Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Schyns, E.
Results
1993 / IEEE
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Ambec, I.; Augustinus, A.; Barnoux, C.; Bostjancic, B.; Botner, O.; Budziak, A.; Carechio, P.; Cavalli, P.; Ceelie, L.; Cereseto, R.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Dam, P.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; Dulinski, W.; Eek, L.O.; Ekelof, T.; Erikson, J.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Galuszka, K.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Isenhower, D.; Johansson, H.; Karvelas, E.; Kindblom, P.; Koene, B.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kostarakis, P.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lorenz, P.; Loukas, D.; Lund-Jensen, B.; Maltezos, A.; Markou, A.; Mattsson, L.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Pakonski, K.; Perdikes, C.; Polok, G.; Robohm, A.; Sajot, G.; Sannino, M.; Saragas, E.; Schyns, E.; Squarcia, A.; Stavropoulos, G.; Stodulski, M.; Stopa, Z.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Thome, Z.; Traspedini, L.; Turala, M.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Warm, A.; Werner, J.; Xyroutsikos, S.; Zavrtanik, M.; Zevgolatakos, E.;
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Ambec, I.; Augustinus, A.; Barnoux, C.; Bostjancic, B.; Botner, O.; Budziak, A.; Carechio, P.; Cavalli, P.; Ceelie, L.; Cereseto, R.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Dam, P.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; Dulinski, W.; Eek, L.O.; Ekelof, T.; Erikson, J.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Galuszka, K.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Isenhower, D.; Johansson, H.; Karvelas, E.; Kindblom, P.; Koene, B.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kostarakis, P.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lorenz, P.; Loukas, D.; Lund-Jensen, B.; Maltezos, A.; Markou, A.; Mattsson, L.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Pakonski, K.; Perdikes, C.; Polok, G.; Robohm, A.; Sajot, G.; Sannino, M.; Saragas, E.; Schyns, E.; Squarcia, A.; Stavropoulos, G.; Stodulski, M.; Stopa, Z.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Thome, Z.; Traspedini, L.; Turala, M.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Warm, A.; Werner, J.; Xyroutsikos, S.; Zavrtanik, M.; Zevgolatakos, E.;
1991 / IEEE
By: Anassontzis, E.G.; Ioannou, P.; Kalkanis, G.; Katsanevas, S.; Kontaxis, I.; Koukoumelis, C.; Nounos, S.; Preve, P.; Resvanis, L.K.; Brunet, J.M.; Dolbeau, J.; Guglielmi, L.; Ledroit, F.; Poutot, D.; Tristram, G.; Baillon, P.; Barranco-Luque, M.; Davenport, M.; Delorme, S.; Dixon, J.; Dracos, M.; Fraissard, D.; Franco, J.B.; Gaumann, E.; Goret, B.; Hahn, F.; Haider, S.; Klempt, W.; Koene, B.; Lecoeur, G.; Mourgue, G.; Perez, J.; Queru, P.; Raynaud, J.; Rosso, E.; Soria-Buil, D.; Treille, D.; Tsirou, A.; Tzamarias, S.; Zanolini, M.; Aria, E.; Berst, J.D.; Bloch, D.; Christophel, E.; Dulinski, W.; Husson, D.; Juillot, P.; Schaeffer, M.; Galuszka, K.; Michalowski, J.; Stodulski, M.; Loukas, D.; Theodosiou, G.; Dalmagne, B.; Fulda-Quenzer, F.; Greguric, N.; Noppe, J.M.; Chevry, M.; Kesteman, J.; van Apeldoorn, G.; Brummer, N.; van Dam, P.; Diddens, A.N.; Evers, G.; Homma, J.; Hulman, F.; Koene, B.; Kok, H.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kuilman, W.; Langerveld, D.; Leenbeek, H.; Leguyt, R.; Schyns, E.; Toet, D.Z.; Ypma, T.; Dris, M.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Gazis, E.; Katsoufis, E.; Maltezos, S.; Papadopoulou, T.; Ekelof, T.; Drees, J.; Herbst, I.; Lenzen, G.; Thadome, J.; Werner, J.;
By: Anassontzis, E.G.; Ioannou, P.; Kalkanis, G.; Katsanevas, S.; Kontaxis, I.; Koukoumelis, C.; Nounos, S.; Preve, P.; Resvanis, L.K.; Brunet, J.M.; Dolbeau, J.; Guglielmi, L.; Ledroit, F.; Poutot, D.; Tristram, G.; Baillon, P.; Barranco-Luque, M.; Davenport, M.; Delorme, S.; Dixon, J.; Dracos, M.; Fraissard, D.; Franco, J.B.; Gaumann, E.; Goret, B.; Hahn, F.; Haider, S.; Klempt, W.; Koene, B.; Lecoeur, G.; Mourgue, G.; Perez, J.; Queru, P.; Raynaud, J.; Rosso, E.; Soria-Buil, D.; Treille, D.; Tsirou, A.; Tzamarias, S.; Zanolini, M.; Aria, E.; Berst, J.D.; Bloch, D.; Christophel, E.; Dulinski, W.; Husson, D.; Juillot, P.; Schaeffer, M.; Galuszka, K.; Michalowski, J.; Stodulski, M.; Loukas, D.; Theodosiou, G.; Dalmagne, B.; Fulda-Quenzer, F.; Greguric, N.; Noppe, J.M.; Chevry, M.; Kesteman, J.; van Apeldoorn, G.; Brummer, N.; van Dam, P.; Diddens, A.N.; Evers, G.; Homma, J.; Hulman, F.; Koene, B.; Kok, H.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kuilman, W.; Langerveld, D.; Leenbeek, H.; Leguyt, R.; Schyns, E.; Toet, D.Z.; Ypma, T.; Dris, M.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Gazis, E.; Katsoufis, E.; Maltezos, S.; Papadopoulou, T.; Ekelof, T.; Drees, J.; Herbst, I.; Lenzen, G.; Thadome, J.; Werner, J.;
1994 / IEEE
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Augustinus, A.; Botner, O.; Budziak, A.P.; Carecchio, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; de la Vega, A.S.; Dimitriou, N.; Eek, L.-O.; Ekelof, T.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Karvelas, E.; Koene, B.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, A.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Ostler, J.M.; Petrolini, A.; Polok, G.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Traspedini, L.; Tripodi, G.; Ullaland, O.; Zavrtanik, M.;
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Augustinus, A.; Botner, O.; Budziak, A.P.; Carecchio, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; de la Vega, A.S.; Dimitriou, N.; Eek, L.-O.; Ekelof, T.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Karvelas, E.; Koene, B.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, A.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Ostler, J.M.; Petrolini, A.; Polok, G.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Traspedini, L.; Tripodi, G.; Ullaland, O.; Zavrtanik, M.;
1994 / IEEE
By: Battaglia, M.; Berggren, M.; Bloch, D.; Bourdarios, C.; Brunet, J.M.; Buys, A.; Carrie, P.; Chevry, M.; Christophel, E.; D'Almagne, B.; Davenport, M.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Dris, M.; Engel, J.P.; Fassouliotis, D.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Fraissard, D.; Fulda, F.; Gazis, E.N.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Honore, P.F.; Huet, K.; Ioannou, P.; Juillot, P.; Karvelas, E.; Katsanevas, S.; Katsoufis, E.; Njaer, N.; Kluit, P.M.; Koene, B.; Kourkoumelis, C.; Lecoeur, G.; Lenzen, G.; Loukas, D.; Maltezos, A.; Maltezos, S.; Markou, A.; Mourgue, G.; Nicolaidou, R.; Papadopoulou, T.D.; Poutot, D.; Polok, G.; Rahmani, H.; Resvanis, L.K.; Schyns, E.; Strub, R.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Toet, D.Z.; Tristram, G.; Tsirou, A.; von Apeldoorn, G.; Arnoud, Y.; Aubret, C.; Baillon, P.;
By: Battaglia, M.; Berggren, M.; Bloch, D.; Bourdarios, C.; Brunet, J.M.; Buys, A.; Carrie, P.; Chevry, M.; Christophel, E.; D'Almagne, B.; Davenport, M.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Dris, M.; Engel, J.P.; Fassouliotis, D.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Fraissard, D.; Fulda, F.; Gazis, E.N.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Honore, P.F.; Huet, K.; Ioannou, P.; Juillot, P.; Karvelas, E.; Katsanevas, S.; Katsoufis, E.; Njaer, N.; Kluit, P.M.; Koene, B.; Kourkoumelis, C.; Lecoeur, G.; Lenzen, G.; Loukas, D.; Maltezos, A.; Maltezos, S.; Markou, A.; Mourgue, G.; Nicolaidou, R.; Papadopoulou, T.D.; Poutot, D.; Polok, G.; Rahmani, H.; Resvanis, L.K.; Schyns, E.; Strub, R.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Toet, D.Z.; Tristram, G.; Tsirou, A.; von Apeldoorn, G.; Arnoud, Y.; Aubret, C.; Baillon, P.;
1995 / IEEE
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Allen, D.; Andrieux, M.-L.; van Apeldoorn, G.; Arnoud, Y.; Aubret, C.; Augustinus, A.; Baillon, P.; Battaglia, M.; Berggren, M.; Bloch, D.; Botner, O.; Bourdarios, C.; Brunet, J.M.; Budziak, A.P.; Buys, A.; Carecchio, P.; Carrie, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Chevry, M.; Christophel, E.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; D'Almagne, B.; Davenport, M.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Dris, M.; Ekelof, T.; Garcia, J.; Gazis, E.N.; Gillespi, D.; Gracco, V.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Hallgren, A.; Hao, W.; Honore, P.F.; Huet, K.; Ilie, S.; Ioannou, P.; Julliot, P.; Karvelas, E.; Katsanevas, S.; Katoufis, E.; Kjaer, N.; Kluit, P.M.; Koene, B.; Kourkoumelis, C.; Lecoeur, G.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, S.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Mourgue, G.; Nielsen, B.S.; Nicolaidou, R.; Papadopoulou, Th.D.; Petrolini, A.; Poutot, D.; Polok, G.; Rahmani, H.; Reale, M.; Resvanis, L.K.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Stassi, P.; Strub, R.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Tobar, M.J.; Toet, D.Z.; Transpedini, L.; Tripodi, G.; Tristram, G.; Tsirou, A.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Zartanik, M.;
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Allen, D.; Andrieux, M.-L.; van Apeldoorn, G.; Arnoud, Y.; Aubret, C.; Augustinus, A.; Baillon, P.; Battaglia, M.; Berggren, M.; Bloch, D.; Botner, O.; Bourdarios, C.; Brunet, J.M.; Budziak, A.P.; Buys, A.; Carecchio, P.; Carrie, P.; Cavalli, P.; Cerutti, G.; Chevry, M.; Christophel, E.; Dahl-Jensen, E.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; D'Almagne, B.; Davenport, M.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Dris, M.; Ekelof, T.; Garcia, J.; Gazis, E.N.; Gillespi, D.; Gracco, V.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Hallgren, A.; Hao, W.; Honore, P.F.; Huet, K.; Ilie, S.; Ioannou, P.; Julliot, P.; Karvelas, E.; Katsanevas, S.; Katoufis, E.; Kjaer, N.; Kluit, P.M.; Koene, B.; Kourkoumelis, C.; Lecoeur, G.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lopez Aguera, A.; Loukas, D.; Maltezos, S.; Markou, A.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Mourgue, G.; Nielsen, B.S.; Nicolaidou, R.; Papadopoulou, Th.D.; Petrolini, A.; Poutot, D.; Polok, G.; Rahmani, H.; Reale, M.; Resvanis, L.K.; Sajot, G.; Sannino, M.; Schyns, E.; Squarcia, S.; Stassi, P.; Strub, R.; Thadome, J.; Theodosiou, G.E.; Tobar, M.J.; Toet, D.Z.; Transpedini, L.; Tripodi, G.; Tristram, G.; Tsirou, A.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Zartanik, M.;
2005 / IEEE
By: Braem, A.; Paic, G.; Belin, B.; Andres, Y.; Di Mauro, A.; Tauro, A.; Sgura, I.; Schyns, E.; Santiard, J.C.; Piuz, F.; Pastore, C.; Chileev, K.; Nappi, E.; Martinengo, P.; Kurepin, A.; Hoedlmoser, H.; Guber, F.; Gallas, A.; Fratino, U.; Franco, A.; Di Bari, D.; De Cataldo, G.; Davenport, M.;
By: Braem, A.; Paic, G.; Belin, B.; Andres, Y.; Di Mauro, A.; Tauro, A.; Sgura, I.; Schyns, E.; Santiard, J.C.; Piuz, F.; Pastore, C.; Chileev, K.; Nappi, E.; Martinengo, P.; Kurepin, A.; Hoedlmoser, H.; Guber, F.; Gallas, A.; Fratino, U.; Franco, A.; Di Bari, D.; De Cataldo, G.; Davenport, M.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap