Author: Sloper, J.

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;

2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;