Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Stephan, R.
Results
2012 / IEEE / 978-3-9812668-4-9
By: Vogt, G.; Kaleem, S.; Humbla, S.; Hein, M.A.; Muller, J.; Trabert, J.F.; Stopel, D.; Stephan, R.; Rentsch, S.;
By: Vogt, G.; Kaleem, S.; Humbla, S.; Hein, M.A.; Muller, J.; Trabert, J.F.; Stopel, D.; Stephan, R.; Rentsch, S.;
2012 / IEEE / 978-3-9812668-4-9
By: Khan, M.A.; Kurz, L.; Schafer, E.; Hein, M.A.; Stephan, R.; Richter, A.; Irteza, S.; Kappen, G.; Antreich, F.; Sgammini, M.; Caizzone, S.; Dreher, A.; Basta, N.; Noll, T.G.;
By: Khan, M.A.; Kurz, L.; Schafer, E.; Hein, M.A.; Stephan, R.; Richter, A.; Irteza, S.; Kappen, G.; Antreich, F.; Sgammini, M.; Caizzone, S.; Dreher, A.; Basta, N.; Noll, T.G.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Ariza, A.P.G.; Stephan, R.; Muller, R.; Wollenschlager, F.; Schulz, A.; Hein, M.A.; Muller, J.; Thoma, R.S.;
By: Ariza, A.P.G.; Stephan, R.; Muller, R.; Wollenschlager, F.; Schulz, A.; Hein, M.A.; Muller, J.; Thoma, R.S.;
A dual-band multimode monopulse tracking antenna for land-mobile satellite communications in Ka-band
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3By: Bayer, H.; Hein, M.A.; Stephan, R.; Krauss, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7787-7
By: Trasser, A.; Kibbel, H.; Behammer, D.; Birk, M.; Schad, K.-B.; Abele, P.; Schumacher, H.; Stephan, R.; Sonmez, E.;
By: Trasser, A.; Kibbel, H.; Behammer, D.; Birk, M.; Schad, K.-B.; Abele, P.; Schumacher, H.; Stephan, R.; Sonmez, E.;
2003 / IEEE / 1-58053-834-7
By: Hein, M.; Balling, S.; Thoma, R.; Stephan, R.; Sommerkorn, G.; Hennhofer, M.;
By: Hein, M.; Balling, S.; Thoma, R.; Stephan, R.; Sommerkorn, G.; Hennhofer, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8528-4
By: Burbach, G.; Gerhardt, M.; Frohberg, K.; Wei, A.; Feudel, T.; Greenlaw, D.; Horstmann, M.; Kepler, N.; Raab, M.; Krishnan, S.; Buller, J.; Cheek, J.; Schwan, C.; Grasshoff, G.; van Bentum, R.; Luning, S.; Huebler, P.; Klais, J.; Ruelke, H.; Hohage, J.; Schaller, M.; Wieczorek, K.; Stephan, R.; Lenski, M.;
By: Burbach, G.; Gerhardt, M.; Frohberg, K.; Wei, A.; Feudel, T.; Greenlaw, D.; Horstmann, M.; Kepler, N.; Raab, M.; Krishnan, S.; Buller, J.; Cheek, J.; Schwan, C.; Grasshoff, G.; van Bentum, R.; Luning, S.; Huebler, P.; Klais, J.; Ruelke, H.; Hohage, J.; Schaller, M.; Wieczorek, K.; Stephan, R.; Lenski, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8499-7
By: Cimalla, V.; Foerster, C.; Hein, M.A.; Stephan, R.; Brueckner, K.; Ambacher, O.; Cengher, D.; Lebedev, V.;
By: Cimalla, V.; Foerster, C.; Hein, M.A.; Stephan, R.; Brueckner, K.; Ambacher, O.; Cengher, D.; Lebedev, V.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;
2005 / IEEE
By: Wright, M.; Bell, S.; Dakshina-Murthy, S.; McGowan, S.; Klais, J.; Romero, K.; Ruelke, H.; Mazur, M.; Grasshoff, G.; Stephan, R.; Huy, K.;
By: Wright, M.; Bell, S.; Dakshina-Murthy, S.; McGowan, S.; Klais, J.; Romero, K.; Ruelke, H.; Mazur, M.; Grasshoff, G.; Stephan, R.; Huy, K.;
2005 / IEEE / 2-9600551-2-8
By: Muller, J.; Hein, M.A.; Trabert, J.F.; Thusf, H.; Stephan, R.; Perrone, R.A.;
By: Muller, J.; Hein, M.A.; Trabert, J.F.; Thusf, H.; Stephan, R.; Perrone, R.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Horstmann, M.; Wei, A.; Kammler, T.; Hontschel, J.; Bierstedt, H.; Feudel, T.; Frohberg, K.; Gerhardt, M.; Hellmich, A.; Hempel, K.; Hohage, J.; Javorka, P.; Klais, J.; Koerner, G.; Lenski, M.; Neu, A.; Otterbach, R.; Press, P.; Reichel, C.; Trentsch, M.; Trui, B.; Salz, H.; Schaller, M.; Engelmann, H.-J.; Herzog, O.; Ruelke, H.; Hubler, P.; Stephan, R.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Chen, H.; Chidambarrao, D.; Fried, D.; Holt, J.; Lee, W.; Nii, H.; Panda, S.; Sato, T.; Waite, A.; Liming, S.; Rim, K.; Schepis, D.; Khare, M.; Huang, S.F.; Pellerin, J.; Su, L.T.;
By: Horstmann, M.; Wei, A.; Kammler, T.; Hontschel, J.; Bierstedt, H.; Feudel, T.; Frohberg, K.; Gerhardt, M.; Hellmich, A.; Hempel, K.; Hohage, J.; Javorka, P.; Klais, J.; Koerner, G.; Lenski, M.; Neu, A.; Otterbach, R.; Press, P.; Reichel, C.; Trentsch, M.; Trui, B.; Salz, H.; Schaller, M.; Engelmann, H.-J.; Herzog, O.; Ruelke, H.; Hubler, P.; Stephan, R.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Chen, H.; Chidambarrao, D.; Fried, D.; Holt, J.; Lee, W.; Nii, H.; Panda, S.; Sato, T.; Waite, A.; Liming, S.; Rim, K.; Schepis, D.; Khare, M.; Huang, S.F.; Pellerin, J.; Su, L.T.;
2005 / IEEE / 2-9600551-2-8
By: Ambacher, O.; Forster, Ch.; Cimalla, V.; Tonisch, K.; Stephan, R.; Brueckner, K.; Hein, M.A.; Blau, K.;
By: Ambacher, O.; Forster, Ch.; Cimalla, V.; Tonisch, K.; Stephan, R.; Brueckner, K.; Hein, M.A.; Blau, K.;
2005 / IEEE / 88-902012-0-7
By: Blau, K.; Stephan, R.; Ambacher, A.; Cimalla, V.; Hein, M.A.; Forster, C.; Brueckner, K.; Tonisch, K.;
By: Blau, K.; Stephan, R.; Ambacher, A.; Cimalla, V.; Hein, M.A.; Forster, C.; Brueckner, K.; Tonisch, K.;
2006 / IEEE
By: Esfahani, F.; Burdenski, R.; Basedau, P.; Bode, P.; Becker, R.; Groeneweg, W.; Baggini, B.; Stephan, R.; Ryter, R.; Lampe, A.; Helfenstein, M.;
By: Esfahani, F.; Burdenski, R.; Basedau, P.; Bode, P.; Becker, R.; Groeneweg, W.; Baggini, B.; Stephan, R.; Ryter, R.; Lampe, A.; Helfenstein, M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0552-1
By: Drue, K.-H.; Kutscher, C.; Perrone, R.; Muller, J.; Molke, A.; Baras, T.; Jacob, A.F.; Uhlig, P.; Kulke, R.; Thust, H.; Reppe, G.; Pohlner, J.; Schwanke, D.; Hein, M.; Trabert, J.; Stephan, R.;
By: Drue, K.-H.; Kutscher, C.; Perrone, R.; Muller, J.; Molke, A.; Baras, T.; Jacob, A.F.; Uhlig, P.; Kulke, R.; Thust, H.; Reppe, G.; Pohlner, J.; Schwanke, D.; Hein, M.; Trabert, J.; Stephan, R.;
2007 / IEEE / 978-3-00-021644-2
By: Stephan, R.; Rentsch, S.; Alhouri, L.; Hein, M.A.; Muller, J.; Trabert, J.F.;
By: Stephan, R.; Rentsch, S.; Alhouri, L.; Hein, M.A.; Muller, J.; Trabert, J.F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1261-7
By: Niebelschutz, F.; Cimalla, V.; Bruckner, K.; Hein, M.A.; Ambacher, O.; Tonisch, K.; Stephan, R.;
By: Niebelschutz, F.; Cimalla, V.; Bruckner, K.; Hein, M.A.; Ambacher, O.; Tonisch, K.; Stephan, R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0660-9
By: Baykal, E.; Mueller, K.; Owzar, A.; Helfenstein, M.; Stephan, R.;
By: Baykal, E.; Mueller, K.; Owzar, A.; Helfenstein, M.; Stephan, R.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2216-6
By: Helbig, M.; Schwarz, U.; Hein, M.A.; Thiel, F.; Stephan, R.; Seifert, F.; Sachs, J.;
By: Helbig, M.; Schwarz, U.; Hein, M.A.; Thiel, F.; Stephan, R.; Seifert, F.; Sachs, J.;
2008 / IEEE / 978-1-58537-146-4
By: de Jong, P.; Mrcarica, Z.; Smedes, T.; Notermans, G.; Maksimovic, D.; van Zwol, H.; Stephan, R.;
By: de Jong, P.; Mrcarica, Z.; Smedes, T.; Notermans, G.; Maksimovic, D.; van Zwol, H.; Stephan, R.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Hoentschel, J.; Horstmann, M.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Shi, P.; Kammler, T.; Huebler, P.; Stephan, R.; Stenzel, R.; Klix, W.; Herrmann, T.; Krueger, C.; Muehle, S.; Poock, A.; Lingner, T.; Feudel, T.; Mulfinger, R.; Scheiper, T.; Gehring, A.; Wiatr, M.; Wei, A.;
By: Hoentschel, J.; Horstmann, M.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Shi, P.; Kammler, T.; Huebler, P.; Stephan, R.; Stenzel, R.; Klix, W.; Herrmann, T.; Krueger, C.; Muehle, S.; Poock, A.; Lingner, T.; Feudel, T.; Mulfinger, R.; Scheiper, T.; Gehring, A.; Wiatr, M.; Wei, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2977-6
By: Tonisch, K.; Niebelschuetz, F.; Brueckner, K.; Hein, M.A.; Ambacher, O.; Cimalla, V.; Stephan, R.;
By: Tonisch, K.; Niebelschuetz, F.; Brueckner, K.; Hein, M.A.; Ambacher, O.; Cimalla, V.; Stephan, R.;
2009 / IEEE / 978-3-9812668-0-1
By: Stephan, R.; Muller, J.; Humbla, S.; Drue, K.-H.; Stopel, D.; Hein, M.A.; Vogt, G.; Trabert, J.F.;
By: Stephan, R.; Muller, J.; Humbla, S.; Drue, K.-H.; Stopel, D.; Hein, M.A.; Vogt, G.; Trabert, J.F.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4753-4
By: Wollenschlager, F.; Hein, M.A.; Stephan, R.; Muller, J.; Rentsch, S.; Xia, L.; Alhouri, L.;
By: Wollenschlager, F.; Hein, M.A.; Stephan, R.; Muller, J.; Rentsch, S.; Xia, L.; Alhouri, L.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4753-4
By: Schwarz, U.; Sachs, J.; Hilger, I.; Helbig, M.; Seifert, F.; Hein, M.A.; Thiel, F.; Geyer, C.; Stephan, R.;
By: Schwarz, U.; Sachs, J.; Hilger, I.; Helbig, M.; Seifert, F.; Hein, M.A.; Thiel, F.; Geyer, C.; Stephan, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4748-0
By: Trabert, J.F.; Stopel, D.; Stephan, R.; Muller, J.; Humbla, S.; Hein, M.A.; Vogt, G.;
By: Trabert, J.F.; Stopel, D.; Stephan, R.; Muller, J.; Humbla, S.; Hein, M.A.; Vogt, G.;
2010 / IEEE
By: Baggini, B.; Basedau, P.; Stephan, R.; Ryter, R.; Lampe, A.; Helfenstein, M.; Groeneweg, W.; Esfahani, F.; Bode, P.; Becker, R.;
By: Baggini, B.; Basedau, P.; Stephan, R.; Ryter, R.; Lampe, A.; Helfenstein, M.; Groeneweg, W.; Esfahani, F.; Bode, P.; Becker, R.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6431-9
By: Keip, C.; Eberlein, E.; Heuberger, A.; Kraus, A.; Volmer, C.; Stephan, R.; Mehnert, M.; Bayer, H.; Hein, M.; Volkert, T.; Driess, P.; Mitschele-Thiel, A.;
By: Keip, C.; Eberlein, E.; Heuberger, A.; Kraus, A.; Volmer, C.; Stephan, R.; Mehnert, M.; Bayer, H.; Hein, M.; Volkert, T.; Driess, P.; Mitschele-Thiel, A.;
2011 / IEEE / 978-88-8202-074-3
By: Hein, M.A.; Thoma, R.S.; Ariza, A.P.G.; Muller, R.; Wollenschlager, F.; Lei Xia; Stephan, R.; Muller, J.;
By: Hein, M.A.; Thoma, R.S.; Ariza, A.P.G.; Muller, R.; Wollenschlager, F.; Lei Xia; Stephan, R.; Muller, J.;
2011 / IEEE / 978-88-8202-074-3
By: Hein, M.A.; Stephan, R.; Schwarz, U.; Sachs, J.; Helbig, M.; di Clemente, F.S.;
By: Hein, M.A.; Stephan, R.; Schwarz, U.; Sachs, J.; Helbig, M.; di Clemente, F.S.;