Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sundaresan, R.
Results
1990 / IEEE
By: Sundaresan, R.; Rodder, M.; Tasch, A.; Kwong, D.; Banerjee, S.; Park, K.; Batra, S.;
By: Sundaresan, R.; Rodder, M.; Tasch, A.; Kwong, D.; Banerjee, S.; Park, K.; Batra, S.;
1989 / IEEE
By: Liu, J.; Bailey, W.E.; Matloubiam, M.; Sundaresan, R.; Hite, L.R.; Peterson, A.; Mei, P.; Lu, H.; Houston, T.W.; Blake, T.G.W.; Pollack, G.;
By: Liu, J.; Bailey, W.E.; Matloubiam, M.; Sundaresan, R.; Hite, L.R.; Peterson, A.; Mei, P.; Lu, H.; Houston, T.W.; Blake, T.G.W.; Pollack, G.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Wei, C.; Blanton, C.; Eklund, R.; Haken, R.; Scott, D.; Sundaresan, R.; Havemann, R.; Suzuki, T.; Chapman, R.; Tran, H.; Rao, V.; Terazawa, H.; Graham, J.; Rodder, M.; Holloway, T.;
By: Wei, C.; Blanton, C.; Eklund, R.; Haken, R.; Scott, D.; Sundaresan, R.; Havemann, R.; Suzuki, T.; Chapman, R.; Tran, H.; Rao, V.; Terazawa, H.; Graham, J.; Rodder, M.; Holloway, T.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Batra, S.; Sundaresan, R.; Rodder, M.; Tasch, A.; Kwong, D.; Maziar, C.; Banerjee, S.; Bhattacharya, S.; Kyono, C.; Park, K.;
By: Batra, S.; Sundaresan, R.; Rodder, M.; Tasch, A.; Kwong, D.; Maziar, C.; Banerjee, S.; Bhattacharya, S.; Kyono, C.; Park, K.;
1988 / IEEE
By: Bean, K.; Malhi, S.; Shen, C.C.; Anderson, M.; Sundaresan, R.; Smith, J.; Yeakley, D.; Lindberg, K.; Gopffarth, G.;
By: Bean, K.; Malhi, S.; Shen, C.C.; Anderson, M.; Sundaresan, R.; Smith, J.; Yeakley, D.; Lindberg, K.; Gopffarth, G.;
1988 / IEEE
By: Sundaresan, R.; Pollack, G.P.; Peterson, A.; Blake, T.G.W.; Mao, B.; Bailey, W.E.; Chen, C.-E.; Matloubian, M.;
By: Sundaresan, R.; Pollack, G.P.; Peterson, A.; Blake, T.G.W.; Mao, B.; Bailey, W.E.; Chen, C.-E.; Matloubian, M.;
1990 / IEEE / 0-87942-573-3
By: Lawrence, R.K.; Sundaresan, R.; Pollack, G.; Shontz, G.J.; Campisi, G.J.;
By: Lawrence, R.K.; Sundaresan, R.; Pollack, G.; Shontz, G.J.; Campisi, G.J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0036-X
By: Hodges, R.L.; Gaskins, W.; Miller, R.O.; Chen, F.S.; Zamanian, M.; Wei, C.C.; Sundaresan, R.; Liou, F.T.; Bryant, F.; Lin, Y.S.; Lu, L.; Stagaman, G.S.; Spinner, C.; Huang, J.; Nguyen, L.; Sagarwala, P.;
By: Hodges, R.L.; Gaskins, W.; Miller, R.O.; Chen, F.S.; Zamanian, M.; Wei, C.C.; Sundaresan, R.; Liou, F.T.; Bryant, F.; Lin, Y.S.; Lu, L.; Stagaman, G.S.; Spinner, C.; Huang, J.; Nguyen, L.; Sagarwala, P.;
1991 / IEEE
By: Sundaresan, R.; Wei, C.C.; Liou, F.T.; Bryant, F.; Lin, Y.S.; Hata, W.; Stagaman, G.S.; Spinner, C.; Huang, J.; Nguyen, L.; Sagarwala, P.; Gaskins, W.; Hodges, R.L.; Zamanian, M.; Chen, F.S.; Miller, R.O.;
By: Sundaresan, R.; Wei, C.C.; Liou, F.T.; Bryant, F.; Lin, Y.S.; Hata, W.; Stagaman, G.S.; Spinner, C.; Huang, J.; Nguyen, L.; Sagarwala, P.; Gaskins, W.; Hodges, R.L.; Zamanian, M.; Chen, F.S.; Miller, R.O.;
