Author: Yokoyama, M.

2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Nakane, R.; Urabe, Y.; Lee, S.; Iida, R.; Taoka, N.; Yokoyama, M.; Kim, S.H.; Takagi, S.; Takenaka, M.; Hata, M.; Fukuhara, N.; Yamada, H.; Yasuda, T.; Miyata, N.;

2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Sugiyama, M.; Nakano, Y.; Fukuhara, N.; Ichikawa, O.; Yamada, H.; Yasuda, T.; Hata, M.; Takagi, H.; Maeda, T.; Urabe, Y.; Taoka, N.; Zhang, R.; Kim, S.H.; Yokoyama, M.; Takagi, S.; Takenaka, M.;

2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Takenaka, M.; Yokoyama, M.; Hata, M.; Yamada, H.; Yasuda, T.; Takagi, S.; Miyata, N.; Ishii, H.; Itatani, T.; Urabe, Y.; Maeda, T.;

2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Nozawa, T.; Yokoyama, M.; Furusato, M.; Ogata, T.; Miyake, Y.;

2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Yokoyama, M.; Younghyun Kim; Takagi, S.; Takenaka, M.; Taoka, N.;

2013 / IEEE
By: Kim, S.; Yokoyama, M.; Takagi, S.; Takenaka, M.; Hata, M.; Fukuhara, N.; Yamada, H.; Yasuda, T.; Taoka, N.; Iida, R.; Lee, S.-H.; Nakane, R.; Urabe, Y.; Miyata, N.;

2013 / IEEE
By: Kim, S. H.; Takagi, S.; Takenaka, M.; Hata, M.; Osada, T.; Ichikawa, O.; Nakane, R.; Yokoyama, M.;

2014 / IEEE
By: Takagi, S.; Takenaka, M.; Yokoyama, H.; Yokoyama, M.;

2014 / IEEE
By: Takagi, S.; Takenaka, M.; Kao, Y. C.; Li, J.; Nakane, R.; Yokoyama, M.; Ikku, Y.; Kim, S. H.;

2013 / IEEE
By: Yokoyama, M.; Kim, S.-H.; Takagi, S.; Takenaka, M.; Zhang, R.; Kim, W.-K.;

2013 / IEEE
By: Hashimoto, M.; Araki, T.; Yokoyama, M.; Minoshima, K.; Inaba, H.; Hsieh, Y.-D.; Iyonaga, Y.; Yasui, T.;

2014 / IEEE
By: Takagi, S.; Takenaka, M.; Hata, M.; Osada, T.; Ichikawa, O.; Nakane, R.; Yokoyama, M.; Kim, S.;

1991 / IEEE / 0-7803-0213-3
By: Hiramoto, M.; Yokoyama, M.;

1991 / IEEE / 0-7803-0453-5
By: Tomiku, M.; Yokoyama, M.; Hirano, M.; Kawashima, Y.; Ogata, S.; Kuno, T.;

1992 / IEEE / 0-7803-0582-5
By: Yokoyama, M.; Watanabe, A.;

1994 / IEEE
By: Tsubouchi, K.; Masu, K.; Sasaki, K.; Hidaka, T.; Yokoyama, M.;

1995 / IEEE / 0-7803-2516-8
By: Shei, S.C.; Su, Y.K.; Yokoyama, M.; Gan, K.J.;

1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Yokoyama, M.; Tadano, M.; Kobayashi, Y.; Katoh, M.; Nakamura, N.; Kasuga, T.; Honda, T.; Haga, K.;

1996 / IEEE / 0-7803-3342-X
By: Tsubouchi, K.; Fujita, Y.; Tajima, R.; Yokoyama, M.; Masu, K.; Ju-Hyuck Chung; Gotoh, A.; Matsuhashi, H.;

1995 / IEEE / 0-7803-2400-5
By: Yamazaki, T.; Yamada, K.; Hamada, S.; Yokoyama, M.; Kawai, M.; Ohdaira, T.; Suzuki, R.; Chiwaki, M.; Noguchi, T.; Mikado, T.; Ohgaki, H.; Sugiyama, S.; Sei, N.;

