Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sauerbrey, R.
Results
Performance characteristics of an injection-controlled electron-beam pumped XeF(C to A) laser system
1988 / IEEEBy: Hamada, N.; Nighan, W.L.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.; Sauerbrey, R.;
1991 / IEEE
By: Sauerbrey, R.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Yamaguchi, S.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.;
By: Sauerbrey, R.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Yamaguchi, S.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.;
1989 / IEEE
By: Benedict, C.; Farrell, R.; Cartwright, J.; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.; Saidi, I.S.; Pettit, G.H.;
By: Benedict, C.; Farrell, R.; Cartwright, J.; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.; Saidi, I.S.; Pettit, G.H.;
1990 / IEEE
By: Fowler, M.C.; Yamaguchi, S.; Hirst, G.J.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Nighan, W.L.; Tittel, F.K.; Sauerbrey, R.; Wilson, W.L., Jr.;
By: Fowler, M.C.; Yamaguchi, S.; Hirst, G.J.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Nighan, W.L.; Tittel, F.K.; Sauerbrey, R.; Wilson, W.L., Jr.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Schillinger, H.; Feurer, T.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Sauerbrey, R.; Theobald, W.; Hassner, R.; Schafer, G.;
By: Schillinger, H.; Feurer, T.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Sauerbrey, R.; Theobald, W.; Hassner, R.; Schafer, G.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Schafer, G.; Sauerbrey, R.; Schillinger, H.; Feurer, T.; Theobald, W.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Hassner, R.;
By: Schafer, G.; Sauerbrey, R.; Schillinger, H.; Feurer, T.; Theobald, W.; Michelmann, K.; Niedermeier, S.; Hassner, R.;
1994 / IEEE / 0-7803-1791-2
By: Farkas, G.Y.; Toth, C.S.; Kroo, N.; LeBlanc, S.P.; Zang-Fen Qi; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.;
By: Farkas, G.Y.; Toth, C.S.; Kroo, N.; LeBlanc, S.P.; Zang-Fen Qi; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.;
1989 / IEEE
By: Tittle, F.; Sauerbrey, R.; Hirst, G.; Dane, B.; Shannon, J.; Olson, T.; Montgomery, M.; McAllister, G.; Chen, Y.G.; Lloyd, S.; Wilson, W.;
By: Tittle, F.; Sauerbrey, R.; Hirst, G.; Dane, B.; Shannon, J.; Olson, T.; Montgomery, M.; McAllister, G.; Chen, Y.G.; Lloyd, S.; Wilson, W.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Franco, M.; Kasparian, J.; Sauerbrey, R.; Yu, J.; Woste, L.; Wolf, J.-P.; Wille, H.; Tzortzakis, S.; Schillinger, H.; Niedermeier, S.; Ronneberger, F.; Rodriguez, M.; Rairoux, P.; Prade, B.; Mysyrowicz, A.; Mondelain, D.;
By: Franco, M.; Kasparian, J.; Sauerbrey, R.; Yu, J.; Woste, L.; Wolf, J.-P.; Wille, H.; Tzortzakis, S.; Schillinger, H.; Niedermeier, S.; Ronneberger, F.; Rodriguez, M.; Rairoux, P.; Prade, B.; Mysyrowicz, A.; Mondelain, D.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Dusterer, S.; Schwoerer, H.; Behrens, R.; Sauerbrey, R.; Uschmann, I.; Feurer, T.; Ziener, C.;
By: Dusterer, S.; Schwoerer, H.; Behrens, R.; Sauerbrey, R.; Uschmann, I.; Feurer, T.; Ziener, C.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Topfer, T.; Perry, M.D.; Hein, J.; Quednau, G.; Hellwing, M.; Philipps, J.; Walther, H.-G.; Theobald, W.; Sauerbrey, R.; Wintzer, W.; Ehrt, D.; Stollberg, K.; Wolff, D.; Habs, D.;
By: Topfer, T.; Perry, M.D.; Hein, J.; Quednau, G.; Hellwing, M.; Philipps, J.; Walther, H.-G.; Theobald, W.; Sauerbrey, R.; Wintzer, W.; Ehrt, D.; Stollberg, K.; Wolff, D.; Habs, D.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Feurer, T.; Theobald, W.; Veisz, L.; Sauerbrey, R.; Gibbon, P.; Schillinger, H.;
By: Feurer, T.; Theobald, W.; Veisz, L.; Sauerbrey, R.; Gibbon, P.; Schillinger, H.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Stobrawa, G.; Ziener, C.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Uschmann, I.;
By: Stobrawa, G.; Ziener, C.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Uschmann, I.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ziener, C.; Ziegler, W.;
By: Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ziener, C.; Ziegler, W.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Ziegler, W.; Schwoerer, H.; Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Bischoff, M.;
By: Ziegler, W.; Schwoerer, H.; Dusterer, S.; Sauerbrey, R.; Bischoff, M.;
Simultaneous UV/visible laser oscillation on the B → X and C → A XeF excimer transitions
1985 / IEEEBy: Nighan, W.; Emmert, F.; Nishida, N.; Wilson, W.; Tittel, F.; Yunping Zhu; Sauerbrey, R.;
