Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Shoji, S.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: Noh, Y.; Shoji, S.; Hatake, K.; Takanishi, A.; Solis, J.; Ishii, H.; Chunbao Wang; Sato, K.; Segawa, M.; Ebihara, K.;
By: Noh, Y.; Shoji, S.; Hatake, K.; Takanishi, A.; Solis, J.; Ishii, H.; Chunbao Wang; Sato, K.; Segawa, M.; Ebihara, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-777-1
By: Tsunozaki, K.; Mizuno, J.; Shoji, S.; Shinohara, H.; Li, L.; Shibazaki, T.; Kawaguchi, Y.;
By: Tsunozaki, K.; Mizuno, J.; Shoji, S.; Shinohara, H.; Li, L.; Shibazaki, T.; Kawaguchi, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0149-7
By: Mizuno, J.; Shoji, S.; Shigetou, A.; Sakuma, K.; Noma, H.; Unami, N.;
By: Mizuno, J.; Shoji, S.; Shigetou, A.; Sakuma, K.; Noma, H.; Unami, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0149-7
By: Ishida, H.; Kanehira, Y.; Ogashiwa, T.; Ito, S.; Mizuno, J.; Shoji, S.;
By: Ishida, H.; Kanehira, Y.; Ogashiwa, T.; Ito, S.; Mizuno, J.; Shoji, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2138-0
By: Noh, Y.; Ebihara, K.; Shoji, S.; Kazuyuki, H.; Sato, K.; Takanishi, A.; Ishii, H.; Chunbao Wang;
By: Noh, Y.; Ebihara, K.; Shoji, S.; Kazuyuki, H.; Sato, K.; Takanishi, A.; Ishii, H.; Chunbao Wang;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5
By: Mizuno, J.; Kasahara, T.; Shoji, S.; Adachi, C.; Matsunami, S.; Edura, T.; Hirata, S.;
By: Mizuno, J.; Kasahara, T.; Shoji, S.; Adachi, C.; Matsunami, S.; Edura, T.; Hirata, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0742-0
By: Sakuma, K.; Nimura, M.; Mizuno, J.; Shoji, S.; Shigetou, A.; Enomoto, T.; Ogino, H.;
By: Sakuma, K.; Nimura, M.; Mizuno, J.; Shoji, S.; Shigetou, A.; Enomoto, T.; Ogino, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0742-0
By: Noma, H.; Shigetou, A.; Unami, N.; Nimura, M.; Sakuma, K.; Mizuno, J.; Okada, A.; Shoji, S.;
By: Noma, H.; Shigetou, A.; Unami, N.; Nimura, M.; Sakuma, K.; Mizuno, J.; Okada, A.; Shoji, S.;
2013 / IEEE
By: Yoon, D. H.; Nakahara, A.; Kasahara, T.; Otsuka, K.; Mizuno, J.; Yamamoto, R.; Shoji, S.; Sekiguchi, T.; Sueyoshi, K.;
By: Yoon, D. H.; Nakahara, A.; Kasahara, T.; Otsuka, K.; Mizuno, J.; Yamamoto, R.; Shoji, S.; Sekiguchi, T.; Sueyoshi, K.;
2015 / IEEE
By: Yoon, D.H.; Sekine, R.; Ito, J.; Shoji, S.; Takeda, N.; Nakamura, Y.; Goto, T.; Chikasawa, T.; Nansai, H.; Oku, H.; Sekiguchi, T.;
By: Yoon, D.H.; Sekine, R.; Ito, J.; Shoji, S.; Takeda, N.; Nakamura, Y.; Goto, T.; Chikasawa, T.; Nansai, H.; Oku, H.; Sekiguchi, T.;
2014 / IEEE
By: Nimura, M.; Shigetou, A.; Enomoto, T.; Ogino, H.; Sakuma, K.; Shoji, S.; Mizuno, J.;