1996 / IEEE / 0-7803-3223-7
By: Wang, C.W.; Yokoyama, M.; Su, Y.K.; Sheu, T.J.;

1996 / IEEE / 0-7803-3223-7
By: Su, Y.K.; Sheu, T.J.; Wang, C.W.; Yokoyama, M.;

1996 / IEEE / 0-7803-2775-6
By: Takahashi, H.; Watanabe, A.; Yokoyama, M.;

1996 / IEEE / 0-7803-3355-1
By: Trolier-McKinstry, S.; Messing, G.L.; Selvaraj, U.; Zhang, S.C.; Horn, J.A.; Yokoyama, M.;

1997 / IEEE / 0-7803-3905-3
By: Yokoyama, M.; Sasase, I.; Uehara, H.;

1997 / IEEE / 0-7803-3786-7
By: Wang, W.C.; Huang, C.M.; Tsai, J.H.; Lin, I.N.; Yokoyama, M.; Hsiu, T.Y.; Wang, C.H.; Lai, J.T.; Chuang, F.Y.; Lin, C.M.;

1997 / IEEE / 0-7803-3786-7
By: Lin, C.M.; Chuang, F. Y.; Lin, I.N.; Yokoyama, M.; Wang, W. C.; Huang, C.M.; Tsai, J.H.; Lai, J.T.;

1997 / IEEE / 962-8273-01-9
By: Yan Kuin Su; Yokoyama, M.; Shui Hsiang Su;

1997 / IEEE / 962-8273-01-9
By: Yokoyama, M.; Su-Hua Yang;

1998 / IEEE
By: Yokoyama, M.; Su, Y.-K.; Liao, J.Y.; Wang, C.W.;

1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Saitoh, Y.; Ikeda, H.; Aihara, H.; Tajima, H.; Yokoyama, M.; Yamanaka, J.; Inoue, M.;

1998 / IEEE / 0-7503-0556-8
By: Tanaka, H.; Yokoyama, M.; Hara, N.; Okamoto, N.;

1998 / IEEE / 0-7803-4465-0
By: Hoashi, K.; Yokoyama, M.; Kikuchi, H.; Shirai, K.; Kobayashi, T.; Hidaki, Y.;

1998 / IEEE
By: Yokoyama, M.; Shigehara, T.; Mizoguchi, H.; Mishima, T.;

1998 / IEEE / 0-7803-4394-8
By: Yokoyama, M.; Okamoto, N.; Shimizu, K.;

2000 / IEEE / 0-7803-6463-5
By: Yokoyama, M.; Fujihara, M.; Uehara, H.; Ito, I.;

2000 / IEEE / 0-7695-0571-6
By: Takizawa, M.; Tanaka, K.; Yokoyama, M.;

2000 / IEEE / 0-7803-6583-6
By: Kikuchi, H.; Yokoyama, M.; Aoyama, K.; Shirai, K.;

2000 / IEEE
By: I-Nan Lin; Yokoyama, M.; Chang, S.J.; Lin, C.M.; Huang, B.R.; Chen, J.F.;

2001 / IEEE / 0-7695-1153-8
By: Yokoyama, M.; Takizawa, M.; Tanaka, K.;

2001 / IEEE
By: Talebi, J.; Tajima, H.; Nygard, E.; Mikkelsen, S.; Marlow, D.; Li, Y.; Verner, G.; Kaneko, J.; Ishino, H.; Hazumi, M.; Aihara, H.; Yokoyama, M.; Yamamoto, H.;

2001 / IEEE / 0-7803-6495-3
By: Toyama, S.; Hedrick, J.K.; Yokoyama, M.;

2001 / IEEE / 0-7695-1230-5
By: Tanaka, K.; Yokoyama, M.; Takizawa, M.;