1998 / IEEE / 0-7803-4881-8
By: Cronquist, B.; Lambertson, R.; Issaq, F.; Hawley, F.; McCollum, J.; Shih, C.; Zhao, T.; Sundaresan, R.; Chan, L.; Koh, G.; Say, G.; Liao, M.; Chern, C.; Yang, Z.; Hamdy, E.;
By: Cronquist, B.; Lambertson, R.; Issaq, F.; Hawley, F.; McCollum, J.; Shih, C.; Zhao, T.; Sundaresan, R.; Chan, L.; Koh, G.; Say, G.; Liao, M.; Chern, C.; Yang, Z.; Hamdy, E.;
1985 / IEEE
By: Sundaresan, R.; Chatterjiee, P.K.; Banerjee, S.K.; Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Hon Wai Lam; Elahy, M.; Womack, R.H.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.;
By: Sundaresan, R.; Chatterjiee, P.K.; Banerjee, S.K.; Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Hon Wai Lam; Elahy, M.; Womack, R.H.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Richardson, W.F.; Pollack, G.P.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Converse, A.K.; Roberts, A.D.; Kalin, N.H.; Nickles, R.J.; Dallas, C.B.; Sundaresan, R.; Avila-Rodriguez, M.A.; Dick, D.W.; Barnhart, T.E.; Nye, J.A.;
By: Converse, A.K.; Roberts, A.D.; Kalin, N.H.; Nickles, R.J.; Dallas, C.B.; Sundaresan, R.; Avila-Rodriguez, M.A.; Dick, D.W.; Barnhart, T.E.; Nye, J.A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Barnhart, T.E.; Converse, A.K.; Nye, J.A.; Roberts, A.D.; Nickles, R.J.; Avila-Rodriguez, M.A.; Thomadsen, B.R.; Hammas, R.J.; Dick, D.W.; Sundaresan, R.;
By: Barnhart, T.E.; Converse, A.K.; Nye, J.A.; Roberts, A.D.; Nickles, R.J.; Avila-Rodriguez, M.A.; Thomadsen, B.R.; Hammas, R.J.; Dick, D.W.; Sundaresan, R.;
1984 / IEEE
By: Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Chatterjee, P.K.; Lam, H.W.; Womack, R.H.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Banerjee, S.K.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.;
By: Shichijo, H.; Malhi, S.D.S.; Chatterjee, P.K.; Lam, H.W.; Womack, R.H.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Banerjee, S.K.; Hite, L.R.; Shah, A.H.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.;
1985 / IEEE
By: Malhi, S.D.S.; Shichijo, H.; Lam, H.W.; Chatterjee, P.K.; Womack, R.H.; Banerjee, S.K.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.; Shah, A.H.; Hite, L.R.;
By: Malhi, S.D.S.; Shichijo, H.; Lam, H.W.; Chatterjee, P.K.; Womack, R.H.; Banerjee, S.K.; Sundaresan, R.; Elahy, M.; Pollack, G.P.; Richardson, W.F.; Shah, A.H.; Hite, L.R.;
1985 / IEEE
By: Lam, H.W.; Malhi, S.D.S.; Sundaresan, R.; Hite, L.R.; Chatterjee, P.K.; Hester, R.K.; Shah, A.H.;
By: Lam, H.W.; Malhi, S.D.S.; Sundaresan, R.; Hite, L.R.; Chatterjee, P.K.; Hester, R.K.; Shah, A.H.;
1986 / IEEE
By: Chen, C.-E.; Matloubian, M.; Mao, B.-Y.; Sundaresan, R.; Slawinski, C.; Lam, H.W.; Blake, T.G.W.; Hester, R.K.; Hite, L.R.;
By: Chen, C.-E.; Matloubian, M.; Mao, B.-Y.; Sundaresan, R.; Slawinski, C.; Lam, H.W.; Blake, T.G.W.; Hester, R.K.; Hite, L.R.;