Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Theobald, W.
Results
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Schillinger, H.; Feurer, T.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Sauerbrey, R.; Theobald, W.; Hassner, R.; Schafer, G.;
By: Schillinger, H.; Feurer, T.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Sauerbrey, R.; Theobald, W.; Hassner, R.; Schafer, G.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Schafer, G.; Sauerbrey, R.; Schillinger, H.; Feurer, T.; Theobald, W.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Hassner, R.;
By: Schafer, G.; Sauerbrey, R.; Schillinger, H.; Feurer, T.; Theobald, W.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Hassner, R.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Topfer, T.; Perry, M.D.; Hein, J.; Quednau, G.; Hellwing, M.; Philipps, J.; Walther, H.-G.; Theobald, W.; Sauerbrey, R.; Wintzer, W.; Ehrt, D.; Stollberg, K.; Wolff, D.; Habs, D.;
By: Topfer, T.; Perry, M.D.; Hein, J.; Quednau, G.; Hellwing, M.; Philipps, J.; Walther, H.-G.; Theobald, W.; Sauerbrey, R.; Wintzer, W.; Ehrt, D.; Stollberg, K.; Wolff, D.; Habs, D.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Feurer, T.; Theobald, W.; Veisz, L.; Sauerbrey, R.; Gibbon, P.; Schillinger, H.;
By: Feurer, T.; Theobald, W.; Veisz, L.; Sauerbrey, R.; Gibbon, P.; Schillinger, H.;
Polarization and power scaling of harmonics from solid and targets in the /spl lambda//sup 3/-regime
2003 / IEEE / 1-55752-749-0By: Wilcox, M.; Mourou, G.; Theobald, W.; Hou, B.; Nees, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Yanovsky, V.; Theobald, W.; Widjaja, C.; Chen, S.; Zhang, P.; Saleh, N.; Umstadter, D.;
By: Yanovsky, V.; Theobald, W.; Widjaja, C.; Chen, S.; Zhang, P.; Saleh, N.; Umstadter, D.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Zhang, P.; Chen, S.; Umstadter, D.; Maksimchuk, A.; Rever, M.; Saleh, N.; Theobald, W.;
By: Zhang, P.; Chen, S.; Umstadter, D.; Maksimchuk, A.; Rever, M.; Saleh, N.; Theobald, W.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: MacKinnon, A.J.; Key, M.H.; Akli, K.; Beg, F.; Clarke, R.J.; Clark, D.; Chen, M.H.; Chung, H.-K.; Chen, S.; Freeman, R.R.; Green, J.S.; Gu, P.; Gregori, G.; Highbarger, K.; Habara, H.; Hatchett, S.P.; Hey, D.; Heathcote, R.; Hill, J.M.; King, J.A.; Kodama, R.; Koch, J.A.; Lancaster, K.; Lasinski, B.F.; Langdon, B.; Murphy, C.D.; Norreys, P.A.; Neely, D.; Nakatsutsumi, M.; Nakamura, H.; Patel, N.; Patel, P.K.; Pasley, J.; Snavely, R.A.; Stephens, R.B.; Stoeckl, C.; Foord, M.; Tabak, M.; Theobald, W.; Storm, M.; Tanaka, K.; Tampo, M.; Tolley, M.; Town, R.; Wilks, S.C.; Van Woerkom, L.; Yabuuchi, T.; Zhang, B.; Weber, R.;
By: MacKinnon, A.J.; Key, M.H.; Akli, K.; Beg, F.; Clarke, R.J.; Clark, D.; Chen, M.H.; Chung, H.-K.; Chen, S.; Freeman, R.R.; Green, J.S.; Gu, P.; Gregori, G.; Highbarger, K.; Habara, H.; Hatchett, S.P.; Hey, D.; Heathcote, R.; Hill, J.M.; King, J.A.; Kodama, R.; Koch, J.A.; Lancaster, K.; Lasinski, B.F.; Langdon, B.; Murphy, C.D.; Norreys, P.A.; Neely, D.; Nakatsutsumi, M.; Nakamura, H.; Patel, N.; Patel, P.K.; Pasley, J.; Snavely, R.A.; Stephens, R.B.; Stoeckl, C.; Foord, M.; Tabak, M.; Theobald, W.; Storm, M.; Tanaka, K.; Tampo, M.; Tolley, M.; Town, R.; Wilks, S.C.; Van Woerkom, L.; Yabuuchi, T.; Zhang, B.; Weber, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Wilks, S.C.; Pasley, J.; Ryutov, D.; Patel, P.; MacKinnon, A.; Shepherd, R.; Remington, B.; Akli, K.; Chang, B.; Chen, H.; Chung, H.