By: Nimura, M.; Shigetou, A.; Enomoto, T.; Ogino, H.; Sakuma, K.; Shoji, S.; Mizuno, J.;
2014 / IEEE
By: Sato, K.; Ozeki, K.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Fukata, N.; Ohgoe, Y.; Shiba, K.; Alanazi, A.; Hirakuri, K.;
By: Sato, K.; Ozeki, K.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Fukata, N.; Ohgoe, Y.; Shiba, K.; Alanazi, A.; Hirakuri, K.;
2014 / IEEE
By: Nomura, K.; Shih, K.; Kasahara, T.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Mimatsu, H.; Ogashiwa, T.; Kanehira, Y.;
By: Nomura, K.; Shih, K.; Kasahara, T.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Mimatsu, H.; Ogashiwa, T.; Kanehira, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-1833-1
By: Hashimoto, H.; Fukatsu, K.; Cabuz, C.; Esashi, M.; Minami, K.; Kurabayashi, T.; Shoji, S.;
By: Hashimoto, H.; Fukatsu, K.; Cabuz, C.; Esashi, M.; Minami, K.; Kurabayashi, T.; Shoji, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4080-9
By: Yotumoto, A.; Shoji, S.; Fujii, T.; Hosokawa, K.; Endo, I.; Nojima, T.;
By: Yotumoto, A.; Shoji, S.; Fujii, T.; Hosokawa, K.; Endo, I.; Nojima, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4412-X
By: Shoji, S.; Yotsumoto, A.; Nakamura, R.; Nishimoto, T.; Nakanishi, H.;
By: Shoji, S.; Yotsumoto, A.; Nakamura, R.; Nishimoto, T.; Nakanishi, H.;
A microfabricated reactor for cell-free protein synthesis (2nd report: translation of natural mRNAs)
1998 / IEEE / 0-7803-5164-9By: Yotsumoto, A.; Hosokawa, K.; Fujii, T.; Nojima, T.; Endo, I.; Shoji, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4262-3
By: Endo, I.; Yotsumoto, A.; Shoji, S.; Nojima, T.; Hosokawa, K.; Fujii, T.;
By: Endo, I.; Yotsumoto, A.; Shoji, S.; Nojima, T.; Hosokawa, K.; Fujii, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4171-6
By: Hosokawa, K.; Endo, I.; Yotsumoto, A.; Shoji, S.; Nojima, T.; Fujii, T.;
By: Hosokawa, K.; Endo, I.; Yotsumoto, A.; Shoji, S.; Nojima, T.; Fujii, T.;
2001 / IEEE / 4-89114-017-8
By: Isomura, M.; Shoji, S.; Honda, N.; Sato, H.; Akahori, K.; Ashihara, Y.;
By: Isomura, M.; Shoji, S.; Honda, N.; Sato, H.; Akahori, K.; Ashihara, Y.;
2002 / IEEE / 4-89114-031-3
By: Ikeda, S.; Tsukita, S.; Funatsu, T.; Shirasaki, Y.; Makazu, H.; Shoji, S.; Sekiguchi, T.; Tashiro, K.;
By: Ikeda, S.; Tsukita, S.; Funatsu, T.; Shirasaki, Y.; Makazu, H.; Shoji, S.; Sekiguchi, T.; Tashiro, K.;
2002 / IEEE / 4-89114-031-3
By: Irita, T.; Kawakami, S.; Katagiri, T.; Emi, K.; Shoji, S.; Osaka, T.; Honda, N.; Homma, T.; Sato, H.;
By: Irita, T.; Kawakami, S.; Katagiri, T.; Emi, K.; Shoji, S.; Osaka, T.; Honda, N.; Homma, T.; Sato, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7744-3
