Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Taylor, A.J.
Results
2000 / IEEE
By: Davis, H.A.; Keinigs, R.K.; Wood, B.P.; Turchi, P.J.; Trainor, R.J.; Taylor, A.J.; Stokes, J.L.; Shlachter, J.S.; Scudder, D.W.; Rogers, H.H.; Rodriguez, G.E.; Oro, D.M.; Munson, C.P.; Anderson, W.E.; Atchison, W.L.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Ballard, E.O.; Bowman, D.W.; Cochrane, J.C.; Ekdahl, C.A.; Elizondo, J.M.; Faehl, R.J.; Fulton, R.D.; Gribble, R.F.; Guzik, J.A.; Kyrala, G.A.; Miller, R.B.; Nielsen, K.E.; Parker, J.V.; Parsons, W.M.;
By: Davis, H.A.; Keinigs, R.K.; Wood, B.P.; Turchi, P.J.; Trainor, R.J.; Taylor, A.J.; Stokes, J.L.; Shlachter, J.S.; Scudder, D.W.; Rogers, H.H.; Rodriguez, G.E.; Oro, D.M.; Munson, C.P.; Anderson, W.E.; Atchison, W.L.; Bartsch, R.R.; Benage, J.F.; Ballard, E.O.; Bowman, D.W.; Cochrane, J.C.; Ekdahl, C.A.; Elizondo, J.M.; Faehl, R.J.; Fulton, R.D.; Gribble, R.F.; Guzik, J.A.; Kyrala, G.A.; Miller, R.B.; Nielsen, K.E.; Parker, J.V.; Parsons, W.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Taylor, A.J.; Chowdhury, D.R.; Reiten, M.T.; Ramani, S.; Azad, A.K.; Cheville, R.A.; O'Hara, J.F.;
By: Taylor, A.J.; Chowdhury, D.R.; Reiten, M.T.; Ramani, S.; Azad, A.K.; Cheville, R.A.; O'Hara, J.F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Chowdhury, D.R.; Reiten, M.T.; Jiangfeng Zhou; O'Hara, J.F.; Singh, R.; Quanxi Jia; Azad, A.K.; Hou-Tong Chen; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.;
By: Chowdhury, D.R.; Reiten, M.T.; Jiangfeng Zhou; O'Hara, J.F.; Singh, R.; Quanxi Jia; Azad, A.K.; Hou-Tong Chen; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Williams, C.W.; Andreaco, M.; Nutt, R.; Rahimi, M.F.; Taylor, A.J.; Rogers, J.G.;
By: Williams, C.W.; Andreaco, M.; Nutt, R.; Rahimi, M.F.; Taylor, A.J.; Rogers, J.G.;
1994 / IEEE / 0-8186-5330-2
By: Salcudean, S.E.; Lawrence, P.D.; Taylor, A.J.; Ben-Dov, D.; Drexel, P.A.;
By: Salcudean, S.E.; Lawrence, P.D.; Taylor, A.J.; Ben-Dov, D.; Drexel, P.A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Malone, B.; Ciarcia, C.; Watson, S.; Taylor, A.J.; Platts, D.; Hockaday, M.P.; Roberts, J.P.; Sheppard, M.; Lee, H.; Scannapieco, A.J.; King, N.S.P.; Obst, A.; Sorenson, D.S.; Crain, D.; Malson, D.; Pritchett, B.; Peterson, K.; Watts, P.; Flurer, R.; Westley, D.; Frogget, B.;
By: Malone, B.; Ciarcia, C.; Watson, S.; Taylor, A.J.; Platts, D.; Hockaday, M.P.; Roberts, J.P.; Sheppard, M.; Lee, H.; Scannapieco, A.J.; King, N.S.P.; Obst, A.; Sorenson, D.S.; Crain, D.; Malson, D.; Pritchett, B.; Peterson, K.; Watts, P.; Flurer, R.; Westley, D.; Frogget, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Strauss, C.E.M.; Jones, R.J.; Xin Miao Zhao; Taylor, A.J.; Roberts, J.P.; Funk, D.J.;
By: Strauss, C.E.M.; Jones, R.J.; Xin Miao Zhao; Taylor, A.J.; Roberts, J.P.; Funk, D.J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4526-6
By: Ring, W.S.; Park, C.A.; Wrathall, S.; Hayward, D.; Taylor, A.J.; Smith, I.S.;
By: Ring, W.S.; Park, C.A.; Wrathall, S.; Hayward, D.; Taylor, A.J.; Smith, I.S.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Taylor, A.J.; Garzon, F.H.; Houlton, R.J.; Trugman, S.A.; Siders, J.L.W.;
