Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Yamada, K.
Results
2012 / IEEE
By: Yamada, K.; Kousaka, H.; Koizumi, H.; Hamajima, E.; Kawara, S.; Arakawa, Y.; Umehara, N.;
By: Yamada, K.; Kousaka, H.; Koizumi, H.; Hamajima, E.; Kawara, S.; Arakawa, Y.; Umehara, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Yamada, K.; Iwai, H.; Kakushima, K.; Matsuki, T.; Feng, W.; Sato, M.; Hettiarachchi, R.; Sato, S.; Ohmori, K.;
By: Yamada, K.; Iwai, H.; Kakushima, K.; Matsuki, T.; Feng, W.; Sato, M.; Hettiarachchi, R.; Sato, S.; Ohmori, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0192-4
By: Yamada, K.; Matsuki, T.; Feng, W.; Hettiarachchi, R.; Ohmori, K.;
By: Yamada, K.; Matsuki, T.; Feng, W.; Hettiarachchi, R.; Ohmori, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0638-7
By: Yamada, K.; Takahashi, T.; Doi, S.; Itaya, S.; Yoshinaga, N.; Takata, Y.; Shinkuma, R.;
By: Yamada, K.; Takahashi, T.; Doi, S.; Itaya, S.; Yoshinaga, N.; Takata, Y.; Shinkuma, R.;
2011 / IEEE / 978-1-890843-23-6
By: Kusama, R.; Suematsu, C.; Yamada, K.; Kunieda, K.; Kawai, H.; Sengoku, S.; Shime, T.;
By: Kusama, R.; Suematsu, C.; Yamada, K.; Kunieda, K.; Kawai, H.; Sengoku, S.; Shime, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-777-1
By: Mori, S.; Yamada, K.; Todori, K.; Tada, T.; Yoshimura, R.; Maruyama, M.; Hotta, Y.; Yamagiwa, M.;
By: Mori, S.; Yamada, K.; Todori, K.; Tada, T.; Yoshimura, R.; Maruyama, M.; Hotta, Y.; Yamagiwa, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0708-7
By: Ozawa, K.; Sugii, N.; Shigemori, N.; Koyama, M.; Iwai, H.; Yamada, K.; Tachi, K.; Nishiyama, A.; Tsutsui, K.; Ohmori, K.; Nakatsuka, O.; Kakushima, K.;
By: Ozawa, K.; Sugii, N.; Shigemori, N.; Koyama, M.; Iwai, H.; Yamada, K.; Tachi, K.; Nishiyama, A.; Tsutsui, K.; Ohmori, K.; Nakatsuka, O.; Kakushima, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Yamada, K.; Rai Kou; Itabashi, S.; Shinojima, H.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Nishi, H.;
By: Yamada, K.; Rai Kou; Itabashi, S.; Shinojima, H.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Nishi, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Wada, K.; Ishikawa, Y.; Shinojima, H.; Nishi, H.; Itabashi, S.; Kou, R.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Yamada, K.;
By: Wada, K.; Ishikawa, Y.; Shinojima, H.; Nishi, H.; Itabashi, S.; Kou, R.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Yamada, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Urino, Y.; Akiyama, S.; Fujikata, J.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Wada, K.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.;
By: Urino, Y.; Akiyama, S.; Fujikata, J.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Wada, K.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Shimizu, T.; Okano, M.; Urino, Y.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Fujikata, J.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akiyama, S.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Hatori, N.;
By: Shimizu, T.; Okano, M.; Urino, Y.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Fujikata, J.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akiyama, S.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Hatori, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Mutoh, S.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Shinojima, H.; Yamada, K.; Nishi, H.; Kou, R.; Tsuchizawa, T.;
By: Mutoh, S.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Shinojima, H.; Yamada, K.; Nishi, H.; Kou, R.; Tsuchizawa, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-928-7
By: Itaya, S.; Yamada, K.; Doi, S.; Konishi, T.; Yoshinaga, N.; Tanaka, R.;
By: Itaya, S.; Yamada, K.; Doi, S.; Konishi, T.; Yoshinaga, N.; Tanaka, R.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Nishi, H.; Mutoh, S.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Kimura, H.; Yamada, T.; Yamada, K.; Shinojima, H.; Kou, R.; Tsuchizawa, T.;
By: Nishi, H.; Mutoh, S.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Kimura, H.; Yamada, T.; Yamada, K.; Shinojima, H.; Kou, R.; Tsuchizawa, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2025-2
By: Tohnai, S.; Yamada, K.; Sakanushi, T.; Zhongxiang Chen; Yun Zhao;
By: Tohnai, S.; Yamada, K.; Sakanushi, T.; Zhongxiang Chen; Yun Zhao;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2025-2
By: Tohnai, S.; Yun Zhao; Yamada, K.; Sakanushi, T.; Zhongxiang Chen;
By: Tohnai, S.; Yun Zhao; Yamada, K.; Sakanushi, T.; Zhongxiang Chen;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0978-3
By: Yamada, K.; Tsuchizawa, T.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Hiraki, T.; Fukuda, H.; Shinojima, H.; Kou, R.; Nishi, H.;
By: Yamada, K.; Tsuchizawa, T.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Hiraki, T.; Fukuda, H.; Shinojima, H.; Kou, R.; Nishi, H.;
2013 / IEEE
By: Hiraki, T.; Nishi, H.; Tsuchizawa, T.; Kou, R.; Fukuda, H.; Takeda, K.; Ishikawa, Y.; Yamada, K.; Wada, K.;
By: Hiraki, T.; Nishi, H.; Tsuchizawa, T.; Kou, R.; Fukuda, H.; Takeda, K.; Ishikawa, Y.; Yamada, K.; Wada, K.;
2014 / IEEE
By: Kido, M.; Kawabata, T.; Shibuya, A.; Hirano, T.; Kamikokura, A.; Ichikawa, A.; Seino, K.; Yamada, K.;
By: Kido, M.; Kawabata, T.; Shibuya, A.; Hirano, T.; Kamikokura, A.; Ichikawa, A.; Seino, K.; Yamada, K.;
2015 / IEEE
By: Fujikata, J.; Usuki, T.; Mizutani, K.; Hatori, N.; Yamada, K.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Horikawa, T.; Urino, Y.;
By: Fujikata, J.; Usuki, T.; Mizutani, K.; Hatori, N.; Yamada, K.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Horikawa, T.; Urino, Y.;
2014 / IEEE
By: Urino, Y.; Hatori, N.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Horikawa, T.; Mori, M.; Okamoto, D.; Saito, E.; Takahashi, M.; Akagawa, T.; Shimizu, T.; Okano, M.; Ishizaka, M.; Yamamoto, T.; Okayama, H.; Onawa, Y.; Takahashi, H.; Shimura, D.; Yaegashi, H.; Nishi, H.; Fukuda, H.; Yamada, K.; Miura, M.; Fujikata, J.; Akiyama, S.; Baba, T.; Usuki, T.; Noguchi, Y.; Noguchi, M.; Imai, M.; Hirayama, N.; Saitou, S.; Yamagishi, M.;
By: Urino, Y.; Hatori, N.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Horikawa, T.; Mori, M.; Okamoto, D.; Saito, E.; Takahashi, M.; Akagawa, T.; Shimizu, T.; Okano, M.; Ishizaka, M.; Yamamoto, T.; Okayama, H.; Onawa, Y.; Takahashi, H.; Shimura, D.; Yaegashi, H.; Nishi, H.; Fukuda, H.; Yamada, K.; Miura, M.; Fujikata, J.; Akiyama, S.; Baba, T.; Usuki, T.; Noguchi, Y.; Noguchi, M.; Imai, M.; Hirayama, N.; Saitou, S.; Yamagishi, M.;
2014 / IEEE
By: Nishimura, T.; Takeda, M.; Watabe, K.; Yamada, K.; Yoshimoto, K.; Ohno, Y.; Kido, M.; Tsujii, M.; Iijima, H.; Nishida, T.; Takahashi, H.; Nagakura, T.; Takehara, T.;
By: Nishimura, T.; Takeda, M.; Watabe, K.; Yamada, K.; Yoshimoto, K.; Ohno, Y.; Kido, M.; Tsujii, M.; Iijima, H.; Nishida, T.; Takahashi, H.; Nagakura, T.; Takehara, T.;
2014 / IEEE
By: Warabi, K.; Kobayashi, Y.; Kou, R.; Yamada, K.; Nakajima, H.; Yamamoto, T.; Tsuchizawa, T.; Nishi, H.;
By: Warabi, K.; Kobayashi, Y.; Kou, R.; Yamada, K.; Nakajima, H.; Yamamoto, T.; Tsuchizawa, T.; Nishi, H.;
1989 / IEEE
By: Ikeda, T.; Yamada, K.; Odaka, M.; Ogiue, K.; Hirao, M.; Miyaoka, S.; Tamba, N.; Uchida, H.; Higuchi, H.;
By: Ikeda, T.; Yamada, K.; Odaka, M.; Ogiue, K.; Hirao, M.; Miyaoka, S.; Tamba, N.; Uchida, H.; Higuchi, H.;
1989 / IEEE
By: Harada, S.; Hashimoto, H.; Ashida, K.; Mashiko, K.; Yanagida, K.; Harami, T.; Yokomizo, H.; Kamitsubo, H.; Suzuki, Y.; Sasaki, S.; Konishi, H.; Yamada, K.; Nakayama, K.; Kabasawa, M.; Ishida, T.; Iizuka, M.;
By: Harada, S.; Hashimoto, H.; Ashida, K.; Mashiko, K.; Yanagida, K.; Harami, T.; Yokomizo, H.; Kamitsubo, H.; Suzuki, Y.; Sasaki, S.; Konishi, H.; Yamada, K.; Nakayama, K.; Kabasawa, M.; Ishida, T.; Iizuka, M.;
1990 / IEEE
By: Suzuki, T.; Tatsumi, T.; Maruyama, T.; Yamada, K.; Shimabayashi, K.; Urai, H.; Aoyama, M.; Motomura, Y.;
By: Suzuki, T.; Tatsumi, T.; Maruyama, T.; Yamada, K.; Shimabayashi, K.; Urai, H.; Aoyama, M.; Motomura, Y.;
1991 / IEEE / 0-7803-0103-X
By: Yoshitake, T.; Azuma, S.; Nishizawa, H.; Anzai, A.; Masuda, H.; Ikeda, T.; Yamada, K.;
By: Yoshitake, T.; Azuma, S.; Nishizawa, H.; Anzai, A.; Masuda, H.; Ikeda, T.; Yamada, K.;
1993 / IEEE
By: Yamada, K.; Chiwaki, M.; Mikado, T.; Yamazaki, T.; Suzuki, R.; Sugiyama, S.; Ohgaki, H.; Noguchi, T.;
By: Yamada, K.; Chiwaki, M.; Mikado, T.; Yamazaki, T.; Suzuki, R.; Sugiyama, S.; Ohgaki, H.; Noguchi, T.;
1994 / IEEE / 0-8186-5380-9
By: Asai, M.; Fujiwara, S.; Hayashi, N.; Hiratsuka, N.; Nishii, O.; Narita, S.; Okada, T.; Funabashi, T.; Takeda, H.; Yamagami, M.; Nakagawa, N.; Kainaga, M.; Yamada, K.; Takewa, H.; Matsuo, S.; Uchiyama, K.; Aoki, H.; Nishimoto, J.; Satoh, M.;
By: Asai, M.; Fujiwara, S.; Hayashi, N.; Hiratsuka, N.; Nishii, O.; Narita, S.; Okada, T.; Funabashi, T.; Takeda, H.; Yamagami, M.; Nakagawa, N.; Kainaga, M.; Yamada, K.; Takewa, H.; Matsuo, S.; Uchiyama, K.; Aoki, H.; Nishimoto, J.; Satoh, M.;
1991 / IEEE
By: Sugiyama, S.; Ohgaki, H.; Tomimasu, T.; Noguchi, T.; Yamazaki, T.; Suzuki, R.; Yamada, K.; Chiwaki, M.; Mikado, T.;
By: Sugiyama, S.; Ohgaki, H.; Tomimasu, T.; Noguchi, T.; Yamazaki, T.; Suzuki, R.; Yamada, K.; Chiwaki, M.; Mikado, T.;
1994 / IEEE
By: Tanaka, A.; Shirai, Y.; Yamagiwa, A.; Hatada, T.; Honda, M.; Yamada, K.; Shinohara, H.;
By: Tanaka, A.; Shirai, Y.; Yamagiwa, A.; Hatada, T.; Honda, M.; Yamada, K.; Shinohara, H.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Suzuki, R.; Yamada, K.; Chiwaki, M.; Mikado, T.; Yamazaki, T.; Noguchi, T.; Sugiyama, S.; Ohgaki, H.;
By: Suzuki, R.; Yamada, K.; Chiwaki, M.; Mikado, T.; Yamazaki, T.; Noguchi, T.; Sugiyama, S.; Ohgaki, H.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Yamada, S.; Yoshikawa, K.; Atsumi, S.; Ohshima, Y.; Suzuki, T.; Miyamoto, J.; Hiura, Y.; Obi, E.; Oshikiri, M.; Yamada, K.;
By: Yamada, S.; Yoshikawa, K.; Atsumi, S.; Ohshima, Y.; Suzuki, T.; Miyamoto, J.; Hiura, Y.; Obi, E.; Oshikiri, M.; Yamada, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-1357-7
By: Takebuchi, M.; Kamiya, E.; Yamaguchi, Y.; Egawa, H.; Tsunoda, H.; Yamada, K.; Sakagami, E.; Mori, S.; Arai, N.; Yoshikawa, K.;
By: Takebuchi, M.; Kamiya, E.; Yamaguchi, Y.; Egawa, H.; Tsunoda, H.; Yamada, K.; Sakagami, E.; Mori, S.; Arai, N.; Yoshikawa, K.;
1992 / IEEE / 0-8186-2990-8
By: Tawara, Y.; Kashiwagi, Y.; Isobe, T.; Kainaga, M.; Yamada, K.; Chaki, H.;
By: Tawara, Y.; Kashiwagi, Y.; Isobe, T.; Kainaga, M.; Yamada, K.; Chaki, H.;