Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Shahidi, G.
Results
2012 / IEEE
By: Dae-Gyu Park; Zhibin Ren; Young-Hee Kim; Kulkarni, P.; Chan, K.; Oldiges, P.; Jin Cai; Muralidhar, R.; Lauer, I.; Shahidi, G.;
By: Dae-Gyu Park; Zhibin Ren; Young-Hee Kim; Kulkarni, P.; Chan, K.; Oldiges, P.; Jin Cai; Muralidhar, R.; Lauer, I.; Shahidi, G.;
2012 / IEEE
By: Hong He; Kuss, J.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Qing Liu; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; Kulkarni, P.; Juntao Li;
By: Hong He; Kuss, J.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Qing Liu; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; Kulkarni, P.; Juntao Li;
2011 / IEEE / 978-1-61284-760-3
By: Ponoth, S.; Vinet, M.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Hook, T.; Luning, S.; Levin, T.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Le Tiec, Y.; Sreenivasan, R.; Berliner, N.; Destefanis, V.; Kuss, J.; Mehta, S.; Loubet, N.; Khakifirooz, A.; Posseme, N.; Haran, B.; Cheng, K.; Liu, Q.; Grenouillet, L.; Kumar, A.; Kulkarni, P.;
By: Ponoth, S.; Vinet, M.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Hook, T.; Luning, S.; Levin, T.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Le Tiec, Y.; Sreenivasan, R.; Berliner, N.; Destefanis, V.; Kuss, J.; Mehta, S.; Loubet, N.; Khakifirooz, A.; Posseme, N.; Haran, B.; Cheng, K.; Liu, Q.; Grenouillet, L.; Kumar, A.; Kulkarni, P.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
1990 / IEEE
By: Ginsberg, B.; Lii, T.; Assenza, R.; Rodriguez, M.; Mader, S.; Bronner, G.; McFarland, P.; Wordeman, M.R.; Warnock, J.; Taur, Y.; Davari, B.; Shahidi, G.; Ning, T.H.; Polcari, M.;
By: Ginsberg, B.; Lii, T.; Assenza, R.; Rodriguez, M.; Mader, S.; Bronner, G.; McFarland, P.; Wordeman, M.R.; Warnock, J.; Taur, Y.; Davari, B.; Shahidi, G.; Ning, T.H.; Polcari, M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Acovic, A.; Sadana, D.K.; Davari, B.; Sun, J.; Cardone, F.; Grutzmacher, D.; Warren, A.C.; Hanafi, H.; Shahidi, G.;
By: Acovic, A.; Sadana, D.K.; Davari, B.; Sun, J.; Cardone, F.; Grutzmacher, D.; Warren, A.C.; Hanafi, H.; Shahidi, G.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Subbanna, S.; Harame, D.; Lii, T.; Malinowski, J.; Robertson, D.; Gilbreth, J.; Brodsky, S.; Shahidi, G.; Acovic, A.; Danner, D.; Franch, R.; Davari, B.; Comfort, J.; Chappell, B.;
By: Subbanna, S.; Harame, D.; Lii, T.; Malinowski, J.; Robertson, D.; Gilbreth, J.; Brodsky, S.; Shahidi, G.; Acovic, A.; Danner, D.; Franch, R.; Davari, B.; Comfort, J.; Chappell, B.;
1995 / IEEE / 0-7803-3062-5
By: Yee, D.S.; Schulz, R.; Wu, S.; Yapsir, A.S.; Chen, B.A.; Sadana, D.K.; Shahidi, G.; Davari, B.; Ning, T.H.; Hovel, H.J.;
By: Yee, D.S.; Schulz, R.; Wu, S.; Yapsir, A.S.; Chen, B.A.; Sadana, D.K.; Shahidi, G.; Davari, B.; Ning, T.H.; Hovel, H.J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3315-2
By: Hsieh, M.; Assaderaghi, F.; Wagner, L.; Shahidi, G.; Pelella, M.; Davari, B.; Dennard, R.; Chu, S.;
