Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sugiura, H.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Nojima, M.; Tanaka, R.; Katsuda, K.; Yagitani, S.; Sugiura, H.; Yoshimura, Y.;
By: Nojima, M.; Tanaka, R.; Katsuda, K.; Yagitani, S.; Sugiura, H.; Yoshimura, Y.;
1993 / IEEE
By: Hayakawa, Y.; Takahashi, H.; Michiki, K.-i.; Sugiura, H.; Hasegawa, K.-i.; Inada, T.;
By: Hayakawa, Y.; Takahashi, H.; Michiki, K.-i.; Sugiura, H.; Hasegawa, K.-i.; Inada, T.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Mochiki, K.; Sugiura, H.; Hasegawa, K.; Inada, T.; Hayakawa, Y.; Takahashi, H.;
By: Mochiki, K.; Sugiura, H.; Hasegawa, K.; Inada, T.; Hayakawa, Y.; Takahashi, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-0993-6
By: Carlin, J.F.; Rudra, A.; Sugiura, H.; Ilegems, M.; Ling, J.; Araujo, D.;
By: Carlin, J.F.; Rudra, A.; Sugiura, H.; Ilegems, M.; Ling, J.; Araujo, D.;
1994 / IEEE / 0-7803-1754-8
By: Kume, M.; Naito, H.; Sugiura, H.; Imafuji, O.; Itoh, K.; Yuri, M.; Harris, J.S., Jr.; Takayama, T.; Baba, T.;
By: Kume, M.; Naito, H.; Sugiura, H.; Imafuji, O.; Itoh, K.; Yuri, M.; Harris, J.S., Jr.; Takayama, T.; Baba, T.;
1994 / IEEE / 0-7803-1754-8
By: Imafuji, O.; Takayama, T.; Itoh, K.; Yoshikawa, A.; Kume, M.; Naito, H.; Yuri, M.; Sugiura, H.;
By: Imafuji, O.; Takayama, T.; Itoh, K.; Yoshikawa, A.; Kume, M.; Naito, H.; Yuri, M.; Sugiura, H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2147-2
By: Sugiura, H.; Potemski, M.; Weman, H.; Notomi, M.; Hammersberg, J.; Tamamura, T.; Okamoto, M.;
By: Sugiura, H.; Potemski, M.; Weman, H.; Notomi, M.; Hammersberg, J.; Tamamura, T.; Okamoto, M.;
Characterization of InAsP/InGaAsP strained MQW crystals for 1.3/spl mu/m-wavelength laser diodes usi
1995 / IEEE / 0-7803-2147-2By: Sugiura, H.; Nakao, M.;
1996 / IEEE
By: Shikawa, S.; Maemura, Y.; Kuno, T.; Sugiura, H.; Yoshikawa, S.; Okuno, Y.; Asakawa, K.; Nagayama, T.; Inamura, M.; Someya, J.; Watabu, K.; Tamano, K.; Ishida, K.; Ishitani, H.;
By: Shikawa, S.; Maemura, Y.; Kuno, T.; Sugiura, H.; Yoshikawa, S.; Okuno, Y.; Asakawa, K.; Nagayama, T.; Inamura, M.; Someya, J.; Watabu, K.; Tamano, K.; Ishida, K.; Ishitani, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-3734-4
By: Kuno, T.; Sugiura, H.; Matoba, N.; Kakuta, Y.; Asakawa, K.; Oka, S.;
By: Kuno, T.; Sugiura, H.; Matoba, N.; Kakuta, Y.; Asakawa, K.; Oka, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5569-5
By: Kagami, T.; Sugiura, H.; Inukai, M.; Takeuchi, A.; Serizawa, Y.; Hori, M.; Sugaya, N.; Imamura, H.;
By: Kagami, T.; Sugiura, H.; Inukai, M.; Takeuchi, A.; Serizawa, Y.; Hori, M.; Sugaya, N.; Imamura, H.;
2005 / IEEE / 0-7695-2448-6
By: Kawata, S.; Kikuchi, T.; Teramoto, T.; Hayase, Y.; Saitoh, Y.; Sugiura, H.; Fuju, H.;
By: Kawata, S.; Kikuchi, T.; Teramoto, T.; Hayase, Y.; Saitoh, Y.; Sugiura, H.; Fuju, H.;
2006 / IEEE / 0-7803-9451-8
By: Kato, T.; Kobayashi, M.; Matsumoto, Y.; Sugiura, H.; Eda, T.; Nishimura, T.; Miki, T.; Yamauchi, H.;
By: Kato, T.; Kobayashi, M.; Matsumoto, Y.; Sugiura, H.; Eda, T.; Nishimura, T.; Miki, T.; Yamauchi, H.;
2006 / IEEE / 0-7695-2734-5
By: Kikuchi, T.; Kanazawa, H.; Miyahara, Y.; Yamada, M.; Usami, H.; Hayase, Y.; Saitoh, Y.; Sugiura, H.; Kawata, S.; Fuju, H.;
By: Kikuchi, T.; Kanazawa, H.; Miyahara, Y.; Yamada, M.; Usami, H.; Hayase, Y.; Saitoh, Y.; Sugiura, H.; Kawata, S.; Fuju, H.;
2007 / IEEE / 1-4244-0602-1
By: Bolder, B.; Goerick, C.; Sugiura, H.; Janssen, H.; Gienger, M.; Dunn, M.;
By: Bolder, B.; Goerick, C.; Sugiura, H.; Janssen, H.; Gienger, M.; Dunn, M.;
2008 / IEEE / 978-4-907764-30-2
By: Shirahata, T.; Nakamura, H.; Tanaka, T.; Kobayashi, R.; Sugiura, H.;
By: Shirahata, T.; Nakamura, H.; Tanaka, T.; Kobayashi, R.; Sugiura, H.;
2008 / IEEE / 978-4-907764-30-2
By: Tanaka, T.; Tan Kok Liang; Sugiura, H.; Shirahata, T.; Nakamura, H.;
By: Tanaka, T.; Tan Kok Liang; Sugiura, H.; Shirahata, T.; Nakamura, H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1861-9
By: Kirstein, S.; Wersing, H.; Rodemann, T.; Mikhailova, I.; Dunn, M.; Goerick, C.; Sugiura, H.; Gienger, M.; Janssen, H.; Bolder, B.;
By: Kirstein, S.; Wersing, H.; Rodemann, T.; Mikhailova, I.; Dunn, M.; Goerick, C.; Sugiura, H.; Gienger, M.; Janssen, H.; Bolder, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2940-0
By: Tanaka, T.; Tan Kok Liang; Sugiura, H.; Shirahata, T.; Nakamura, H.;
By: Tanaka, T.; Tan Kok Liang; Sugiura, H.; Shirahata, T.; Nakamura, H.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5827-1
By: Tanaka, T.; Tan Kok Liang; Sugiura, H.; Shirahata, T.; Nakamura, H.;
By: Tanaka, T.; Tan Kok Liang; Sugiura, H.; Shirahata, T.; Nakamura, H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6551-4
By: Tanaka, T.; Serizawa, Y.; Ohba, E.; Hironaka, Y.; Kimura, Y.; Shono, T.; Sugiura, H.; Fujikawa, F.;
By: Tanaka, T.; Serizawa, Y.; Ohba, E.; Hironaka, Y.; Kimura, Y.; Shono, T.; Sugiura, H.; Fujikawa, F.;