Yoshida, M.; Ishihara, K.; Sano, A.; Kobayashi, T.; Nagatani, M.; Mizoguchi, M.;
By: Miyamoto, Y.; Kubota, H.; Sakano, T.; Matsuura, A.; Yoshida, M.; Ishihara, K.; Sano, A.; Kobayashi, T.; Nagatani, M.; Mizoguchi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0554-0
By: Hattori, T.; Nakamura, H.; Konishi, Y.; Yoshida, M.; Ichihashi, N.; Oka, H.;
By: Hattori, T.; Nakamura, H.; Konishi, Y.; Yoshida, M.; Ichihashi, N.; Oka, H.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-928-7
By: Bandai, M.; Kitani, T.; Yoshida, M.; Seah, W.K.G.; Pai Chou; Watanabe, T.;
By: Bandai, M.; Kitani, T.; Yoshida, M.; Seah, W.K.G.; Pai Chou; Watanabe, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2071-0
By: Yoshimizu, H.; Yoshida, M.; Akehi, T.; Tanaka, M.; Morimoto, N.; Kamimura, Y.; Takiyamada, M.;
By: Yoshimizu, H.; Yoshida, M.; Akehi, T.; Tanaka, M.; Morimoto, N.; Kamimura, Y.; Takiyamada, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Sekine, S.; Sumita, I.; Itoh, U.; Yoshida, M.; Tokuhisa, H.; Kamata, T.;
By: Sekine, S.; Sumita, I.; Itoh, U.; Yoshida, M.; Tokuhisa, H.; Kamata, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0990-5
By: Jianming Wu; Jun Tian; Chao Lv; Fujita, H.; Yun Wen; Ozaki, K.; Yoshida, M.;
By: Jianming Wu; Jun Tian; Chao Lv; Fujita, H.; Yun Wen; Ozaki, K.; Yoshida, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2025-2
By: Yoshida, M.; Mitatha, S.; Phongsanam, P.; Luangxaysana, K.; Yupapin, P.; Komine, N.;
By: Yoshida, M.; Mitatha, S.; Phongsanam, P.; Luangxaysana, K.; Yupapin, P.; Komine, N.;
2012 / IEEE
By: Yoshida, M.; Takao, T.; Maruyama, M.; Kuroda, Y.; Nakamoto, T.; Terashima, A.; Takigawa, H.; Nimori, S.; Iijima, Y.; Banno, N.; Takeuchi, T.; Kikuchi, A.; Tsuchiya, K.; Zlobin, A.; Yamada, R.; Barzi, E.; Nakagawa, K.;
By: Yoshida, M.; Takao, T.; Maruyama, M.; Kuroda, Y.; Nakamoto, T.; Terashima, A.; Takigawa, H.; Nimori, S.; Iijima, Y.; Banno, N.; Takeuchi, T.; Kikuchi, A.; Tsuchiya, K.; Zlobin, A.; Yamada, R.; Barzi, E.; Nakagawa, K.;
2014 / IEEE
By: Nakanishi, H.; Ohsuna, M.; Ida, K.; Iwata, C.; Yoshida, M.; Emoto, M.; Nonomura, M.; Imazu, S.; Kojima, M.;
By: Nakanishi, H.; Ohsuna, M.; Ida, K.; Iwata, C.; Yoshida, M.; Emoto, M.; Nonomura, M.; Imazu, S.; Kojima, M.;
2015 / IEEE
By: Yang, Y.; Yoshida, M.; Sasaki, K.; Sugano, M.; Okamura, T.; Ogitsu, T.; Mihara, S.; Makida, Y.; Iio, M.; Fukao, Y.; Nakamoto, T.;
By: Yang, Y.; Yoshida, M.; Sasaki, K.; Sugano, M.; Okamura, T.; Ogitsu, T.; Mihara, S.; Makida, Y.; Iio, M.; Fukao, Y.; Nakamoto, T.;
2015 / IEEE
By: Nakamoto, T.; Sugano, M.; Todesco, E.; Yoshida, M.; Sasaki, K.; Okada, N.; Ogitsu, T.; Kimura, N.; Iwasaki, R.; Ikemoto, Y.; Iio, M.; Idesaki, A.; Higashi, N.; Enomoto, S.; Kawamata, H.; Xu, Q.;
By: Nakamoto, T.; Sugano, M.; Todesco, E.; Yoshida, M.; Sasaki, K.; Okada, N.; Ogitsu, T.; Kimura, N.; Iwasaki, R.; Ikemoto, Y.; Iio, M.; Idesaki, A.; Higashi, N.; Enomoto, S.; Kawamata, H.; Xu, Q.;
2015 / IEEE
By: Watanabe, K.; Daibo, M.; Ohkuma, T.; Maruyama, O.; Saitoh, T.; Akashi, K.; Iijima, Y.; Yoshida, M.; Nagata, M.; Hidaka, H.; Itoh, M.;
By: Watanabe, K.; Daibo, M.; Ohkuma, T.; Maruyama, O.; Saitoh, T.; Akashi, K.; Iijima, Y.; Yoshida, M.; Nagata, M.; Hidaka, H.; Itoh, M.;
2014 / IEEE
By: Yoshimitsu, Y.; Inoue, T.; Ichiki, R.; Kanazawa, S.; Akamine, S.; Yoshida, M.; Kanda, S.; Yamamoto, H.;
By: Yoshimitsu, Y.; Inoue, T.; Ichiki, R.; Kanazawa, S.; Akamine, S.; Yoshida, M.; Kanda, S.; Yamamoto, H.;
2014 / IEEE
By: Fujimoto, Y.; Suzuki, T.; Yamazaki, M.; Ishii, O.; Yoshida, M.; Shiraga, H.; Murakami, M.; Hirayama, T.; Ochante, R.A.M.;
By: Fujimoto, Y.; Suzuki, T.; Yamazaki, M.; Ishii, O.; Yoshida, M.; Shiraga, H.; Murakami, M.; Hirayama, T.; Ochante, R.A.M.;
2014 / IEEE
By: Browne, B.; Farrell, D. J.; Amrania, H.; Yoshida, M.; Phillips, C. C.; Ekins-Daukes, N. J.; Yoxall, E.;
By: Browne, B.; Farrell, D. J.; Amrania, H.; Yoshida, M.; Phillips, C. C.; Ekins-Daukes, N. J.; Yoxall, E.;
1989 / IEEE
By: Hoshi, Y.; Higuchi, M.; Yoshida, M.; Takada, Y.; Shioden, M.; Nishiyama, M.; Sato, M.; Nakano, I.; Moriya, M.; Mori, S.; Asano, Y.; Ikegami, Y.; Fukushima, Y.;
By: Hoshi, Y.; Higuchi, M.; Yoshida, M.; Takada, Y.; Shioden, M.; Nishiyama, M.; Sato, M.; Nakano, I.; Moriya, M.; Mori, S.; Asano, Y.; Ikegami, Y.; Fukushima, Y.;
1989 / IEEE
By: Fujii, S.; Ogihara, M.; Hamamoto, T.; Aochi, H.; Saito, Y.; Kaki, S.; Yoshikawa, S.; Kumagai, J.; Toita, K.-I.; Mizuno, T.; Sawada, S.; Watanabe, S.; Hara, T.; Numata, K.; Yoshida, M.; Shimizu, M.;
By: Fujii, S.; Ogihara, M.; Hamamoto, T.; Aochi, H.; Saito, Y.; Kaki, S.; Yoshikawa, S.; Kumagai, J.; Toita, K.-I.; Mizuno, T.; Sawada, S.; Watanabe, S.; Hara, T.; Numata, K.; Yoshida, M.; Shimizu, M.;
1989 / IEEE
By: Takeda, S.; Akai, K.; Yoshioka, M.; Yoshida, M.; Yokoya, K.; Yamaoka, Y.; Yamamoto, N.; Urakawa, J.; Takeuchi, Y.; Takata, K.; Takashima, T.; Suetake, M.; Shintake, T.; Shidara, T.; Sakai, H.; Otake, Y.; Odagiri, J.; Mizuno, H.; Matsumoto, H.; Kurokawa, S.; Kubo, T.; Kobayashi, H.; Kimura, Y.; Kawamoto, T.; Ishihara, N.; Higo, T.; Hayano, H.; Araki, S.; Akemoto, M.;
By: Takeda, S.; Akai, K.; Yoshioka, M.; Yoshida, M.; Yokoya, K.; Yamaoka, Y.; Yamamoto, N.; Urakawa, J.; Takeuchi, Y.; Takata, K.; Takashima, T.; Suetake, M.; Shintake, T.; Shidara, T.; Sakai, H.; Otake, Y.; Odagiri, J.; Mizuno, H.; Matsumoto, H.; Kurokawa, S.; Kubo, T.; Kobayashi, H.; Kimura, Y.; Kawamoto, T.; Ishihara, N.; Higo, T.; Hayano, H.; Araki, S.; Akemoto, M.;
