Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Smith, G.M.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Redmond, S.M.; Connors, M.K.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Mathewson, D.C.; Smith, G.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.;
By: Redmond, S.M.; Connors, M.K.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Mathewson, D.C.; Smith, G.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Smith, G.M.; Juodawlkis, P.W.; Turner, G.W.; Mathewson, D.C.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Siegel, A.M.; Duerr, E.K.;
By: Smith, G.M.; Juodawlkis, P.W.; Turner, G.W.; Mathewson, D.C.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Siegel, A.M.; Duerr, E.K.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1527-3
By: Smith, G.M.; Redmond, S.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.; Mathewson, D.C.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.;
By: Smith, G.M.; Redmond, S.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.; Mathewson, D.C.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.;
1992 / IEEE
By: Hughes, J.S.; Coleman, J.J.; Verdeyen, J.T.; Beernink, K.J.; Smith, G.M.; Miller, L.M.; Cockerill, T.M.; Honig, J.;
By: Hughes, J.S.; Coleman, J.J.; Verdeyen, J.T.; Beernink, K.J.; Smith, G.M.; Miller, L.M.; Cockerill, T.M.; Honig, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Lesurf, J.C.G.; Franklin, D.; Puplett, E.; Unsworth, C.; Kang, S.; Smith, G.M.;
By: Lesurf, J.C.G.; Franklin, D.; Puplett, E.; Unsworth, C.; Kang, S.; Smith, G.M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Osowski, M.L.; Lammert, R.M.; Hughes, J.S.;
By: Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Osowski, M.L.; Lammert, R.M.; Hughes, J.S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Osowski, M.L.; Smith, G.M.; Forbes, D.V.;
By: Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Osowski, M.L.; Smith, G.M.; Forbes, D.V.;
1996 / IEEE
By: Hughes, J.S.; Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Verdeyen, J.T.; Papen, G.C.; Osowski, M.L.; Lammert, R.M.;
By: Hughes, J.S.; Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Verdeyen, J.T.; Papen, G.C.; Osowski, M.L.; Lammert, R.M.;
1996 / IEEE
By: Osowski, M.L.; Lammert, R.M.; Hughes, J.S.; Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Verdeyen, J.T.; Papen, G.C.;
By: Osowski, M.L.; Lammert, R.M.; Hughes, J.S.; Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Verdeyen, J.T.; Papen, G.C.;
1994 / IEEE / 0-7803-1754-8
By: Coleman, J.J.; Smith, G.M.; Forbes, D.V.; Cockerill, T.M.; Lammert, R.M.;
By: Coleman, J.J.; Smith, G.M.; Forbes, D.V.; Cockerill, T.M.; Lammert, R.M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Hughes, J.S.; Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Osowski, M.L.; Lammert, R.M.;
By: Hughes, J.S.; Smith, G.M.; Coleman, J.J.; Osowski, M.L.; Lammert, R.M.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Chriss, M.F.; Phanse, V.M.; Boutros, K.S.; Smith, G.M.; Tamweber, F.D.;
By: Chriss, M.F.; Phanse, V.M.; Boutros, K.S.; Smith, G.M.; Tamweber, F.D.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Beernink, K.J.; Dragic, P.D.; Papen, G.C.; Coleman, J.J.; Smith, G.M.; Little, L.M.;
By: Beernink, K.J.; Dragic, P.D.; Papen, G.C.; Coleman, J.J.; Smith, G.M.; Little, L.M.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Smith, G.M.; Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Jones, A.M.; Osowski, M.L.; Hughes, J.S.;
