Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sugano, K.
Results
2012 / IEEE
By: Sugano, K.; Fath El Bab, A.M.R.; Sallam, M.M.; Eltaib, M.E.H.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.;
By: Sugano, K.; Fath El Bab, A.M.R.; Sallam, M.M.; Eltaib, M.E.H.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-777-1
By: Nakata, A.; Yoshimune, H.; Sugano, K.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Hirai, Y.;
By: Nakata, A.; Yoshimune, H.; Sugano, K.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Hirai, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-777-1
By: Makino, Y.; Nakai, Y.; Hirai, Y.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.;
By: Makino, Y.; Nakai, Y.; Hirai, Y.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-777-1
By: Chunmei Huang; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Endo, M.; Gwo-Bin Lee; Chen-Hsun Weng; Sugiyama, H.; Saeki, T.;
By: Chunmei Huang; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Endo, M.; Gwo-Bin Lee; Chen-Hsun Weng; Sugiyama, H.; Saeki, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2955-4
By: Kamozaki, K.; Tanaka, S.; Hase, E.; Nakajima, A.; Fujioka, T.; Sugano, K.; Kondoh, H.; Fujiwara, K.; Okamoto, T.; Sato, K.; Shigeno, Y.; Arai, I.; Yamane, M.; Imakado, Y.;
By: Kamozaki, K.; Tanaka, S.; Hase, E.; Nakajima, A.; Fujioka, T.; Sugano, K.; Kondoh, H.; Fujiwara, K.; Okamoto, T.; Sato, K.; Shigeno, Y.; Arai, I.; Yamane, M.; Imakado, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2495-1
By: Arai, I.; Yamane, M.; Shigeno, Y.; Okamoto, T.; Fujiwara, K.; Sato, K.; Imakado, Y.; Fujioka, T.; Sugano, K.; Nakajima, A.; Hase, E.; Tanaka, S.; Koya, M.; Nakagawa, J.; Sakamoto, K.; Kusano, C.;
By: Arai, I.; Yamane, M.; Shigeno, Y.; Okamoto, T.; Fujiwara, K.; Sato, K.; Imakado, Y.; Fujioka, T.; Sugano, K.; Nakajima, A.; Hase, E.; Tanaka, S.; Koya, M.; Nakagawa, J.; Sakamoto, K.; Kusano, C.;
2005 / IEEE / 0-7803-9009-1
By: Ono, T.; Nakamura, K.; Ichinokura, O.; Goto, H.; Watanabe, T.; Sugano, K.;
By: Ono, T.; Nakamura, K.; Ichinokura, O.; Goto, H.; Watanabe, T.; Sugano, K.;
2006 / IEEE / 0-7803-9475-5
By: Sugano, K.; Sasabe, A.; Yoshikawa, W.; Ishida, A.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.;
By: Sugano, K.; Sasabe, A.; Yoshikawa, W.; Ishida, A.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-1479-2
By: Sato, T.; Yoshizawa, D.; Maedako, M.; Matsuki, H.; Sato, F.; Sugano, K.; Handa, Y.;
By: Sato, T.; Yoshizawa, D.; Maedako, M.; Matsuki, H.; Sato, F.; Sugano, K.; Handa, Y.;
1981 / IEEE
By: Sakai, Y.; Brown, B. C.; Hanson, J.; Sugano, K.; Finley, D.; Maki, A.; Jostlein, H.; Ito, A.; Hemmi, Y.;
By: Sakai, Y.; Brown, B. C.; Hanson, J.; Sugano, K.; Finley, D.; Maki, A.; Jostlein, H.; Ito, A.; Hemmi, Y.;
1981 / IEEE
By: Maki, A.; Brown, B. C.; Sakai, Y.; Sugano, K.; Finley, D.; Jostlein, H.; Ito, A.; Hemmi, Y.; Hanson, J.;
By: Maki, A.; Brown, B. C.; Sakai, Y.; Sugano, K.; Finley, D.; Jostlein, H.; Ito, A.; Hemmi, Y.; Hanson, J.;
1983 / IEEE
By: Glass, H.; Adams, M.; Young, K.; Rutherfoord, J.; Rothberg, J.; Plaag, R.; Gray, R.; Sakai, Y.; Sasao, N.; Nakamura, T.; Miyake, K.; Hemmi, Y.; Maki, A.; Ueno, K.; Bastin, A.; Coutrakon, G.; Jaffe, D.; Kirz, J.; McCarthy, R.; Hubbard, J. R.; Mangeot, Ph.; Mullie, J.; Peisert, A.; Tichit, J.; Bouclier, R.; Charpak, G.; Santiard, J. C.; Sauli, F.; Crittenden, J.; Hsiung, Y.; Kaplan, D.; Brown, C.; Childress, S.; Finley, D.; Ito, A.; Jonckheere, A.; Jostlein, H.; Lederman, L.; Orava, R.; Smith, S.; Sugano, K.;
By: Glass, H.; Adams, M.; Young, K.; Rutherfoord, J.; Rothberg, J.; Plaag, R.; Gray, R.; Sakai, Y.; Sasao, N.; Nakamura, T.; Miyake, K.; Hemmi, Y.; Maki, A.; Ueno, K.; Bastin, A.; Coutrakon, G.; Jaffe, D.; Kirz, J.; McCarthy, R.; Hubbard, J. R.; Mangeot, Ph.; Mullie, J.; Peisert, A.; Tichit, J.; Bouclier, R.; Charpak, G.; Santiard, J. C.; Sauli, F.; Crittenden, J.; Hsiung, Y.; Kaplan, D.; Brown, C.; Childress, S.; Finley, D.; Ito, A.; Jonckheere, A.; Jostlein, H.; Lederman, L.; Orava, R.; Smith, S.; Sugano, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1792-6
By: Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Tanemura, T.; Kusakabe, T.; Higuchi, Y.;
By: Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Tanemura, T.; Kusakabe, T.; Higuchi, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1792-6
By: Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Higuchi, Y.; Tanemura, T.; Kusakabe, T.; Tabata, O.;
By: Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Higuchi, Y.; Tanemura, T.; Kusakabe, T.; Tabata, O.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1792-6
By: Kusakabe, T.; Higuchi, Y.; Tanemura, T.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.;
By: Kusakabe, T.; Higuchi, Y.; Tanemura, T.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2977-6
By: Fujita, M.; Lopez, G.; Tanemura, T.; Maeda, M.; Sato, R.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.;
By: Fujita, M.; Lopez, G.; Tanemura, T.; Maeda, M.; Sato, R.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Sugano, K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6545-3
By: Hirai, Y.; Saeki, T.; Sato, R.; Tanemura, T.; Lopez, G.; Sugano, K.; Fujita, M.; Maeda, M.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.;
By: Hirai, Y.; Saeki, T.; Sato, R.; Tanemura, T.; Lopez, G.; Sugano, K.; Fujita, M.; Maeda, M.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9634-1
By: Tsuchiya, T.; Ikehara, T.; Tabata, O.; Sugano, K.; Hirai, Y.; Taniyama, A.;
By: Tsuchiya, T.; Ikehara, T.; Tabata, O.; Sugano, K.; Hirai, Y.; Taniyama, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0156-6
By: Tsuchiya, T.; Hirai, Y.; Nakata, A.; Yoshimune, H.; Sugano, K.; Tabata, O.;
By: Tsuchiya, T.; Hirai, Y.; Nakata, A.; Yoshimune, H.; Sugano, K.; Tabata, O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0156-6
By: Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Yagyu, H.; Makino, Y.; Uesugi, A.; Hirai, Y.; Tabata, O.;
By: Tsuchiya, T.; Sugano, K.; Yagyu, H.; Makino, Y.; Uesugi, A.; Hirai, Y.; Tabata, O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0156-6
By: Peukert, W.; Voigt, M.; Klaumunzer, M.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Hiraoka, R.; Sugano, K.;
By: Peukert, W.; Voigt, M.; Klaumunzer, M.; Tabata, O.; Tsuchiya, T.; Hiraoka, R.; Sugano, K.;