Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Veramendi, G.
Results
1999 / IEEE / 0-7803-5463-X
By: Veramendi, G.; Shimojima, M.; Ikado, K.; Arisawa, T.; Snow, J.; Canal, P.; Wenzel, H.; Yu, J.; Maeshima, K.; Kowalkowski, J.;
By: Veramendi, G.; Shimojima, M.; Ikado, K.; Arisawa, T.; Snow, J.; Canal, P.; Wenzel, H.; Yu, J.; Maeshima, K.; Kowalkowski, J.;
2000 / IEEE
By: Veramendi, G.; Shimojima, M.; Ikado, K.; Arisawa, T.; Snow, J.; Canal, P.; Wenzel, H.; Yu, J.; Maeshima, K.; Kowalkowski, J.;
By: Veramendi, G.; Shimojima, M.; Ikado, K.; Arisawa, T.; Snow, J.; Canal, P.; Wenzel, H.; Yu, J.; Maeshima, K.; Kowalkowski, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Cabrera, S.; Fernandez, J.; Gomez, G.; Piedra, J.; Rodrigo, T.; Ruiz, A.; Vila, I.; Vilar, R.; Grozis, C.; Kephart, R.; Stanek, R.; Kim, D.H.; Kim, M.S.; Oh, Y.; Kim, Y.K.; Veramendi, G.; Anikeev, K.; Bauer, G.; Furic, I.K.; Korn, A.; Kravchenko, I.; Mulhearn, M.; Paus, C.; Pavlon, S.; Sumorok, K.; Chen, C.; Jones, M.; Kononenko, W.; Kroll, J.; Mayers, G.M.; Newcomer, F.M.; Oldeman, R.G.C.; Usynin, D.; Van Berg, R.; Bellettini, G.; Cerri, C.; Menzione, A.; Spinella, F.; Vataga, E.; De Cecco, S.; De Pedis, D.; Dionisi, C.; Giagu, S.; Rescigno, M.; Zanello, L.; Ahn, M.; Kim, B.J.; Kim, S.B.; Cho, I.; Lee, J.; Yu, I.; Kaneko, H.; Kazama, A.; Kim, S.; Sato, K.; Sato, K.; Ukegawa, F.;
By: Cabrera, S.; Fernandez, J.; Gomez, G.; Piedra, J.; Rodrigo, T.; Ruiz, A.; Vila, I.; Vilar, R.; Grozis, C.; Kephart, R.; Stanek, R.; Kim, D.H.; Kim, M.S.; Oh, Y.; Kim, Y.K.; Veramendi, G.; Anikeev, K.; Bauer, G.; Furic, I.K.; Korn, A.; Kravchenko, I.; Mulhearn, M.; Paus, C.; Pavlon, S.; Sumorok, K.; Chen, C.; Jones, M.; Kononenko, W.; Kroll, J.; Mayers, G.M.; Newcomer, F.M.; Oldeman, R.G.C.; Usynin, D.; Van Berg, R.; Bellettini, G.; Cerri, C.; Menzione, A.; Spinella, F.; Vataga, E.; De Cecco, S.; De Pedis, D.; Dionisi, C.; Giagu, S.; Rescigno, M.; Zanello, L.; Ahn, M.; Kim, B.J.; Kim, S.B.; Cho, I.; Lee, J.; Yu, I.; Kaneko, H.; Kazama, A.; Kim, S.; Sato, K.; Sato, K.; Ukegawa, F.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Levine, S.; Lannon, K.; Kilminster, B.; Kasten, M.; Pitts, K.; Winer, B.; Hughes, R.; Veramendi, G.;
By: Levine, S.; Lannon, K.; Kilminster, B.; Kasten, M.; Pitts, K.; Winer, B.; Hughes, R.; Veramendi, G.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Cabrera, S.; Fernandez, J.; Gomez, G.; Piedra, J.; Rodrigo, T.; Ruiz, A.; Vila, I.; Vilar, R.; Grozis, C.; Kephart, R.; Stanek, R.; Kim, D.H.; Kim, M.S.; Oh, Y.; Kim, Y.K.; Veramendi, G.; Anikeev, K.; Bauere, G.; Furic, I.K.; Korn, A.; Kravchenko, I.; Mulhearn, M.; Paus, C.; Pavlon, S.; Sumorok, K.; Chen, C.; Jones, M.; Kononenko, W.; Kroll, J.; Mayers, G.M.; Newcomer, F.M.; Oldeman, R.G.C.; Usynin, D.; Van Berg, R.; Bellettini, G.; Cerri, C.; Menzione, A.; Spinella, H.; Vataga, E.; De Cecco, S.; De Pedis, D.; Dionisi, C.; Giagu, S.; De Girolamo, A.; Rescigno, M.; Zanello, L.; Ahn, M.; Kim, B.J.; Kim, S.B.; Cho, I.; Lee, J.; Yu, I.; Kaneko, H.; Kazama, A.; Kim, S.; Sato, K.; Ukegawa, F.;
By: Cabrera, S.; Fernandez, J.; Gomez, G.; Piedra, J.; Rodrigo, T.; Ruiz, A.; Vila, I.; Vilar, R.; Grozis, C.; Kephart, R.; Stanek, R.; Kim, D.H.; Kim, M.S.; Oh, Y.; Kim, Y.K.; Veramendi, G.; Anikeev, K.; Bauere, G.; Furic, I.K.; Korn, A.; Kravchenko, I.; Mulhearn, M.; Paus, C.; Pavlon, S.; Sumorok, K.; Chen, C.; Jones, M.; Kononenko, W.; Kroll, J.; Mayers, G.M.; Newcomer, F.M.; Oldeman, R.G.C.; Usynin, D.; Van Berg, R.; Bellettini, G.; Cerri, C.; Menzione, A.; Spinella, H.; Vataga, E.; De Cecco, S.; De Pedis, D.; Dionisi, C.; Giagu, S.; De Girolamo, A.; Rescigno, M.; Zanello, L.; Ahn, M.; Kim, B.J.; Kim, S.B.; Cho, I.; Lee, J.; Yu, I.; Kaneko, H.; Kazama, A.; Kim, S.; Sato, K.; Ukegawa, F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Abulencia, A.; Azzurri, P.; Brian, W.; Cochran, E.; Dittmann, J.R.; Donati, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Fedorko, I.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Gartner, J.; Gerberich, H.; Hewamanage, S.; Holm, S.; Hughes, R.; Ivanov, A.; Johnson, M.; Jones, M.; Junk, T.; Kasten, M.; Kilminster, B.; Klein, R.; Krumnack, N.; Lannon, K.; Levine, S.; Lister, A.; McKim, J.; Mokos, R.; Olivito, D.; Parks, B.; Pitts, K.; Rogers, E.; Schmidt, E.E.; Scott, L.; Shaw, T.; Slaunwhite, J.; Soha, A.; Staveris, A.; Veramendi, G.;
By: Abulencia, A.; Azzurri, P.; Brian, W.; Cochran, E.; Dittmann, J.R.; Donati, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Fedorko, I.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Gartner, J.; Gerberich, H.; Hewamanage, S.; Holm, S.; Hughes, R.; Ivanov, A.; Johnson, M.; Jones, M.; Junk, T.; Kasten, M.; Kilminster, B.; Klein, R.; Krumnack, N.; Lannon, K.; Levine, S.; Lister, A.; McKim, J.; Mokos, R.; Olivito, D.; Parks, B.; Pitts, K.; Rogers, E.; Schmidt, E.E.; Scott, L.; Shaw, T.; Slaunwhite, J.; Soha, A.; Staveris, A.; Veramendi, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Abulencia, A.; Azzurri, P.; Brian, W.; Cochran, E.; Dittmann, J.R.; Donati, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Fedorko, I.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Gartner, J.; Gerberich, H.; Hewamanage, S.; Holm, S.; Hughes, R.; Ivanov, A.; Johnson, M.; Jones, M.; Junk, T.; Kasten, M.; Kilminster, B.; Klein, R.; Krumnack, N.; Lannon, K.; Levine, S.; Lister, A.; McKim, J.; Mokos, R.; Olivito, D.; Parks, B.; Pitts, K.; Rogers, E.; Schmidt, E.E.; Scott, L.; Shaw, T.; Slaunwhite, J.; Soha, A.; Staveris, A.; Veramendi, G.; Wilson, J.S.; Wilson, P.J.; Winer, B.;
By: Abulencia, A.; Azzurri, P.; Brian, W.; Cochran, E.; Dittmann, J.R.; Donati, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Fedorko, I.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Gartner, J.; Gerberich, H.; Hewamanage, S.; Holm, S.; Hughes, R.; Ivanov, A.; Johnson, M.; Jones, M.; Junk, T.; Kasten, M.; Kilminster, B.; Klein, R.; Krumnack, N.; Lannon, K.; Levine, S.; Lister, A.; McKim, J.; Mokos, R.; Olivito, D.; Parks, B.; Pitts, K.; Rogers, E.; Schmidt, E.E.; Scott, L.; Shaw, T.; Slaunwhite, J.; Soha, A.; Staveris, A.; Veramendi, G.; Wilson, J.S.; Wilson, P.J.; Winer, B.;
2008 / IEEE
By: Jones, M.; Abulencia, A.; Azzurri, P.; Brian, W.; Cochran, E.; Dittmann, J.R.; Donati, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Fedorko, I.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Gartner, J.; Gerberich, H.; Hewamanage, S.; Holm, S.; Hughes, R.; Ivanov, A.; Johnson, M.; Junk, T.; Kasten, M.; Kilminster, B.; Klein, R.; Krumnack, N.; Lannon, K.; Levine, S.; Lister, A.; McKim, J.; Mokos, R.; Olivito, D.; Parks, B.; Pitts, K.; Rogers, E.; Schmidt, E.E.; Scott, L.; Shaw, T.; Slaunwhite, J.; Soha, A.; Staveris, A.; Veramendi, G.; Wilson, J.S.; Wilson, P.J.; Winer, B.;
By: Jones, M.; Abulencia, A.; Azzurri, P.; Brian, W.; Cochran, E.; Dittmann, J.R.; Donati, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Fedorko, I.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Gartner, J.; Gerberich, H.; Hewamanage, S.; Holm, S.; Hughes, R.; Ivanov, A.; Johnson, M.; Junk, T.; Kasten, M.; Kilminster, B.; Klein, R.; Krumnack, N.; Lannon, K.; Levine, S.; Lister, A.; McKim, J.; Mokos, R.; Olivito, D.; Parks, B.; Pitts, K.; Rogers, E.; Schmidt, E.E.; Scott, L.; Shaw, T.; Slaunwhite, J.; Soha, A.; Staveris, A.; Veramendi, G.; Wilson, J.S.; Wilson, P.J.; Winer, B.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap