Your Search Results

Use materials by this author in your textbook!

AcademicPub holds over eight million pieces of educational content – such as case studies and journal articles – for you to mix-and-match your way.

Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.

Author: Seixas, J.M.

Results

2004 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonzalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;
2006 / IEEE
By: Adragna, P.; Alexa, C.; Anderson, K.; Antonaki, A.; Batusov, V.; Bednar, P.; Binet, S.; Biscarat, C.; Blanchot, G.; Bogush, A.; Bohm, C.; Boldea, V.; Bosman, M.; Bromberg, C.; Budagov, J.; Caloba, L.; Calvet, D.; Carvalho, J.; Castelo, J.; Castillo, M.V.; Sforza, M.C.; Cavasinni, V.; Cerqueira, A.S.; Chadelas, R.; Costanzo, D.; Cogswell, F.; Constantinescu, S.; Crouau, M.; Cuenca, C.; Damazio, D.O.; Daudon, F.; David, M.; Davidek, T.; De, K.; Del Prete, T.; Di Girolamo, B.; Dita, S.; Dolejsi, J.; Dolezal, Z.; Dotti, A.; Downing, R.; Efthymiopoulos, I.; Errede, D.; Errede, S.; Farbin, A.; Fassouliotis, D.; Fedorko, I.; Fenyuk, A.; Ferdi, C.; Ferrer, A.; Flaminio, V.; Fullana, E.; Garde, V.; Giakoumopoulou, V.; Gildemeister, O.; Gilewsky, V.; Giangiobbe, V.; Giokaris, N.; Gomes, A.; Gonzalez, V.; Grabsky, V.; Grenier, P.; Gris, P.; Guarino, V.; Guicheney, C.; Gupta, A.; Hakobyan, H.; Haney, M.; Henriques, A.; Higon, E.; Holmgren, S.; Hurwitz, M.; Huston, J.; Iglesias, C.; And, K.J.; Junk, T.; Karyukhin, A.; Khubua, J.; Klereborn, J.; Korolkov, I.; Krivkova, P.; Kulchitsky, Y.; Kurochkin, Yu.; Kuzhir, P.; Lambert, D.; Le Compte, T.; Lefevre, R.; Leitner, R.; Lembesi, M.; Li, J.; Liablin, M.; Lokajicek, M.; Lomakin, Y.; Amengual, J.M.L.; Lupi, A.; Maidantchik, C.; Maio, A.; Maliukov, S.; Manousakis, A.; Marques, C.; Marroquim, F.; Martin, F.; Mazzoni, E.; Montarou, G.; Merritt, F.; Miagkov, A.; Miller, R.; Minashvili, I.; Miralles, L.; Nemecek, S.; Nessi, M.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Onofre, A.; Oreglia, M.; Pantea, D.; Pallin, D.; Pilcher, J.; Pina, J.; Pinhao, J.; Podlyski, F.; Portell, X.; Poveda, J.; Price, L.E.; Pribyl, L.; Proudfoot, J.; Ramstedt, M.; Reinmuth, G.; Richards, R.; Roda, C.; Romanov, V.; Rosnet, P.; Roy, P.; Rumiantsau, V.; Russakovich, N.; Salto, O.; Salvachua, B.; Sanchis, E.; Sanders, H.; Santoni, C.; Santos, J.; Saraiva, J.G.; Sarri, F.; Satsunkevitch, I.; Says, L.-P.; Schlager, G.; Schlereth, J.; Seixas, J.M.; Sellden, B.; Shevtsov, P.; Shochet, M.; Da Silva, P.; Silva, J.; Simaitis, V.; Sissakian, A.; Solodkov, A.; Solovianov, O.; Sosebee, M.; Spano, F.; Stanek, R.; Starchenko, E.; Starovoitov, P.; Suk, M.; Sykora, I.; Tang, F.; Tas, P.; Teuscher, R.; Tokar, S.; Topilin, N.; Torres, J.; Tsulaia, V.; Underwood, D.; Usai, G.; Valkar, S.; Valls, J.A.; Vartapetian, A.; Vazeille, F.; Vichou, I.; Vinogradov, V.; Vivarelli, I.; Volpi, M.; White, A.; Zaitsev, A.; Zenine, A.; Zenis, T.;
2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;