Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Turner, J.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0541-0
By: Griffo, A.; Wrobel, R.; Collins, R.; Stevenson, R.; Mlot, A.; Rolfe, B.; Turner, J.; Mellor, P.; Yon, J.;
By: Griffo, A.; Wrobel, R.; Collins, R.; Stevenson, R.; Mlot, A.; Rolfe, B.; Turner, J.; Mellor, P.; Yon, J.;
1988 / IEEE / 0-8186-0833-1
By: Ali, A.M.; Eng, K.Y.; Walters, S.M.; Vlack, D.; Turner, J.; Baradello, C.;
By: Ali, A.M.; Eng, K.Y.; Walters, S.M.; Vlack, D.; Turner, J.; Baradello, C.;
Si/Si/sub 1-x/Ge/sub x/ heterojunction bipolar transistors fabricated by limited reaction processing
1988 / IEEEBy: Rosner, S.J.; Scott, M.P.; Gronet, C.M.; Noble, D.B.; Hoyt, J.L.; Reid, G.; Gibbons, J.F.; Turner, J.; King, C.A.; Nauka, K.; Laderman, S.;
1989 / IEEE
By: Strait, J.; Bleadon, M.; Brown, B.C.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Lamm, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peoples, J.; Tool, G.; Cottingham, J.G.; Dahl, P.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Goodzeit, C.; Greene, A.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Morgan, G.; Prodell, A.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Chapman, M.; Cortella, J.; Desportes, A.; Devred, A.; Kaugerts, J.; Kirk, T.; Meuser, R.; Mirk, K.; Schermer, R.; Turner, J.; Tompkins, J.C.; Caspi, S.; Gilbert, W.; Peters, C.; Rechen, J.; Royet, J.M.; Scanlan, R.; Taylor, C.; Zbasnik, J.;
By: Strait, J.; Bleadon, M.; Brown, B.C.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Lamm, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peoples, J.; Tool, G.; Cottingham, J.G.; Dahl, P.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Goodzeit, C.; Greene, A.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Morgan, G.; Prodell, A.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Wanderer, P.; Willen, E.; Chapman, M.; Cortella, J.; Desportes, A.; Devred, A.; Kaugerts, J.; Kirk, T.; Meuser, R.; Mirk, K.; Schermer, R.; Turner, J.; Tompkins, J.C.; Caspi, S.; Gilbert, W.; Peters, C.; Rechen, J.; Royet, J.M.; Scanlan, R.; Taylor, C.; Zbasnik, J.;
1989 / IEEE
By: Seeman, J.T.; Zicker, J.; Woodley, M.; Weinstein, A.; Williams, S.; Turner, J.; Thompson, K.; Swartz, M.; Siening, R.; Stanek, M.; Soderstrom, E.; Smith, P.; Sheppard, J.; Ruth, R.; Ross, M.; Rackelmann, A.; Pitthan, R.; Morton, P.; McCormick, D.; Lee, M.; Lavine, T.L.; Jobe, R.K.; Himel, T.M.; Jacobsen, R.; Iverson, R.; Bane, K.L.F.; Atwood, W.; Adolphsen, C.; Abrams, G.;
By: Seeman, J.T.; Zicker, J.; Woodley, M.; Weinstein, A.; Williams, S.; Turner, J.; Thompson, K.; Swartz, M.; Siening, R.; Stanek, M.; Soderstrom, E.; Smith, P.; Sheppard, J.; Ruth, R.; Ross, M.; Rackelmann, A.; Pitthan, R.; Morton, P.; McCormick, D.; Lee, M.; Lavine, T.L.; Jobe, R.K.; Himel, T.M.; Jacobsen, R.; Iverson, R.; Bane, K.L.F.; Atwood, W.; Adolphsen, C.; Abrams, G.;
