Author: Schiavi, C.

2004 / IEEE
By: Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.; Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;

2004 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonzalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;

2004 / IEEE
By: Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.;

2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Le Vine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner- Sadenius, T.; Segura, E.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Siebel, A.; Mattig, P.; Bohme, J.; Kootz, A.; Schiavi, C.; Parodi, F.; Cervetto, M.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Kostantinidis, N.; Schiavi, C.; Parodi, F.; Cervetto, M.; Sutton, M.; Drevermann, H.; Emiluiyanov, D.; Baines, J.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Armstrong, S.; Anjos, A.D.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.I.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2005 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Wu, X.; Woehring, E.; Wielers, M.; Watson, A.; Teixeira-Dias, R.; Thomas, E.; Sutton, M.; Stefanidis, E.; Sivoklokov, S.; Schiavi, C.; Santamarina, C.; Pretzl, K.; Perez Reale, V.; Parodi, F.; Padilla, C.; Osuna, C.; Mello, A.G.; McMahon, T.; Lowe, A.; Kootz, A.; Konstantinidis, N.; Kilvington, G.; Khomich, A.; Goncalo, R.; George, S.; Gaumer, O.; Casado, P.; Clark, A.; Conde-Muino, P.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Emeliyanovi, D.;

2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; Assamagan, K.A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Carlino, G.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; Conventi, F.; De Santo, A.; de Seixas, J.M.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; dos Anjos, A.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Primavera, M.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;

2006 / IEEE
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kostantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luci, C.; Luminari, L.; Maeno, T.; Marzano, F.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;

2006 / IEEE
By: Schiavi, C.;

2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;

2006 / IEEE
By: Mello, A.G.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Muino, P.C.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usaib, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2007 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J. T. M.; Bee, C. P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J. A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P. C.; De Santo, A.; Gomez, M. D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A. G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V. P.; Pinfold, J. L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D. A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J. M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B. V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F. J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Riu, I.; Abolms, M.; Adragna, P.; Avolio, G.; Backhand, S.; Badescu, E.; Batreanu, S.; Battaglia, A.; Beck, H.; Bee, C.; Blair, R.R.; Bogaerts, A.; Bold, T.; Bosnian, M.; Boyd, J.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Cimino, D.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Costa, M.J.; Torres, R.C.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; De Almeida Simoes, J.; DellaPietra, M.; Demers, S.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Dos Anjos, A.; Dotti, A.; Drake, G.; Ellis, N.; Ermoline, Y.; Eschrich, I.; Ferland, J.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; Gaudio, G.; Gorini, B.; Gowdy, S.; Green, B.; Haberichter, W.; Hadavand, H.; Haeberli, C.; Hauschild, M.; Hauser, R.; Hillier, S.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Idarraga, J.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kekoe, R.; Kieft, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Kordas, K.; Korcyl, K.; Kugel, A.; Leahu, L.; Leahu, M.; Miotto, G.L.; Lellouch, D.; Mapelli, L.; Martin, B.; Masik, J.; Mcpherson, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Mueller, M.; Garcia, R.M.; Nagasaka, Y.; Negri, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Pauly, T.; Petersen, J.; Pope, B.; Renkel, P.; Roda, C.; Salvatore, D.; Scannicchio, D.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Scholtes, I.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stelzer, J.; Strong, J.; Sushkov, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelh, W.; Vermeulen, J.; Von Der Schmitt, J.; Werner, P.; Wheeler-Ellis, S.; Wickens, F.; Wiedenmann, W.; Wilkens, H.; Wmklmeier, F.; Wu, X.; Yasu, Y.; Zema, F.; Zhang, J.; Zobermg, H.;

2008 / IEEE
By: Stelzer, J.; Wu, X.; Risler, C.; Reale, V.P.; zur Nedden, M.; Masik, J.; Schiavi, C.; Hoecker, A.; Haller, J.; George, S.; Fischer, G.; Eifert, T.; Bold, T.; Berger, N.;

2008 / IEEE
By: Riu, I.; Abolins, M.; Adragna, P.; Avolio, G.; Backlund, S.; Badescu, E.; Baines, J.; Batreanu, S.; Battaglia, A.; Beck, H.P.; Bee, C.; Bell, P.; Blair, R.R.; Bogaerts, A.; Bold, T.; Bosman, M.; Boyd, J.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Cimino, D.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Costa, M.J.; Torres, R.C.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; De Almeida Simoes, J.; DellaPietra, M.; Demers, S.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Dos Anjos, A.; Dotti, A.; Drake, G.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Ermoline, Y.; Eschrich, I.; Ferland, J.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; Gaudio, G.; Gorini, B.; Gowdy, S.; Green, B.; Haberichter, W.; Hadavand, H.; Haeberli, C.; Hauschild, M.; Hauser, R.; Hillier, S.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Idarraga, J.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kehoe, R.; Kieft, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Kordas, K.; Korcyl, K.; Kugel, A.; Leahu, L.; Leahu, M.; Miotto, G.L.; Lellouch, D.; Mapelli, L.; Martin, B.; Masik, J.; Mcpherson, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Mueller, M.; Garcia, R.M.; Nagasaka, Y.; Negri, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Pauly, T.; Petersen, J.; Pope, B.; Renkel, P.; Roda, C.; Salvatore, D.; Scannicchio, D.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Scholtes, I.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stelzer, J.; Strong, J.; Sushkov, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelli, W.; Vermeulen, J.; Von Der Schmitt, J.; Werner, P.; Wheeler-Ellis, S.; Wickens, F.; Wiedenmann, W.; Wilkens, H.; Winklmeier, F.; Wu, X.; Yasu, Y.; Zema, F.; Zhang, J.; Zobernig, H.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Schwartzman, A.; Schiavi, C.; Parodi, F.; Lowe, A.; Alpigiani, C.; Coccaro, A.;

2009 / IEEE
By: Coccaro, A.; Lowe, A.; Parodi, F.; Schiavi, C.; Schwartzman, A.;