Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Wang, S.H.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Chiou, W.C.; Yang, K.F.; Yu, C.H.; Jeng, S.P.; Chen, K.H.; Shih, D.Y.; Hou, S.Y.; Chiu, S.L.; Su, A.J.; Wu, W.C.; Yeh, D.C.; Tsai, P.H.; Hung, J.P.; Yu, T.H.; Ko, H.D.; Tu, H.J.; Chen, Y.H.; Lin, Y.C.; Wei, T.S.; Chang, H.B.; Chiu, C.C.; Teng, H.A.; Hsieh, C.C.; Lu, S.W.; Huang, C.L.; Lin, J.C.; Wu, T.J.; Yeh, J.L.; Wang, S.H.; Liou, Y.H.;
By: Chiou, W.C.; Yang, K.F.; Yu, C.H.; Jeng, S.P.; Chen, K.H.; Shih, D.Y.; Hou, S.Y.; Chiu, S.L.; Su, A.J.; Wu, W.C.; Yeh, D.C.; Tsai, P.H.; Hung, J.P.; Yu, T.H.; Ko, H.D.; Tu, H.J.; Chen, Y.H.; Lin, Y.C.; Wei, T.S.; Chang, H.B.; Chiu, C.C.; Teng, H.A.; Hsieh, C.C.; Lu, S.W.; Huang, C.L.; Lin, J.C.; Wu, T.J.; Yeh, J.L.; Wang, S.H.; Liou, Y.H.;
1992 / IEEE / 0-7803-0138-2
By: Wang, J.R.; Wilheit, T.T.; Maves, B.A.; Kummagai, H.; Tesmer, J.R.; Racette, P.; Meneghini, R.; Wang, S.H.;
By: Wang, J.R.; Wilheit, T.T.; Maves, B.A.; Kummagai, H.; Tesmer, J.R.; Racette, P.; Meneghini, R.; Wang, S.H.;
1991 / IEEE / 0-7803-0216-8
By: Wang, S.H.; Qiao, W.; Raghavan, R.; Genis, V.; Weng, L.; Oung, H.; Lu, X.M.; Reid, J.M.; Soetanto, K.;
By: Wang, S.H.; Qiao, W.; Raghavan, R.; Genis, V.; Weng, L.; Oung, H.; Lu, X.M.; Reid, J.M.; Soetanto, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Zhang, X.L.; Yokoya, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Qin, Q.; Li, S.P.; Liu, D.K.;
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Zhang, X.L.; Yokoya, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Qin, Q.; Li, S.P.; Liu, D.K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Yokoya, K.; Tsukamoto, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Ye, K.R.; Xu, J.W.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Li, S.P.; Liu, D.K.; Luo, Y.; Ma, L.; Qin, Q.;
By: Guo, Z.Y.; Huang, H.; Yokoya, K.; Tsukamoto, K.; Tobiyama, M.; Suetsugu, Y.; Sato, Y.; Ohmi, K.; Kurokawa, S.; Kobayashi, Y.; Kikutani, E.; Kasuga, T.; Izawa, M.; Hiramatsu, S.; Fukuma, H.; Chin, Y.H.; Zhou, F.; Zhang, C.; Ye, K.R.; Xu, J.W.; Wang, S.H.; Wang, J.Q.; Wang, L.F.; Li, S.P.; Liu, D.K.; Luo, Y.; Ma, L.; Qin, Q.;
2002 / IEEE / 0-7803-7561-0
By: Chen, C.W.; Huang, C.F.; Chen, S.H.; Hsu, H.M.; Tsay, J.L.; Chen, C.H.; Lee, C.Y.; Yeh, T.H.; Lin, J.C.H.; Sun, J.Y.C.; Tang, D.; Wong, S.C.; Liou, R.S.; Hsu, C.K.; Chen, S.M.; Chu, Y.L.; Lin, C.Y.; Wu, C.C.; Wang, S.H.; Chang, C.L.; Chang, R.Y.; Chang, A.; Chiang, J.M.;
By: Chen, C.W.; Huang, C.F.; Chen, S.H.; Hsu, H.M.; Tsay, J.L.; Chen, C.H.; Lee, C.Y.; Yeh, T.H.; Lin, J.C.H.; Sun, J.Y.C.; Tang, D.; Wong, S.C.; Liou, R.S.; Hsu, C.K.; Chen, S.M.; Chu, Y.L.; Lin, C.Y.; Wu, C.C.; Wang, S.H.; Chang, C.L.; Chang, R.Y.; Chang, A.; Chiang, J.M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9372-4
By: Lien, W.Y.; Wang, S.H.; Huei Wang; Kun-You Lin; Chem, G.J.; Ming-Da Tsai; Kuo-Liang Deng; Chin-Shen Lin;
By: Lien, W.Y.; Wang, S.H.; Huei Wang; Kun-You Lin; Chem, G.J.; Ming-Da Tsai; Kuo-Liang Deng; Chin-Shen Lin;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3
By: Tam, H.Y.; Lu, C.; Wai, P.K.A.; Lui, L.F.K.; Lixin Xu; Wang, S.H.; Kwan Lau;
By: Tam, H.Y.; Lu, C.; Wai, P.K.A.; Lui, L.F.K.; Lixin Xu; Wang, S.H.; Kwan Lau;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Shien-Yang Wu; Chou, C.W.; Liang, M.S.; See, Y.C.; Diaz, C.H.; Yang, S.H.; Cheng, S.M.; Chang, V.; Chen, K.S.; Song, J.Y.; Tsai, M.H.; Shieh, J.H.; Lu, Y.C.; Jang, S.M.; Lin, H.J.; Chen, S.C.; Ku, K.C.; Yeh, L.Y.; Lin, K.C.; Huang, K.T.; Lee, T.L.; Wan, W.K.; Yao, C.H.; Cheng, J.Y.; Lin, C.Y.; Chiang, M.C.; Yang, C.K.; Liu, M.Y.; Hu, L.C.; Chang, C.H.; Wu, P.H.; Chen, H.F.; Chang, S.Y.; Wang, S.H.; Tong, P.Y.; Hsieh, Y.L.; Liaw, J.J.; Pan, K.H.; Hsieh, C.H.; Chen, C.H.;
By: Shien-Yang Wu; Chou, C.W.; Liang, M.S.; See, Y.C.; Diaz, C.H.; Yang, S.H.; Cheng, S.M.; Chang, V.; Chen, K.S.; Song, J.Y.; Tsai, M.H.; Shieh, J.H.; Lu, Y.C.; Jang, S.M.; Lin, H.J.; Chen, S.C.; Ku, K.C.; Yeh, L.Y.; Lin, K.C.; Huang, K.T.; Lee, T.L.; Wan, W.K.; Yao, C.H.; Cheng, J.Y.; Lin, C.Y.; Chiang, M.C.; Yang, C.K.; Liu, M.Y.; Hu, L.C.; Chang, C.H.; Wu, P.H.; Chen, H.F.; Chang, S.Y.; Wang, S.H.; Tong, P.Y.; Hsieh, Y.L.; Liaw, J.J.; Pan, K.H.; Hsieh, C.H.; Chen, C.H.;