Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Schmuser, P.
Results
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Brauer, D.; Chermenin, S.; Borchardt, I.; Wolff, S.; Trines, D.; Todten, G.; Schwarz, W.; Schollmeier, S.; Schmuser, P.; Sanok, Z.; Riemer, U.; Pieczora, K.; Petersen, B.; Peters, O.; Maywald, H.; Leenen, M.; Kus, R.; Hubert, D.; Holz, J.; Grabe, H.; Fiebig, H.J.; Escherich, K.; Degele, D.;
By: Brauer, D.; Chermenin, S.; Borchardt, I.; Wolff, S.; Trines, D.; Todten, G.; Schwarz, W.; Schollmeier, S.; Schmuser, P.; Sanok, Z.; Riemer, U.; Pieczora, K.; Petersen, B.; Peters, O.; Maywald, H.; Leenen, M.; Kus, R.; Hubert, D.; Holz, J.; Grabe, H.; Fiebig, H.J.; Escherich, K.; Degele, D.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Halemeyer, M.; Preissner, H.; Meinke, R.; Krzywinski, J.; Gall, D.; Schmuser, P.; van de Klundert, L.J.M.; ter Avest, D.; Bruck, H.; Stiening, R.; Stolzenburg, C.;
By: Halemeyer, M.; Preissner, H.; Meinke, R.; Krzywinski, J.; Gall, D.; Schmuser, P.; van de Klundert, L.J.M.; ter Avest, D.; Bruck, H.; Stiening, R.; Stolzenburg, C.;
1993 / IEEE
By: Preissner, H.; Meinke, R.; Krzywinski, J.; Gall, D.; Bruck, H.; Schmuser, P.; Halemeyer, M.;
By: Preissner, H.; Meinke, R.; Krzywinski, J.; Gall, D.; Bruck, H.; Schmuser, P.; Halemeyer, M.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Champion, M.; Pekeler, M.; Bartelson, L.; Barnes, P.; Kirchgessner, J.; Tigner, M.; Sears, J.; Schmuser, P.; Pfeffer, H.; Crawford, C.; Padamsee, H.; Muller, H.; Moffat, D.; Metzger, D.; Matheisen, A.; Kuchnir, M.; Koepke, K.; Graber, J.; Edwards, H.;
By: Champion, M.; Pekeler, M.; Bartelson, L.; Barnes, P.; Kirchgessner, J.; Tigner, M.; Sears, J.; Schmuser, P.; Pfeffer, H.; Crawford, C.; Padamsee, H.; Muller, H.; Moffat, D.; Metzger, D.; Matheisen, A.; Kuchnir, M.; Koepke, K.; Graber, J.; Edwards, H.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Sears, J.; Schmuser, P.; Padamsee, H.; Moffat, D.; Graber, J.; Crawford, C.; Barnes, P.; Kirchgessner, J.;
By: Sears, J.; Schmuser, P.; Padamsee, H.; Moffat, D.; Graber, J.; Crawford, C.; Barnes, P.; Kirchgessner, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Schmidt, G.; Geitz, M.; Tonutti, M.; Siedling, R.; Berger, C.; Leissner, B.; Schmuser, P.;
By: Schmidt, G.; Geitz, M.; Tonutti, M.; Siedling, R.; Berger, C.; Leissner, B.; Schmuser, P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Volkov, O.Y.; Hanke, K.; Geitz, M.; Tonutti, M.; Menzel, J.; Schmuser, P.; Shirotov, V.V.; Pavlovskii, V.V.; Poppe, U.; Divin, Y.Y.;
By: Volkov, O.Y.; Hanke, K.; Geitz, M.; Tonutti, M.; Menzel, J.; Schmuser, P.; Shirotov, V.V.; Pavlovskii, V.V.; Poppe, U.; Divin, Y.Y.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Ross, M.; Schlarb, H.; Poirier, F.; Ross, I.N.; Kamps, T.; Honkavaara, K.; Frisch, J.; Blair, G.A.; Wittenburg, K.; Wendt, M.; Walker, N.; Sertore, D.; Schreiber, S.; Schmuser, P.;
By: Ross, M.; Schlarb, H.; Poirier, F.; Ross, I.N.; Kamps, T.; Honkavaara, K.; Frisch, J.; Blair, G.A.; Wittenburg, K.; Wendt, M.; Walker, N.; Sertore, D.; Schreiber, S.; Schmuser, P.;
1985 / IEEE
By: Knust, G.; Wiik, B.; Kaiser, H.; Horlitz, G.; Lierl, H.; Schmuser, P.; Wolff, S.; Mess, K.-H.;
By: Knust, G.; Wiik, B.; Kaiser, H.; Horlitz, G.; Lierl, H.; Schmuser, P.; Wolff, S.; Mess, K.-H.;
1987 / IEEE
By: Wolff, S.; Balewski, K.; Wiik, B.; Schmuser, P.; Dustmann, C.-H.; Degele, D.; Mess, K.-H.; Lierl, H.; Kaiser, H.; Horlitz, G.;
By: Wolff, S.; Balewski, K.; Wiik, B.; Schmuser, P.; Dustmann, C.-H.; Degele, D.; Mess, K.-H.; Lierl, H.; Kaiser, H.; Horlitz, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Schmuser, P.; Winter, A.; Katner, F.X.; Chen, J.; Jung-Won Kim; Ilday, F.O.; Schlarb, H.;
By: Schmuser, P.; Winter, A.; Katner, F.X.; Chen, J.; Jung-Won Kim; Ilday, F.O.; Schlarb, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Schmidt, B.; Schlarb, H.; Casalbuoni, S.; Winter, A.; Schmuser, P.; Steffen, B.;
By: Schmidt, B.; Schlarb, H.; Casalbuoni, S.; Winter, A.; Schmuser, P.; Steffen, B.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Casalbuoni, S.; Steffen, B.; Winter, A.; Schmuser, P.; Schmidt, B.; Schlarb, H.; Knabbe, E.-A.;
By: Casalbuoni, S.; Steffen, B.; Winter, A.; Schmuser, P.; Schmidt, B.; Schlarb, H.; Knabbe, E.-A.;