Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Yin, Y.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-1137-3
By: Usui, T.; Colburn, M.; Spooner, T.; Arnold, J.C.; Saulnier, N.; Soda, E.; Shobha, H.; Chen, S.-T.; Waskiewicz, C.; Ishikawa, M.; Yin, Y.; Shimada, K.; Tagami, M.;
By: Usui, T.; Colburn, M.; Spooner, T.; Arnold, J.C.; Saulnier, N.; Soda, E.; Shobha, H.; Chen, S.-T.; Waskiewicz, C.; Ishikawa, M.; Yin, Y.; Shimada, K.; Tagami, M.;
2014 / IEEE
By: Cheng, K.; Seo, S.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Nowak, E.; Rim, K.; Doris, B.; Wu, T.; Oldiges, P.; Faltermeier, J.; Lu, D.; Standaert, T.; Ok, I.; Khakifirooz, A.; Vega, R.; Levin, T.; Li, J.; Demarest, J.; Surisetty, C.; Song, D.; Utomo, H.; Chao, R.; He, H.; Madan, A.; DeHaven, P.; Klymko, N.; Zhu, Z.; Naczas, S.; Yin, Y.; Kuss, J.; Jacob, A.; Bae, D.; Seo, K.; Kleemeier, W.; Sampson, R.; Hook, T.; Haran, B.; Gifford, G.; Gupta, D.; Shang, H.; Bu, H.; Na, M.;
By: Cheng, K.; Seo, S.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Nowak, E.; Rim, K.; Doris, B.; Wu, T.; Oldiges, P.; Faltermeier, J.; Lu, D.; Standaert, T.; Ok, I.; Khakifirooz, A.; Vega, R.; Levin, T.; Li, J.; Demarest, J.; Surisetty, C.; Song, D.; Utomo, H.; Chao, R.; He, H.; Madan, A.; DeHaven, P.; Klymko, N.; Zhu, Z.; Naczas, S.; Yin, Y.; Kuss, J.; Jacob, A.; Bae, D.; Seo, K.; Kleemeier, W.; Sampson, R.; Hook, T.; Haran, B.; Gifford, G.; Gupta, D.; Shang, H.; Bu, H.; Na, M.;
2014 / IEEE
By: Li, C.; Chen, X.; Yin, Y.; Tai, Y.-C.; Wu, H.; Krawczynski, H.; Guo, Q.; Komarov, S.; Meng, L.-J.;
By: Li, C.; Chen, X.; Yin, Y.; Tai, Y.-C.; Wu, H.; Krawczynski, H.; Guo, Q.; Komarov, S.; Meng, L.-J.;
2013 / IEEE
By: Khakifirooz, A.; Sreenivasan, R.; Doris, B.; Rim, K.; Bu, H.; Guo, D.; Liu, T.-S. King; Nguyen, B. Y.; Levin, T.; Cheng, K.; Standaert, T. E.; Taber, B. N.; Allibert, F.; Hashemi, P.; Chern, W.; Xu, N.; Wall, E. C.; Mochizuki, S.; Li, J.; Yin, Y.; Loubet, N.; Reznicek, A.; Mignot, S. M.; Lu, D.; He, H.; Yamashita, T.; Morin, P.; Tsutsui, G.; Chen, C.-Y.; Basker, V. S.;
By: Khakifirooz, A.; Sreenivasan, R.; Doris, B.; Rim, K.; Bu, H.; Guo, D.; Liu, T.-S. King; Nguyen, B. Y.; Levin, T.; Cheng, K.; Standaert, T. E.; Taber, B. N.; Allibert, F.; Hashemi, P.; Chern, W.; Xu, N.; Wall, E. C.; Mochizuki, S.; Li, J.; Yin, Y.; Loubet, N.; Reznicek, A.; Mignot, S. M.; Lu, D.; He, H.; Yamashita, T.; Morin, P.; Tsutsui, G.; Chen, C.-Y.; Basker, V. S.;
Calculation of frequency-dependent impedances of underground power cables with finite element method
1989 / IEEEBy: Yin, Y.; Dommel, H.W.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Morales, H.; Mostowfi, D.; Emery, L.; Hettel, R.; Cerino, J.; Borland, M.; Baltay, M.; Sebek, J.; Smith, V.; Pellegrin, J.-L.; Youngman, B.; Yin, Y.; Wiedemann, H.; Weaver, J.N.; Voss, J.; Safranek, J.; Rowen, M.;
By: Morales, H.; Mostowfi, D.; Emery, L.; Hettel, R.; Cerino, J.; Borland, M.; Baltay, M.; Sebek, J.; Smith, V.; Pellegrin, J.-L.; Youngman, B.; Yin, Y.; Wiedemann, H.; Weaver, J.N.; Voss, J.; Safranek, J.; Rowen, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Sun, B.G.; Liu, Z.P.; Li, J.Y.; Yin, Y.; Wang, J.H.; Liu, J.H.; Wang, G.C.;
By: Sun, B.G.; Liu, Z.P.; Li, J.Y.; Yin, Y.; Wang, J.H.; Liu, J.H.; Wang, G.C.;
2001 / IEEE / 0-7803-6520-8
By: Chen, Z.C.; Shen, B.; Huang, P.; Cai, Q.Y.; Jiang, J.F.; Yin, Y.; Yang, T.;
By: Chen, Z.C.; Shen, B.; Huang, P.; Cai, Q.Y.; Jiang, J.F.; Yin, Y.; Yang, T.;
Thickness Dependences of Phase Change and Channel Current Control in Phase-Change Channel Transistor
2005 / IEEE / 0-7803-9339-2By: Sone, H.; Niida, D.; Miyachi, A.; Yin, Y.; Hosaka, S.;
2006 / IEEE
By: Vamivakas, A.N.; Walsh, A.G.; Yin, Y.; Swan, A.K.; Goldberg, B.B.; Cronin, S.B.; Unlu, M.S.; Bacsa, W.; Tinkham, M.; Stolyarov, A.M.;
By: Vamivakas, A.N.; Walsh, A.G.; Yin, Y.; Swan, A.K.; Goldberg, B.B.; Cronin, S.B.; Unlu, M.S.; Bacsa, W.; Tinkham, M.; Stolyarov, A.M.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Vamivakas, A.N.; Swan, A.K.; Goldberg, B.B.; Unlu, M.S.; Yin, Y.; Walsh, A.;
By: Vamivakas, A.N.; Swan, A.K.; Goldberg, B.B.; Unlu, M.S.; Yin, Y.; Walsh, A.;
2007 / IEEE / 1-4244-0920-9
By: Park, Y.B.; Shams, S.; Lim, I.S.; Morgan, D.; Kirchgessner, J.; Braithwaite, S.; John, J.P.; Huang, W.M.; Yin, Y.; Wennekers, P.; Ghazinour, A.; Li, H.; Reuter, R.; Welch, P.; To, I.;
By: Park, Y.B.; Shams, S.; Lim, I.S.; Morgan, D.; Kirchgessner, J.; Braithwaite, S.; John, J.P.; Huang, W.M.; Yin, Y.; Wennekers, P.; Ghazinour, A.; Li, H.; Reuter, R.; Welch, P.; To, I.;
2007 / IEEE / 1-4244-0687-0
By: To, I.; Yin, Y.; Reuter, R.; Kirchgessner, J.; Trigas, C.; Tutt, M.; Wennekers, P.; Huang, M.; John, J.; Scheitlin, D.; Li, H.; Knappenberger, B.; Braithwaite, S.; Welch, P.; Feige, J.; Morgan, D.; Jahn, D.; Ghazinour, A.;
By: To, I.; Yin, Y.; Reuter, R.; Kirchgessner, J.; Trigas, C.; Tutt, M.; Wennekers, P.; Huang, M.; John, J.; Scheitlin, D.; Li, H.; Knappenberger, B.; Braithwaite, S.; Welch, P.; Feige, J.; Morgan, D.; Jahn, D.; Ghazinour, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0502-1
By: Shyng-Tsong Chen; Tomizawa, H.; Spooner, T.; Usui, T.; Colburn, M.; Arnold, J.C.; Mclellan, E.; Scaduto, A.; Xu, Y.; Landie, G.; Kato, H.; Halle, S.; Burns, S.; Koay, C.-S.; Mignot, Y.; Ishikawa, M.; Horak, D.; Yin, Y.; Cohen, S.; Levin, T.; Canaperi, D.; Kelly, J.; Van der Straten, O.; Tsumura, K.; Tagami, M.; Shobha, H.; Sankarapandian, M.;
By: Shyng-Tsong Chen; Tomizawa, H.; Spooner, T.; Usui, T.; Colburn, M.; Arnold, J.C.; Mclellan, E.; Scaduto, A.; Xu, Y.; Landie, G.; Kato, H.; Halle, S.; Burns, S.; Koay, C.-S.; Mignot, Y.; Ishikawa, M.; Horak, D.; Yin, Y.; Cohen, S.; Levin, T.; Canaperi, D.; Kelly, J.; Van der Straten, O.; Tsumura, K.; Tagami, M.; Shobha, H.; Sankarapandian, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0502-1
By: Tomizawa, H.; Chen, S.T.; Spooner, T.; Usui, T.; Colburn, M.; Arnold, J.; Vo, T.; Maniscalco, J.; van der Straten, O.; Sankarapandian, M.; Shobha, H.; Tagami, M.; Tsumura, K.; Burns, S.; Landie, G.; Koay, C.S.; Kelly, J.; Ishikawa, M.; Yin, Y.; Kato, H.; Horak, D.;
By: Tomizawa, H.; Chen, S.T.; Spooner, T.; Usui, T.; Colburn, M.; Arnold, J.; Vo, T.; Maniscalco, J.; van der Straten, O.; Sankarapandian, M.; Shobha, H.; Tagami, M.; Tsumura, K.; Burns, S.; Landie, G.; Koay, C.S.; Kelly, J.; Ishikawa, M.; Yin, Y.; Kato, H.; Horak, D.;