2001 / IEEE
By: Abe, R.; Aihara, H.; Alimonti, G.; Asano, Y.; Bakich, A.; Banas, E.; Bozek, A.; Browder, T.; Dragic, J.; Everton, C.; Fukunaga, C.; Gordon, A.; Guler, H.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Hastings, N.; Hazumi, M.; Heenan, E.; Higuchi, T.; Hojo, T.; Ishino, H.; Iwai, G.; Jalocha, P.; Kaneko, J.; Kapusta, P.; Kawasaki, T.; Korotuschenko, K.; Lange, J.S.; Li, Y.; Marlow, D.; Matsubara, T.; Miyake, H.; Moffitt, L.; Moloney, G.; Mori, S.; Nagshima, Y.; Nakadaira, T.; Nakamura, T.; Natkaniec, Z.; Okuno, S.; Olsen, S.; Ostrowicz, W.; Palka, H.; Peak, L.; Rozanska, M.; Ryuko, J.; Sevior, M.; Shimada, K.; Sumisawa, K.; Stanic, S.; Stock, R.; Swain, S.; Tagomori, H.; Tajima, H.; Takahashi, S.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, J.; Tanaka, M.; Taylor, G.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Tusboyama, T.; Tsujita, Y.; Varner, G.; Varvell, K.; Yamamoto, H.; Watanabe, Y.; Yamada, Y.; Yokoyama, M.; Zhao, H.; Zontar, D.;

2002 / IEEE / 0-7803-7239-5
By: Kikkawa, T.; Joshin, K.; Hara, N.; Yamaguchi, Y.; Domen, K.; Horino, K.; Tateno, Y.; Yokoyama, M.; Kato, S.; Yokokawa, S.; Kimura, T.; Nagahara, M.;

2002 / IEEE
By: Kaneko, J.; Varner, G.; Yokoyama, M.; Yamamoto, H.; Taylor, G.; Tanaka, J.; Alimonti, G.; Tajima, H.; Sumisawa, K.; Li, Y.; Ishino, H.; Hazumi, M.; Aihara, H.;

1975 / IEEE
By: Yamanaka, C.; Yamabe, C.; Matoba, M.; Nakai, S.; Yokoyama, M.;

1983 / IEEE
By: Kajiwara, M.; Yamamoto, H.; Yokoyama, M.;

2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Kato, S.; Tateno, Y.; Adachi, N.; Kikkawa, T.; Nagahara, M.; Yokoyama, M.; Hara, N.; Joshin, K.; Yamaguchi, Y.; Kimura, T.; Yokogawa, S.;

2002 / IEEE / 0-7803-7510-6
By: Uehara, H.; Suzuki, N.; Yokoyama, M.;

2003 / IEEE / 0-7803-7694-3
By: Kato, S.; Kikkawa, T.; Yokokawa, S.; Adachi, N.; Nagahara, M.; Yokoyama, M.; Joshin, K.; Hara, N.; Yamaguchi, Y.; Kanamura, M.;

2003 / IEEE
By: Noda, S.; Yokoyama, M.;

2003 / IEEE / 0-7803-7978-0
By: Tsumochi, J.; Yokoyama, M.; Uehara, H.; Masayama, K.;

2003 / IEEE / 0-7803-7766-4
By: Yokoyama, M.; Su, S.H.; Tseng, C.T.; Chen, S.M.;

2003 / IEEE / 0-7803-7766-4
By: Mou-Zhong Lin; Chih-Chih Lin; Yokoyama, M.; Shui-Hsiang Su;

