Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Tada, T.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-777-1
By: Mori, S.; Yamada, K.; Todori, K.; Tada, T.; Yoshimura, R.; Maruyama, M.; Hotta, Y.; Yamagiwa, M.;
By: Mori, S.; Yamada, K.; Todori, K.; Tada, T.; Yoshimura, R.; Maruyama, M.; Hotta, Y.; Yamagiwa, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-418-3
By: Suzuki, K.; Bolotov, L.; Tada, T.; Nishizawa, M.; Sato, S.; Kanayama, T.; Fukuda, K.; Arimoto, H.;
By: Suzuki, K.; Bolotov, L.; Tada, T.; Nishizawa, M.; Sato, S.; Kanayama, T.; Fukuda, K.; Arimoto, H.;
1990 / IEEE / 0-8186-9064-X
By: Sawada, K.; Arakawa, T.; Hyozo, M.; Nakao, S.; Takagi, R.; Tada, T.; Ueda, M.;
By: Sawada, K.; Arakawa, T.; Hyozo, M.; Nakao, S.; Takagi, R.; Tada, T.; Ueda, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3541-4
By: Okuda, F.; Sakashita, N.; Kyuma, K.; Abe, H.; Yasuoka, A.; Shimomura, K.; Komori, S.; Tada, T.; Hamada, M.; Shimano, H.;
By: Okuda, F.; Sakashita, N.; Kyuma, K.; Abe, H.; Yasuoka, A.; Shimomura, K.; Komori, S.; Tada, T.; Hamada, M.; Shimano, H.;
2001 / IEEE / 0-7803-7169-0
By: Ohmura, R.; Furue, K.; Fujiwara, Y.; Sauvageau, A.; Mullins, M.; Nagura, Y.; Komoike, T.; Koda, Y.; Arimito, K.; Tada, T.; Dosaka, K.; Tanizaki, T.; Okitaka, T.;
By: Ohmura, R.; Furue, K.; Fujiwara, Y.; Sauvageau, A.; Mullins, M.; Nagura, Y.; Komoike, T.; Koda, Y.; Arimito, K.; Tada, T.; Dosaka, K.; Tanizaki, T.; Okitaka, T.;
2002 / IEEE
By: Nakazawa, H.; Okada, H.; Kudo, H.; Tada, T.; Mitsuhashi, K.; Chiba, A.; Wada, H.; Ohara, T.;
By: Nakazawa, H.; Okada, H.; Kudo, H.; Tada, T.; Mitsuhashi, K.; Chiba, A.; Wada, H.; Ohara, T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7542-4
By: Tomishima, S.; Gamo, K.; Tada, T.; Hidaka, H.; Maruta, M.; Niiro, M.; Tanizaki, H.;
By: Tomishima, S.; Gamo, K.; Tada, T.; Hidaka, H.; Maruta, M.; Niiro, M.; Tanizaki, H.;
1986 / IEEE
By: Shibata, H.; Sakashita, K.; Tada, T.; Shinoya, Y.; Kohara, M.; Tsutsumi, K.; Nakata, H.;
By: Shibata, H.; Sakashita, K.; Tada, T.; Shinoya, Y.; Kohara, M.; Tsutsumi, K.; Nakata, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7659-5
By: Onishi, Y.; Tada, T.; Nishi, H.; Hamada, H.; Muraoka, M.; Yoshida, K.; Hosokawa, T.;
By: Onishi, Y.; Tada, T.; Nishi, H.; Hamada, H.; Muraoka, M.; Yoshida, K.; Hosokawa, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8175-0
By: Tada, T.; Petrich, D.; Merschon, A.; Chakradhar, S.; Nishimura, Y.; Cheng-Wen Wu; Rajsuman, R.; Hatayama, K.;
By: Tada, T.; Petrich, D.; Merschon, A.; Chakradhar, S.; Nishimura, Y.; Cheng-Wen Wu; Rajsuman, R.; Hatayama, K.;
2004 / IEEE / 0-7695-2235-1
By: Yoneda, D.; Hashizume, M.; Tamesada, T.; Morita, I.; Koyama, T.; Tada, T.; Yotsuyanagi, H.;
By: Yoneda, D.; Hashizume, M.; Tamesada, T.; Morita, I.; Koyama, T.; Tada, T.; Yotsuyanagi, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-9361-9
By: Osaka, K.; Chiba, S.; Tanioka, T.; Kawanishi, C.; Nagamine, I.; Ren, F.; Takasaka, Y.; Tada, T.; Yamashita, R.; Kishimoto, M.; Nishimura, M.; Yamamoto, A.; Locsin, R.C.; Kuroiwa, S.;
By: Osaka, K.; Chiba, S.; Tanioka, T.; Kawanishi, C.; Nagamine, I.; Ren, F.; Takasaka, Y.; Tada, T.; Yamashita, R.; Kishimoto, M.; Nishimura, M.; Yamamoto, A.; Locsin, R.C.; Kuroiwa, S.;
2006 / IEEE
By: Inoue, Y.; Iseki, T.; Hirohata, N.; Mizukami, M.; Kurita, T.; Tokito, S.; Ohtawara, K.; Fujisaki, Y.; Suzuki, T.; Abe, T.; Yagyu, S.; Tada, T.;
By: Inoue, Y.; Iseki, T.; Hirohata, N.; Mizukami, M.; Kurita, T.; Tokito, S.; Ohtawara, K.; Fujisaki, Y.; Suzuki, T.; Abe, T.; Yagyu, S.; Tada, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1610-3
By: Osaka, K.; Takasaka, Y.; Tanioka, T.; Mifune, K.; Matsumoto, K.; Kawamura, A.; Kawada, H.; Tada, T.; Ren, F.; Matsuda, T.; Kataoka, M.; Locsin, R.C.; Ueno, S.;
By: Osaka, K.; Takasaka, Y.; Tanioka, T.; Mifune, K.; Matsumoto, K.; Kawamura, A.; Kawada, H.; Tada, T.; Ren, F.; Matsuda, T.; Kataoka, M.; Locsin, R.C.; Ueno, S.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2918-9
By: Oana, H.; Tsuda, K.; Kurosawa, O.; Techaumnat, B.; Kotera, H.; Kimura, Y.; Washizu, M.; Gel, M.; Tada, T.;
By: Oana, H.; Tsuda, K.; Kurosawa, O.; Techaumnat, B.; Kotera, H.; Kimura, Y.; Washizu, M.; Gel, M.; Tada, T.;
2011 / IEEE
By: Hitomi, K.; Ishii, K.; Yamazaki, H.; Shoji, T.; Tada, T.; Wu, Y.; Kim, S.; Tanaka, T.;
By: Hitomi, K.; Ishii, K.; Yamazaki, H.; Shoji, T.; Tada, T.; Wu, Y.; Kim, S.; Tanaka, T.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Hitomi, K.; Tanaka, T.; Ishii, K.; Yamazaki, H.; Tada, T.; Shoji, T.; Yan Wu; Seong-Yun Kim;
By: Hitomi, K.; Tanaka, T.; Ishii, K.; Yamazaki, H.; Tada, T.; Shoji, T.; Yan Wu; Seong-Yun Kim;