By: Taylor, A.J.; Garzon, F.H.; Houlton, R.J.; Trugman, S.A.; Siders, J.L.W.;
1997 / IEEE / 1-55752-480-7
By: Taylor, A.J.; Ring, W.S.; Ash, R.M.; Wijnands, F.; Smith, I.S.; Ho, A.; Hoodless, R.;
By: Taylor, A.J.; Ring, W.S.; Ash, R.M.; Wijnands, F.; Smith, I.S.; Ho, A.; Hoodless, R.;
1999 / IEEE / 1-55752-576-X
By: Siders, J.L.W.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.; Siders, C.W.;
By: Siders, J.L.W.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.; Siders, C.W.;
1999 / IEEE / 1-55752-576-X
By: Zawodzinski, T.A.; Londergan, C.; Asaki, M.L.; Taylor, A.J.; Pratt, L.R.;
By: Zawodzinski, T.A.; Londergan, C.; Asaki, M.L.; Taylor, A.J.; Pratt, L.R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Holtkamp, D.B.; Roberts, J.P.; Clark, D.A.; Oro, D.M.; McCuistian, B.T.; Watt, R.G.; Fulton, R.D.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trainor, R.J.; Bartsch, R.R.;
By: Holtkamp, D.B.; Roberts, J.P.; Clark, D.A.; Oro, D.M.; McCuistian, B.T.; Watt, R.G.; Fulton, R.D.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Trainor, R.J.; Bartsch, R.R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Goforth, J.H.; Anderson, W.A.; Armijo, E.V.; Atchison, W.L.; Bartos, J.J.; Clark, D.A.; Day, R.D.; Deninger, W.J.; Faehl, R.J.; Fowler, C.M.; Garcia, F.P.; Garcia, O.F.; Herrera, D.H.; Herrera, T.J.; Keinigs, R.K.; King, J.C.; Lindemuth, J.R.; Lopez, E.A.; Martinez, E.C.; Martinez, D.; McGuire, J.A.; Morgan, D.; Oona, H.; Oro, D.M.; Parker, J.V.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Sena, F.C.; Tabaka, L.J.; Tasker, D.G.; Taylor, A.J.; Torres, D.T.; Anderson, H.D.; Broste, W.B.; Johnson, J.B.;
By: Goforth, J.H.; Anderson, W.A.; Armijo, E.V.; Atchison, W.L.; Bartos, J.J.; Clark, D.A.; Day, R.D.; Deninger, W.J.; Faehl, R.J.; Fowler, C.M.; Garcia, F.P.; Garcia, O.F.; Herrera, D.H.; Herrera, T.J.; Keinigs, R.K.; King, J.C.; Lindemuth, J.R.; Lopez, E.A.; Martinez, E.C.; Martinez, D.; McGuire, J.A.; Morgan, D.; Oona, H.; Oro, D.M.; Parker, J.V.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Rodriguez, G.; Stokes, J.L.; Sena, F.C.; Tabaka, L.J.; Tasker, D.G.; Taylor, A.J.; Torres, D.T.; Anderson, H.D.; Broste, W.B.; Johnson, J.B.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Trainor, R.J., Jr.; Taylor, A.J.; Benage, J.F., Jr.; Munson, C.P.; Wysocki, F.J.; Wood, B.P.;
By: Trainor, R.J., Jr.; Taylor, A.J.; Benage, J.F., Jr.; Munson, C.P.; Wysocki, F.J.; Wood, B.P.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Siders, C.W.; Taylor, A.J.; Weiner, A.M.; Melloch, M.R.; Park, S.-G.; Siders, J.L.W.;
By: Siders, C.W.; Taylor, A.J.; Weiner, A.M.; Melloch, M.R.; Park, S.-G.; Siders, J.L.W.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Londergan, C.; Asaki, M.L.; Taylor, A.J.; Pratt, L.R.; Zawodzinski, T.A.;
By: Londergan, C.; Asaki, M.L.; Taylor, A.J.; Pratt, L.R.; Zawodzinski, T.A.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Omenetto, F.G.; Moores, M.D.; Luce, B.P.; Reitze, D.H.; Taylor, A.J.;
By: Omenetto, F.G.; Moores, M.D.; Luce, B.P.; Reitze, D.H.; Taylor, A.J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Anderson, B.;
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Anderson, B.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Knight, J.C.; Reitze, D.H.; Moores, M.D.; Omenetto, F.G.; Taylor, A.J.; Russell, P.St.J.; Wadsworth, W.J.;