By: Hsieh, M.; Assaderaghi, F.; Wagner, L.; Shahidi, G.; Pelella, M.; Davari, B.; Dennard, R.; Chu, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Assaderaghi, F.; Wann, C.; Taur, Y.; Shahidi, G.; Chenming Hu; Dennard, R.;
By: Assaderaghi, F.; Wann, C.; Taur, Y.; Shahidi, G.; Chenming Hu; Dennard, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Leobandung, E.; Shahidi, G.; Ajmera, A.; Rausch, W.; Assaderaghi, F.; Schepis, D.; Davari, B.; Yee, D.; Bolam, R.; Wann, H.-J.; Wagner, L.;
By: Leobandung, E.; Shahidi, G.; Ajmera, A.; Rausch, W.; Assaderaghi, F.; Schepis, D.; Davari, B.; Yee, D.; Bolam, R.; Wann, H.-J.; Wagner, L.;
1998 / IEEE / 0-7803-4500-2
By: Wilson, S.; Henkels, W.H.; Hwang, W.; Joshi, R.V.; Shahidi, G.; Rausch, W.;
By: Wilson, S.; Henkels, W.H.; Hwang, W.; Joshi, R.V.; Shahidi, G.; Rausch, W.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Ajmera, A.; Schepis, D.; Wu, S.; Bolam, R.; Assaderaghi, F.; Rausch, W.; Sleight, J.; Sherony, M.; Leobandung, E.; Shahidi, G.; Davari, B.;
By: Ajmera, A.; Schepis, D.; Wu, S.; Bolam, R.; Assaderaghi, F.; Rausch, W.; Sleight, J.; Sherony, M.; Leobandung, E.; Shahidi, G.; Davari, B.;
1999 / IEEE / 4-930813-93-X
By: Coffey, M.; Hovel, H.; Bolam, R.; Assaderaghi, F.; Sleight, J.W.; Ajmera, A.; Shahidi, G.; Davari, B.; Wu, K.; Wagner, L.F.; Bryant, A.; Schepis, D.; Sadana, D.; Rausch, W.; Leobandung, E.; Lasky, J.;
By: Coffey, M.; Hovel, H.; Bolam, R.; Assaderaghi, F.; Sleight, J.W.; Ajmera, A.; Shahidi, G.; Davari, B.; Wu, K.; Wagner, L.F.; Bryant, A.; Schepis, D.; Sadana, D.; Rausch, W.; Leobandung, E.; Lasky, J.;
1999 / IEEE / 1-58637-007-X
By: Warriner, L.; Hui, D.; Voldman, S.; Shahidi, G.; Assaderaghi, F.; Howard, J.; Young, D.;
By: Warriner, L.; Hui, D.; Voldman, S.; Shahidi, G.; Assaderaghi, F.; Howard, J.; Young, D.;
1999 / IEEE / 0-7803-5456-7
By: Bolam, R.; Sherony, M.; Assaderaghi, F.; Ajmera, A.; Shahidi, G.; Chen, T.C.; Davari, B.; Wu, K.; Wagner, L.F.; Sleight, J.W.; Bryant, A.; Schepis, D.; Sadana, D.; Rausch, W.; Moy, D.; Maloney, M.; Lo, H.-S.; Leobandung, E.; Lasky, J.; Hovel, H.; Coffey, M.;
By: Bolam, R.; Sherony, M.; Assaderaghi, F.; Ajmera, A.; Shahidi, G.; Chen, T.C.; Davari, B.; Wu, K.; Wagner, L.F.; Sleight, J.W.; Bryant, A.; Schepis, D.; Sadana, D.; Rausch, W.; Moy, D.; Maloney, M.; Lo, H.-S.; Leobandung, E.; Lasky, J.; Hovel, H.; Coffey, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5456-7
By: Warriner, L.; Young, D.; Hui, D.; Voldman, S.; Shahidi, G.; Assaderaghi, F.; Akrout, C.; Rohrer, N.; Sherony, M.; Leobangdung, E.; Rausch, W.; Gross, V.; Howard, J.; Williams, R.;
By: Warriner, L.; Young, D.; Hui, D.; Voldman, S.; Shahidi, G.; Assaderaghi, F.; Akrout, C.; Rohrer, N.; Sherony, M.; Leobangdung, E.; Rausch, W.; Gross, V.; Howard, J.; Williams, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5410-9
