Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Tamaru, T.
Results
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Kikushima, K.; Tamaru, T.; Ohira, Y.; Iwahashi, S.; Yamaguchi, K.; Nakamura, M.; Ootsuka, F.; Miyake, T.;
By: Kikushima, K.; Tamaru, T.; Ohira, Y.; Iwahashi, S.; Yamaguchi, K.; Nakamura, M.; Ootsuka, F.; Miyake, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Tamaru, T.; Nakamura, Y.; Kanai, M.; Kuroda, J.; Nakata, M.; Uemura, T.; Sugawara, Y.; Furukawa, R.; Yamamoto, S.; Kunitomo, M.; Asano, I.; Tadaki, Y.; Sekiguchi, T.; Ohji, Y.; Iijima, S.; Kisu, T.; Morino, M.; Nakamura, M.; Kawamura, H.; Kawakita, K.; Yamada, S.; Kawagoe, T.;
By: Tamaru, T.; Nakamura, Y.; Kanai, M.; Kuroda, J.; Nakata, M.; Uemura, T.; Sugawara, Y.; Furukawa, R.; Yamamoto, S.; Kunitomo, M.; Asano, I.; Tadaki, Y.; Sekiguchi, T.; Ohji, Y.; Iijima, S.; Kisu, T.; Morino, M.; Nakamura, M.; Kawamura, H.; Kawakita, K.; Yamada, S.; Kawagoe, T.;
1999 / IEEE / 4-930813-93-X
By: Tamaru, T.; Asano, I.; Furukawa, R.; Kunitomo, M.; Miki, H.; Goto, H.; Kisu, T.; Kuroda, J.; Yamamoto, H.; Ohji, Y.; Iijima, S.;
By: Tamaru, T.; Asano, I.; Furukawa, R.; Kunitomo, M.; Miki, H.; Goto, H.; Kisu, T.; Kuroda, J.; Yamamoto, H.; Ohji, Y.; Iijima, S.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: Ashihara, H.; Aoki, H.; Ohmori, K.; Tamaru, T.; Oshima, T.; Hinode, K.; Saito, T.; Satoh, A.; Miyazaki, H.; Murata, J.; Torii, K.; Miyauchi, M.; Yamaguchi, H.;
By: Ashihara, H.; Aoki, H.; Ohmori, K.; Tamaru, T.; Oshima, T.; Hinode, K.; Saito, T.; Satoh, A.; Miyazaki, H.; Murata, J.; Torii, K.; Miyauchi, M.; Yamaguchi, H.;
2001 / IEEE / 0-9651577-5-X
By: Tamaru, T.; Hirasawa, S.; Mise, N.; Saikawa, T.; Okudaira, S.; Maeno, R.; Usui, T.; Oomori, K.;
By: Tamaru, T.; Hirasawa, S.; Mise, N.; Saikawa, T.; Okudaira, S.; Maeno, R.; Usui, T.; Oomori, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-6678-6
By: Omori, S.; Ito, Y.; Kubo, M.; Noguchi, J.; Ohashi, N.; Saito, T.; Yamaguchi, H.; Imai, T.; Tamaru, T.;
By: Omori, S.; Ito, Y.; Kubo, M.; Noguchi, J.; Ohashi, N.; Saito, T.; Yamaguchi, H.; Imai, T.; Tamaru, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7649-8
By: Tsuneda, R.; Makabe, K.; Hamada, N.; Yamaguchi, H.; Takeda, K.; Tamaru, T.; Kubo, M.; Miura, N.; Noguchi, J.;
By: Tsuneda, R.; Makabe, K.; Hamada, N.; Yamaguchi, H.; Takeda, K.; Tamaru, T.; Kubo, M.; Miura, N.; Noguchi, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7797-4
By: Nakamura, T.; Sato, K.; Fujiwara, T.; Noguchi, J.; Tamaru, T.; kubo, M.; Konishi, N.; Yamada, Y.; Saito, T.; Ishikawa, K.; Uno, S.;
By: Nakamura, T.; Sato, K.; Fujiwara, T.; Noguchi, J.; Tamaru, T.; kubo, M.; Konishi, N.; Yamada, Y.; Saito, T.; Ishikawa, K.; Uno, S.;
2005 / IEEE
By: Oshima, T.; Fujiwara, T.; Uno, S.; Konishi, N.; Sato, K.; Noguchi, J.; Ishikawa, K.; Aoki, H.; Yamada, Y.; Tamaru, T.; Kubo, M.; Saito, T.; Ashihara, H.;
By: Oshima, T.; Fujiwara, T.; Uno, S.; Konishi, N.; Sato, K.; Noguchi, J.; Ishikawa, K.; Aoki, H.; Yamada, Y.; Tamaru, T.; Kubo, M.; Saito, T.; Ashihara, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-8752-X
By: Iwasaki, T.; Shimazu, H.; Ishikawa, K.; Saito, T.; Oshima, T.; Ando, T.; Aoki, H.; Tamaru, T.; Noguchi, J.;
By: Iwasaki, T.; Shimazu, H.; Ishikawa, K.; Saito, T.; Oshima, T.; Ando, T.; Aoki, H.; Tamaru, T.; Noguchi, J.;