By: Knight, J.C.; Reitze, D.H.; Moores, M.D.; Omenetto, F.G.; Taylor, A.J.; Russell, P.St.J.; Wadsworth, W.J.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Thorsmolle, V.K.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.; Jia, Q.X.;
By: Thorsmolle, V.K.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.; Jia, Q.X.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Helm, C.; Bulaevskii, L.N.; Taylor, A.J.; Maley, M.P.;
By: Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Helm, C.; Bulaevskii, L.N.; Taylor, A.J.; Maley, M.P.;
Observation of a nonthermal disordered lattice state in heat-induced structural phase change in gold
2001 / IEEE / 1-55752-663-XBy: Taylor, A.J.; Chunlei Guo;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Chandler, E.; Turchi, P.J.; Tonks, D.L.; Taylor, A.J.; Stokes, J.; Shlachter, J.S.; Sheehey, P.T.; Scudder, D.W.; Rodriquez, G.; Reinovsky, R.E.; Preston, D.L.; Parker, J.V.; Oro, D.M.; Lindemuth, I.R.; Kyrala, G.; Jones, M.E.; Holtkamp, D.B.; Hammerberg, J.E.; Flower-Maudlin, E.C.; Faehl, R.J.; Bartsch, R.R.; Anderson, W.E.; Atchison, W.L.; Keinigs, R.K.;
By: Chandler, E.; Turchi, P.J.; Tonks, D.L.; Taylor, A.J.; Stokes, J.; Shlachter, J.S.; Sheehey, P.T.; Scudder, D.W.; Rodriquez, G.; Reinovsky, R.E.; Preston, D.L.; Parker, J.V.; Oro, D.M.; Lindemuth, I.R.; Kyrala, G.; Jones, M.E.; Holtkamp, D.B.; Hammerberg, J.E.; Flower-Maudlin, E.C.; Faehl, R.J.; Bartsch, R.R.; Anderson, W.E.; Atchison, W.L.; Keinigs, R.K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Murillo, M.S.; Montgomery, D.S.; Delamater, N.D.; Benage, J.F.; Wysocki, F.J.; Taylor, A.J.; Roberts, J.P.;
By: Murillo, M.S.; Montgomery, D.S.; Delamater, N.D.; Benage, J.F.; Wysocki, F.J.; Taylor, A.J.; Roberts, J.P.;
2002 / IEEE / 1-55752-708-3
By: Efimov, A.; Omenetto, F.G.; Russell, P.S.J.; Wadsworth, W.; Knight, J.C.; Taylor, A.J.;
By: Efimov, A.; Omenetto, F.G.; Russell, P.S.J.; Wadsworth, W.; Knight, J.C.; Taylor, A.J.;
2002 / IEEE / 1-55752-708-3
By: Bulaevskii, L.N.; Hundley, M.F.; Maley, M.P.; Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Koshelev, A.E.; Taylor, A.J.;
By: Bulaevskii, L.N.; Hundley, M.F.; Maley, M.P.; Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Koshelev, A.E.; Taylor, A.J.;
Ultrafast optical and far-infrared studies of La/sub 0:7/Ca/sub 0:3/MnO/sub 3/: mixed-phase dynamics
2002 / IEEE / 1-55752-708-3By: Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Trugman, S.A.; Calgaro, F.; Lim, D.; Jia, Q.X.; Thorsmolle, V.K.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Efimov, A.; Russel, P.St.J.; Wadsworth, W.J.; Knight, J.C.; Taylor, A.J.; Omenetto, F.G.;
By: Efimov, A.; Russel, P.St.J.; Wadsworth, W.J.; Knight, J.C.; Taylor, A.J.; Omenetto, F.G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Taylor, A.J.; Efimov, A.; Omenetto, F.G.; St J Russell, P.; Arriaga, J.; Wadsworth, W.J.; Knight, J.C.;
By: Taylor, A.J.; Efimov, A.; Omenetto, F.G.; St J Russell, P.; Arriaga, J.; Wadsworth, W.J.; Knight, J.C.;
2002 / IEEE