By: Sadana, D.; Schepis, D.; Chu, W.; Khare, M.; Schulz, R.; Lo, S.-H.; Sherony, M.; Barth, E.; Leobandung, E.; Shahidi, G.; Davari, B.; Chen, T.-C.; Goldblan, R.; Biery, G.; Moy, D.; Assaderaghi, F.; White, F.; Sleight, I.; Boiam, R.;
By: Sadana, D.; Schepis, D.; Chu, W.; Khare, M.; Schulz, R.; Lo, S.-H.; Sherony, M.; Barth, E.; Leobandung, E.; Shahidi, G.; Davari, B.; Chen, T.-C.; Goldblan, R.; Biery, G.; Moy, D.; Assaderaghi, F.; White, F.; Sleight, I.; Boiam, R.;
1996 / IEEE / 1-878303-69-4
By: Sadana, D.; Yapsir, A.; Wu, S.; Schulz, R.; Gross, V.; Howard, J.; Hovel, H.; Voldman, S.; Shahidi, G.; Sun, J.Y.-C.; Chen, B.; Assaderaghi, F.; Walker, J.;
By: Sadana, D.; Yapsir, A.; Wu, S.; Schulz, R.; Gross, V.; Howard, J.; Hovel, H.; Voldman, S.; Shahidi, G.; Sun, J.Y.-C.; Chen, B.; Assaderaghi, F.; Walker, J.;
2000 / IEEE / 1-58537-018-5
By: Sherony, M.; Howard, J.; Williams, R.; Dreps, D.; Assaderaghi, F.; Young, D.; Hui, D.; Voldman, S.; Shahidi, G.;
By: Sherony, M.; Howard, J.; Williams, R.; Dreps, D.; Assaderaghi, F.; Young, D.; Hui, D.; Voldman, S.; Shahidi, G.;
2000 / IEEE / 0-7803-6389-2
By: Wagner, L.; Shih-Hsieh Lo; Yang, I.; Sherony, M.; Chen, T.-C.; Zamdmer, N.; Fung, S.K.H.; Assaderaghi, F.; Shahidi, G.;
By: Wagner, L.; Shih-Hsieh Lo; Yang, I.; Sherony, M.; Chen, T.-C.; Zamdmer, N.; Fung, S.K.H.; Assaderaghi, F.; Shahidi, G.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: Shahidi, G.; Bolam, R.; Badami, D.; Voldman, S.; Leobandung, E.; Wu, E.; Hook, T.; Mocuta, A.; Khare, M.; Assaderaghi, F.;
By: Shahidi, G.; Bolam, R.; Badami, D.; Voldman, S.; Leobandung, E.; Wu, E.; Hook, T.; Mocuta, A.; Khare, M.; Assaderaghi, F.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: Fung, S.K.H.; Zamdmer, N.; Assaderaghi, F.; Chen, T.C.; Crowder, S.; Yang, I.; Chuang, C.T.; Shahidi, G.; Joshi, R.; Lo, S.-H.; Sherony, M.; Mocuta, A.; Sleight, J.; Oldiges, P.J.;
By: Fung, S.K.H.; Zamdmer, N.; Assaderaghi, F.; Chen, T.C.; Crowder, S.; Yang, I.; Chuang, C.T.; Shahidi, G.; Joshi, R.; Lo, S.-H.; Sherony, M.; Mocuta, A.; Sleight, J.; Oldiges, P.J.;
2000 / IEEE / 964-360-057-2
By: Wu, K.; Lo, S.H.; Sleight, J.; Wagner, L.; Chen, T.-C.; Fung, S.; Shahidi, G.; Sherony, M.; Assaderaghi, F.;
By: Wu, K.; Lo, S.H.; Sleight, J.; Wagner, L.; Chen, T.-C.; Fung, S.; Shahidi, G.; Sherony, M.; Assaderaghi, F.;
2001 / IEEE / 4-89114-012-7
By: Joshi, R.V.; Chuang, C.T.; Fung, S.K.H.; Shahidi, G.; Sherony, M.; Yang, I.; Assaderaghi, F.;
By: Joshi, R.V.; Chuang, C.T.; Fung, S.K.H.; Shahidi, G.; Sherony, M.; Yang, I.; Assaderaghi, F.;
2001 / IEEE / 4-89114-012-7
By: Zamdmer, N.; Ray, A.; Plouchart, J.-O.; Wagner, L.; Fong, N.; Assaderghi, F.; Jin, W.; Smeys, P.; Yang, I.; Shahidi, G.; Jenkins, K.A.;
By: Zamdmer, N.; Ray, A.; Plouchart, J.-O.; Wagner, L.; Fong, N.; Assaderghi, F.; Jin, W.; Smeys, P.; Yang, I.; Shahidi, G.; Jenkins, K.A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7312-X
By: Oldiges, P.; Cai, J.; Ouyang, C.; Ajmera, A.; Steigerwalt, M.; Ning, T.; Shahidi, G.; Jenkins, K.; Stein, K.;