By: Smith, G.M.; Lammert, R.M.; Coleman, J.J.; Jones, A.M.; Osowski, M.L.; Hughes, J.S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Yang, F.; Loeber, D.A.S.; Liu, W.; Davis, M.K.; Bhat, R.; Solimine, S.D.; Kussmaul, A.; Yang, G.; Smith, G.M.; Zah, C.E.; Liu, X.S.; Hu, M.H.;
By: Yang, F.; Loeber, D.A.S.; Liu, W.; Davis, M.K.; Bhat, R.; Solimine, S.D.; Kussmaul, A.; Yang, G.; Smith, G.M.; Zah, C.E.; Liu, X.S.; Hu, M.H.;
2004 / IEEE
By: Hu, M.H.; Loeber, D.A.S.; Davis, M.K.; Kussmaul, A.; Hong-Ky Nguyen; Smith, G.M.; Guowen Yang; Bhat, R.; Chung-En Zah;
By: Hu, M.H.; Loeber, D.A.S.; Davis, M.K.; Kussmaul, A.; Hong-Ky Nguyen; Smith, G.M.; Guowen Yang; Bhat, R.; Chung-En Zah;
2004 / IEEE
By: Davis, M.K.; Smith, G.M.; Guowen Yang; Bhat, R.; Chung-en Zah; Hu, M.; Loeber, D.A.S.;
By: Davis, M.K.; Smith, G.M.; Guowen Yang; Bhat, R.; Chung-en Zah; Hu, M.; Loeber, D.A.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Keeble, D.J.; Robertson, D.A.; Bolton, D.R.; Cruickshank, P.A.S.; Smith, G.M.;
By: Keeble, D.J.; Robertson, D.A.; Bolton, D.R.; Cruickshank, P.A.S.; Smith, G.M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8981-6
By: Dauler, E.A.; Cohen, D.M.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Oakley, D.C.; McIntosh, K.A.; Donnelly, J.P.; Mahoney, L.J.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Groves, S.H.; Duerr, E.K.;
By: Dauler, E.A.; Cohen, D.M.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Oakley, D.C.; McIntosh, K.A.; Donnelly, J.P.; Mahoney, L.J.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Groves, S.H.; Duerr, E.K.;
2005 / IEEE
By: Smith, G.M.; Loeber, D.A.S.; Balsamo, S.; Ghislotti, G.; Davis, M.K.; Hong Ky Nguyen; Hu, M.H.;
By: Smith, G.M.; Loeber, D.A.S.; Balsamo, S.; Ghislotti, G.; Davis, M.K.; Hong Ky Nguyen; Hu, M.H.;
2005 / IEEE
By: Balsamo, S.; Ghislotti, G.; Davis, M.K.; Nguyen, H.K.; Hu, M.H.; Smith, G.M.; Loeber, D.A.S.;
By: Balsamo, S.; Ghislotti, G.; Davis, M.K.; Nguyen, H.K.; Hu, M.H.; Smith, G.M.; Loeber, D.A.S.;
2006 / IEEE
By: Oakley, D.C.; Groves, S.H.; McIntosh, K.A.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Shaver, D.C.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Jensen, K.E.; Dauler, E.A.; Hopman, P.I.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Vineis, C.J.;
By: Oakley, D.C.; Groves, S.H.; McIntosh, K.A.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Shaver, D.C.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Jensen, K.E.; Dauler, E.A.; Hopman, P.I.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Vineis, C.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0090-2
By: Groves, S.H.; Hopman, P.I.; Frechette, J.P.; Funk, J.E.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Dauler, E.A.; Aversa, J.C.; Aull, B.F.; Vineis, C.J.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Shaver, D.C.; Ouellette, E.J.; Oakley, D.C.; Napoleone, A.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Mahan, J.M.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.;
By: Groves, S.H.; Hopman, P.I.; Frechette, J.P.; Funk, J.E.; Duerr, E.K.; Donnelly, J.P.; Dauler, E.A.; Aversa, J.C.; Aull, B.F.; Vineis, C.J.; Verghese, S.; Smith, G.M.; Shaver, D.C.; Ouellette, E.J.; Oakley, D.C.; Napoleone, A.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Mahan, J.M.; Liau, Z.-L.; Jensen, K.E.;