By: Nakanishi, H.; Jeung Sang Go; Tanaka, J.; Ikeda, S.; Kanai, M.; Shoji, S.;
By: Nakanishi, H.; Jeung Sang Go; Tanaka, J.; Ikeda, S.; Kanai, M.; Shoji, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7747-8
By: Kutney, M.; Shoji, S.; Mays, B.; Hanabusa, N.; Detrick, T.; Ma, S.; Straube, R.; Patada, B.;
By: Kutney, M.; Shoji, S.; Mays, B.; Hanabusa, N.; Detrick, T.; Ma, S.; Straube, R.; Patada, B.;
2003 / IEEE / 0-7803-7731-1
By: Fujiyama, Y.; Munaka, T.; Abe, H.; Kanai, M.; Yamayoshi, A.; Shoji, S.; Murakami, A.; Nakanishi, H.; Uchida, D.;
By: Fujiyama, Y.; Munaka, T.; Abe, H.; Kanai, M.; Yamayoshi, A.; Shoji, S.; Murakami, A.; Nakanishi, H.; Uchida, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7731-1
By: Shoji, S.; Kawakami, S.; Sato, H.; Kanai, M.; Yamazaki, T.; Jeung Sang Go;
By: Shoji, S.; Kawakami, S.; Sato, H.; Kanai, M.; Yamazaki, T.; Jeung Sang Go;
2003 / IEEE / 0-7803-7731-1
By: Shoji, S.; Houjou, H.; Abe, M.; Ishizuka, M.; Wada, Y.; Tsutsui, K.; Mizuno, J.;
By: Shoji, S.; Houjou, H.; Abe, M.; Ishizuka, M.; Wada, Y.; Tsutsui, K.; Mizuno, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7731-1
By: Kudo, H.; Nakamura, T.; Otake, K.; Onishi, M.; Kuroda, Y.; Ohashi, T.; Sato, K.; Koga, T.; Morita, U.; Ishisaki, Y.; Fujimori, T.; Ichitsubo, T.; Takei, Y.; Futamoto, K.; Oshima, T.; Iyomoto, N.; Fujimoto, R.; Yamasaki, N.Y.; Mitsuda, K.; Osaka, T.; Homma, T.; Mori, K.; Kobayashi, H.; Sato, H.; Shoji, S.; Izumi, T.; Ohtsuka, S.; Arakawa, T.;
By: Kudo, H.; Nakamura, T.; Otake, K.; Onishi, M.; Kuroda, Y.; Ohashi, T.; Sato, K.; Koga, T.; Morita, U.; Ishisaki, Y.; Fujimori, T.; Ichitsubo, T.; Takei, Y.; Futamoto, K.; Oshima, T.; Iyomoto, N.; Fujimoto, R.; Yamasaki, N.Y.; Mitsuda, K.; Osaka, T.; Homma, T.; Mori, K.; Kobayashi, H.; Sato, H.; Shoji, S.; Izumi, T.; Ohtsuka, S.; Arakawa, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7731-1
By: Emi, K.; Honda, N.; Wada, Y.; Mizuno, J.; Saito, M.; Katagiri, T.; Osaka, T.; Homma, T.; Sato, H.; Shoji, S.; Irita, T.;
By: Emi, K.; Honda, N.; Wada, Y.; Mizuno, J.; Saito, M.; Katagiri, T.; Osaka, T.; Homma, T.; Sato, H.; Shoji, S.; Irita, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7976-4
By: Nakamura, A.; Kaneko, K.; Hong-Bo Sun; Xuan-Ming Duan; Kawata, S.; Shoji, S.;
By: Nakamura, A.; Kaneko, K.; Hong-Bo Sun; Xuan-Ming Duan; Kawata, S.; Shoji, S.;
2003 / IEEE / 4-89114-040-2
By: Otake, K.; Onishi, M.; Kuroda, Y.; Ohashi, T.; Sato, K.; Koga, T.; Morita, U.; Ishisaki, Y.; Fujimori, T.; Ichitsubo, T.; Takei, Y.; Futamoto, K.; Oshima, T.; Iyomoto, N.; Fujimoto, R.; Yamasaki, N.Y.; Mitsuda, K.; Osaka, T.; Homma, T.; Mori, K.; Kobayashi, H.; Sato, H.; Shoji, S.; Izumi, T.; Arakawa, T.; Ohtsuka, S.; Kudo, H.;
By: Otake, K.; Onishi, M.; Kuroda, Y.; Ohashi, T.; Sato, K.; Koga, T.; Morita, U.; Ishisaki, Y.; Fujimori, T.; Ichitsubo, T.; Takei, Y.; Futamoto, K.; Oshima, T.; Iyomoto, N.; Fujimoto, R.; Yamasaki, N.Y.; Mitsuda, K.; Osaka, T.; Homma, T.; Mori, K.; Kobayashi, H.; Sato, H.; Shoji, S.; Izumi, T.; Arakawa, T.; Ohtsuka, S.; Kudo, H.;
2004 / IEEE / 4-99024720-5
By: Sato, H.; Honda, N.; Osaka, T.; Honuna, T.; Katagiri, T.; Shoji, S.; Yamaguchi, Y.; Inaba, M.;
By: Sato, H.; Honda, N.; Osaka, T.; Honuna, T.; Katagiri, T.; Shoji, S.; Yamaguchi, Y.; Inaba, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8994-8
By: Mizuno, J.; Shirasaki, Y.; Shimomae, T.; Tatsuoka, M.; Watabe, S.; Shoji, S.; Funatsu, T.;
By: Mizuno, J.; Shirasaki, Y.; Shimomae, T.; Tatsuoka, M.; Watabe, S.; Shoji, S.; Funatsu, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-8994-8
By: Glinsner, T.; Ishida, H.; Mizuno, J.; Shoji, S.; Lindner, F.P.; Farrens, S.; Ishizuka, M.; Suzuki, T.; Shinohara, H.; Dragoi, V.;
By: Glinsner, T.; Ishida, H.; Mizuno, J.; Shoji, S.; Lindner, F.P.; Farrens, S.; Ishizuka, M.; Suzuki, T.; Shinohara, H.; Dragoi, V.;
2005 / IEEE / 0-7803-8994-8
By: Motokawa, S.; Houjou, H.; Shoji, S.; Osaka, T.; Momma, T.; Mizuno, J.; Ishizuka, M.;
By: Motokawa, S.; Houjou, H.; Shoji, S.; Osaka, T.; Momma, T.; Mizuno, J.; Ishizuka, M.;
High efficiency flow electrochemical immuno sensors using 3-D comb electrodes made of magnetic alloy
2005 / IEEE / 0-7803-9199-3By: Sato, H.; Shoji, S.; Yamaguchi, Y.; Inaba, M.; Homma, T.; Honda, N.; Katagiri, T.; Osaka, T.;
2004 / IEEE / 0-7695-2189-4
By: Mizuno, J.; Harada, T.; Glinsner, T.; Ishizuka, M.; Edura, T.; Tsutsui, K.; Ishida, H.; Wada, Y.; Shoji, S.;
By: Mizuno, J.; Harada, T.; Glinsner, T.; Ishizuka, M.; Edura, T.; Tsutsui, K.; Ishida, H.; Wada, Y.; Shoji, S.;
2005 / IEEE / 0-7695-2398-6
By: Ishizuka, M.; Suzuki, T.; Dragoi, V.; Shinohara, H.; Glinsner, T.; Ishida, H.; Farrens, S.; Mizuno, J.; Shoji, S.;
By: Ishizuka, M.; Suzuki, T.; Dragoi, V.; Shinohara, H.; Glinsner, T.; Ishida, H.; Farrens, S.; Mizuno, J.; Shoji, S.;
2006 / IEEE / 0-7803-9475-5
By: Sugino, H.; Arakawa, T.; Shoji, S.; Funatsu, T.; Izumi, T.; Shirasaki, Y.; Aoki, T.; Teragauchi, W.;
By: Sugino, H.; Arakawa, T.; Shoji, S.; Funatsu, T.; Izumi, T.; Shirasaki, Y.; Aoki, T.; Teragauchi, W.;
2006 / IEEE / 1-4244-1479-2
By: Shoji, S.; Wakiwaka, H.; Iwahara, M.; Yamada, S.; Koggalage, R.; Chomsuwan, K.;