By: Oldiges, P.; Cai, J.; Ouyang, C.; Ajmera, A.; Steigerwalt, M.; Ning, T.; Shahidi, G.; Jenkins, K.; Stein, K.;
2003 / IEEE
By: Joshi, R.V.; Shahidi, G.; Yang, I.; Sherony, M.; Assaderaghi, F.; Fung, S.K.H.; Ching-Te Chuang;
By: Joshi, R.V.; Shahidi, G.; Yang, I.; Sherony, M.; Assaderaghi, F.; Fung, S.K.H.; Ching-Te Chuang;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Liu, X.; Sleight, J.W.; Holt, J.; Chen, H.; Ren, Z.; Haizhou Yin; Shahidi, G.; Ieong, M.; Sung, C.Y.; Kanarsky, T.; Sadana, D.K.; Bendernagel, R.; Pfeiffer, G.; Bedell, S.W.; Greene, B.J.; Chu, J.O.; Kim, Y.H.; Fried, D.M.; Chan, V.; Rim, K.;
By: Liu, X.; Sleight, J.W.; Holt, J.; Chen, H.; Ren, Z.; Haizhou Yin; Shahidi, G.; Ieong, M.; Sung, C.Y.; Kanarsky, T.; Sadana, D.K.; Bendernagel, R.; Pfeiffer, G.; Bedell, S.W.; Greene, B.J.; Chu, J.O.; Kim, Y.H.; Fried, D.M.; Chan, V.; Rim, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
2006 / IEEE / 1-4244-0161-5
By: Ott, J.A.; de Souza, J.P.; Bedell, S.W.; Pfeiffer, G.; Bendernagel, R.; Chan, V.; Sadana, D.K.; Sung, C.Y.; Khare, M.; Ieong, M.; Shahidi, G.; Zhang, R.; Hovel, H.J.; Saenger, K.L.; Ren, Z.; Haizhou Yin;
By: Ott, J.A.; de Souza, J.P.; Bedell, S.W.; Pfeiffer, G.; Bendernagel, R.; Chan, V.; Sadana, D.K.; Sung, C.Y.; Khare, M.; Ieong, M.; Shahidi, G.; Zhang, R.; Hovel, H.J.; Saenger, K.L.; Ren, Z.; Haizhou Yin;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Sung, C.Y.; Ng, H.; Haizhou Yin; Shahidi, G.; Khare, M.; Sadana, D.K.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Ku, V.; Kelly, R.; Mesfin, A.; Cheng, K.; Liu, J.; Wang, G.; Chen, X.; Ren, Z.; Ko, S.B.; Bendernagel, R.; Pfeiffer, G.; Ott, J.A.; Li, J.; Zhang, R.; Crowder, S.; Chan, V.; Saenger, K.L.;
By: Sung, C.Y.; Ng, H.; Haizhou Yin; Shahidi, G.; Khare, M.; Sadana, D.K.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Ku, V.; Kelly, R.; Mesfin, A.; Cheng, K.; Liu, J.; Wang, G.; Chen, X.; Ren, Z.; Ko, S.B.; Bendernagel, R.; Pfeiffer, G.; Ott, J.A.; Li, J.; Zhang, R.; Crowder, S.; Chan, V.; Saenger, K.L.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Haizhou Yin; Sung, C.Y.; Shahidi, G.; Khare, M.; Park, D.; Crowder, S.W.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Bendernagel, R.; Klemhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Li, J.; Wallner, T.A.; Stein, K.J.; Zhang, R.; Ng, H.; Saenger, K.L.; Hamaguchr, M.; Hasumi, R.; Ohuchr, K.;
By: Haizhou Yin; Sung, C.Y.; Shahidi, G.; Khare, M.; Park, D.; Crowder, S.W.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Bendernagel, R.; Klemhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Li, J.; Wallner, T.A.; Stein, K.J.; Zhang, R.; Ng, H.; Saenger, K.L.; Hamaguchr, M.; Hasumi, R.; Ohuchr, K.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Shahidi, G.; Solomon, P.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Khare, M.; Narayanan, V.; Bucchignano, J.J.; Rooks, M.J.; Topol, A.W.; Pagette, F.; Singco, G.U.; Bruley, J.; Gignac, L.; Besser, P.; Bin Yang; Chu, J.O.; D'Emic, C.; Murray, C.; Lavoie, C.; Ohuchi, K.; Dae-Gyu Park;
By: Shahidi, G.; Solomon, P.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Khare, M.; Narayanan, V.; Bucchignano, J.J.; Rooks, M.J.; Topol, A.W.; Pagette, F.; Singco, G.U.; Bruley, J.; Gignac, L.; Besser, P.; Bin Yang; Chu, J.O.; D'Emic, C.; Murray, C.; Lavoie, C.; Ohuchi, K.; Dae-Gyu Park;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1614-1
By: Haizhou Yin; Shahidi, G.; Park, D.-G.; Ning, T.H.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Kleinhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Cai, J.; Zhang, R.; Ohuchi, K.; Hasumi, R.; Sung, C.Y.; Saenger, K.L.; Hamaguchi, M.;
By: Haizhou Yin; Shahidi, G.; Park, D.-G.; Ning, T.H.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Kleinhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Cai, J.; Zhang, R.; Ohuchi, K.; Hasumi, R.; Sung, C.Y.; Saenger, K.L.; Hamaguchi, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Hamaguchi, M.; Yin, H.; Ishimaru, K.; Shahidi, G.; Park, D.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; de Souza, J.P.; Fogel, K.; Utomo, H.; Rovedo, N.; Zhang, R.; Ronsheim, P.; Zhu, Z.; Domenicucci, A.G.; Li, J.; Biscardi, M.; Kang, H.; Ott, J.A.; Takasu, Y.; Ohuchi, K.; Iijima, R.; Hasumi, R.; Sung, C.Y.; Saenger, K.L.;
By: Hamaguchi, M.; Yin, H.; Ishimaru, K.; Shahidi, G.; Park, D.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; de Souza, J.P.; Fogel, K.; Utomo, H.; Rovedo, N.; Zhang, R.; Ronsheim, P.; Zhu, Z.; Domenicucci, A.G.; Li, J.; Biscardi, M.; Kang, H.; Ott, J.A.; Takasu, Y.; Ohuchi, K.; Iijima, R.; Hasumi, R.; Sung, C.Y.; Saenger, K.L.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1954-8
By: Fuller, N.; Ouyang, C.; Xinlin Wang; Huiming Bu; Joseph, E.; Huang, E.; Shahidi, G.; Purushothaman, S.; Chun-Yung Sung; Haensch, W.; Sunfei Fang; Lauer, I.; Mallikarjunan, A.; Tien Cheng; Shobha, H.; Simonyi, E.;
By: Fuller, N.; Ouyang, C.; Xinlin Wang; Huiming Bu; Joseph, E.; Huang, E.; Shahidi, G.; Purushothaman, S.; Chun-Yung Sung; Haensch, W.; Sunfei Fang; Lauer, I.; Mallikarjunan, A.; Tien Cheng; Shobha, H.; Simonyi, E.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1954-8
By: Oldiges, P.; Tak Ning; Jin Cai; Shahidi, G.; Chou, A.; Haensch, W.; Rausch, W.; Kumar, A.;
By: Oldiges, P.; Tak Ning; Jin Cai; Shahidi, G.; Chou, A.; Haensch, W.; Rausch, W.; Kumar, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5063-3
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9129-2
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
2011 / IEEE
By: Jin Cai; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Kimball, A.; Huiming Bu; Edge, L.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kulkarni, P.;
By: Jin Cai; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Kimball, A.; Huiming Bu; Edge, L.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kulkarni, P.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap