Author: Sosebee, M.

2004 / IEEE / 0-7695-2175-4
By: Foster I; Gieraltowski, J.; Gose, S.; Maltsev, N.; May, E.; Rodriguez, A.; Sulakhe, D.; Vaniachine, A.; Shank, J.; Youssef, S.; Adams, D.; Baker, R.; Deng, W.; Smith, J.; Yu, D.; Legrand, I.; Singh, S.; Steenberg, C.; Xia, Y.; Afaq, A.; Berman, E.; Annis, J.; Bauerdick, L.A.T.; Ernst, M.; Fisk, I.; Giacchetti, L.; Graham, G.; Heavey, A.; Kaiser, J.; Kuropatkin, N.; Pordes, R.; Sekhri, V.; Weigand, J.; Wu, Y.; Baker, K.; Sorrillo, L.; Huth, J.; Allen, M.; Grundhoefer, L.; Hicks, J.; Luehring, F.; Peck, S.; Quick, R.; Simms, S.; Fekete, G.; VandenBerg, J.; Cho, K.; Kwon, K.; Son, D.; Park, H.; Canon, S.; Jackson, K.; Konerding, D.E.; Lee, J.; Olson, D.; Sakrejda, I.; Tierney, B.; Green, M.; Miller, R.; Letts, J.; Martin, T.; Bury, D.; Dumitrescu, C.; Engh, D.; Gardner, R.; Mambelli, M.; Smirnov, Y.; Voeckler, J.; Wilde, M.; Zhao, Y.; Zhao, X.; Avery, P.; Cavanaugh, R.; Kim, B.; Prescott, C.; Rodriguez, J.; Zahn, A.; McKee, S.; Jordan, C.; Prewett, J.; Thomas, T.; Severini, H.; Clifford, B.; Deelman, E.; Flon, L.; Kesselman, C.; Mehta, G.; Olomu, N.; Vahi, K.; De, K.; McGuigan, P.; Sosebee, M.; Bradley, D.; Couvares, P.; De Smet, A.; Kireyev, C.; Paulson, E.; Roy, A.; Koranda, S.; Moe, B.; Brown, B.; Sheldon, P.;

2006 / IEEE
By: Adragna, P.; Alexa, C.; Anderson, K.; Antonaki, A.; Batusov, V.; Bednar, P.; Binet, S.; Biscarat, C.; Blanchot, G.; Bogush, A.; Bohm, C.; Boldea, V.; Bosman, M.; Bromberg, C.; Budagov, J.; Caloba, L.; Calvet, D.; Carvalho, J.; Castelo, J.; Castillo, M.V.; Sforza, M.C.; Cavasinni, V.; Cerqueira, A.S.; Chadelas, R.; Costanzo, D.; Cogswell, F.; Constantinescu, S.; Crouau, M.; Cuenca, C.; Damazio, D.O.; Daudon, F.; David, M.; Davidek, T.; De, K.; Del Prete, T.; Di Girolamo, B.; Dita, S.; Dolejsi, J.; Dolezal, Z.; Dotti, A.; Downing, R.; Efthymiopoulos, I.; Errede, D.; Errede, S.; Farbin, A.; Fassouliotis, D.; Fedorko, I.; Fenyuk, A.; Ferdi, C.; Ferrer, A.; Flaminio, V.; Fullana, E.; Garde, V.; Giakoumopoulou, V.; Gildemeister, O.; Gilewsky, V.; Giangiobbe, V.; Giokaris, N.; Gomes, A.; Gonzalez, V.; Grabsky, V.; Grenier, P.; Gris, P.; Guarino, V.; Guicheney, C.; Gupta, A.; Hakobyan, H.; Haney, M.; Henriques, A.; Higon, E.; Holmgren, S.; Hurwitz, M.; Huston, J.; Iglesias, C.; And, K.J.; Junk, T.; Karyukhin, A.; Khubua, J.; Klereborn, J.; Korolkov, I.; Krivkova, P.; Kulchitsky, Y.; Kurochkin, Yu.; Kuzhir, P.; Lambert, D.; Le Compte, T.; Lefevre, R.; Leitner, R.; Lembesi, M.; Li, J.; Liablin, M.; Lokajicek, M.; Lomakin, Y.; Amengual, J.M.L.; Lupi, A.; Maidantchik, C.; Maio, A.; Maliukov, S.; Manousakis, A.; Marques, C.; Marroquim, F.; Martin, F.; Mazzoni, E.; Montarou, G.; Merritt, F.; Miagkov, A.; Miller, R.; Minashvili, I.; Miralles, L.; Nemecek, S.; Nessi, M.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Onofre, A.; Oreglia, M.; Pantea, D.; Pallin, D.; Pilcher, J.; Pina, J.; Pinhao, J.; Podlyski, F.; Portell, X.; Poveda, J.; Price, L.E.; Pribyl, L.; Proudfoot, J.; Ramstedt, M.; Reinmuth, G.; Richards, R.; Roda, C.; Romanov, V.; Rosnet, P.; Roy, P.; Rumiantsau, V.; Russakovich, N.; Salto, O.; Salvachua, B.; Sanchis, E.; Sanders, H.; Santoni, C.; Santos, J.; Saraiva, J.G.; Sarri, F.; Satsunkevitch, I.; Says, L.-P.; Schlager, G.; Schlereth, J.; Seixas, J.M.; Sellden, B.; Shevtsov, P.; Shochet, M.; Da Silva, P.; Silva, J.; Simaitis, V.; Sissakian, A.; Solodkov, A.; Solovianov, O.; Sosebee, M.; Spano, F.; Stanek, R.; Starchenko, E.; Starovoitov, P.; Suk, M.; Sykora, I.; Tang, F.; Tas, P.; Teuscher, R.; Tokar, S.; Topilin, N.; Torres, J.; Tsulaia, V.; Underwood, D.; Usai, G.; Valkar, S.; Valls, J.A.; Vartapetian, A.; Vazeille, F.; Vichou, I.; Vinogradov, V.; Vivarelli, I.; Volpi, M.; White, A.; Zaitsev, A.; Zenine, A.; Zenis, T.;