Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Tsuji, H.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-7317-5
By: Chang-Shing Lee; Tsuji, H.; Sakoda, M.; Nakamura, Yu.; Yi-Ling Kuo;
By: Chang-Shing Lee; Tsuji, H.; Sakoda, M.; Nakamura, Yu.; Yi-Ling Kuo;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0531-1
By: Moriguchi, S.; Tsuji, H.; Kido, Y.; Kitahara, T.; Narita, M.; Okada, K.; Ushio, S.; Kato, Y.;
By: Moriguchi, S.; Tsuji, H.; Kido, Y.; Kitahara, T.; Narita, M.; Okada, K.; Ushio, S.; Kato, Y.;
1988 / IEEE
By: Lubell, M.S.; Clinard, J.A.; Jakob, B.; Zichy, J.A.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Iida, F.; Kato, T.; Okuno, K.; Wuechner, F.; Friesinger, G.M.; Ulbricht, A.; Wood, R.J.; Wintenberg, R.E.; Wilson, C.T.; Stamps, R.E.; Shen, S.S.; Schwenterly, S.W.; McManamy, T.J.; Luton, J.N.; Lue, J.W.; Haubenreich, P.N.; Fletcher, W.M.; Fietz, W.A.; Dresner, L.;
By: Lubell, M.S.; Clinard, J.A.; Jakob, B.; Zichy, J.A.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Iida, F.; Kato, T.; Okuno, K.; Wuechner, F.; Friesinger, G.M.; Ulbricht, A.; Wood, R.J.; Wintenberg, R.E.; Wilson, C.T.; Stamps, R.E.; Shen, S.S.; Schwenterly, S.W.; McManamy, T.J.; Luton, J.N.; Lue, J.W.; Haubenreich, P.N.; Fletcher, W.M.; Fietz, W.A.; Dresner, L.;
1988 / IEEE
By: Hiyama, T.; Tsuji, H.; Iida, F.; Takahashi, Y.; Kato, T.; Shen, S.S.; Okuno, K.; Shimamoto, S.; Lubell, M.S.; Lue, J.W.;
By: Hiyama, T.; Tsuji, H.; Iida, F.; Takahashi, Y.; Kato, T.; Shen, S.S.; Okuno, K.; Shimamoto, S.; Lubell, M.S.; Lue, J.W.;
1988 / IEEE
By: Shimamoto, S.; Sawada, Y.; Fujioka, T.; Hamajima, T.; Shibui, M.; Nishi, M.; Shibutani, Y.; Tsuji, H.; Naganuma, M.; Ando, T.; Nakajima, H.;
By: Shimamoto, S.; Sawada, Y.; Fujioka, T.; Hamajima, T.; Shibui, M.; Nishi, M.; Shibutani, Y.; Tsuji, H.; Naganuma, M.; Ando, T.; Nakajima, H.;
1988 / IEEE
By: Kawano, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Tsuji, H.; Koizumi, K.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Takahashi, Y.; Oshikiri, M.; Yamamura, H.;
By: Kawano, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Tsuji, H.; Koizumi, K.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Takahashi, Y.; Oshikiri, M.; Yamamura, H.;
1988 / IEEE
By: Nishi, M.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Nakajima, H.; Koizumi, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.;
By: Nishi, M.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Nakajima, H.; Koizumi, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.;
1988 / IEEE
By: Nakajima, H.; Yoshida, K.; Shimamoto, S.; Ando, T.; Tsuji, H.; Oshikiri, M.; Koizumi, K.;
By: Nakajima, H.; Yoshida, K.; Shimamoto, S.; Ando, T.; Tsuji, H.; Oshikiri, M.; Koizumi, K.;
1988 / IEEE
By: Nishi, M.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Phelan, P.E.; Tada, E.; Iwasa, Y.; Shimamoto, S.; Yoshida, K.;
By: Nishi, M.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Phelan, P.E.; Tada, E.; Iwasa, Y.; Shimamoto, S.; Yoshida, K.;
1989 / IEEE
By: Nakajima, H.; Yamamura, H.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Ichihara, T.; Satou, T.; Shimamoto, S.; Itoh, N.; Yoshida, J.; Sato, M.; Ando, T.; Kawano, K.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Isono, T.; Kato, T.; Koizumi, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.;
By: Nakajima, H.; Yamamura, H.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Ichihara, T.; Satou, T.; Shimamoto, S.; Itoh, N.; Yoshida, J.; Sato, M.; Ando, T.; Kawano, K.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Isono, T.; Kato, T.; Koizumi, K.; Tada, E.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.;
1989 / IEEE
By: Takahashi, Y.; Nishi, M.F.; Yoshida, K.; Ando, T.; Okuno, K.; Koizumi, K.; Tsuji, H.;
By: Takahashi, Y.; Nishi, M.F.; Yoshida, K.; Ando, T.; Okuno, K.; Koizumi, K.; Tsuji, H.;
1989 / IEEE
By: Shiraki, H.; Shibui, M.; Hamajima, T.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Ando, T.; Takahashi, Y.; Koizumi, K.; Tanaka, A.; Nakajima, H.; Nishi, M.; Fujioka, T.; Shimada, M.; Naganuma, M.; Sanada, Y.;
By: Shiraki, H.; Shibui, M.; Hamajima, T.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Ando, T.; Takahashi, Y.; Koizumi, K.; Tanaka, A.; Nakajima, H.; Nishi, M.; Fujioka, T.; Shimada, M.; Naganuma, M.; Sanada, Y.;
1989 / IEEE
By: Tada, E.; Shibanuma, K.; Sugihara, M.; Yoshida, K.; Tsuji, H.; Shimomura, Y.; Matsuda, S.; Abe, T.; Fujisawa, N.; Hasegawa, M.; Honda, T.; Horie, T.; Hosobuchi, H.; Iida, H.; Ishida, S.; Kashihara, S.; Kimura, H.; Koizumi, K.; Kuroda, T.; Kusama, Y.; Maki, K.; Matoba, T.; Matsuoka, F.; Mizoguchi, T.; Mori, M.; Naruse, H.; Nishio, T.; Ohara, Y.; Ohkawa, Y.; Okuno, K.; Sato, K.; Seki, S.; Seki, Y.; Shinya, Y.; Takatsu, H.; Tanaka, S.; Takizuka, T.; Tsunematsu, T.; Yamamoto, S.; Yoshida, H.;
By: Tada, E.; Shibanuma, K.; Sugihara, M.; Yoshida, K.; Tsuji, H.; Shimomura, Y.; Matsuda, S.; Abe, T.; Fujisawa, N.; Hasegawa, M.; Honda, T.; Horie, T.; Hosobuchi, H.; Iida, H.; Ishida, S.; Kashihara, S.; Kimura, H.; Koizumi, K.; Kuroda, T.; Kusama, Y.; Maki, K.; Matoba, T.; Matsuoka, F.; Mizoguchi, T.; Mori, M.; Naruse, H.; Nishio, T.; Ohara, Y.; Ohkawa, Y.; Okuno, K.; Sato, K.; Seki, S.; Seki, Y.; Shinya, Y.; Takatsu, H.; Tanaka, S.; Takizuka, T.; Tsunematsu, T.; Yamamoto, S.; Yoshida, H.;
1989 / IEEE
By: Ichihara, T.; Satou, T.; Shimamoto, S.; Matsuzaki, Y.; Hasegawa, M.; Kamiyauchi, Y.; Kawagoe, E.; Konno, M.; Nisugi, H.; Oshikiri, M.; Itoh, N.; Yoshida, J.; Satoh, M.; Kawano, K.; Koizumi, K.; Yoshida, K.; Tada, E.; Nishi, M.; Hiyama, T.; Ando, T.; Isono, T.; Kato, T.; Nakajima, H.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.; Okuno, K.;
By: Ichihara, T.; Satou, T.; Shimamoto, S.; Matsuzaki, Y.; Hasegawa, M.; Kamiyauchi, Y.; Kawagoe, E.; Konno, M.; Nisugi, H.; Oshikiri, M.; Itoh, N.; Yoshida, J.; Satoh, M.; Kawano, K.; Koizumi, K.; Yoshida, K.; Tada, E.; Nishi, M.; Hiyama, T.; Ando, T.; Isono, T.; Kato, T.; Nakajima, H.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.; Okuno, K.;
1989 / IEEE
By: Mukai, H.; Itou, Y.; Ando, T.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Tada, E.; Itoh, I.; Koizumi, K.; Yoshida, K.; Konno, M.; Isono, T.; Takahashi, Y.; Nishi, M.F.;
By: Mukai, H.; Itou, Y.; Ando, T.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Tada, E.; Itoh, I.; Koizumi, K.; Yoshida, K.; Konno, M.; Isono, T.; Takahashi, Y.; Nishi, M.F.;
1989 / IEEE
By: Hasegawa, M.; Yoshida, K.; Koizumi, K.; Shimamoto, S.; Okuno, K.; Matsuda, S.; Tsuji, H.; Konno, M.; Tada, E.;
By: Hasegawa, M.; Yoshida, K.; Koizumi, K.; Shimamoto, S.; Okuno, K.; Matsuda, S.; Tsuji, H.; Konno, M.; Tada, E.;
1992 / IEEE
By: Yoshida, K.; Koizumi, K.; Nishi, M.; Tada, E.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Okuno, K.; Takahashi, Y.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Kamiyauchi, Y.; Kawagoe, E.; Ishida, H.; Yoshida, J.; Konno, M.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Kato, T.; Nakajima, H.;
By: Yoshida, K.; Koizumi, K.; Nishi, M.; Tada, E.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Okuno, K.; Takahashi, Y.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Kamiyauchi, Y.; Kawagoe, E.; Ishida, H.; Yoshida, J.; Konno, M.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Kato, T.; Nakajima, H.;
1992 / IEEE
By: Tsuji, H.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Tsukamoto, H.; Kurumizawa, Y.; Sekiguchi, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Koizumi, N.; Isono, T.; Sugimoto, M.;
By: Tsuji, H.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Tsukamoto, H.; Kurumizawa, Y.; Sekiguchi, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Koizumi, N.; Isono, T.; Sugimoto, M.;
1992 / IEEE
By: Oishi, K.; Ii, H.; Tsuji, H.; Ono, M.; Takahashi, Y.; Ban, M.; Kawano, K.; Yoshida, K.; Koizumi, N.; Sugimoto, M.; Isono, T.; Ando, T.; Nishi, M.; Ikeda, M.;
By: Oishi, K.; Ii, H.; Tsuji, H.; Ono, M.; Takahashi, Y.; Ban, M.; Kawano, K.; Yoshida, K.; Koizumi, N.; Sugimoto, M.; Isono, T.; Ando, T.; Nishi, M.; Ikeda, M.;
1991 / IEEE
By: Isono, T.; Takahashi, Y.; Suzuki, E.; Aoki, N.; Sakaki, K.; Itoh, I.; Uede, T.; Konno, M.; Tsuji, H.; Ando, T.; Watahiki, N.; Hosoya, T.; Tajiri, F.; Ohuchi, T.; Ohuchi, H.; Hanawa, H.; Oshikiri, M.; Kamiyauchi, Y.; Yoshida, J.; Ishida, H.; Kawagoe, E.; Ono, M.; Hiue, H.; Kawano, K.; Kato, T.; Hiyama, T.; Nakajima, H.; Nishi, M.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Okuno, K.; Yoshida, K.;
By: Isono, T.; Takahashi, Y.; Suzuki, E.; Aoki, N.; Sakaki, K.; Itoh, I.; Uede, T.; Konno, M.; Tsuji, H.; Ando, T.; Watahiki, N.; Hosoya, T.; Tajiri, F.; Ohuchi, T.; Ohuchi, H.; Hanawa, H.; Oshikiri, M.; Kamiyauchi, Y.; Yoshida, J.; Ishida, H.; Kawagoe, E.; Ono, M.; Hiue, H.; Kawano, K.; Kato, T.; Hiyama, T.; Nakajima, H.; Nishi, M.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Okuno, K.; Yoshida, K.;
1991 / IEEE
By: Takahashi, Y.; Nishi, M.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Yoshida, K.; Nakajima, H.; Okuno, K.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Shirakata, H.; Matsuzaki, Y.; Kamiyauchi, Y.; Kawagoe, E.; Ishida, H.; Yoshida, J.; Konno, M.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Kato, T.; Koizumi, K.; Tada, E.;
By: Takahashi, Y.; Nishi, M.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Yoshida, K.; Nakajima, H.; Okuno, K.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Shirakata, H.; Matsuzaki, Y.; Kamiyauchi, Y.; Kawagoe, E.; Ishida, H.; Yoshida, J.; Konno, M.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Kato, T.; Koizumi, K.; Tada, E.;
1991 / IEEE
By: Aoki, N.; Uchiyama, T.; Tsuji, H.; Ando, T.; Ichihara, M.; Isono, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Suzuki, E.;
By: Aoki, N.; Uchiyama, T.; Tsuji, H.; Ando, T.; Ichihara, M.; Isono, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Suzuki, E.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Ito, I.; Tsuji, H.; Hasegawa, M.; Yoshida, K.; Yasukawa, Y.; Nakajima, H.; Sugimoto, M.; Hiue, H.; Konno, M.;
By: Ito, I.; Tsuji, H.; Hasegawa, M.; Yoshida, K.; Yasukawa, Y.; Nakajima, H.; Sugimoto, M.; Hiue, H.; Konno, M.;
1993 / IEEE
By: Nagata, M.; Yamada, Y.; Tsuji, H.; Ando, T.; Nakajima, H.; Kiesel, H.; Specking, W.;
By: Nagata, M.; Yamada, Y.; Tsuji, H.; Ando, T.; Nakajima, H.; Kiesel, H.; Specking, W.;
1993 / IEEE
By: Ono, M.; Wachi, Y.; Shimada, M.; Sanada, Y.; Mukai, H.; Hamajima, T.; Fujioka, T.; Nishi, M.; Tsuji, H.; Ando, T.; Hiyama, T.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Okuno, K.; Kato, T.; Nakajima, H.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Koizumi, K.; Tada, E.; Hosono, F.; Iwamoto, S.; Sasaki, T.; Hiue, H.; Ishida, H.; Miyake, A.; Kamiyauchi, Y.; Ebisu, H.; Armstrong, J.R.; Oshikiri, M.; Hanawa, H.; Ohuchi, H.; Tajiri, F.; Seki, M.; Ohuchi, T.; Okayama, J.; Takaya, Y.; Kon, Y.; Shimamoto, S.;
By: Ono, M.; Wachi, Y.; Shimada, M.; Sanada, Y.; Mukai, H.; Hamajima, T.; Fujioka, T.; Nishi, M.; Tsuji, H.; Ando, T.; Hiyama, T.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Okuno, K.; Kato, T.; Nakajima, H.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Koizumi, K.; Tada, E.; Hosono, F.; Iwamoto, S.; Sasaki, T.; Hiue, H.; Ishida, H.; Miyake, A.; Kamiyauchi, Y.; Ebisu, H.; Armstrong, J.R.; Oshikiri, M.; Hanawa, H.; Ohuchi, H.; Tajiri, F.; Seki, M.; Ohuchi, T.; Okayama, J.; Takaya, Y.; Kon, Y.; Shimamoto, S.;
1993 / IEEE
By: Tsuji, H.; Nishi, M.; Sugimoto, M.; Takahashi, Y.; Ando, T.; Nagata, M.; Yamada, Y.;
By: Tsuji, H.; Nishi, M.; Sugimoto, M.; Takahashi, Y.; Ando, T.; Nagata, M.; Yamada, Y.;
1993 / IEEE
By: Hanawa, H.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Hosono, F.; Isono, T.; Tsuji, H.; Wadayama, Y.; Yoshida, K.; Ando, T.; Nishi, M.; Sasaki, T.; Tsukamoto, H.;
By: Hanawa, H.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Hosono, F.; Isono, T.; Tsuji, H.; Wadayama, Y.; Yoshida, K.; Ando, T.; Nishi, M.; Sasaki, T.; Tsukamoto, H.;
1993 / IEEE
By: Nakayama, S.; Nishi, M.; Koizumi, N.; Sasaki, T.; Fujioka, T.; Okuno, K.; Hamajima, T.; Wachi, Y.; Mukai, H.; Tsuji, H.; Yoshida, K.;
By: Nakayama, S.; Nishi, M.; Koizumi, N.; Sasaki, T.; Fujioka, T.; Okuno, K.; Hamajima, T.; Wachi, Y.; Mukai, H.; Tsuji, H.; Yoshida, K.;
1993 / IEEE
By: Sugimoto, M.; Hosono, F.; Tsuji, H.; Okayama, J.; Ouchi, T.; Seki, M.; Tajiri, F.; Seki, S.; Oshikiri, M.; Hanawa, H.; Yasukawa, Y.; Yamamoto, K.; Sasaki, T.; Takahashi, T.; Ebisu, H.; Sasaki, T.; Miyake, A.; Iwamoto, S.; Hiue, H.; Hiyama, T.; Kawano, K.; Kato, T.; Tsukamoto, H.; Nakajima, H.; Okuno, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Koizumi, N.; Yoshida, K.; Ando, T.;
By: Sugimoto, M.; Hosono, F.; Tsuji, H.; Okayama, J.; Ouchi, T.; Seki, M.; Tajiri, F.; Seki, S.; Oshikiri, M.; Hanawa, H.; Yasukawa, Y.; Yamamoto, K.; Sasaki, T.; Takahashi, T.; Ebisu, H.; Sasaki, T.; Miyake, A.; Iwamoto, S.; Hiue, H.; Hiyama, T.; Kawano, K.; Kato, T.; Tsukamoto, H.; Nakajima, H.; Okuno, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Koizumi, N.; Yoshida, K.; Ando, T.;
1993 / IEEE
By: Oshikiri, M.; Hanawa, H.; Sugimoto, M.; Hosono, F.; Tsuji, H.; Ando, T.; Yoshida, K.; Kato, T.; Nakajima, H.; Nishi, M.; Tsukamoto, H.; Okuno, K.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Koizumi, N.; Sasaki, T.; Seki, S.;
By: Oshikiri, M.; Hanawa, H.; Sugimoto, M.; Hosono, F.; Tsuji, H.; Ando, T.; Yoshida, K.; Kato, T.; Nakajima, H.; Nishi, M.; Tsukamoto, H.; Okuno, K.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Koizumi, N.; Sasaki, T.; Seki, S.;
1993 / IEEE
By: Koizumi, N.; Sugimoto, M.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Ando, T.; Hosono, F.; Takahashi, Y.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Shimada, M.;
By: Koizumi, N.; Sugimoto, M.; Yoshida, K.; Nishi, M.; Ando, T.; Hosono, F.; Takahashi, Y.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Shimada, M.;
1993 / IEEE
By: Okuno, K.; Wadayama, Y.; Koizumi, N.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.; Ando, T.; Nishi, M.; Sasaki, T.; Hosono, F.; Kato, T.; Sugimoto, M.; Yoshida, K.; Isono, T.;
By: Okuno, K.; Wadayama, Y.; Koizumi, N.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.; Ando, T.; Nishi, M.; Sasaki, T.; Hosono, F.; Kato, T.; Sugimoto, M.; Yoshida, K.; Isono, T.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Tanaka, K.; Shikata, M.; Akiyama, M.; Yamagishi, C.; Nishi, S.; Fujishiro, H.I.; Tsuji, H.;
By: Tanaka, K.; Shikata, M.; Akiyama, M.; Yamagishi, C.; Nishi, S.; Fujishiro, H.I.; Tsuji, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1322-4
By: Twynam, J.K.; Akagi, M.; Hara, S.; Tomita, T.; Miyajima, T.; Yoshimasu, T.; Shinozaki, T.; Tsuji, H.; Sato, H.; Yagura, M.; Kinosada, T.; Yoshikawa, K.; Tanba, N.; Nambu, N.;
By: Twynam, J.K.; Akagi, M.; Hara, S.; Tomita, T.; Miyajima, T.; Yoshimasu, T.; Shinozaki, T.; Tsuji, H.; Sato, H.; Yagura, M.; Kinosada, T.; Yoshikawa, K.; Tanba, N.; Nambu, N.;
1994 / IEEE
By: Koizuni, K.; Isono, T.; Nishi, M.; Okuno, K.; Yoshida, K.; Nakajima, H.; Ando, T.; Hosono, F.; Wakabayashi, H.; Tsuji, H.; Shen, S.; Felker, B.; Hassenzahl, W.; Takahashi, Y.; Sugimoto, M.;
By: Koizuni, K.; Isono, T.; Nishi, M.; Okuno, K.; Yoshida, K.; Nakajima, H.; Ando, T.; Hosono, F.; Wakabayashi, H.; Tsuji, H.; Shen, S.; Felker, B.; Hassenzahl, W.; Takahashi, Y.; Sugimoto, M.;
1994 / IEEE
By: Koizumi, N.; Nakajima, H.; Sugimoto, M.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Isono, T.; Nelson, R.J.; Tsuji, H.; Ando, T.; Okuno, K.; Iwamoto, S.; Ebisu, H.; Miyake, A.; Sasaki, T.; Hosono, H.; Wadayama, U.; Tsukamoto, H.; Wakabayashi, H.; Seki, S.; Hanawa, H.; Oshikiri, M.; Hiyama, T.; Kato, T.; Kawano, K.; Hamada, K.;
By: Koizumi, N.; Nakajima, H.; Sugimoto, M.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Isono, T.; Nelson, R.J.; Tsuji, H.; Ando, T.; Okuno, K.; Iwamoto, S.; Ebisu, H.; Miyake, A.; Sasaki, T.; Hosono, H.; Wadayama, U.; Tsukamoto, H.; Wakabayashi, H.; Seki, S.; Hanawa, H.; Oshikiri, M.; Hiyama, T.; Kato, T.; Kawano, K.; Hamada, K.;
1994 / IEEE
By: Miyake, A.; Ebisu, H.; Hiue, H.; Sasaki, T.; Kato, T.; Iwamoto, S.; Okuno, K.; Isono, T.; Ono, M.; Takahashi, Y.; Koizrmi, N.; Armstrong, J.R.; Nishi, M.; Tsuji, H.; Hosono, F.;
By: Miyake, A.; Ebisu, H.; Hiue, H.; Sasaki, T.; Kato, T.; Iwamoto, S.; Okuno, K.; Isono, T.; Ono, M.; Takahashi, Y.; Koizrmi, N.; Armstrong, J.R.; Nishi, M.; Tsuji, H.; Hosono, F.;
1994 / IEEE
By: Hiyama, T.; Tsuji, H.; Seki, S.; Hanawa, H.; Sasaki, T.; Wadayama, Y.; Wakabayashi, H.; Hosono, F.; Oshikiri, M.; Ando, T.; Nakajima, H.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Takahashi, Y.; Nagata, M.; Takahashi, K.; Yamada, Y.;
By: Hiyama, T.; Tsuji, H.; Seki, S.; Hanawa, H.; Sasaki, T.; Wadayama, Y.; Wakabayashi, H.; Hosono, F.; Oshikiri, M.; Ando, T.; Nakajima, H.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Takahashi, Y.; Nagata, M.; Takahashi, K.; Yamada, Y.;
1994 / IEEE
By: Nakajima, H.; Sasaki, T.; Ando, T.; Nishi, M.; Oshikiri, M.; Hiyama, T.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Okuno, K.; Kato, T.; Sugimoto, M.; Isono, T.; Kawano, K.; Koizumi, N.; Hamada, K.; Sasaki, T.; Wadayama, Y.; Miyake, A.; Iwamoto, S.; Ebisu, H.; Takahashi, T.; Hosono, F.; Yamamoto, K.; Yasukawa, Y.; Tsukamoto, H.; Hanawa, H.; Seki, S.; Wakabayashi, H.; Ouchi, T.; Tajiri, F.; Okayama, J.; Imahashi, K.; Outsu, K.; Takaya, Y.; Kawasaki, T.; Kon, Y.; Tsuji, H.; Takayasu, M.; Turck, B.; Wuchner, F.;
By: Nakajima, H.; Sasaki, T.; Ando, T.; Nishi, M.; Oshikiri, M.; Hiyama, T.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Okuno, K.; Kato, T.; Sugimoto, M.; Isono, T.; Kawano, K.; Koizumi, N.; Hamada, K.; Sasaki, T.; Wadayama, Y.; Miyake, A.; Iwamoto, S.; Ebisu, H.; Takahashi, T.; Hosono, F.; Yamamoto, K.; Yasukawa, Y.; Tsukamoto, H.; Hanawa, H.; Seki, S.; Wakabayashi, H.; Ouchi, T.; Tajiri, F.; Okayama, J.; Imahashi, K.; Outsu, K.; Takaya, Y.; Kawasaki, T.; Kon, Y.; Tsuji, H.; Takayasu, M.; Turck, B.; Wuchner, F.;
1995 / IEEE
By: Ishigohka, T.; Uriu, Y.; Kanda, Y.; Ninomiya, A.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.; Nishi, M.; Koizumi, N.;
By: Ishigohka, T.; Uriu, Y.; Kanda, Y.; Ninomiya, A.; Takahashi, Y.; Tsuji, H.; Nishi, M.; Koizumi, N.;
1995 / IEEE
By: Takahashi, K.; Tsuji, H.; Mikumo, A.; Yamada, Y.; Ayai, N.; Sato, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Ando, T.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.;
By: Takahashi, K.; Tsuji, H.; Mikumo, A.; Yamada, Y.; Ayai, N.; Sato, K.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Ando, T.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.;
1995 / IEEE
By: Hanai, T.; Nishi, M.; Sasaki, T.; Sugimoto, M.; Horiya, T.; Oukita, S.; Takahashi, Y.; Fujioka, T.; Takahashi, K.; Ayai, N.; Yamada, Y.; Tsuji, H.; Ando, T.;
By: Hanai, T.; Nishi, M.; Sasaki, T.; Sugimoto, M.; Horiya, T.; Oukita, S.; Takahashi, Y.; Fujioka, T.; Takahashi, K.; Ayai, N.; Yamada, Y.; Tsuji, H.; Ando, T.;
1995 / IEEE
By: Nishi, M.; Fujisaki, H.; Yasukawa, Y.; Isono, T.; Chaplin, M.; Parker, J.; Felker, B.; Shen, S.; Hosono, F.; Tsuji, H.; Ando, T.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Sugimoto, M.;
By: Nishi, M.; Fujisaki, H.; Yasukawa, Y.; Isono, T.; Chaplin, M.; Parker, J.; Felker, B.; Shen, S.; Hosono, F.; Tsuji, H.; Ando, T.; Takahashi, Y.; Yoshida, K.; Sugimoto, M.;
1996 / IEEE
By: Asano, K.; Suzuki, S.; Shigenaka, A.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Ando, T.; Tsukamoto, H.; Nunoya, Y.; Kato, T.; Nakajima, H.; Sugimoto, M.; Takahashi, Y.; Ogata, H.; Ito, T.; Koizumi, N.;
By: Asano, K.; Suzuki, S.; Shigenaka, A.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Ando, T.; Tsukamoto, H.; Nunoya, Y.; Kato, T.; Nakajima, H.; Sugimoto, M.; Takahashi, Y.; Ogata, H.; Ito, T.; Koizumi, N.;
1996 / IEEE
By: Nunoya, K.; Kato, T.; Takahashi, Y.; Matsui, K.; Ichihara, M.; Aoki, N.; Shiga, N.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Ando, T.; Nishi, M.; Hamada, K.; Koizumi, N.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Hiyama, T.; Nakajima, H.;
By: Nunoya, K.; Kato, T.; Takahashi, Y.; Matsui, K.; Ichihara, M.; Aoki, N.; Shiga, N.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Ando, T.; Nishi, M.; Hamada, K.; Koizumi, N.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Hiyama, T.; Nakajima, H.;
1996 / IEEE
By: Tsuji, H.; Salpietro, E.; Stoner, J.; Thome, R.J.; Egorov, S.; Vieira, R.; Okuno, K.; Iida, F.; Montgomery, D.B.;
By: Tsuji, H.; Salpietro, E.; Stoner, J.; Thome, R.J.; Egorov, S.; Vieira, R.; Okuno, K.; Iida, F.; Montgomery, D.B.;
1996 / IEEE
By: Fujioka, T.; Okuno, K.; Sumiyoshi, Y.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Osaki, O.; Nishi, M.; Nakajima, H.; Kato, T.; Sugimoto, M.; Matsui, K.; Ito, T.; Ando, T.; Ogata, H.;
By: Fujioka, T.; Okuno, K.; Sumiyoshi, Y.; Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Isono, T.; Osaki, O.; Nishi, M.; Nakajima, H.; Kato, T.; Sugimoto, M.; Matsui, K.; Ito, T.; Ando, T.; Ogata, H.;
Design consideration of the ITER-TF coil with a react-and-wind technique using Nb/sub 3/Al conductor
1996 / IEEEBy: Koizumi, N.; Sugimoto, M.; Ando, T.; Shimamoto, S.; Nunoya, Y.; Tsuji, H.; Nishi, M.; Matsui, K.;
1996 / IEEE
By: Tsuji, H.; Shimamoto, S.; Takahashi, Y.; Nishi, M.; Ando, T.; Kato, T.; Nakajima, H.; Koizumi, N.; Isono, T.; Terasawa, A.; Sugimoto, M.; Minato, T.; Hasegawa, M.; Sasaki, T.; Ichihara, T.; Okuno, K.;
By: Tsuji, H.; Shimamoto, S.; Takahashi, Y.; Nishi, M.; Ando, T.; Kato, T.; Nakajima, H.; Koizumi, N.; Isono, T.; Terasawa, A.; Sugimoto, M.; Minato, T.; Hasegawa, M.; Sasaki, T.; Ichihara, T.; Okuno, K.;
1996 / IEEE
By: Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Kato, T.; Nakajima, H.; Isono, T.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Kawano, K.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Nunoya, K.; Seki, S.; Hanawa, H.; Wakabayashi, H.; Nishida, K.; Honda, T.; Matsui, H.; Uno, Y.; Takano, K.; Ando, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Sekiguchi, S.; Ohuchi, T.; Tajiri, F.; Okayama, J.; Takaya, Y.; Kawasaki, T.; Imahashi, K.; Ohtsu, K.; Hamada, K.;
By: Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Kato, T.; Nakajima, H.; Isono, T.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Kawano, K.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Nunoya, K.; Seki, S.; Hanawa, H.; Wakabayashi, H.; Nishida, K.; Honda, T.; Matsui, H.; Uno, Y.; Takano, K.; Ando, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Sekiguchi, S.; Ohuchi, T.; Tajiri, F.; Okayama, J.; Takaya, Y.; Kawasaki, T.; Imahashi, K.; Ohtsu, K.; Hamada, K.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Nishi, M.; Nakajima, H.; Tsuji, H.; Wadayama, Y.; Wakabayashi, H.; Yamamoto, K.; Yasukawa, Y.; Miyake, A.; Hosono, F.; Hanawa, H.; Tsukamoto, H.; Tajiri, F.; Takaya, Y.; Takahashi, T.; Sekiguchi, S.; Seki, S.; Sasaki, T.; Kawasaki, T.; Oshikiri, M.; Okayama, J.; Ohtsu, K.; Ouchi, T.; Ebisu, H.; Iwamoto, S.; Imahashi, K.; Sasaki, T.; Hamada, K.; Ando, T.; Hiyama, T.; Takahashi, Y.; Okuno, K.; Yoshida, K.; Kato, T.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.;
By: Nishi, M.; Nakajima, H.; Tsuji, H.; Wadayama, Y.; Wakabayashi, H.; Yamamoto, K.; Yasukawa, Y.; Miyake, A.; Hosono, F.; Hanawa, H.; Tsukamoto, H.; Tajiri, F.; Takaya, Y.; Takahashi, T.; Sekiguchi, S.; Seki, S.; Sasaki, T.; Kawasaki, T.; Oshikiri, M.; Okayama, J.; Ohtsu, K.; Ouchi, T.; Ebisu, H.; Iwamoto, S.; Imahashi, K.; Sasaki, T.; Hamada, K.; Ando, T.; Hiyama, T.; Takahashi, Y.; Okuno, K.; Yoshida, K.; Kato, T.; Kawano, K.; Isono, T.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.;
1997 / IEEE
By: Sato, K.; Ayai, N.; Takahashi, K.; Yamada, Y.; Mikumo, A.; Koizumi, N.; Mitchell, N.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Sugimoto, M.; Ando, T.;
By: Sato, K.; Ayai, N.; Takahashi, K.; Yamada, Y.; Mikumo, A.; Koizumi, N.; Mitchell, N.; Okuno, K.; Tsuji, H.; Sugimoto, M.; Ando, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-3786-7
By: Sadakane, S.; Gotoh, Y.; Ishikawa, J.; Tsuji, H.; Nagao, M.; Inoue, K.;
By: Sadakane, S.; Gotoh, Y.; Ishikawa, J.; Tsuji, H.; Nagao, M.; Inoue, K.;