Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Schreiber, S.
Results
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Suberlucq, G.; Schreiber, S.; Rinolfi, L.; Madsen, J.H.B.; Kamber, I.; Godot, J.C.; Wilson, I.; Delahaye, J.P.; Comunian, M.; Chautard, F.; Braun, H.; Bossart, R.; Wuensch, W.;
By: Suberlucq, G.; Schreiber, S.; Rinolfi, L.; Madsen, J.H.B.; Kamber, I.; Godot, J.C.; Wilson, I.; Delahaye, J.P.; Comunian, M.; Chautard, F.; Braun, H.; Bossart, R.; Wuensch, W.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Schreiber, S.; Baboi, N.; Weise, H.; Simrock, S.; Bernard, M.; Napoly, O.; Magne, C.; Lalot, M.; Joly, J.M.; Jablonka, M.; Fartoukh, S.;
By: Schreiber, S.; Baboi, N.; Weise, H.; Simrock, S.; Bernard, M.; Napoly, O.; Magne, C.; Lalot, M.; Joly, J.M.; Jablonka, M.; Fartoukh, S.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Ross, M.; Schlarb, H.; Poirier, F.; Ross, I.N.; Kamps, T.; Honkavaara, K.; Frisch, J.; Blair, G.A.; Wittenburg, K.; Wendt, M.; Walker, N.; Sertore, D.; Schreiber, S.; Schmuser, P.;
By: Ross, M.; Schlarb, H.; Poirier, F.; Ross, I.N.; Kamps, T.; Honkavaara, K.; Frisch, J.; Blair, G.A.; Wittenburg, K.; Wendt, M.; Walker, N.; Sertore, D.; Schreiber, S.; Schmuser, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Sertore, D.; Schreiber, S.; Piot, P.; Catani, L.; Cianchi, A.; Flottmann, K.;
By: Sertore, D.; Schreiber, S.; Piot, P.; Catani, L.; Cianchi, A.; Flottmann, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Schreiber, S.; Castro, P.; Weiland, T.; Ratschow, S.; Beinhauer, W.; Krassilnikov, M.; Koch, W.; Cee, R.; Novokhatski, A.;
By: Schreiber, S.; Castro, P.; Weiland, T.; Ratschow, S.; Beinhauer, W.; Krassilnikov, M.; Koch, W.; Cee, R.; Novokhatski, A.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Weiland, T.; Ratschow, S.; Novokhatski, A.; Krassilnikov, M.; Castro, P.; Cee, R.; Beinhauer, W.; Koch, W.; Schreiber, S.;
By: Weiland, T.; Ratschow, S.; Novokhatski, A.; Krassilnikov, M.; Castro, P.; Cee, R.; Beinhauer, W.; Koch, W.; Schreiber, S.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Napoly, O.; Baboi, N.; Luong, M.; Lethiers, V.; Lalot, M.; Jablonka, M.; Magne, C.; Wendt, M.; Sertore, D.; Schreiber, S.; Minty, M.; Liepe, M.; Kreps, G.; Huning, M.; Gossel, A.; Castro, P.;
By: Napoly, O.; Baboi, N.; Luong, M.; Lethiers, V.; Lalot, M.; Jablonka, M.; Magne, C.; Wendt, M.; Sertore, D.; Schreiber, S.; Minty, M.; Liepe, M.; Kreps, G.; Huning, M.; Gossel, A.; Castro, P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: v Hartrott, M.; Weiland, T.; Kramer, D.; Carneiro, J.-P.; Flottmann, K.; Rossbach, J.; Schreiber, S.; Abrahamyan, K.; Bahr, J.; Bohnet, I.; Gensch, U.; Grabosch, H.-J.; Han, J.H.; Krasilnikov, M.; Lipka, D.; Oppelt, A.; Miltchev, V.; Petrossyan, B.; Stephan, F.; Michelato, P.; Pagani, C.; Sertore, D.; Tsakov, I.; Redlin, H.; Sandner, W.; Schumann, R.; Will, I.; Cee, R.; Setzer, S.; Jaeschke, E.;
