Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Shibata, N.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Taki, M.; Igou, S.; Hattori, M.; Shinagawa, M.; Shibata, N.; Furuya, A.;
By: Taki, M.; Igou, S.; Hattori, M.; Shinagawa, M.; Shibata, N.; Furuya, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Yoshino, Y.; Hattori, M.; Shinagawa, M.; Shibata, N.; Furuya, A.; Taki, M.;
By: Yoshino, Y.; Hattori, M.; Shinagawa, M.; Shibata, N.; Furuya, A.; Taki, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0048-4
By: Shinagawa, M.; Morimura, H.; Kawano, R.; Shibata, N.; Ishihara, T.; Sasaki, A.;
By: Shinagawa, M.; Morimura, H.; Kawano, R.; Shibata, N.; Ishihara, T.; Sasaki, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
1988 / IEEE / 0-7803-0785-2
By: Chen, P.S.; Shibata, N.; Wharton, J.M.; Ideker, R.E.; Smith, W.M.; Wolf, P.D.;
By: Chen, P.S.; Shibata, N.; Wharton, J.M.; Ideker, R.E.; Smith, W.M.; Wolf, P.D.;
1991 / IEEE / 0-8186-2485-X
By: Satoh, Y.; Shibata, N.; Suzuki, R.; Kodama, I.; Iida, M.; Toyama, J.; Fukui, Y.;
By: Satoh, Y.; Shibata, N.; Suzuki, R.; Kodama, I.; Iida, M.; Toyama, J.; Fukui, Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3136-2
By: Suguri, K.; Kotera, H.; Yamauchi, H.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.; Shibata, N.; Matsuda, H.; Satoh, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
By: Suguri, K.; Kotera, H.; Yamauchi, H.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.; Shibata, N.; Matsuda, H.; Satoh, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
1996 / IEEE
By: Tashiro, Y.; Ono, N.; Okubo, T.; Ogura, K.; Matsuda, H.; Abe, T.; Ikeda, M.; Suguri, K.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakagawa, F.; Otsu, K.; Kasai, R.; Shibata, N.; Ikenaga, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
By: Tashiro, Y.; Ono, N.; Okubo, T.; Ogura, K.; Matsuda, H.; Abe, T.; Ikeda, M.; Suguri, K.; Kondo, T.; Sato, Y.; Nakagawa, F.; Otsu, K.; Kasai, R.; Shibata, N.; Ikenaga, T.; Kusaba, R.; Minami, T.;
1996 / IEEE
By: Kikushima, K.; Shibata, N.; Mawatari, H.; Kumozaki, K.; Yoshinaga, H.; Ikeda, S.; Kishimoto, C.;
By: Kikushima, K.; Shibata, N.; Mawatari, H.; Kumozaki, K.; Yoshinaga, H.; Ikeda, S.; Kishimoto, C.;
1996 / IEEE
By: Shibata, N.; Kumozaki, K.; Kawabe, M.; Kishimoto, C.; Kikushima, K.; Nakamoto, H.; Suto, K.; Yoshinaga, H.;
By: Shibata, N.; Kumozaki, K.; Kawabe, M.; Kishimoto, C.; Kikushima, K.; Nakamoto, H.; Suto, K.; Yoshinaga, H.;
1996 / IEEE
By: Kumozaki, K.; Yoshinaga, H.; Kikushima, K.; Shibata, N.; Nakamoto, H.; Suto, K.; Kawabe, M.; Kishimoto, C.;
By: Kumozaki, K.; Yoshinaga, H.; Kikushima, K.; Shibata, N.; Nakamoto, H.; Suto, K.; Kawabe, M.; Kishimoto, C.;
1996 / IEEE
By: Sato, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Matsuda, H.; Shibata, N.; Suguri, K.; Kotera, H.; Shimizu, A.; Minami, T.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.;
By: Sato, H.; Watanabe, T.; Kasai, R.; Kondo, T.; Kusaba, R.; Matsuda, H.; Shibata, N.; Suguri, K.; Kotera, H.; Shimizu, A.; Minami, T.; Izuoka, T.; Tashiro, Y.;
1998 / IEEE
By: Kodama, I.; Haraguchi, T.; Fukui, Y.; Ohuchi, K.; Toyama, J.; Sakuma, I.; Hosoda, S.; Shibata, N.;
By: Kodama, I.; Haraguchi, T.; Fukui, Y.; Ohuchi, K.; Toyama, J.; Sakuma, I.; Hosoda, S.; Shibata, N.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Fujii, T.; Nemoto, K.; Mori, Y.; Yamamura, K.; Shibata, N.; Takino, H.; Goto, N.;
By: Fujii, T.; Nemoto, K.; Mori, Y.; Yamamura, K.; Shibata, N.; Takino, H.; Goto, N.;
2000 / IEEE / 0-7803-6465-1
By: Kodama, I.; Honjo, H.; Niwa, R.; Yamamoto, M.; Shibata, N.; Dohi, T.; Mishima, A.; Tsuji, T.; Yahagi, N.; Sakuma, I.; Masamune, K.; Arafune, T.;
By: Kodama, I.; Honjo, H.; Niwa, R.; Yamamoto, M.; Shibata, N.; Dohi, T.; Mishima, A.; Tsuji, T.; Yahagi, N.; Sakuma, I.; Masamune, K.; Arafune, T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7211-5
By: Niwa, Y.; Yamamoto, M.; Shibata, N.; Dohi, T.; Inada, H.; Honjo, H.; Kobayashi, E.; Neshima, A.; Arafune, T.; Sakuma, I.; Kodama, I.;
