Your Search Results

Use materials by this author in your textbook!

AcademicPub holds over eight million pieces of educational content – such as case studies and journal articles – for you to mix-and-match your way.

Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.

Author: Yamauchi, M.

Results

2004 / IEEE
By: Ziegler, T.; Abe, R.; Abe, T.; Aihara, H.; Asano, Y.; Aso, T.; Bakich, A.; Browder, T.; Chang, M.C.; Chao, Y.; Chen, K.F.; Chidzik, S.; Dalseno, J.; Dowd, R.; Dragic, J.; Everton, C.W.; Fernholz, R.; Friedl, M.; Fujii, H.; Gao, Z.W.; Gordon, A.; Guo, Y.N.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Harada, Y.; Haruyama, T.; Hasuko, K.; Hayashi, K.; Hazumi, M.; Heenan, E.M.; Higuchi, T.; Hirai, H.; Hitomi, N.; Igarashi, A.; Igarashi, Y.; Ikeda, H.; Ishino, H.; Itoh, K.; Iwaida, S.; Kaneko, J.; Kapusta, P.; Karawatzki, R.; Kasami, K.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kibayashi, A.; Koike, S.; Korpar, S.; Krizan, P.; Kurashiro, H.; Kusaka, A.; Lesiak, T.; Limosani, A.; Lin, W.C.; Marlow, D.; Matsumoto, H.; Mikami, Y.; Miyake, H.; Moloney, G.R.; Mori, T.; Nakadaira, T.; Nakano, Y.; Natkaniec, Z.; Nozaki, S.; Ohkubo, R.; Ohno, F.; Okuno, S.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Peak, L.; Pernicka, M.; Rosen, M.; Rozanska, M.; Sato, N.; Schmid, S.; Shibata, T.; Stamen, R.; Stanic, S.; Steininger, H.; Sumisawa, K.; Suzuki, J.; Tajima, H.; Tajima, O.; Takahashi, K.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, M.; Taylor, G.N.; Terazaki, H.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Trischuk, W.; Tsuboyama, T.; Uchida, K.; Ueno, K.; Ueno, K.; Uozaki, N.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S.; Varner, G.; Varvell, K.; Velikzhanin, Y.S.; Wang, C.C.; Wang, M.Z.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Yamada, Y.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yanai, H.; Yang, R.; Yasu, Y.; Yokoyama, M.; Zontar;
2004 / IEEE
By: Ishino, H.; Abe, R.; Abe, T.; Aihara, H.; Asano, Y.; Aso, T.; Bakich, A.; Browder, T.; Chang, M.C.; Chao, Y.; Chen, K.F.; Chidzik, S.; Dalseno, J.; Dowd, R.; Dragic, J.; Everton, C.W.; Fernholz, R.; Friedl, M.; Fujii, H.; Gao, Z.W.; Gordon, A.; Guo, Y.N.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Harada, Y.; Haruyama, T.; Hasuko, K.; Hayashi, K.; Hazumi, M.; Heenan, E.M.; Higuchi, T.; Hirai, H.; Hitomi, N.; Igarashi, A.; Igarashi, Y.; Ikeda, H.; Itoh, K.; Iwaida, S.; Kaneko, J.; Kapusta, P.; Karawatzki, R.; Kasami, K.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kibayashi, A.; Koike, S.; Korpar, S.; Krizan, P.; Kurashiro, H.; Kusaka, A.; Lesiak, T.; Limosani, A.; Lin, W.C.; Marlow, D.; Matsumoto, H.; Mikami, Y.; Miyake, H.; Moloney, G.R.; Mori, T.; Nakadaira, T.; Nakano, Y.; Natkaniec, Z.; Nozaki, S.; Ohkubo, R.; Ohno, F.; Okuno, S.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Peak, L.; Pernicka, M.; Rosen, M.; Rozanska, M.; Sato, N.; Schmid, S.; Shibata, T.; Stamen, R.; Stanic, S.; Steininger, H.; Sumisawa, K.; Suzuki, J.; Tajima, H.; Tajima, O.; Takahashi, K.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, M.; Taylor, G.N.; Terazaki, H.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Trischuk, W.; Tsuboyama, T.; Uchida, K.; Ueno, K.; Ueno, K.; Uozaki, N.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S.; Varner, G.; Varvell, K.; Velikzhanin, Y.S.; Wang, C.C.; Wang, M.Z.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Yamada, Y.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yanai, H.; Yang, R.; Yasu, Y.; Yokoyama, M.; Ziegler, T.; Zontar, D.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Dotani, T.; Mitsuda, K.; Bautz, M.; Inoue, H.; Kelley, R.L.; Koyama, K.; Kunieda, H.; Makishima, K.; Ogawara, Y.; Petre, R.; Takahashi, T.; Tsunemi, H.; White, N.E.; Anabuki, N.; Angelini, L.; Arnaud, K.; Awaki, H.; Bamba, A.; Boyce, K.; Brown, G.V.; Chan, K.-W.; Cottam, J.; Doty, J.; Ebisawa, K.; Ezoe, Y.; Fabian, A.C.; Figueroa, E.; Fujimoto, R.; Fukazawa, Y.; Furusho, T.; Furuzawa, A.; Gendreau, K.; Griffiths, R.E.; Haba, Y.; Hamaguchi, K.; Harrus, I.; Hasinger, G.; Hatsukade, I.; Hayashida, K.; Henry, P.J.; Hiraga, J.S.; Holt, S.S.; Hornschemeier, A.; Hughes, J.P.; Hwang, U.; Ishida, M.; Ishisaki, Y.; Isobe, N.; Itoh, M.; Iyomoto, N.; Kahn, S.M.; Kamae, T.; Katagiri, H.; Kataoka, J.; Katayama, H.; Kawai, N.; Kawaharada, M.; Kilbourne, C.; Kinugasa, K.; Kissel, S.; Kitamoto, S.; Kohama, M.; Kohmura, T.; Kokubun, M.; Kotani, T.; Kotoku, J.; Kubota, A.; Madejski, G.M.; Maeda, Y.; Makino, F.; Markowitz, A.; Matsumoto, C.; Matsumoto, H.; Matsuoka, M.; Matsushita, K.; McCammon, D.; Mihara, T.; Misaki, K.; Miyata, E.; Mizuno, T.; Mori, K.; Mori, H.; Morii, M.; Moseley, H.; Mukai, K.; Murakami, H.; Murakami, T.; Mushotzky, R.; Nagase, F.; Namiki, M.; Negoro, H.; Nakazawa, K.; Nousek, J.A.; Okajima, T.; Ogasaka, Y.; Ohashi, T.; Oshima, T.; Ota, N.; Ozaki, M.; Ozawa, H.; Parmar, A.N.; Pence, W.D.; Scott Porter, F.; Reeves, J.N.; Ricker, G.R.; Sakurai, I.; Sanders, W.T.; Senda, A.; Serlemitsos, P.; Shibata, R.; Shinozaki, K.; Soong, Y.; Smith, R.; Suzuki, M.; Szymkowiak, A.E.; Takahashi, H.; Takei, Y.; Tamagawa, T.; Tamura, K.; Tamura, T.; Tanaka, Y.; Tashiro, M.; Tawara, Y.; Terada, Y.; Terashima, Y.; Tomida, H.; Torii, K.; Tsuboi, Y.; Tsujimoto, Y.; Tsuru, T.; Turner, M.J.L.; Uchiyama, Y.; Ueda, Y.; Ueno, S.; Ueno, M.; Uno, S.; Urata, Y.; Watanabe, S.; Yamamoto, N.; Yamaoka, K.; Yamasaki, N.Y.; Yamashita, K.; Yamauchi, M.; Yamauchi, S.; Yaqoob, T.; Yonetoku, D.; Yoshida, A.;