By: Shoji, S.; Wakiwaka, H.; Iwahara, M.; Yamada, S.; Koggalage, R.; Chomsuwan, K.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Sugino, H.; Nara, Y.; Shoji, S.; Funatsu, T.; Shirasaki, Y.; Arakawa, T.;
By: Sugino, H.; Nara, Y.; Shoji, S.; Funatsu, T.; Shirasaki, Y.; Arakawa, T.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Takahashi, Y.; Shinohara, H.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Takahashi, C.; Uemura, K.; Nishi, T.;
By: Takahashi, Y.; Shinohara, H.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Takahashi, C.; Uemura, K.; Nishi, T.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Ha, J.B.; Go, J.S.; Shoji, S.; Boo, J.S.; Kim, K.C.; Shin, B.S.; Yoon, S.H.; Ko, J.S.; Arakawa, T.; Yoon, S.Y.; Jeong, E.H.; Lee, J.H.; Bahk, Y.K.;
By: Ha, J.B.; Go, J.S.; Shoji, S.; Boo, J.S.; Kim, K.C.; Shin, B.S.; Yoon, S.H.; Ko, J.S.; Arakawa, T.; Yoon, S.Y.; Jeong, E.H.; Lee, J.H.; Bahk, Y.K.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Yoon, D.H.; Go, J.S.; Kim, K.C.; Shoji, S.; Kim, I.; Arakawa, T.; Abraham, S.; Jeong, E.H.; Park, S.Y.; Won, D.G.;
By: Yoon, D.H.; Go, J.S.; Kim, K.C.; Shoji, S.; Kim, I.; Arakawa, T.; Abraham, S.; Jeong, E.H.; Park, S.Y.; Won, D.G.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Shoji, S.; Otsuka, K.; Mizuno, J.; Shinohara, H.; Kitagawa, F.; Suzuki, T.;
By: Shoji, S.; Otsuka, K.; Mizuno, J.; Shinohara, H.; Kitagawa, F.; Suzuki, T.;
2007 / IEEE
By: Horiuchi, H.; Takei, K.; Tomoe, T.; Ishihata, H.; Hirano, T.; Shimauchi, H.; Shoji, S.; Yoshida, K.;
By: Horiuchi, H.; Takei, K.; Tomoe, T.; Ishihata, H.; Hirano, T.; Shimauchi, H.; Shoji, S.; Yoshida, K.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0950-1
By: Sato, H.; Nagaura, Y.; Naka, K.; Yamamoto, K.; Konishi, S.; Shoji, S.;
By: Sato, H.; Nagaura, Y.; Naka, K.; Yamamoto, K.; Konishi, S.; Shoji, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2977-6
By: Sekiguchi, T.; Sato, H.; Nagaura, Y.; Imai, N.; Konishi, S.; Homma, T.; Wakui, D.; Shoji, S.;
By: Sekiguchi, T.; Sato, H.; Nagaura, Y.; Imai, N.; Konishi, S.; Homma, T.; Wakui, D.; Shoji, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4190-7
By: Noguchi, M.; Arakawa, T.; Sumitomo, K.; Yamaguchi, Y.; Shoji, S.;
By: Noguchi, M.; Arakawa, T.; Sumitomo, K.; Yamaguchi, Y.; Shoji, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-498-5
By: Noma, H.; Toriyama, K.; Sakuma, K.; Orii, Y.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Unami, N.; Sueoka, K.;
By: Noma, H.; Toriyama, K.; Sakuma, K.; Orii, Y.; Shoji, S.; Mizuno, J.; Unami, N.; Sueoka, K.;