2004 / IEEE
By: Ziegler, T.; Abe, R.; Abe, T.; Aihara, H.; Asano, Y.; Aso, T.; Bakich, A.; Browder, T.; Chang, M.C.; Chao, Y.; Chen, K.F.; Chidzik, S.; Dalseno, J.; Dowd, R.; Dragic, J.; Everton, C.W.; Fernholz, R.; Friedl, M.; Fujii, H.; Gao, Z.W.; Gordon, A.; Guo, Y.N.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Harada, Y.; Haruyama, T.; Hasuko, K.; Hayashi, K.; Hazumi, M.; Heenan, E.M.; Higuchi, T.; Hirai, H.; Hitomi, N.; Igarashi, A.; Igarashi, Y.; Ikeda, H.; Ishino, H.; Itoh, K.; Iwaida, S.; Kaneko, J.; Kapusta, P.; Karawatzki, R.; Kasami, K.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kibayashi, A.; Koike, S.; Korpar, S.; Krizan, P.; Kurashiro, H.; Kusaka, A.; Lesiak, T.; Limosani, A.; Lin, W.C.; Marlow, D.; Matsumoto, H.; Mikami, Y.; Miyake, H.; Moloney, G.R.; Mori, T.; Nakadaira, T.; Nakano, Y.; Natkaniec, Z.; Nozaki, S.; Ohkubo, R.; Ohno, F.; Okuno, S.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Peak, L.; Pernicka, M.; Rosen, M.; Rozanska, M.; Sato, N.; Schmid, S.; Shibata, T.; Stamen, R.; Stanic, S.; Steininger, H.; Sumisawa, K.; Suzuki, J.; Tajima, H.; Tajima, O.; Takahashi, K.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, M.; Taylor, G.N.; Terazaki, H.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Trischuk, W.; Tsuboyama, T.; Uchida, K.; Ueno, K.; Ueno, K.; Uozaki, N.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S.; Varner, G.; Varvell, K.; Velikzhanin, Y.S.; Wang, C.C.; Wang, M.Z.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Yamada, Y.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yanai, H.; Yang, R.; Yasu, Y.; Yokoyama, M.; Zontar;

2004 / IEEE / 0-7803-8331-1
By: Tateno, Y.; Hayashi, H.; Maniwa, T.; Kikkawa, T.; Joshin, K.; Kanamura, M.; Yokoyama, M.; Adachi, N.; Nishi, M.; Yokokawa, S.;

2004 / IEEE
By: Ishino, H.; Abe, R.; Abe, T.; Aihara, H.; Asano, Y.; Aso, T.; Bakich, A.; Browder, T.; Chang, M.C.; Chao, Y.; Chen, K.F.; Chidzik, S.; Dalseno, J.; Dowd, R.; Dragic, J.; Everton, C.W.; Fernholz, R.; Friedl, M.; Fujii, H.; Gao, Z.W.; Gordon, A.; Guo, Y.N.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Harada, Y.; Haruyama, T.; Hasuko, K.; Hayashi, K.; Hazumi, M.; Heenan, E.M.; Higuchi, T.; Hirai, H.; Hitomi, N.; Igarashi, A.; Igarashi, Y.; Ikeda, H.; Itoh, K.; Iwaida, S.; Kaneko, J.; Kapusta, P.; Karawatzki, R.; Kasami, K.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kibayashi, A.; Koike, S.; Korpar, S.; Krizan, P.; Kurashiro, H.; Kusaka, A.; Lesiak, T.; Limosani, A.; Lin, W.C.; Marlow, D.; Matsumoto, H.; Mikami, Y.; Miyake, H.; Moloney, G.R.; Mori, T.; Nakadaira, T.; Nakano, Y.; Natkaniec, Z.; Nozaki, S.; Ohkubo, R.; Ohno, F.; Okuno, S.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Peak, L.; Pernicka, M.; Rosen, M.; Rozanska, M.; Sato, N.; Schmid, S.; Shibata, T.; Stamen, R.; Stanic, S.; Steininger, H.; Sumisawa, K.; Suzuki, J.; Tajima, H.; Tajima, O.; Takahashi, K.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, M.; Taylor, G.N.; Terazaki, H.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Trischuk, W.; Tsuboyama, T.; Uchida, K.; Ueno, K.; Ueno, K.; Uozaki, N.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S.; Varner, G.; Varvell, K.; Velikzhanin, Y.S.; Wang, C.C.; Wang, M.Z.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Yamada, Y.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yanai, H.; Yang, R.; Yasu, Y.; Yokoyama, M.; Ziegler, T.; Zontar, D.;

2005 / IEEE / 0-7803-8834-8
By: Takahashi, Y.; Yokoyama, M.;

2005 / IEEE / 0-7803-9195-0
By: Araki, M.; Uehara, H.; Yokoyama, M.; Yamaguchi, Y.;

2005 / IEEE / 0-7803-9242-6
By: Yokoyama, M.; Miyamoto, R.; Nakayama, K.;

2005 / IEEE / 0-7803-9242-6
By: Yokoyama, M.; Nakayama, K.; Fujimoto, S.;

2005 / IEEE / 0-7803-9424-0
By: Poggio, T.; Yokoyama, M.;

2005 / IEEE
By: Yamamoto, S.; Andringa, S.; Aoki, S.; Choi, S.; Dore, U.; Espinal, X.; Gomez-Cadenas, J.J.; Gran, R.; Hasegawa, M.; Hayashi, K.; Hayashi, K.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Ichikawa, A.K.; Iinuma, M.; Jang, J.S.; Jeon, E.J.; Joo, K.K.; Jover-Manas, G.; Jung, C.K.; Kato, I.; Kerr, D.; Kim, J.Y.; Kim, S.B.; Kobayashi, K.; Kohara, A.; Kubota, J.; Kudenko, Yu.; Kuno, Y.; Lee, M.J.; Lessac-Chenin, E.; Lim, I.T.; Loverre, P.F.; Ludovici, L.; Maesaka, H.; Mariani, C.; McGrew, C.; Mineev, O.; Morita, T.; Murakami, T.; Nakanishi, Y.; Nakaya, T.; Nawang, S.; Nishikawa, K.; Nitta, K.; Nova, F.; Pac, M.Y.; Rhee, E.J.; Rodriguez, A.; Sanchez, F.; Sasaki, T.; Shiraishi, K.K.; Suzuki, A.; Takahashi, T.; Takubo, Y.; Tanaka, M.; Terri, R.; Tornero-Lopez, A.; Ueda, S.; Whitehead, L.; Wilkes, R.J.; Yokoyama, M.; Yoshida, M.;

2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Murakami, T.; Hiraide, K.; Nishikawa, K.; Nakaya, T.; Yokoyama, M.; Tanaka, M.;

1985 / IEEE
By: Yokoyama, M.;

2006 / IEEE / 1-55752-803-9
By: Hai, P.N.; Nakano, Y.; Shimizu, H.; Amemiya, T.; Tanaka, M.; Yokoyama, M.;

2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Nagayama, Y.; Ikeda, K.; Komori, A.; Kumazawa, R.; Morita, S.; Ohyabu, N.; Peterson, B.J.; Sakakibara, S.; Shimozuma, T.; Yamada, H.; Ashikawa, N.; Chikaraishi, H.; Emoto, M.; Funaba, H.; Goncharov, P.; Goto, M.; Hamada, Y.; Ida, K.; Ido, T.; Igami, H.; Iagawa, S.; Inagaki, S.; Isayama, A.; Isobe, M.; Iwamoto, A.; Kaneko, O.; Kawahata, K.; Kobuchi, T.; Kogi, Y.; Kubo, S.; Mase, A.; Masuzaki, S.; Matsuoka, K.; Minami, T.; Mito, T.; Miyazawa, J.; Morisaki, T.; Murakami, S.; Muto, S.; , Mutoh.; Nakamura, Y.; Nakanishi, H.; Narihara, K.; Narushima, Y.; Nishimura, A.; Nishimura, K.; Nishizawa, A.; Noda, N.; Notake, T.; Nozato, H.; Ohdachi, S.; Oka, Y.; Osakabe, M.; Okajima, S.; Ozaki, T.; Sagara, A.; Saito, K.; Sakamoto, M.; Sakamoto, R.; Sasao, M.; Sato, K.; Seki, T.; Shoji, M.; Sudo, S.; Suzuki, H.; Takahata, K.; Takeiri, Y.; Takenaga, H.; Tamura, N.; Tanaka, K.; Toi, K.; Tokuzawa, T.; Torii, Y.; Tsumori, K.; Uda, T.; Watanabe, K.Y.; Yamada, I.; Yamazakia, K.; Yanagi, N.; Yokoyama, M.; Yoshimura, Y.; Yoshinuma, Y.; Watari, T.; Motojima, O.;

2006 / IEEE / 1-4244-0386-3
By: Yokoyama, M.; Sekine, T.; Fukuta, Y.; Takahashi, Y.;

2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Yokoyama, M.; Takeshita, T.; Shinkawa, T.; Nakaya, T.; Nakadaira, T.; Murakami, T.; Miyabayashi, K.; Matsumura, T.; Kim, S.H.; Kawagoe, K.; Iijima, T.; Yoshioka, T.; Uozumi, S.; Yamazaki, H.; Yamaoka, M.; Tsubokawa, T.; Sudo, Y.; Sano, E.; Otono, H.; Mazuka, Y.; Maeda, T.; Kubota, T.; Itoh, S.; Hano, H.; Taguchi, M.; Gomi, S.; Yoshimura, K.;

2007 / IEEE / 1-4244-1448-2
By: Yokoyama, M.; Hettiarachchi, R.; Ohira, T.; Uehara, H.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-1271-6
By: Tsuzuki, D.; Takahashi, Y.; Yokoyama, M.; Sekine, T.;

2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Tanaka, M.; Hai, P.N.; Yokoyama, M.; Shimizu, H.; Amemiya, T.; Nakano, Y.;

2007 / IEEE / 978-0-7695-3338-4
By: Hashimoto, D.; Yokoyama, M.; Tanaka, A.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-2166-4
By: Takahashi, Y.; Yokoyama, M.; Sekine, T.;

2008 / IEEE / 978-987-655-003-1
By: Sekine, T.; Takahashi, Y.; Yokoyama, M.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Otani, M.; Minamino, A.; Tran, P. D.; Moreau, F.; Gonin, M.; Ferreira, O.; Drapier, O.; Declais, Y.; Chaussard, L.; Bronner, C.; Besnier, M.; Autiero, D.; Yokoyama, M.; Nitta, K.; Ichikawa, A.; Nagai, N.; Nakaya, T.; Orme, D.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4479-3
By: Takahashi, Y.; Yokoyama, M.; Sekine, T.; Nagano, S.-y.; Anuar, N.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4367-3
By: Tsung-Syun Huang; Yokoyama, M.; Shu-Yi Kung; Shui-Hsiang Su; Chung-Ming Wu; Yan-Kuin Su;

2010 / IEEE / 978-1-4244-3543-2
By: Yokoyama, M.; Guo-Yuan Lian; Shui-Hsiang Su; Chung-Ming Wu;

2010 / IEEE / 978-1-4244-3543-2
By: Hsiang-Yu Chi; Tzu-Min Lin; Shui-Hsiang Su; Chi-Shing Li; Yokoyama, M.;

1995 / IEEE / 286332182X
By: Su, S.H.; Su, Y.K.; Yokoyama, M.; Tsai, P.R.;

2010 / IEEE / 978-1-55752-884-1
By: Takenaka, M.; Takagi, S.; Nakano, Y.; Sugiyama, M.; Yokoyama, M.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5922-3
By: Hata, M.; Fukuhara, N.; Yamada, H.; Miyata, N.; Urabe, Y.; Ishii, H.; Sugiyama, M.; Takagi, H.; Yasuda, T.; Yokoyama, M.; Takagi, S.; Takenaka, M.; Nakano, Y.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6474-6
By: Takahashi, Y.; Yokoyama, M.; Sekine, T.;

2011 / IEEE
By: Yuan, S.; Koshiba, Y.; Yokoyama, M.; Kimura, Y.; Aizawa, K.; Umemoto, K.; Izumi, M.; Maki, N.;

2011 / IEEE
By: Hata, M.; Sugiyama, M.; Yamada, H.; Yasuda, T.; Takagi, H.; Urabe, Y.; Taoka, N.; Sanghyeon Kim; Iida, R.; Yokoyama, M.; Takagi, S.; Fukuhara, N.; Takenaka, M.; Nakano, Y.;