Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Tang, T.
Results
2014 / IEEE
By: Matsui, K.; Yoshinaka, K.; Itani, K.; Fujiwara, K.; Sakuma, I.; Azuma, T.; Iwahashi, T.; Takagi, S.; Sasaki, A.; Takeuchi, H.; Tang, T.;
By: Matsui, K.; Yoshinaka, K.; Itani, K.; Fujiwara, K.; Sakuma, I.; Azuma, T.; Iwahashi, T.; Takagi, S.; Sasaki, A.; Takeuchi, H.; Tang, T.;
2014 / IEEE
By: Wei, Y.; Li, X.; Gao, Z.; Wang, W.; Huang, M.; Guo, G.; Ding, C.; Zhang, L.; Zhao, G.; Yue, L.; Gong, Y.; Tang, T.;
By: Wei, Y.; Li, X.; Gao, Z.; Wang, W.; Huang, M.; Guo, G.; Ding, C.; Zhang, L.; Zhao, G.; Yue, L.; Gong, Y.; Tang, T.;
1990 / IEEE / 0-8186-2113-3
By: Perry, L.P.; Tang, T.; Horvath, J.C.; Zipse, J.E.; OIster, D.B.; Cole, R.C.;
By: Perry, L.P.; Tang, T.; Horvath, J.C.; Zipse, J.E.; OIster, D.B.; Cole, R.C.;
2005 / IEEE / 0-7695-2413-3
By: Tang, T.; Hayat, M.M.; Abdallah, C.T.; Chiasson, J.N.; Birdwell, J.D.; White, J.;
By: Tang, T.; Hayat, M.M.; Abdallah, C.T.; Chiasson, J.N.; Birdwell, J.D.; White, J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0018-X
By: Gundersen, M.A.; Chen, H.; Tang, T.; Kuthi, A.; Cathev, C.; Wang, F.;
By: Gundersen, M.A.; Chen, H.; Tang, T.; Kuthi, A.; Cathev, C.; Wang, F.;
2006 / IEEE / 1-4244-0018-X
By: Liang, C.-H.; Black, T.; Liu, Y.-S.; Vernier, P.T.; Sun, Y.; Chong, S.Y.; Gundersen, M.A.; Marcu, L.; Tang, T.; Chen, M.-T.;
By: Liang, C.-H.; Black, T.; Liu, Y.-S.; Vernier, P.T.; Sun, Y.; Chong, S.Y.; Gundersen, M.A.; Marcu, L.; Tang, T.; Chen, M.-T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1534-2
By: Burkhart, C.; Beukers, T.; Nguyen, M.; Tang, T.; Olsen, J.; Larsen, R.;
By: Burkhart, C.; Beukers, T.; Nguyen, M.; Tang, T.; Olsen, J.; Larsen, R.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2117-6
By: Yap Guan Jie; Lim Teck Guan; Tan Chee Wei; Hong Lor Yee; Teo, C.; Lim Li Shiah; Tseng, T.J.; Cheng, D.; Chiang, S.; Tang, T.; Chai, J.; Chang, H.; Chang, R.; Lau, J.H.; Ramana, P.V.;
By: Yap Guan Jie; Lim Teck Guan; Tan Chee Wei; Hong Lor Yee; Teo, C.; Lim Li Shiah; Tseng, T.J.; Cheng, D.; Chiang, S.; Tang, T.; Chai, J.; Chang, H.; Chang, R.; Lau, J.H.; Ramana, P.V.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2117-6
By: Lau, J.H.; Chang, R.; Lim Teck Guan; Yap Guan Jie; Chai Yi Yoon, J.; Tan Chee Wei; Lim Li Shiah; Hong Lor Yee; Teo Wei Liang, C.; Tseng, T.J.; Cheng, D.; Ramana, P.V.; Chiang, S.; Tang, T.;
By: Lau, J.H.; Chang, R.; Lim Teck Guan; Yap Guan Jie; Chai Yi Yoon, J.; Tan Chee Wei; Lim Li Shiah; Hong Lor Yee; Teo Wei Liang, C.; Tseng, T.J.; Cheng, D.; Ramana, P.V.; Chiang, S.; Tang, T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2117-6
By: Ramana, P.V.; Lau, J.; Li Shiah Lim; Teo, C.; Yee, H.L.; Yee Mong Khoo; Chee Wei Tan; Teck Guan Lim; Guan Jie Yap; Chai, J.; Tseng, T.J.; Cheng, D.; Chiang, S.; Chang, H.; Tang, T.; Chang, R.;
By: Ramana, P.V.; Lau, J.; Li Shiah Lim; Teo, C.; Yee, H.L.; Yee Mong Khoo; Chee Wei Tan; Teck Guan Lim; Guan Jie Yap; Chai, J.; Tseng, T.J.; Cheng, D.; Chiang, S.; Chang, H.; Tang, T.; Chang, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2784-0
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Kemp, M.A.; Burkhart, C.; Beukers, T.; Macken, K.; Tang, T.; Nguyen, M.N.;
By: Kemp, M.A.; Burkhart, C.; Beukers, T.; Macken, K.; Tang, T.; Nguyen, M.N.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5099-2
By: Lim Li Shiah; Chang, C.J.; Chang, C.C.; Chai, J.; Teo, C.; Yap Guan Jie; Lau, J.H.; Tan Chee Wei; Tseng, T.J.; Lee, M.; Chiang, S.; Tang, T.; Chang, A.;
By: Lim Li Shiah; Chang, C.J.; Chang, C.C.; Chai, J.; Teo, C.; Yap Guan Jie; Lau, J.H.; Tan Chee Wei; Tseng, T.J.; Lee, M.; Chiang, S.; Tang, T.; Chang, A.;
Modelling and Verification of the System Requirement Specification of Train Control System Using SDL
2011 / IEEE / 978-1-61284-213-4By: Tang, T.; Yuan, L.; Li, K.;