By: v Hartrott, M.; Weiland, T.; Kramer, D.; Carneiro, J.-P.; Flottmann, K.; Rossbach, J.; Schreiber, S.; Abrahamyan, K.; Bahr, J.; Bohnet, I.; Gensch, U.; Grabosch, H.-J.; Han, J.H.; Krasilnikov, M.; Lipka, D.; Oppelt, A.; Miltchev, V.; Petrossyan, B.; Stephan, F.; Michelato, P.; Pagani, C.; Sertore, D.; Tsakov, I.; Redlin, H.; Sandner, W.; Schumann, R.; Will, I.; Cee, R.; Setzer, S.; Jaeschke, E.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Sekutowicz, J.; Albrecht, C.; Ayvazyan, V.; Bandelmann, R.; Buttner, T.; Castro, P.; Choroba, S.; Eschke, J.; Faatz, B.; Gossel, A.; Honkavaara, K.; Horst, B.; Iversen, J.; Jensch, K.; Kaiser, H.; Kammering, R.; Kreps, G.; Kostin, D.; Lange, R.; Lorkiewicz, J.; Matheisen, A.; Moller, W.D.; Peters, H.B.; Proch, D.; Rehlich, K.; Reschke, D.; Schlarb, H.; Schreiber, S.; Simrock, S.; Singer, W.; Singer, X.; Twarowski, K.; Weichert, G.; Wendt, M.; Wojtkiewicz, G.; Zapfe, K.; Liepe, M.; Huening, M.; Ferrario, M.; Plawski, E.; Pagani, C.; Baboi, N.; Chen, H.; Wenhui, H.; Tang, C.; Zheng, S.;
By: Sekutowicz, J.; Albrecht, C.; Ayvazyan, V.; Bandelmann, R.; Buttner, T.; Castro, P.; Choroba, S.; Eschke, J.; Faatz, B.; Gossel, A.; Honkavaara, K.; Horst, B.; Iversen, J.; Jensch, K.; Kaiser, H.; Kammering, R.; Kreps, G.; Kostin, D.; Lange, R.; Lorkiewicz, J.; Matheisen, A.; Moller, W.D.; Peters, H.B.; Proch, D.; Rehlich, K.; Reschke, D.; Schlarb, H.; Schreiber, S.; Simrock, S.; Singer, W.; Singer, X.; Twarowski, K.; Weichert, G.; Wendt, M.; Wojtkiewicz, G.; Zapfe, K.; Liepe, M.; Huening, M.; Ferrario, M.; Plawski, E.; Pagani, C.; Baboi, N.; Chen, H.; Wenhui, H.; Tang, C.; Zheng, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Sekutowicz, J.; Schreiber, S.; Schlarb, H.; Kammering, R.; Castro, P.; Simrock, S.; Ayvazyan, V.; Ferrario, M.; Huning, M.; Wendt, M.;
By: Sekutowicz, J.; Schreiber, S.; Schlarb, H.; Kammering, R.; Castro, P.; Simrock, S.; Ayvazyan, V.; Ferrario, M.; Huning, M.; Wendt, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Wendt, M.; Sekutowicz, J.; Schreiber, S.; Gossel, A.; Castro, P.; Baboi, N.;
By: Wendt, M.; Sekutowicz, J.; Schreiber, S.; Gossel, A.; Castro, P.; Baboi, N.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Han, J.H.; Bahr, J.; Sertore, D.; Monaco, L.; Michelato, P.; Ronsch, J.; Schreiber, S.; Flottmann, K.; Hartrott, M.V.; Stephan, F.; Staykov, L.; Riemann, S.; Petrosyan, B.; Grabosch, H.-J.; Krasilnikov, M.; Miltchev, V.; Oppelt, A.;
By: Han, J.H.; Bahr, J.; Sertore, D.; Monaco, L.; Michelato, P.; Ronsch, J.; Schreiber, S.; Flottmann, K.; Hartrott, M.V.; Stephan, F.; Staykov, L.; Riemann, S.; Petrosyan, B.; Grabosch, H.-J.; Krasilnikov, M.; Miltchev, V.; Oppelt, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Han, J.H.; Bahr, J.; Sertore, D.; Monaco, L.; Michelato, P.; Ronsch, J.; Schreiber, S.; Flottmann, K.; Hartrott, M.V.; Stephan, F.; Staykov, L.; Riemann, S.; Petrosyan, B.; Grabosch, H.-J.; Krasilnikov, M.; Miltchev, V.; Oppelt, A.;
By: Han, J.H.; Bahr, J.; Sertore, D.; Monaco, L.; Michelato, P.; Ronsch, J.; Schreiber, S.; Flottmann, K.; Hartrott, M.V.; Stephan, F.; Staykov, L.; Riemann, S.; Petrosyan, B.; Grabosch, H.-J.; Krasilnikov, M.; Miltchev, V.; Oppelt, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Krasilnikov, M.; Abrahamyan, K.; Weiland, T.; Schnepp, S.; Muller, W.F.O.; Ackermann, W.; Will, I.; Sandner, W.; Tsakov, I.; Sertore, D.; Pagani, C.; Monaco, L.; Michelato, P.; Asova, G.; Bahr, J.; Dimitrov, G.; Gensch, U.; Grabosch, H.-J.; Han, J.H.; Khodyachykh, S.; Liu, S.; Miltchev, V.; Oppelt, A.; Petrosyan, B.; Riemann, S.; Staykov, L.; Stephan, F.; Hartrott, M.v.; Jaeschke, E.; Kramer, D.; Lipka, D.; Richter, D.; Carneiro, J.-P.; Flottmann, K.; Schreiber, S.; Ronsch, J.; Rossbach, J.;
By: Krasilnikov, M.; Abrahamyan, K.; Weiland, T.; Schnepp, S.; Muller, W.F.O.; Ackermann, W.; Will, I.; Sandner, W.; Tsakov, I.; Sertore, D.; Pagani, C.; Monaco, L.; Michelato, P.; Asova, G.; Bahr, J.; Dimitrov, G.; Gensch, U.; Grabosch, H.-J.; Han, J.H.; Khodyachykh, S.; Liu, S.; Miltchev, V.; Oppelt, A.; Petrosyan, B.; Riemann, S.; Staykov, L.; Stephan, F.; Hartrott, M.v.; Jaeschke, E.; Kramer, D.; Lipka, D.; Richter, D.; Carneiro, J.-P.; Flottmann, K.; Schreiber, S.; Ronsch, J.; Rossbach, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Carter, J.; Agapov, I.; Malton, S.; Boogert, S.T.; Howell, D.F.; Delerue, N.; Wittenburg, K.; Schreiber, S.; Lewin, H.; Balewski, K.; Kamps, T.; Price, M.T.; Poirier, F.; Blair, G.A.; Boorman, G.; Driouichi, C.;
By: Carter, J.; Agapov, I.; Malton, S.; Boogert, S.T.; Howell, D.F.; Delerue, N.; Wittenburg, K.; Schreiber, S.; Lewin, H.; Balewski, K.; Kamps, T.; Price, M.T.; Poirier, F.; Blair, G.A.; Boorman, G.; Driouichi, C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0825-2
By: Drewes, J.; May, J.; Fay, A.; Schmidberger, T.; Schreiber, S.; Schnieder, E.;
By: Drewes, J.; May, J.; Fay, A.; Schmidberger, T.; Schreiber, S.; Schnieder, E.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Bosco, A.; Malton, S.; Boogert, S.T.; Boorman, G.; Blair, G.A.; Price, M.T.; Wittenburg, K.; Walker, N.; Schreiber, S.; Poirier, F.; Lewin, H.-C.; Gharibyan, V.; Elsen, E.; Balewski, K.; Kamps, T.;
By: Bosco, A.; Malton, S.; Boogert, S.T.; Boorman, G.; Blair, G.A.; Price, M.T.; Wittenburg, K.; Walker, N.; Schreiber, S.; Poirier, F.; Lewin, H.-C.; Gharibyan, V.; Elsen, E.; Balewski, K.; Kamps, T.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap