Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Yao, N.
Results
1989 / IEEE
By: Spiegel, L.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.W.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
By: Spiegel, L.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.W.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
1989 / IEEE
By: Conetti, S.; Kuzminski, J.; Marchionni, A.; Stairs, D.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Cox, B.; Delchamps, S.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Remeika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.; Spiegel, L.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
By: Conetti, S.; Kuzminski, J.; Marchionni, A.; Stairs, D.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Cox, B.; Delchamps, S.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Remeika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.; Spiegel, L.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
1989 / IEEE
By: Jenkins, C.M.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.; Spiegel, L.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
By: Jenkins, C.M.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.; Spiegel, L.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
1989 / IEEE
By: Zioulas, G.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, I.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Spiegel, I.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkinton, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.;
By: Zioulas, G.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Delchamps, S.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, I.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, I.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Rameika, R.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Spiegel, I.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkinton, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.;
1989 / IEEE
By: Delchamps, S.W.; Rameika, R.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, J.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Spiegel, L.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
By: Delchamps, S.W.; Rameika, R.; Arenton, M.; Chen, T.Y.; Conetti, S.; Cox, B.; Etemadi, B.; Fortney, L.; Guffey, K.; Haire, M.; Ioannu, P.; Jenkins, C.M.; Judd, D.J.; Kourkoumelis, C.; Koutentakis, J.; Kuzminski, J.; Lai, K.W.; Manousakis-Katsikakis, A.; Mao, H.; Marchionni, A.; Mazur, P.O.; Murphy, C.T.; Pramantiotis, T.; Resvanis, L.K.; Rosati, M.; Rosen, J.L.; Shen, C.H.; Shen, Q.; Simard, A.; Smith, R.P.; Spiegel, L.; Stairs, D.; Tesarek, R.; Tucker, W.; Turkington, T.; Turkot, F.; Turnbull, L.; Tzamarias, S.; Vassiliou, M.; Voulgaris, G.; Wagoner, D.E.; Wang, C.; Yang, W.; Yao, N.; Zhang, N.; Zhang, X.; Zioulas, G.;
1992 / IEEE
By: Kowald, W.; Mazur, P.; Golovatyuk, V.; Fortney, L.; Hanlet, P.; Cox, B.; Cooper, M.; Chen, T.Y.; Boden, A.; McManus, A.; Zou, B.; Yao, N.; VanBerg, R.; Trischuk, J.; Sun, J.; Smith, R.; Selove, W.; Segal, J.; Recagni, M.; Ramachandran, S.; Nelson, K.;
By: Kowald, W.; Mazur, P.; Golovatyuk, V.; Fortney, L.; Hanlet, P.; Cox, B.; Cooper, M.; Chen, T.Y.; Boden, A.; McManus, A.; Zou, B.; Yao, N.; VanBerg, R.; Trischuk, J.; Sun, J.; Smith, R.; Selove, W.; Segal, J.; Recagni, M.; Ramachandran, S.; Nelson, K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Spiegel, L.; Alexopoulos, T.; Antoniazzi, L.; Arenton, M.; Ballagh, C.; Bingham, H.; Blankman, A.; Block, M.; Boden, A.; Borodin, S.; Budagov, J.; Cao, Z.L.; Cataldi, G.; Chen, T.Y.; Clark, K.; Cline, D.; Conetti, S.; Cooper, M.; Corti, G.; Cox, B.; Creti, P.; Dukes, E.; Durandet, C.; Elia, V.; Erwin, A.; Fortney, L.; Golovatyuk, V.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Haire, M.; Hanlet, P.; He, M.; Introzzi, G.; Jenkins, M.; Jennings, J.; Judd, D.; Kaeding, T.; Kononenko, W.; Kowald, W.; Lanza, A.; Lau, K.; LeCompte, T.; Liguori, G.; Lys, J.; Mazur, P.; McManus, A.; Misawa, S.; Mo, G.; Murphy, C.T.; Nelson, K.; Newcomer, M.; Panareo, M.; Ramachandran, S.; Recagni, M.; Rhoades, J.; Rosen, J.; Segal, J.; Selove, W.; Smith, R.P.; Sun, J.; Tokar, S.; Torre, P.; Trischuk, J.; Trojak, T.; Tsyganov, E.; Turnbull, L.; VanBerg, R.; Wagoner, D.; Wang, C.; Wei, C.; Yang, W.; Yao, N.; Yao, T.; Zhang, N.; Zhang, S.N.; Zou, B.;
By: Spiegel, L.; Alexopoulos, T.; Antoniazzi, L.; Arenton, M.; Ballagh, C.; Bingham, H.; Blankman, A.; Block, M.; Boden, A.; Borodin, S.; Budagov, J.; Cao, Z.L.; Cataldi, G.; Chen, T.Y.; Clark, K.; Cline, D.; Conetti, S.; Cooper, M.; Corti, G.; Cox, B.; Creti, P.; Dukes, E.; Durandet, C.; Elia, V.; Erwin, A.; Fortney, L.; Golovatyuk, V.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Haire, M.; Hanlet, P.; He, M.; Introzzi, G.; Jenkins, M.; Jennings, J.; Judd, D.; Kaeding, T.; Kononenko, W.; Kowald, W.; Lanza, A.; Lau, K.; LeCompte, T.; Liguori, G.; Lys, J.; Mazur, P.; McManus, A.; Misawa, S.; Mo, G.; Murphy, C.T.; Nelson, K.; Newcomer, M.; Panareo, M.; Ramachandran, S.; Recagni, M.; Rhoades, J.; Rosen, J.; Segal, J.; Selove, W.; Smith, R.P.; Sun, J.; Tokar, S.; Torre, P.; Trischuk, J.; Trojak, T.; Tsyganov, E.; Turnbull, L.; VanBerg, R.; Wagoner, D.; Wang, C.; Wei, C.; Yang, W.; Yao, N.; Yao, T.; Zhang, N.; Zhang, S.N.; Zou, B.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Cox, B.; Fortney, L.; Cooper, M.; Chen, T.Y.; Boden, A.; McManus, A.; Zou, B.; Yao, N.; VanBerg, R.; Trischuk, J.; Sun, J.; Smith, R.; Selove, W.; Segal, J.; Recagni, M.; Ramachandran, S.; Nelson, K.; Mazur, P.; Kowald, W.; Hanlet, P.; Golovatyuk, V.;
By: Cox, B.; Fortney, L.; Cooper, M.; Chen, T.Y.; Boden, A.; McManus, A.; Zou, B.; Yao, N.; VanBerg, R.; Trischuk, J.; Sun, J.; Smith, R.; Selove, W.; Segal, J.; Recagni, M.; Ramachandran, S.; Nelson, K.; Mazur, P.; Kowald, W.; Hanlet, P.; Golovatyuk, V.;
Low Power Digital Communication in Implantable Devices Using Volume Conduction of Biological Tissues
2006 / IEEE / 1-4244-0032-5By: Yao, N.; Sun, M.; Sclabassi, R.J.; Lee, H.-N.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4362-8
By: Fernstrom, M.H.; Fernstrom, J.D.; Yao, N.; Ruizhen Zhao; Wenyan Jia; Sun, M.; Sclabassi, R.J.;
By: Fernstrom, M.H.; Fernstrom, J.D.; Yao, N.; Ruizhen Zhao; Wenyan Jia; Sun, M.; Sclabassi, R.J.;