By: Turchi, P.J.; Taylor, A.J.; Adams, C.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.E.; Armijo, E.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Cameron, B.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Corrow, R.; Degnan, J.H.; Echave, J.; Froggett, B.; Gale, D.; Garcia, F.; Guzik, J.A.; Henneke, B.; Kanzleiter, R.J.; Kiuttu, G.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Parker, J.V.; Peterkin, R.E., Jr.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, D.; Sandoval, G.; Salazar, M.A.; Sommars, W.; Steckle, W.; Stokes, J.L.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Alvey, K.;
By: Turchi, P.J.; Taylor, A.J.; Adams, C.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.E.; Armijo, E.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Cameron, B.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Corrow, R.; Degnan, J.H.; Echave, J.; Froggett, B.; Gale, D.; Garcia, F.; Guzik, J.A.; Henneke, B.; Kanzleiter, R.J.; Kiuttu, G.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Parker, J.V.; Peterkin, R.E., Jr.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, D.; Sandoval, G.; Salazar, M.A.; Sommars, W.; Steckle, W.; Stokes, J.L.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Alvey, K.;
2003 / IEEE / 1-55752-749-0
By: Chi, X.; Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Taylor, A.J.; Ramirez, A.P.; Smith, D.L.;
By: Chi, X.; Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Taylor, A.J.; Ramirez, A.P.; Smith, D.L.;
2003 / IEEE / 1-55752-749-0
By: Beverly, K.C.; Taylor, A.J.; Woode, E.K.; Demsar, J.; Averitt, R.D.; Heath, J.R.;
By: Beverly, K.C.; Taylor, A.J.; Woode, E.K.; Demsar, J.; Averitt, R.D.; Heath, J.R.;
2003 / IEEE / 1-55752-749-0
By: Taylor, A.J.; Averitt, R.D.; Demsar, J.; Lee, S.-I.; Choi, E.-M.; Kim, H.J.; Kang, W.-N.;
By: Taylor, A.J.; Averitt, R.D.; Demsar, J.; Lee, S.-I.; Choi, E.-M.; Kim, H.J.; Kang, W.-N.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Cheville, R.A.; Taylor, A.J.; Asaki, M.L.T.; Averitt, R.D.; Calgaro, F.; Funk, D.J.;
By: Cheville, R.A.; Taylor, A.J.; Asaki, M.L.T.; Averitt, R.D.; Calgaro, F.; Funk, D.J.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Omenetto, F.G.; Reeves, W.H.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; Ravi Kanth Kumar, V.V.; St.J. Russell, P.; Knight, J.C.; George, A.K.;
By: Omenetto, F.G.; Reeves, W.H.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; Ravi Kanth Kumar, V.V.; St.J. Russell, P.; Knight, J.C.; George, A.K.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Knight, J.C.; Reeves, W.H.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; Omenetto, F.G.; Russell, P.St.J.; Skryabin, D.;
By: Knight, J.C.; Reeves, W.H.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; Omenetto, F.G.; Russell, P.St.J.; Skryabin, D.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Taylor, A.J.; Efimov, A.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Joly, N.Y.; Omenetto, F.G.;
By: Taylor, A.J.; Efimov, A.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Joly, N.Y.; Omenetto, F.G.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: McCulloch, Q.; Hooks, D.E.; Funk, D.J.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.;