-Y.; Foord, M.E.; Fournier, K.; Gianluca, G.; Hey, D.; Hansen, S.B.; Hill, J.M.; Key, M.; King, J.; Klein, R.; Kruer, W.; Park, H.-S.; Patel, N.; Snavely, R.; Tabak, M.; Town, R.; Clarke, R.J.; Heathcote, R.; Neely, D.; Stoeckel, C.; Storm, M.; Theobald, W.; Moon, S.;
By: Wilks, S.C.; Pasley, J.; Ryutov, D.; Patel, P.; MacKinnon, A.; Shepherd, R.; Remington, B.; Akli, K.; Chang, B.; Chen, H.; Chung, H.-Y.; Foord, M.E.; Fournier, K.; Gianluca, G.; Hey, D.; Hansen, S.B.; Hill, J.M.; Key, M.; King, J.; Klein, R.; Kruer, W.; Park, H.-S.; Patel, N.; Snavely, R.; Tabak, M.; Town, R.; Clarke, R.J.; Heathcote, R.; Neely, D.; Stoeckel, C.; Storm, M.; Theobald, W.; Moon, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Boehly, T.R.; Theobald, W.; Collins, G.W.; Celliers, P.M.; Hicks, D.G.; Vianello, E.; Meyerhofer, D.D.; Igumenshev, I.; Goncharov, V.; Craxton, R.S.; Miller, J.E.;
By: Boehly, T.R.; Theobald, W.; Collins, G.W.; Celliers, P.M.; Hicks, D.G.; Vianello, E.; Meyerhofer, D.D.; Igumenshev, I.; Goncharov, V.; Craxton, R.S.; Miller, J.E.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Patel, P.K.; Zhang, B.; Wilks, S.C.; Van Maren, R.; Town, R.; Theobald, W.; Pasley, J.; Park, H.S.; Moon, S.; King, J.A.; Key, M.H.; Gregori, G.; Foord, M.E.; Heathcote, R.; Mackinnon, A.J.;
By: Patel, P.K.; Zhang, B.; Wilks, S.C.; Van Maren, R.; Town, R.; Theobald, W.; Pasley, J.; Park, H.S.; Moon, S.; King, J.A.; Key, M.H.; Gregori, G.; Foord, M.E.; Heathcote, R.; Mackinnon, A.J.;
2011 / IEEE
By: Knauer, J.P.; Marozas, J.A.; Goncharov, V.N.; Igumenshchev, I.V.; Edgell, D.H.; Delettrez, J.A.; Boehly, T.R.; Betti, R.; Radha, P.B.; Petrasso, R.D.; Li, C.K.; Casey, D.T.; Frenje, J.A.; Theobald, W.; Stoeckl, C.; Solodov, A.A.; Skupsky, S.; Seka, W.; Sangster, T.C.; Regan, S.P.; Meyerhofer, D.D.; McCrory, R.L.; Marshall, F.J.;
By: Knauer, J.P.; Marozas, J.A.; Goncharov, V.N.; Igumenshchev, I.V.; Edgell, D.H.; Delettrez, J.A.; Boehly, T.R.; Betti, R.; Radha, P.B.; Petrasso, R.D.; Li, C.K.; Casey, D.T.; Frenje, J.A.; Theobald, W.; Stoeckl, C.; Solodov, A.A.; Skupsky, S.; Seka, W.; Sangster, T.C.; Regan, S.P.; Meyerhofer, D.D.; McCrory, R.L.; Marshall, F.J.;
2011 / IEEE
By: Sawada, H.; Key, M.H.; McLean, H.S.; Akli, K.U.; Stephens, R.B.; Stoeckl, C.; Theobald, W.; Yabuuchi, T.; Chen, C.D.; Patel, P.K.; Fiksel, G.; Beg, F.N.;
By: Sawada, H.; Key, M.H.; McLean, H.S.; Akli, K.U.; Stephens, R.B.; Stoeckl, C.; Theobald, W.; Yabuuchi, T.; Chen, C.D.; Patel, P.K.; Fiksel, G.; Beg, F.N.;
2011 / IEEE
By: Mackinnon, A.J.; McLean, H.S.; Gizzi, L.A.; Key, M.H.; Batani, D.; Bartal, T.; Sawada, H.; Yabuuchi, T.; Beg, F.N.; Wei, M.S.; Theobald, W.; Spindloe, C.; Stephens, R.B.; Patel, P.K.; Norreys, P.A.;
By: Mackinnon, A.J.; McLean, H.S.; Gizzi, L.A.; Key, M.H.; Batani, D.; Bartal, T.; Sawada, H.; Yabuuchi, T.; Beg, F.N.; Wei, M.S.; Theobald, W.; Spindloe, C.; Stephens, R.B.; Patel, P.K.; Norreys, P.A.;