Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Wang, J.M.
Results
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Halama, H.; Heese, R.; Bozoki, E.; Desmond, E.; Blumberg, L.N.; Bittner, J.; Biscardi, R.; Murphy, J.B.; Rose, R.; Louie, W.; Krishnaswamy, J.; Wang, J.M.; Thomas, M.; Schuchman, J.; Rothman, J.; Romano, T.; Nawrocky, R.; Kramer, S.; Keane, J.; Hsieh, H.;
By: Halama, H.; Heese, R.; Bozoki, E.; Desmond, E.; Blumberg, L.N.; Bittner, J.; Biscardi, R.; Murphy, J.B.; Rose, R.; Louie, W.; Krishnaswamy, J.; Wang, J.M.; Thomas, M.; Schuchman, J.; Rothman, J.; Romano, T.; Nawrocky, R.; Kramer, S.; Keane, J.; Hsieh, H.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Wachtel, J.; Ramirez, G.; Keane, J.; Buda, S.; Broome, W.; Biscardi, R.; Wang, J.M.;
By: Wachtel, J.; Ramirez, G.; Keane, J.; Buda, S.; Broome, W.; Biscardi, R.; Wang, J.M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: D'Alsace, R.; Broome, W.; Biscardi, R.; Rose, J.; Wang, J.M.; Keane, J.;
By: D'Alsace, R.; Broome, W.; Biscardi, R.; Rose, J.; Wang, J.M.; Keane, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Thomas, M.G.; Wang, J.M.; Ramirez, G.; Mortazavi, P.; Broome, W.; Biscardi, R.; Hanna, S.; D'Alsace, R.; Buda, S.; Keane, J.;
By: Thomas, M.G.; Wang, J.M.; Ramirez, G.; Mortazavi, P.; Broome, W.; Biscardi, R.; Hanna, S.; D'Alsace, R.; Buda, S.; Keane, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Biscardi, R.; Broome, W.; Wang, J.M.; Thomas, M.; Mortazavi, P.; Keane, J.;
By: Biscardi, R.; Broome, W.; Wang, J.M.; Thomas, M.; Mortazavi, P.; Keane, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Klaffky, R.W.; Wang, J.M.; Thomas, M.G.; Kramer, S.L.; D'Alsace, R.; Broome, W.;
By: Klaffky, R.W.; Wang, J.M.; Thomas, M.G.; Kramer, S.L.; D'Alsace, R.; Broome, W.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Towne, N.; Ben-Zvi, I.; Murphy, J.B.; Yakimenko, V.; Wu, J.H.; Wang, X.J.; Wang, J.M.;
By: Towne, N.; Ben-Zvi, I.; Murphy, J.B.; Yakimenko, V.; Wu, J.H.; Wang, X.J.; Wang, J.M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Podobedov, B.; Ablett, J.M.; Yu, L.H.; Wang, X.J.; Wang, J.M.; Towne, N.; Siddons, P.; Sheehy, B.; Shaftan, T.; Rose, J.; Pjerov, S.; Pindak, R.; Murphy, J.B.; Loos, H.; Kramer, S.L.; Kao, C.C.; Johnson, E.; Hulbert, S.; Heese, R.; Doyuran, A.; Dierker, S.; Casey, B.; Carr, G.L.; Biscardi, R.; Berman, L.;
By: Podobedov, B.; Ablett, J.M.; Yu, L.H.; Wang, X.J.; Wang, J.M.; Towne, N.; Siddons, P.; Sheehy, B.; Shaftan, T.; Rose, J.; Pjerov, S.; Pindak, R.; Murphy, J.B.; Loos, H.; Kramer, S.L.; Kao, C.C.; Johnson, E.; Hulbert, S.; Heese, R.; Doyuran, A.; Dierker, S.; Casey, B.; Carr, G.L.; Biscardi, R.; Berman, L.;
2004 / IEEE / 0-7695-2128-2
By: Chung, Y.C.; Lin, S.C.; Chang, S.L.; Cherng, S.; Chen, S.W.; Wang, J.M.;
By: Chung, Y.C.; Lin, S.C.; Chang, S.L.; Cherng, S.; Chen, S.W.; Wang, J.M.;
2006 / IEEE
By: Wang, J.M.; Chi, J.Y.; Yang, H.P.D.; Sung, C.P.; Kuo, H.C.; Chang, Y.H.; Lai, F.I.; Chang, S.J.; Su, Y.K.; Wang, J.S.; Yu, H.C.; Mikhrin, S.; Lin, K.F.; Hsiao, R.S.;
By: Wang, J.M.; Chi, J.Y.; Yang, H.P.D.; Sung, C.P.; Kuo, H.C.; Chang, Y.H.; Lai, F.I.; Chang, S.J.; Su, Y.K.; Wang, J.S.; Yu, H.C.; Mikhrin, S.; Lin, K.F.; Hsiao, R.S.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Murphy, J.B.; Bengtsson, J.; Yu, L.H.; Wang, X.J.; Wang, J.M.; Towne, N.; Skaritka, J.; Sheehy, B.; Shaftan, T.; Rose, J.; Rakowsky, G.; Podobedov, B.; Pjerov, S.; Biscardi, R.; Blednykh, A.; Carr, L.; Casey, W.; Chouhan, S.; Dierker, S.; Haas, E.; Heese, R.; Hulbert, S.; Johnson, E.; Kao, C-C.; Kramer, S.; Krinsky, S.; Pinayev, I.;
By: Murphy, J.B.; Bengtsson, J.; Yu, L.H.; Wang, X.J.; Wang, J.M.; Towne, N.; Skaritka, J.; Sheehy, B.; Shaftan, T.; Rose, J.; Rakowsky, G.; Podobedov, B.; Pjerov, S.; Biscardi, R.; Blednykh, A.; Carr, L.; Casey, W.; Chouhan, S.; Dierker, S.; Haas, E.; Heese, R.; Hulbert, S.; Johnson, E.; Kao, C-C.; Kramer, S.; Krinsky, S.; Pinayev, I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1381-2
By: Ganesan, D.; Mitev, A.; Wang, J.M.; Yu Cao; Shanmugasundaram, D.;
By: Ganesan, D.; Mitev, A.; Wang, J.M.; Yu Cao; Shanmugasundaram, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3315-5
By: Nguyen, D.; Ma, D.; Wang, J.M.; Kerr, T.; Wiswall, C.; Baysal, A.; Cormican, H.;
By: Nguyen, D.; Ma, D.; Wang, J.M.; Kerr, T.; Wiswall, C.; Baysal, A.; Cormican, H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5765-6
By: Jin Sun; Wang, J.M.; Louri, A.; Kodi, A.; Shankar, K.; Lysecky, R.;
By: Jin Sun; Wang, J.M.; Louri, A.; Kodi, A.; Shankar, K.; Lysecky, R.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-2518-1
By: Fang, C.Y.; Lin, W.H.; Yao, K.P.; Chen, S.W.; Chang, S.L.; Wang, J.M.;
By: Fang, C.Y.; Lin, W.H.; Yao, K.P.; Chen, S.W.; Chang, S.L.; Wang, J.M.;