Results of magnetic field measurements of 40 mm aperture 17-m long SSC model collider dipole magnets
1992 / IEEEBy: Wanderer, P.; Anerella, M.; Cottingham, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Ghosh, A.; Greene, A.; Gupta, R.; Herrera, J.; Kahn, S.; Kelly, E.; Meade, A.; Morgan, G.; Muratore, J.; Prodell, A.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Sampson, W.; Shutt, R.; Thompson, P.; Willen, E.; Bleadon, M.; Hanft, R.; Kuchnir, M.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Orris, D.; Peterson, T.; Strait, J.; Royet, J.; Scanlan, R.; Taylor, C.; Bush, T.; Coombes, R.; Devred, A.; DiMarco, J.; Goodzeit, C.; Kuzminski, J.; Ogitsu, T.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Sanger, P.; Schermer, R.; Tompkins, J.; Turner, J.; Wolf, Z.; Yu, Y.; Zheng, H.;
1992 / IEEE
By: Turner, J.; Haddock, C.; Snitchler, G.; Orrel, D.; Jayakumar, R.; Spigo, G.; Kallas, N.;
By: Turner, J.; Haddock, C.; Snitchler, G.; Orrel, D.; Jayakumar, R.; Spigo, G.; Kallas, N.;
1991 / IEEE
By: Kerby, J.; Strait, J.; Morgan, G.; Kahn, S.; Gupta, R.; Goodzeit, C.; Willen, E.; Turner, J.; Spigo, G.; Snitchler, G.; Sanger, P.; Orrell, D.; Nobrega, F.; Leung, K.; Jayakumar, J.; Schermer, R.;
By: Kerby, J.; Strait, J.; Morgan, G.; Kahn, S.; Gupta, R.; Goodzeit, C.; Willen, E.; Turner, J.; Spigo, G.; Snitchler, G.; Sanger, P.; Orrell, D.; Nobrega, F.; Leung, K.; Jayakumar, J.; Schermer, R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Haddock, C.; Kallas, N.; Turner, J.; Spigo, G.; Snitchler, G.; Orrell, D.; Jayakumar, J.;
By: Haddock, C.; Kallas, N.; Turner, J.; Spigo, G.; Snitchler, G.; Orrell, D.; Jayakumar, J.;
1993 / IEEE
By: Nah, W.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, G.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Khan, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.;
By: Nah, W.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, G.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Khan, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.;
1993 / IEEE
By: Zhao, Y.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zheng, H.;
By: Zhao, Y.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.; Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; Di Marco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Ogitsu, T.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Radusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zheng, H.;
1993 / IEEE
By: Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; DiMarco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Rodusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.;