By: McCulloch, Q.; Hooks, D.E.; Funk, D.J.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Wadsworth, W.J.; Omenetto, F.G.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.;
By: Wadsworth, W.J.; Omenetto, F.G.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.;
Soliton stabilization near second zero-dispersion point in small-core photonic crystal fibers fibers
2004 / IEEE / 1-55752-778-4By: Joly, N.Y.; Omenetto, F.G.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; Russell, P.St.J.; Knight, J.C.; Skryabin, D.V.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Taylor, A.J.; Funk, D.J.; Fisher, G.L.; Meserole, C.A.; Averitt, R.D.; Hilton, D.J.;
By: Taylor, A.J.; Funk, D.J.; Fisher, G.L.; Meserole, C.A.; Averitt, R.D.; Hilton, D.J.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Taylor, A.J.; Ramirez, A.P.; Tretiak, S.; Chi, X.; Demsar, J.;
By: Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Taylor, A.J.; Ramirez, A.P.; Tretiak, S.; Chi, X.; Demsar, J.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Demsar, J.; Averitt, R.D.; Lee, H.J.; Moritomo, Y.; Hur, N.H.; Taylor, A.J.; Funk, D.J.;
By: Demsar, J.; Averitt, R.D.; Lee, H.J.; Moritomo, Y.; Hur, N.H.; Taylor, A.J.; Funk, D.J.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Prasankumar, R.P.; Krishna, S.; Stintz, A.; von Winckel, G.; Taylor, A.J.; Averitt, R.D.;
By: Prasankumar, R.P.; Krishna, S.; Stintz, A.; von Winckel, G.; Taylor, A.J.; Averitt, R.D.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Funk, D.J.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; McCulloch, Q.; Hooks, D.E.;
By: Funk, D.J.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; McCulloch, Q.; Hooks, D.E.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Meserole, C.A.; Averitt, R.D.; Hilton, D.J.; Taylor, A.J.; Funk, D.J.; Fisher, G.L.;
By: Meserole, C.A.; Averitt, R.D.; Hilton, D.J.; Taylor, A.J.; Funk, D.J.; Fisher, G.L.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Hilton, D.J.; Scopatz, A.; Prasankumar, R.P.; Gossard, A.C.; Zide, J.M.;
By: Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Hilton, D.J.; Scopatz, A.; Prasankumar, R.P.; Gossard, A.C.; Zide, J.M.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Okamura, H.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Prasankumar, R.P.; Kubo, Y.; Shimakawa, Y.; Imai, H.;
By: Okamura, H.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Prasankumar, R.P.; Kubo, Y.; Shimakawa, Y.; Imai, H.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Averitt, R.D.; Workman, J.B.; Lee, H.J.; Cheong, S.-W.; Hur, N.; Taylor, A.J.; Wark, J.S.; Funk, D.J.; Hof, D.E.; McCulloch, Q.; Roberts, J.P.;
By: Averitt, R.D.; Workman, J.B.; Lee, H.J.; Cheong, S.-W.; Hur, N.; Taylor, A.J.; Wark, J.S.; Funk, D.J.; Hof, D.E.; McCulloch, Q.; Roberts, J.P.;
2005 / IEEE / 0-7803-9240-X
By: Zide, J.M.; Prasankumar, R.P.; O'Hara, J.F.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Gossard, A.C.;
By: Zide, J.M.; Prasankumar, R.P.; O'Hara, J.F.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.; Gossard, A.C.;
2005 / IEEE / 0-7803-9240-X
By: Meserole, C.A.; Averitt, R.D.; Hilton, D.J.; Taylor, A.J.; Funk, D.J.; Fisher, G.L.;
By: Meserole, C.A.; Averitt, R.D.; Hilton, D.J.; Taylor, A.J.; Funk, D.J.; Fisher, G.L.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Kumar, V.V.R.K.; Omenetto, F.G.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; St Russell, P.J.; Knight, J.C.;
By: Kumar, V.V.R.K.; Omenetto, F.G.; Taylor, A.J.; Efimov, A.; St Russell, P.J.; Knight, J.C.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Taylor, A.J.; Chen, H.-T.; Averitt, R.D.; Padilla, W.J.; Lee, M.; Highstrete, C.;
By: Taylor, A.J.; Chen, H.-T.; Averitt, R.D.; Padilla, W.J.; Lee, M.; Highstrete, C.;
2007 / IEEE / 1-4244-1448-2
By: Gossard, A.C.; Zide, J.M.O.; OHara, J.F.; Hou-Tong Chen; Landy, N.I.; Highstrete, C.; Averitt, R.D.; Padilla, W.J.; Taylor, A.J.; Lee, M.;
By: Gossard, A.C.; Zide, J.M.O.; OHara, J.F.; Hou-Tong Chen; Landy, N.I.; Highstrete, C.; Averitt, R.D.; Padilla, W.J.; Taylor, A.J.; Lee, M.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Yellampalle, B.; Sheik-Bahae, M.; Hasselbeck, M. P.; Bender, D. A.; Taylor, A.J.;
By: Yellampalle, B.; Sheik-Bahae, M.; Hasselbeck, M. P.; Bender, D. A.; Taylor, A.J.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Kim, K.Y.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Glownia, J.H.; Yellampalle, B.;
By: Kim, K.Y.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.; Glownia, J.H.; Yellampalle, B.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Padilla, W.J.; Lee, M.; Highstrete, C.; Averitt, R.D.; O'Hara, J.F.; Hou-Tong Chen; Smirnova, E.; Taylor, A.J.;
By: Padilla, W.J.; Lee, M.; Highstrete, C.; Averitt, R.D.; O'Hara, J.F.; Hou-Tong Chen; Smirnova, E.; Taylor, A.J.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Stintz, A.; Averitt, R.D.; Attaluri, R.S.; Prasankumar, R.P.; Taylor, A.J.; Krishna, S.;
By: Stintz, A.; Averitt, R.D.; Attaluri, R.S.; Prasankumar, R.P.; Taylor, A.J.; Krishna, S.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Yellampalle, B.; Glownia, J.H.; Kim, K.Y.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.;
By: Yellampalle, B.; Glownia, J.H.; Kim, K.Y.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Shibauchi, T.; Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Taylor, A.J.; Hundley, M.F.;
By: Shibauchi, T.; Averitt, R.D.; Thorsmolle, V.K.; Taylor, A.J.; Hundley, M.F.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Hasselbeck, M.P.; Bender, D.A.; Taylor, A.J.; Yellampalle, B.; Sheik-Bahae, M.;
By: Hasselbeck, M.P.; Bender, D.A.; Taylor, A.J.; Yellampalle, B.; Sheik-Bahae, M.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Yellampalle, B.; Taylor, A.J.; Glownia, J.H.; Rodriguez, G.; Kim, K.Y.;
By: Yellampalle, B.; Taylor, A.J.; Glownia, J.H.; Rodriguez, G.; Kim, K.Y.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Yellampalle, B.; Kim, K.Y.; Glownia, J.H.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.;
By: Yellampalle, B.; Kim, K.Y.; Glownia, J.H.; Rodriguez, G.; Taylor, A.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1438-3
By: Lee, M.; Highstrete, C.; Gossard, A.C.; Zide, J.M.O.; Hou-Tong Chen; O'Hara, J.F.; Padilla, W.J.; Landy, N.I.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.;
By: Lee, M.; Highstrete, C.; Gossard, A.C.; Zide, J.M.O.; Hou-Tong Chen; O'Hara, J.F.; Padilla, W.J.; Landy, N.I.; Averitt, R.D.; Taylor, A.J.;