2006 / IEEE / 2-9600551-7-9
By: Smith, G.M.; Hunter, R.I.; Cruickshank, P.A.S.; Bolton, D.R.; Robertson, D.A.;
By: Smith, G.M.; Hunter, R.I.; Cruickshank, P.A.S.; Bolton, D.R.; Robertson, D.A.;
2007 / IEEE
By: Verghese, S.; Tyrrell, B.M.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Chapman, D.C.; Vineis, C.J.; Smith, G.M.; Funk, J.E.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Shaver, D.C.; Aull, B.F.; Aversa, J.C.; Frechette, J.P.; Glettler, J.B.; Zong Long Liau; Mahan, J.M.; Mahoney, L.J.; Molvar, K.M.; ODonnell, F.J.; Oakley, D.C.; Ouellette, E.J.; Renzi, M.J.; Donnelly, J.P.;
By: Verghese, S.; Tyrrell, B.M.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Chapman, D.C.; Vineis, C.J.; Smith, G.M.; Funk, J.E.; Jensen, K.E.; Hopman, P.I.; Shaver, D.C.; Aull, B.F.; Aversa, J.C.; Frechette, J.P.; Glettler, J.B.; Zong Long Liau; Mahan, J.M.; Mahoney, L.J.; Molvar, K.M.; ODonnell, F.J.; Oakley, D.C.; Ouellette, E.J.; Renzi, M.J.; Donnelly, J.P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Kumar, N.R.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Mcintosh, K.A.;
By: Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Kumar, N.R.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Mcintosh, K.A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1438-3
By: Cruickshank, P.A.S.; Smith, G.M.; Wylde, R.J.; Robertson, D.A.; Bolton, D.R.;
By: Cruickshank, P.A.S.; Smith, G.M.; Wylde, R.J.; Robertson, D.A.; Bolton, D.R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1438-3
By: Smith, G.M.; Robertson, D.A.; Cruickshank, P.A.S.; Hunter, R.I.;
By: Smith, G.M.; Robertson, D.A.; Cruickshank, P.A.S.; Hunter, R.I.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1438-3
By: Cruickshank, P.A.S.; Smith, G.M.; Wylde, R.J.; Robertson, D.A.; Bolton, D.R.;
By: Cruickshank, P.A.S.; Smith, G.M.; Wylde, R.J.; Robertson, D.A.; Bolton, D.R.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Donnelly, J.P.; McIntosh, K.A.; Smith, G.M.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Hopman, P.I.; Mahan, J.M.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Vineis, C.J.; Duerr, E.K.;
By: Donnelly, J.P.; McIntosh, K.A.; Smith, G.M.; Ray, K.G.; Oakley, D.C.; O'Donnell, F.J.; Molvar, K.M.; Mahoney, L.J.; Hopman, P.I.; Mahan, J.M.; Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Vineis, C.J.; Duerr, E.K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2119-0
By: Cruickshank, P.A.S.; Bolton, D.R.; Smith, G.M.; Horoyski, P.; Robertson, D.A.; Roitman, A.; Hyttinen, M.; Steer, B.;
By: Cruickshank, P.A.S.; Bolton, D.R.; Smith, G.M.; Horoyski, P.; Robertson, D.A.; Roitman, A.; Hyttinen, M.; Steer, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2258-6
By: Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; Molvar, K.M.;
By: Funk, J.E.; Verghese, S.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; McIntosh, K.A.; Mahoney, L.J.; Smith, G.M.; Donnelly, J.P.; Oakley, D.C.; Chapman, D.C.; Molvar, K.M.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: O'Donnell, F.J.; Ray, K.G.; Smith, G.M.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Connors, M.K.; Plant, J.J.; Huang, R.K.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.;
By: O'Donnell, F.J.; Ray, K.G.; Smith, G.M.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Connors, M.K.; Plant, J.J.; Huang, R.K.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.;