By: Bush, T.; Capone, D.W., II; Carson, J.; Coombes, R.; Cottingham, J.; Delchamps, S.W.; Devred, A.; DiMarco, J.; Ganetis, G.; Garber, M.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Gourlay, S.; Greene, A.; Gupta, R.; Hanft, R.; Jain, A.; Kahn, S.; Kelly, E.; Koska, W.; Kuchnir, M.; Kuzminski, J.; Lamm, M.J.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; Morgan, G.; Muratore, J.; Nah, W.; Orris, D.; Ozelis, J.; Peterson, T.; Pewitt, E.G.; Prodell, A.; Puglisi, M.; Rodusewicz, P.; Rehak, M.; Rohrer, E.P.; Royet, J.; Sampson, W.; Sanger, P.; Scanlan, R.; Schermer, R.; Shutt, R.; Stiening, R.; Strait, J.; Taylor, C.; Thomas, R.; Thompson, P.; Tompkins, J.C.; Turner, J.; Wake, M.; Wanderer, P.; Willen, E.; Yu, Y.; Zbasnik, J.; Zhao, Y.; Zheng, H.; Ogitsu, T.; Akhmetov, A.; Anerella, M.; Bossert, R.;
1992 / IEEE / 0-7803-0773-9
By: Christou, A.; Turner, J.; Stathaki, E.; Perantinos, G.; Papavassiliou, C.; Halkias, G.;
By: Christou, A.; Turner, J.; Stathaki, E.; Perantinos, G.; Papavassiliou, C.; Halkias, G.;
1994 / IEEE
By: Rifflet, J.M.; Perot, J.; Lyraud, C.; Kircher, F.; Vedrine, P.; Turner, J.; Orrell, D.; Giavonnoni, P.;
By: Rifflet, J.M.; Perot, J.; Lyraud, C.; Kircher, F.; Vedrine, P.; Turner, J.; Orrell, D.; Giavonnoni, P.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Mierzwinski, M.; Houng, D.; Camnitz, L.H.; Bahl, S.R.; Lefforge, G.; Turner, J.;
By: Mierzwinski, M.; Houng, D.; Camnitz, L.H.; Bahl, S.R.; Lefforge, G.; Turner, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Turner, J.; Woodley, M.; Tang, H.; Stege, R.; Spence, W.; Slaton, T.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Tian, F.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Hendrickson, L.J.; Frisch, J.; Emma, P.; Decker, F.J.; Assmann, R.; Adolphsen, C.; Zimmermann, F.;
By: Turner, J.; Woodley, M.; Tang, H.; Stege, R.; Spence, W.; Slaton, T.; Ross, M.C.; Raimondi, P.; Tian, F.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Hendrickson, L.J.; Frisch, J.; Emma, P.; Decker, F.J.; Assmann, R.; Adolphsen, C.; Zimmermann, F.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Placidi, M.; Toge, N.; Turner, J.; Tian, E.; Slaton, T.; Ross, M.; Woodley, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; McCormick, D.; Emma, P.; Ecklund, S.; Barklow, T.; Zimmermann, F.; Walker, N.;
By: Placidi, M.; Toge, N.; Turner, J.; Tian, E.; Slaton, T.; Ross, M.; Woodley, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; McCormick, D.; Emma, P.; Ecklund, S.; Barklow, T.; Zimmermann, F.; Walker, N.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Bane, K.; Bowers, J.; Zimmermann, F.; Wright, D.; Whittum, D.; Weinberg, J.; Turner, J.; Tian, F.; Stege, R.; Spencer, J.; Spence, W.; Simopoulos, C.; Siemann, R.H.; Ross, M.C.; Raubenheimer, T.; Rago, C.; Rackelmann, A.; Podobedov, B.; Pietryka, M.; Ng, C.-K.; Minty, M.G.; McKee, B.; Lisin, A.; Limberg, T.; Krejcik, P.; Holtzapple, R.L.; Decker, F.J.; Chen, T.; Chao, A.;
By: Bane, K.; Bowers, J.; Zimmermann, F.; Wright, D.; Whittum, D.; Weinberg, J.; Turner, J.; Tian, F.; Stege, R.; Spencer, J.; Spence, W.; Simopoulos, C.; Siemann, R.H.; Ross, M.C.; Raubenheimer, T.; Rago, C.; Rackelmann, A.; Podobedov, B.; Pietryka, M.; Ng, C.-K.; Minty, M.G.; McKee, B.; Lisin, A.; Limberg, T.; Krejcik, P.; Holtzapple, R.L.; Decker, F.J.; Chen, T.; Chao, A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3117-6
By: Leong, W.; McClintock, C.; Cope, T.; Wanli Chang; Huang, J.; Wang, B.; Ahanin, B.; Sung, C.K.; Lane, C.; Jefferson, D.; Cliff, R.; Reddy, S.; Turner, J.;
By: Leong, W.; McClintock, C.; Cope, T.; Wanli Chang; Huang, J.; Wang, B.; Ahanin, B.; Sung, C.K.; Lane, C.; Jefferson, D.; Cliff, R.; Reddy, S.; Turner, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2584-2
By: Myron Wong; Patel, R.; Turner, J.; Chu, M.; Bocchino, V.; Reese, D.; Costello, J.;
By: Myron Wong; Patel, R.; Turner, J.; Chu, M.; Bocchino, V.; Reese, D.; Costello, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2475-7
By: Bhattacharyya, S.; Holmes, T.; Turner, J.; McCauley, P.; Szarowski, D.;
By: Bhattacharyya, S.; Holmes, T.; Turner, J.; McCauley, P.; Szarowski, D.;
1997 / IEEE / 0-8186-7834-8
By: Turner, J.; Robinson, B.; Clawson, S.; Lepreau, J.; Van Maren, K.; Ford, B.;
By: Turner, J.; Robinson, B.; Clawson, S.; Lepreau, J.; Van Maren, K.; Ford, B.;
1997 / IEEE / 0-8186-7834-8
By: Tullmann, P.; Back, G.; Chitturi, A.; Lepreau, J.; McCorquodale, J.; Turner, J.;
By: Tullmann, P.; Back, G.; Chitturi, A.; Lepreau, J.; McCorquodale, J.; Turner, J.;
1997 / IEEE
By: Turner, J.; Haines, J.E.; Kramer, B.J.; Russo, S.; Lidtke, D.K.; Cassel, L.; Jelly, I.; Stokes, G.E.; Freeman, P.A.; Mulder, M.C.; El-Rewini, H.;
By: Turner, J.; Haines, J.E.; Kramer, B.J.; Russo, S.; Lidtke, D.K.; Cassel, L.; Jelly, I.; Stokes, G.E.; Freeman, P.A.; Mulder, M.C.; El-Rewini, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4770-6
By: Zhao, B.; Feiler, D.; Cook, L.; Wu, G.; Ritzdorf, T.; Turner, J.; Johnson, M.; Chin, B.; Lai, G.; Ding, P.; Camilletti, L.; Dornish, D.; Tsau, L.; Nguyen, C.; Zhou, J.; Chu, C.; Xia, W.; Vo, C.; Brown, J.; Young, D.; Kuei, J.C.; Zhang, H.; Wu, J.; Brongo, M.; Liu, Q.Z.; Ramanathan, V.;
By: Zhao, B.; Feiler, D.; Cook, L.; Wu, G.; Ritzdorf, T.; Turner, J.; Johnson, M.; Chin, B.; Lai, G.; Ding, P.; Camilletti, L.; Dornish, D.; Tsau, L.; Nguyen, C.; Zhou, J.; Chu, C.; Xia, W.; Vo, C.; Brown, J.; Young, D.; Kuei, J.C.; Zhang, H.; Wu, J.; Brongo, M.; Liu, Q.Z.; Ramanathan, V.;
1998 / IEEE / 0-7803-4292-5
By: Costello, J.; Turner, J.; Nouban, B.; Sekariapuram, S.; Minchang Liang; Smolen, R.; Wong, M.; Vest, B.; Nghia Van Tran; Liang, G.; Chu, M.; Lau, E.; Cheung, S.; Chun, E.; Reese, D.;
By: Costello, J.; Turner, J.; Nouban, B.; Sekariapuram, S.; Minchang Liang; Smolen, R.; Wong, M.; Vest, B.; Nghia Van Tran; Liang, G.; Chu, M.; Lau, E.; Cheung, S.; Chun, E.; Reese, D.;
1998 / IEEE / 0-7803-4292-5
By: Pedersen, B.; Cliff, R.; Chiakang Sung; Turner, J.; Huang, J.; Veenstra, K.; Xiaobao Wang; Khai Nguyen; Wang, B.;
By: Pedersen, B.; Cliff, R.; Chiakang Sung; Turner, J.; Huang, J.; Veenstra, K.; Xiaobao Wang; Khai Nguyen; Wang, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Wienands, U.; Reuter, E.; Zholents, S.; Zisman, M.; Belser, C.; Turner, J.; Seeman, J.T.; Kulikov, A.; Iverson, R.; Bharadwaj, V.; Taylor, T.; Pietryka, M.; Gray, R.; Gracia, J.; Fisher, A.; Bellomo, P.;
By: Wienands, U.; Reuter, E.; Zholents, S.; Zisman, M.; Belser, C.; Turner, J.; Seeman, J.T.; Kulikov, A.; Iverson, R.; Bharadwaj, V.; Taylor, T.; Pietryka, M.; Gray, R.; Gracia, J.; Fisher, A.; Bellomo, P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5443-5
By: Ngo, N.; Altaf, R.; Mejia, M.; Zaveri, K.; Lee, A.; Lane, C.; Jefferson, D.; McClintock, C.; Reddy, S.; Cliff, R.; Turner, J.; Schleicher, J.; Heile, F.; Pedersen, B.;
By: Ngo, N.; Altaf, R.; Mejia, M.; Zaveri, K.; Lee, A.; Lane, C.; Jefferson, D.; McClintock, C.; Reddy, S.; Cliff, R.; Turner, J.; Schleicher, J.; Heile, F.; Pedersen, B.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Wienands, U.; Anderson, S.; Assmannt, R.; Bharadwaj, V.; Cai, Y.; Clendenin, J.; Corredoura, P.; Decker, F.J.; Donald, M.; Ecklund, S.; Emma, P.; Erickson, R.; Fox, J.; Fieguth, T.; Fisher, A.; Heifets, S.; Hill, A.; Himel, T.; Iverson, R.; Johnson, R.; Judkins, J.; Krejcik, P.; Kulikov, A.; Lee, M.; Mattison, T.; Minty, M.; Nosochkov, Y.; Phinney, N.; Placidi, M.; Prabhakar, S.; Reichel, I.; Ross, M.; Safranek, J.; Smith, S.; Smith, V.; Schwarz, H.; Seeman, J.; Stanek, M.; Sullivan, M.; Teytelman, D.; Tighe, R.; Traller, R.; Turner, J.; Zimmermann, F.; Barry, W.; Byrd, J.; Chattopadhyay, S.; Corlett, J.; Decking, W.; Furman, M.; Li, D.; Nishimura, H.; Portmann, G.; Rimmer, R.; Zholents, A.; Zisman, M.; Kozanecki, W.; Hofmann, A.; Zotter, B.; Steier, C.; Bialowons, W.; Lomperski, M.; Lumpkin, A.;
By: Wienands, U.; Anderson, S.; Assmannt, R.; Bharadwaj, V.; Cai, Y.; Clendenin, J.; Corredoura, P.; Decker, F.J.; Donald, M.; Ecklund, S.; Emma, P.; Erickson, R.; Fox, J.; Fieguth, T.; Fisher, A.; Heifets, S.; Hill, A.; Himel, T.; Iverson, R.; Johnson, R.; Judkins, J.; Krejcik, P.; Kulikov, A.; Lee, M.; Mattison, T.; Minty, M.; Nosochkov, Y.; Phinney, N.; Placidi, M.; Prabhakar, S.; Reichel, I.; Ross, M.; Safranek, J.; Smith, S.; Smith, V.; Schwarz, H.; Seeman, J.; Stanek, M.; Sullivan, M.; Teytelman, D.; Tighe, R.; Traller, R.; Turner, J.; Zimmermann, F.; Barry, W.; Byrd, J.; Chattopadhyay, S.; Corlett, J.; Decking, W.; Furman, M.; Li, D.; Nishimura, H.; Portmann, G.; Rimmer, R.; Zholents, A.; Zisman, M.; Kozanecki, W.; Hofmann, A.; Zotter, B.; Steier, C.; Bialowons, W.; Lomperski, M.; Lumpkin, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kubo, K.; Kotseroglou, T.; Kamada, S.; Hayano, H.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Ross, M.; Minty, M.; Naito, T.; Bane, K.; Takano, M.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Toge, N.; Terunuma, N.; Oide, K.;
By: Kubo, K.; Kotseroglou, T.; Kamada, S.; Hayano, H.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Ross, M.; Minty, M.; Naito, T.; Bane, K.; Takano, M.; Okugi, T.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Toge, N.; Terunuma, N.; Oide, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kotserogluo, T.; Bharadwaj, V.; Namito, Y.; Flottmann, K.; Van Bibber, K.; Turner, J.; Sheppard, J.C.; Schultz, D.C.; Nelson, W.R.; Mulhollan, G.; Millage, K.K.; Maruyama, T.; Liu, J.; Kulikov, A.V.; Krejcik, P.; Frisch, J.; Ecklund, S.; Clendenin, J.E.;
By: Kotserogluo, T.; Bharadwaj, V.; Namito, Y.; Flottmann, K.; Van Bibber, K.; Turner, J.; Sheppard, J.C.; Schultz, D.C.; Nelson, W.R.; Mulhollan, G.; Millage, K.K.; Maruyama, T.; Liu, J.; Kulikov, A.V.; Krejcik, P.; Frisch, J.; Ecklund, S.; Clendenin, J.E.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Spencer, C.; Schultz, D.; Decker, F.-J.; Iverson, R.H.; Wienands, U.; Turner, J.;
By: Spencer, C.; Schultz, D.; Decker, F.-J.; Iverson, R.H.; Wienands, U.; Turner, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kamada, S.; Kubo, K.; Hayano, H.; Takayama, Y.; Okugi, T.; Hirose, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Minty, M.; Takano, M.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Naito, T.;
By: Kamada, S.; Kubo, K.; Hayano, H.; Takayama, Y.; Okugi, T.; Hirose, T.; Zimmermann, F.; Woodley, M.; Turner, J.; Minty, M.; Takano, M.; Kashiwagi, S.; Urakawa, J.; Naito, T.;
2000 / IEEE
By: Craighead, H.; Banker, G.; Kam, L.; Withers, G.; Turner, S.; Turner, A.; Issacson, M.; Davis, R.; James, C.D.; Shain, W.; Meyer, M.; Turner, J.;
By: Craighead, H.; Banker, G.; Kam, L.; Withers, G.; Turner, S.; Turner, A.; Issacson, M.; Davis, R.; James, C.D.; Shain, W.; Meyer, M.; Turner, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Cai, Y.; Sullivan, M.; Biagini, M.; Seeman, J.T.; Kozanecki, W.; Zisman, M.; Steier, C.; Wienands, U.; Turner, J.; Decker, F.J.; Reichel, I.; Novokhatski, A.; Minty, M.; Kulikov, A.; Iverson, R.; Holtzapple, R.; Fisher, A.; Ecklund, S.; Donald, M.;
By: Cai, Y.; Sullivan, M.; Biagini, M.; Seeman, J.T.; Kozanecki, W.; Zisman, M.; Steier, C.; Wienands, U.; Turner, J.; Decker, F.J.; Reichel, I.; Novokhatski, A.; Minty, M.; Kulikov, A.; Iverson, R.; Holtzapple, R.; Fisher, A.; Ecklund, S.; Donald, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Cai, Y.; Clendenin, J.; Kozanecki, W.; Biagini, M.; Zisman, M.; Steier, C.; Wienands, U.; Turner, J.; Sullivan, M.; Stanek, M.; Seeman, J.T.; Reichel, I.; Novokhatski, A.; Nelson, J.; Kulikov, A.; Krejcik, P.; Iverson, R.; Holtzapple, R.; Heifets, S.; Fisher, A.; Erickson, R.; Ecklund, S.; Decker, F.J.; Donald, M.;
By: Cai, Y.; Clendenin, J.; Kozanecki, W.; Biagini, M.; Zisman, M.; Steier, C.; Wienands, U.; Turner, J.; Sullivan, M.; Stanek, M.; Seeman, J.T.; Reichel, I.; Novokhatski, A.; Nelson, J.; Kulikov, A.; Krejcik, P.; Iverson, R.; Holtzapple, R.; Heifets, S.; Fisher, A.; Erickson, R.; Ecklund, S.; Decker, F.J.; Donald, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Stanek, M.; Smith, H.; Iverson, R.; Fieguth, T.; Turner, J.; Decker, F.-J.; Erickson, R.A.; Woods, M.; Woodley, M.;
By: Stanek, M.; Smith, H.; Iverson, R.; Fieguth, T.; Turner, J.; Decker, F.-J.; Erickson, R.A.; Woods, M.; Woodley, M.;
2002 / IEEE / 0-7695-1564-9
By: Spitznagel, E.; Parwatikar, J.; Taylor, D.; Richard, D.; Lockwood, J.; Pappu, P.; Turner, J.; Keller, R.; Kantawala, A.; DeHart, J.; Kuhns, F.; Wong, K.;
By: Spitznagel, E.; Parwatikar, J.; Taylor, D.; Richard, D.; Lockwood, J.; Pappu, P.; Turner, J.; Keller, R.; Kantawala, A.; DeHart, J.; Kuhns, F.; Wong, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Brachmann, A.; Cates, G.; Bega, K.; Arroyo, C.; Anthony, P.; Humensky, T.B.; Mastromarino, P.; Woods, M.; Turner, J.; Szalata, Z.; Saxton, O.; Rock, S.; Relyea, D.; Kumar, K.; Kolomensky, Y.; Jones, G.M.; Hughes, E.; Fieguth, T.; Decker, F.-J.; Clendenin, J.;
By: Brachmann, A.; Cates, G.; Bega, K.; Arroyo, C.; Anthony, P.; Humensky, T.B.; Mastromarino, P.; Woods, M.; Turner, J.; Szalata, Z.; Saxton, O.; Rock, S.; Relyea, D.; Kumar, K.; Kolomensky, Y.; Jones, G.M.; Hughes, E.; Fieguth, T.; Decker, F.-J.; Clendenin, J.;
2002 / IEEE
By: Decker, F.-J.; Clendenin, J.; Hughes, E.; Jones, G.M.; Kolomensky, Y.; Kumar, K.; Relyea, D.; Rock, S.; Saxton, O.; Szalata, Z.; Turner, J.; Woods, M.; Fieguth, T.; Cates, G.; Brachmann, A.; Bega, K.; Arroyo, C.; Anthony, P.; Humensky, T.B.; Mastromarino, P.;
By: Decker, F.-J.; Clendenin, J.; Hughes, E.; Jones, G.M.; Kolomensky, Y.; Kumar, K.; Relyea, D.; Rock, S.; Saxton, O.; Szalata, Z.; Turner, J.; Woods, M.; Fieguth, T.; Cates, G.; Brachmann, A.; Bega, K.; Arroyo, C.; Anthony, P.; Humensky, T.B.; Mastromarino, P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7974-8
By: Yuhua Chen; Chandra, A.; Taylor, D.; Turner, J.; Wenjing Tang; Lockwood, J.; Dharmapurikar, S.;
By: Yuhua Chen; Chandra, A.; Taylor, D.; Turner, J.; Wenjing Tang; Lockwood, J.; Dharmapurikar, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Seeman, J.; Biagini, M.; Cai, Y.; Colocho, W.; Decker, F.-J.; Donald, M.; Ecklund, S.; Erickson, R.; Fisher, A.; Fox, J.; Heifets, S.; Iverson, R.; Kozanecki, W.; Krejcik, P.; Kulikov, A.; Novokhatski, A.; Schuh, P.; Schwarz, H.; Stanek, M.; Sullivan, M.; Teytelman, D.; Turner, J.; Wienands, U.; Yan, Y.; Yocky, J.; Browne, M.;
By: Seeman, J.; Biagini, M.; Cai, Y.; Colocho, W.; Decker, F.-J.; Donald, M.; Ecklund, S.; Erickson, R.; Fisher, A.; Fox, J.; Heifets, S.; Iverson, R.; Kozanecki, W.; Krejcik, P.; Kulikov, A.; Novokhatski, A.; Schuh, P.; Schwarz, H.; Stanek, M.; Sullivan, M.; Teytelman, D.; Turner, J.; Wienands, U.; Yan, Y.; Yocky, J.; Browne, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8686-8
By: Lyles, B.; Sterbenz, J.; Yavatkar, R.; Turner, J.; Schuba, C.; Klinger, S.; Eiriksson, A.;
By: Lyles, B.; Sterbenz, J.; Yavatkar, R.; Turner, J.; Schuba, C.; Klinger, S.; Eiriksson, A.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap