Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Topol, A.
Results
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Newbury, J.; Sikorski, E.; Shi, L.; Chan, K.; Kedzierski, J.; Ott, A.; Babich, K.; Chang, L.; Cai, J.; Sleight, J.; Topol, A.; Doris, B.; Rubino, J.; Huiling Shang; Meikei Ieong; Guarini, K.W.; Zhang, Y.; To, B.N.;
By: Newbury, J.; Sikorski, E.; Shi, L.; Chan, K.; Kedzierski, J.; Ott, A.; Babich, K.; Chang, L.; Cai, J.; Sleight, J.; Topol, A.; Doris, B.; Rubino, J.; Huiling Shang; Meikei Ieong; Guarini, K.W.; Zhang, Y.; To, B.N.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Rubino, J.; Chang, L.; Narayanan, V.; Boyd, D.; Steen, M.; Linder, B.P.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Leong, M.; Guarini, K.W.; Jammy, R.; Kozlowski, P.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Walker, J.F.; Newbury, J.; Kirsch, P.; Zhang, Y.; Babich, K.; Wong, L.; Shi, L.; Sikorski, E.; Topol, A.; Sleight, J.;
By: Rubino, J.; Chang, L.; Narayanan, V.; Boyd, D.; Steen, M.; Linder, B.P.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Leong, M.; Guarini, K.W.; Jammy, R.; Kozlowski, P.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Walker, J.F.; Newbury, J.; Kirsch, P.; Zhang, Y.; Babich, K.; Wong, L.; Shi, L.; Sikorski, E.; Topol, A.; Sleight, J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Pan, J.; Ming-Ren Lin; Iacoponi, J.; Pellerin, J.; Ieong, M.; Sung, C.Y.; Ren, Z.; Singh, D.; Shao, I.; Topol, A.;
By: Pan, J.; Ming-Ren Lin; Iacoponi, J.; Pellerin, J.; Ieong, M.; Sung, C.Y.; Ren, Z.; Singh, D.; Shao, I.; Topol, A.;
2007 / IEEE / 9781-4244-1327-0
By: German, A.; Hogue, A.; Jenkin, M.; Wilson, S.; Topol, A.; Gill, S.;
By: German, A.; Hogue, A.; Jenkin, M.; Wilson, S.; Topol, A.; Gill, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1836-7
By: Kwietniewski, M.; Ho-Kong Ng; Jasiobedzki, P.; Jenkin, M.; Wilson, S.; Gryz, J.; Gill, S.; Topol, A.;
By: Kwietniewski, M.; Ho-Kong Ng; Jasiobedzki, P.; Jenkin, M.; Wilson, S.; Gryz, J.; Gill, S.; Topol, A.;
2008 / IEEE / 978-0-7695-3153-3
By: Wilson, S.; Gryz, J.; Jenkin, M.; Topol, A.; Kwietniewski, M.; Bondy, M.; Ng, H.-K.; Jasiobedzki, P.;
By: Wilson, S.; Gryz, J.; Jenkin, M.; Topol, A.; Kwietniewski, M.; Bondy, M.; Ng, H.-K.; Jasiobedzki, P.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4459-5
By: Soriano, D.; Schwartz, A.; Sarafian, A.; Mader, S.; Dupire, J.; Froment, S.; Ginibre, M.; Topol, A.;
By: Soriano, D.; Schwartz, A.; Sarafian, A.; Mader, S.; Dupire, J.; Froment, S.; Ginibre, M.; Topol, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-430-5
By: Topol, A.; Speers, A.; Jenkin, M.; Verzijlenberg, B.; Codd-Downey, R.; Zacher, J.;
By: Topol, A.; Speers, A.; Jenkin, M.; Verzijlenberg, B.; Codd-Downey, R.; Zacher, J.;