1991 / IEEE
By: Numata, K.; Nagai, T.; Fujii, S.; Sawada, S.; Asao, Y.; Ogihara, M.; Saito, Y.; Yoshida, M.; Hara, T.; Imai, K.; Shimizu, M.;
By: Numata, K.; Nagai, T.; Fujii, S.; Sawada, S.; Asao, Y.; Ogihara, M.; Saito, Y.; Yoshida, M.; Hara, T.; Imai, K.; Shimizu, M.;
1991 / IEEE
By: Fujiwara, S.; Den, M.; Kubota, A.; Miyamoto, M.; Usuba, S.; Yamawaki, H.; Aoki, K.; Yoshida, M.; Kakudate, Y.;
By: Fujiwara, S.; Den, M.; Kubota, A.; Miyamoto, M.; Usuba, S.; Yamawaki, H.; Aoki, K.; Yoshida, M.; Kakudate, Y.;
1991 / IEEE / 0-7803-0164-1
By: Yoshida, M.; Mitsui, H.; Iijima, N.; Izumi, H.; Kamiyama, N.; Sone, M.;
By: Yoshida, M.; Mitsui, H.; Iijima, N.; Izumi, H.; Kamiyama, N.; Sone, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0164-1
By: Iijima, N.; Izumi, H.; Yoshida, M.; Iwata, A.; Mitsui, H.; Sone, M.; Taguchi, A.;
By: Iijima, N.; Izumi, H.; Yoshida, M.; Iwata, A.; Mitsui, H.; Sone, M.; Taguchi, A.;
1991 / IEEE / 0-7803-0164-1
By: Sakai, A.; Sone, M.; Mitsui, H.; Yoshida, M.; Iijima, N.; Izumi, H.;
By: Sakai, A.; Sone, M.; Mitsui, H.; Yoshida, M.; Iijima, N.; Izumi, H.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Yoshida, M.; Shintake, T.; Isagawa, S.; Seifert, H.; Demmel, E.; Schweppe, E.-G.;
By: Yoshida, M.; Shintake, T.; Isagawa, S.; Seifert, H.; Demmel, E.; Schweppe, E.-G.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Akemoto, M.; Shidara, T.; Teranishi, T.; Ohshima, I.; Takata, K.; Takeda, S.; Yoshida, M.;
By: Akemoto, M.; Shidara, T.; Teranishi, T.; Ohshima, I.; Takata, K.; Takeda, S.; Yoshida, M.;
1993 / IEEE
By: Fujiwara, S.; Yoshida, M.; Kakudate, Y.; Usuba, S.; Miyamoto, M.; Den, M.; Kubota, A.; Morita, T.;
By: Fujiwara, S.; Yoshida, M.; Kakudate, Y.; Usuba, S.; Miyamoto, M.; Den, M.; Kubota, A.; Morita, T.;
1993 / IEEE / 0-7803-0957-X
By: Esashi, M.; Yoshida, M.; Yoshimi, K.; Matsubara, T.; Wakabayashi, Y.; Minami, K.;
By: Esashi, M.; Yoshida, M.; Yoshimi, K.; Matsubara, T.; Wakabayashi, Y.; Minami, K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Fujiwara, T.; Hashimoto, T.; Yoshida, M.; Tamba, N.; Watanabe, K.; Ikeda, T.; Hiramoto, T.; Usami, M.; Odaka, M.;
By: Fujiwara, T.; Hashimoto, T.; Yoshida, M.; Tamba, N.; Watanabe, K.; Ikeda, T.; Hiramoto, T.; Usami, M.; Odaka, M.;
1994 / IEEE
By: Kishimoto, A.; Tsuji, S.; Ohmori, S.; Kokubu, T.; Muraya, T.; Hiramoto, T.; Ohayashi, M.; Akimoto, K.; Anzai, A.; Tamba, N.; Ikeda, T.; Yamaguchi, K.; Odaka, M.; Uchida, A.; Watanabe, K.; Fujiwara, T.; Yoshida, M.; Nambu, H.; Igarashi, T.; Handa, N.; Hayashi, H.;
By: Kishimoto, A.; Tsuji, S.; Ohmori, S.; Kokubu, T.; Muraya, T.; Hiramoto, T.; Ohayashi, M.; Akimoto, K.; Anzai, A.; Tamba, N.; Ikeda, T.; Yamaguchi, K.; Odaka, M.; Uchida, A.; Watanabe, K.; Fujiwara, T.; Yoshida, M.; Nambu, H.; Igarashi, T.; Handa, N.; Hayashi, H.;
1994 / IEEE / 0-8186-6605-6
By: Yamamoto, K.; Yamamoto, Y.; Tuchiya, M.; Yoshida, M.; Takamura, T.; Iwamiya, T.; Fukuda, M.; Miyoshi, H.; Kishimoto, M.; Hatama, H.; Kitamura, T.; Sakamoto, Y.; Okada, S.; Ikeda, M.; Takamura, M.; Yamane, T.; Matsuo, Y.; Ogawa, S.;
By: Yamamoto, K.; Yamamoto, Y.; Tuchiya, M.; Yoshida, M.; Takamura, T.; Iwamiya, T.; Fukuda, M.; Miyoshi, H.; Kishimoto, M.; Hatama, H.; Kitamura, T.; Sakamoto, Y.; Okada, S.; Ikeda, M.; Takamura, M.; Yamane, T.; Matsuo, Y.; Ogawa, S.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Miyasaka, Y.; Ono, H.; Nakajima, K.; Ohnishi, S.; Yoshida, M.; Sakuma, T.; Satoh, K.; Tokashiki, K.; Watanabe, H.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Yamamichi, S.; Lesaicherre, P.-Y.; Shibahara, K.;
By: Miyasaka, Y.; Ono, H.; Nakajima, K.; Ohnishi, S.; Yoshida, M.; Sakuma, T.; Satoh, K.; Tokashiki, K.; Watanabe, H.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Yamamichi, S.; Lesaicherre, P.-Y.; Shibahara, K.;
1995 / IEEE
By: Iwaki, T.; Yoshida, M.; Kasuga, K.; Yamabuchi, K.; Yokomachi, Y.; Ohtsuka, H.; Sasada, T.; Okuda, T.;
By: Iwaki, T.; Yoshida, M.; Kasuga, K.; Yamabuchi, K.; Yokomachi, Y.; Ohtsuka, H.; Sasada, T.; Okuda, T.;
1995 / IEEE
By: Shiohara, Y.; Hyun, O.-B.; Kitamura, T.; Yoshida, M.; Tanaka, S.; Ikuhara, Y.; Hirabayashi, I.; Sugawara, Y.; Tsuzuki, A.;
By: Shiohara, Y.; Hyun, O.-B.; Kitamura, T.; Yoshida, M.; Tanaka, S.; Ikuhara, Y.; Hirabayashi, I.; Sugawara, Y.; Tsuzuki, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-2037-9
By: Iwasa, T.; Nishida, Y.; Sakamoto, M.; Tobuse, H.; Murakami, E.; Uchiyama, Y.; Myoi, Y.; Yoshida, M.;
By: Iwasa, T.; Nishida, Y.; Sakamoto, M.; Tobuse, H.; Murakami, E.; Uchiyama, Y.; Myoi, Y.; Yoshida, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Yoshida, M.; Ono, H.; Kato, Y.; Hayashi, Y.; Tokashiki, K.; Ohnishi, S.; Nakajima, K.; Miyasaka, Y.; Tamura, T.; Sato, K.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Lesaicherre, P.-Y.; Yamamichi, S.;
By: Yoshida, M.; Ono, H.; Kato, Y.; Hayashi, Y.; Tokashiki, K.; Ohnishi, S.; Nakajima, K.; Miyasaka, Y.; Tamura, T.; Sato, K.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Lesaicherre, P.-Y.; Yamamichi, S.;
1996 / IEEE
By: Poechmueller, P.; Wordeman, M.R.; Fujii, S.; Kato, D.; Yoshida, M.; Parke, S.A.; Hing Wong; Watanabe, Y.; Kirihata, T.; DeBrosse, J.K.; Asao, Y.;
By: Poechmueller, P.; Wordeman, M.R.; Fujii, S.; Kato, D.; Yoshida, M.; Parke, S.A.; Hing Wong; Watanabe, Y.; Kirihata, T.; DeBrosse, J.K.; Asao, Y.;
1996 / IEEE
By: Quader, K.N.; Nagai, T.; Yoshida, M.; Hara, T.; Mukai, H.; DeBrosse, J.K.; Kato, D.; Kirihata, T.; Hing Wong; Watanabe, Y.; Fujii, S.; Wordeman, M.R.; Pfefferl, P.; Poechmueller, P.;
By: Quader, K.N.; Nagai, T.; Yoshida, M.; Hara, T.; Mukai, H.; DeBrosse, J.K.; Kato, D.; Kirihata, T.; Hing Wong; Watanabe, Y.; Fujii, S.; Wordeman, M.R.; Pfefferl, P.; Poechmueller, P.;
1996 / IEEE / 0-7803-3339-X
By: Fujii, S.; Wordeman, M.; Yoshida, M.; Hara, T.; Krsnik, B.; Watanabe, Y.; DeBrosse, J.; Kirihata, T.; Wong, H.;
By: Fujii, S.; Wordeman, M.; Yoshida, M.; Hara, T.; Krsnik, B.; Watanabe, Y.; DeBrosse, J.; Kirihata, T.; Wong, H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3342-X
By: Tu, R.; Wann, C.H.; Hui, K.; Yoshida, M.; Bin Yu; Tanaka, T.; Noda, K.; Chenming Hu;
By: Tu, R.; Wann, C.H.; Hui, K.; Yoshida, M.; Bin Yu; Tanaka, T.; Noda, K.; Chenming Hu;
1995 / IEEE / 0-7803-2140-5
By: Yoshida, M.; Tsushima, T.; Shinozaki, T.; Kinoshi, K.; Suwa, T.; Kitamura, H.;
By: Yoshida, M.; Tsushima, T.; Shinozaki, T.; Kinoshi, K.; Suwa, T.; Kitamura, H.;
1995 / IEEE / 0-7800-2599-0
By: Hara, T.; Yoshida, M.; DeBrosse, J.; Kato, D.; Kirihata, T.; Wong, H.; Watanabe, Y.; Fujii, S.; Wordeman, M.; Pfefferl, K.; Poechmueller, P.; Nagai, T.; Quader, K.; Mukai, H.;
By: Hara, T.; Yoshida, M.; DeBrosse, J.; Kato, D.; Kirihata, T.; Wong, H.; Watanabe, Y.; Fujii, S.; Wordeman, M.; Pfefferl, K.; Poechmueller, P.; Nagai, T.; Quader, K.; Mukai, H.;
1995 / IEEE / 0-7800-2599-0
By: Poechmueller, P.; Wordeman, M.; Fujii, S.; Katoh, D.; Yoshida, M.; Parke, S.; DeBrosse, J.; Wong, H.; Watanabe, Y.; Kirihata, T.; Asao, Y.;
By: Poechmueller, P.; Wordeman, M.; Fujii, S.; Katoh, D.; Yoshida, M.; Parke, S.; DeBrosse, J.; Wong, H.; Watanabe, Y.; Kirihata, T.; Asao, Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3531-7
By: Kato, T.; Suzuki, A.; Yoshida, M.; Okubo, H.; Hikita, M.; Hayakawa, N.;
By: Kato, T.; Suzuki, A.; Yoshida, M.; Okubo, H.; Hikita, M.; Hayakawa, N.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Kojima, Y.; Nakajima, K.; Lesaicherre, P.; Yamamichi, S.; Suzuki, M.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Koga, H.; Iizuka, T.; Yamaguchi, H.; Nishimoto, S.; Yoshida, M.; Miyasaka, Y.; Kato, Y.; Sakuma, T.; Kasai, N.;
By: Kojima, Y.; Nakajima, K.; Lesaicherre, P.; Yamamichi, S.; Suzuki, M.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Koga, H.; Iizuka, T.; Yamaguchi, H.; Nishimoto, S.; Yoshida, M.; Miyasaka, Y.; Kato, Y.; Sakuma, T.; Kasai, N.;