By: Niwa, Y.; Yamamoto, M.; Shibata, N.; Dohi, T.; Inada, H.; Honjo, H.; Kobayashi, E.; Neshima, A.; Arafune, T.; Sakuma, I.; Kodama, I.;
2001 / IEEE / 0-7803-7211-5
By: Mishima, A.; Kodama, I.; Honjo, H.; Niwa, R.; Yamamoto, M.; Nihei, M.; Shibata, N.; Dohi, T.; Inada, H.; Sakuma, I.; Kobayashi, E.; Tanoue, N.; Arafune, T.;
By: Mishima, A.; Kodama, I.; Honjo, H.; Niwa, R.; Yamamoto, M.; Nihei, M.; Shibata, N.; Dohi, T.; Inada, H.; Sakuma, I.; Kobayashi, E.; Tanoue, N.; Arafune, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8331-1
By: Inoue, T.; Miyamoto, H.; Nakayama, T.; Hataya, K.; Ando, Y.; Senda, M.; Okamoto, Y.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.;
By: Inoue, T.; Miyamoto, H.; Nakayama, T.; Hataya, K.; Ando, Y.; Senda, M.; Okamoto, Y.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.;
2004 / IEEE
By: Okamoto, Y.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.; Senda, M.; Inoue, T.; Miyamoto, H.; Nakayama, T.; Hataya, K.; Ando, Y.;
By: Okamoto, Y.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.; Senda, M.; Inoue, T.; Miyamoto, H.; Nakayama, T.; Hataya, K.; Ando, Y.;
2004 / IEEE
By: Senda, M.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.; Okamoto, Y.; Inoue, T.; Miyamoto, H.; Hataya, K.; Nakayama, T.; Ando, Y.;
By: Senda, M.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.; Okamoto, Y.; Inoue, T.; Miyamoto, H.; Hataya, K.; Nakayama, T.; Ando, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8284-6
By: Inoue, T.; Nakayama, T.; Okamoto, Y.; Ando, Y.; Kuzuhara, M.; Hataya, K.; Kosaki, M.; Shibata, N.; Hirata, K.; Senda, M.; Miyamoto, H.;
By: Inoue, T.; Nakayama, T.; Okamoto, Y.; Ando, Y.; Kuzuhara, M.; Hataya, K.; Kosaki, M.; Shibata, N.; Hirata, K.; Senda, M.; Miyamoto, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-8904-2
By: Watanabe, T.; Pham, T.D.; Higashitani, M.; Yoshikawa, S.; Maruyama, T.; Waki, H.; Tokiwa, N.; Sakurai, K.; Chi-Ming Wan; Kawano, K.; Nasu, H.; Kamei, T.; Morooka, M.; Amemiya, K.; Takeuchi, Y.; Fujiu, M.; Kojima, M.; Abe, T.; Nakagawa, M.; Maejima, H.; Hosono, K.; Shibata, N.; Kanazawa, K.; Fukuda, K.; Hara, T.;
By: Watanabe, T.; Pham, T.D.; Higashitani, M.; Yoshikawa, S.; Maruyama, T.; Waki, H.; Tokiwa, N.; Sakurai, K.; Chi-Ming Wan; Kawano, K.; Nasu, H.; Kamei, T.; Morooka, M.; Amemiya, K.; Takeuchi, Y.; Fujiu, M.; Kojima, M.; Abe, T.; Nakagawa, M.; Maejima, H.; Hosono, K.; Shibata, N.; Kanazawa, K.; Fukuda, K.; Hara, T.;
2006 / IEEE
By: Takeuchi, Y.; Amemiya, K.; Kojima, M.; Abe, T.; Nakagawa, M.; Fujiu, M.; Maejima, H.; Hosono, K.; Shibata, N.; Kanazawa, K.; Fukuda, K.; Hara, T.; Watanabe, T.; Yupin Fong; Pham, T.D.; Higashitani, M.; Yoshikawa, S.; Maruyama, T.; Waki, H.; Tokiwa, N.; Sakurai, K.; Chi-Ming Wang; Nasu, H.; Kamei, T.; Morooka, M.;
By: Takeuchi, Y.; Amemiya, K.; Kojima, M.; Abe, T.; Nakagawa, M.; Fujiu, M.; Maejima, H.; Hosono, K.; Shibata, N.; Kanazawa, K.; Fukuda, K.; Hara, T.; Watanabe, T.; Yupin Fong; Pham, T.D.; Higashitani, M.; Yoshikawa, S.; Maruyama, T.; Waki, H.; Tokiwa, N.; Sakurai, K.; Chi-Ming Wang; Nasu, H.; Kamei, T.; Morooka, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8423-7
By: Miyamoto, H.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.; Okamoto, Y.; Senda, M.; Hataya, K.; Nakayama, T.; Inoue, T.; Ando, Y.;
By: Miyamoto, H.; Kuzuhara, M.; Shibata, N.; Kosaki, M.; Hirata, K.; Okamoto, Y.; Senda, M.; Hataya, K.; Nakayama, T.; Inoue, T.; Ando, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-8741-4
By: Arafune, T.; Yamaguchi, T.; Kamiya, K.; Kodama, I.; Honjo, H.; Shibata, N.; Watanabe, E.; Sakuma, I.;
By: Arafune, T.; Yamaguchi, T.; Kamiya, K.; Kodama, I.; Honjo, H.; Shibata, N.; Watanabe, E.; Sakuma, I.;
2005 / IEEE / 0-7803-8741-4
By: Honjo, H.; Shibata, N.; Sakuma, I.; Arafune, T.; Kodama, I.; Yamaguchi, T.; Nashimoto, S.; Sato, S.; Takata, Y.;
By: Honjo, H.; Shibata, N.; Sakuma, I.; Arafune, T.; Kodama, I.; Yamaguchi, T.; Nashimoto, S.; Sato, S.; Takata, Y.;