2003 / IEEE / 1-55752-749-0
By: Wille, H.; Woste, L.; Rodriguez, M.; Sauerbrey, R.; Wolf, J.-P.; Salmon, E.; Kasparian, J.; Yu, J.; Kalkner, W.; Rethmeier, K.; Klingbeil, L.; Mysyrowicz, A.; Andre, Y.-B.; Fujii, T.;
By: Wille, H.; Woste, L.; Rodriguez, M.; Sauerbrey, R.; Wolf, J.-P.; Salmon, E.; Kasparian, J.; Yu, J.; Kalkner, W.; Rethmeier, K.; Klingbeil, L.; Mysyrowicz, A.; Andre, Y.-B.; Fujii, T.;
2003 / IEEE / 1-55752-749-0
By: Sauerbrey, R.; Forster, E.; Uschmann, I.; Podorov, S.; Nazarkin, A.;
By: Sauerbrey, R.; Forster, E.; Uschmann, I.; Podorov, S.; Nazarkin, A.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Galy, J.; Sauerbrey, R.; Ewald, F.; Schwoerer, H.; Schenkel, R.; Magill, J.;
By: Galy, J.; Sauerbrey, R.; Ewald, F.; Schwoerer, H.; Schenkel, R.; Magill, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7734-6
By: Perry, M.D.; Wintzer, W.; Ehrt, D.; Sauerbrey, R.; Kind, R.; Paunescu, G.; Hein, J.; Bodefeld, R.; Siebold, M.; Quednau, G.; Hellwing, M.; Topfer, T.; Podleska, S.;
By: Perry, M.D.; Wintzer, W.; Ehrt, D.; Sauerbrey, R.; Kind, R.; Paunescu, G.; Hein, J.; Bodefeld, R.; Siebold, M.; Quednau, G.; Hellwing, M.; Topfer, T.; Podleska, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7734-6
By: Rodriguez, M.; Woste, L.; Bourayou, R.; Sauerbrey, R.; Wolf, J.-P.; Salmon, E.; Yu, J.; Mejean, G.; Kasparian, J.; Hatzes, A.P.; Scholz, A.; Eisloffel, J.; Laux, U.; Stecklum, B.; Lehmann, H.; Mysyrowicz, A.; Andre, Y.-B.;
By: Rodriguez, M.; Woste, L.; Bourayou, R.; Sauerbrey, R.; Wolf, J.-P.; Salmon, E.; Yu, J.; Mejean, G.; Kasparian, J.; Hatzes, A.P.; Scholz, A.; Eisloffel, J.; Laux, U.; Stecklum, B.; Lehmann, H.; Mysyrowicz, A.; Andre, Y.-B.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Boutou, V.; Yu, J.; Salmon, E.; Mejean, G.; Kasparian, J.; Courvoisier, F.; Sauerbrey, R.; Bourayou, R.; Wolf, J.P.; Woste, L.; Rodriguez, M.;
By: Boutou, V.; Yu, J.; Salmon, E.; Mejean, G.; Kasparian, J.; Courvoisier, F.; Sauerbrey, R.; Bourayou, R.; Wolf, J.P.; Woste, L.; Rodriguez, M.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Magill, J.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ewald, F.; Galy, J.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Schenkel, R.;
By: Magill, J.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ewald, F.; Galy, J.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Schenkel, R.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Mysyrowicz, A.; Prade, B.; Tzortzakis, S.; Couairon, A.; Franco, M.; Salmon, E.; D'Amico, C.D.; Andre, Y.-B.; Mechain, G.; Sauerbrey, R.;
By: Mysyrowicz, A.; Prade, B.; Tzortzakis, S.; Couairon, A.; Franco, M.; Salmon, E.; D'Amico, C.D.; Andre, Y.-B.; Mechain, G.; Sauerbrey, R.;
2004 / IEEE / 1-55752-778-4
By: Amthor, K.-U.; Liesfeld, B.; Schenkel, R.; Galy, J.; Magill, J.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ewald, F.;
By: Amthor, K.-U.; Liesfeld, B.; Schenkel, R.; Galy, J.; Magill, J.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Ewald, F.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Amthor, K.-U.; Bernhardt, J.; Liesfeld, B.;
By: Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Amthor, K.-U.; Bernhardt, J.; Liesfeld, B.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Chemin, J.F.; Hannachi, F.; Sauerbrey, R.; Liesfeld, B.; Schwoerer, H.; Ewald, F.; Zagar, T.; Amthor, K.-U.; Skvarc, J.; Lengar, I.; Ledingham, K.; Magill, J.; Galy, J.;
By: Chemin, J.F.; Hannachi, F.; Sauerbrey, R.; Liesfeld, B.; Schwoerer, H.; Ewald, F.; Zagar, T.; Amthor, K.-U.; Skvarc, J.; Lengar, I.; Ledingham, K.; Magill, J.; Galy, J.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Ewald, F.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Ledingham, K.; Schwoerer, H.; McKenna, P.; Robson, L.; Sauerbrey, R.;
By: Ewald, F.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Ledingham, K.; Schwoerer, H.; McKenna, P.; Robson, L.; Sauerbrey, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-8974-3
By: Wintzer, W.; Ehrt, D.; Sauerbrey, R.; Bodefeld, R.; Hein, J.; Siebold, M.; Podleska, S.; Hellwing, M.;
By: Wintzer, W.; Ehrt, D.; Sauerbrey, R.; Bodefeld, R.; Hein, J.; Siebold, M.; Podleska, S.; Hellwing, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8974-3
By: Bourayou, R.; Frey, S.; Berge, L.; Ackermann, R.; Mejean, G.; Wolf, J.-P.; Bergman, V.; Woste, L.; Sauerbrey, R.; Kalkner, W.; Yu, J.; Weise, B.; Stelmazszyk, K.; Skupin, S.; Schaper, S.; Salmon, E.; Rohwetter, P.; Rodriguez, M.; Rethmeier, K.; Peschel, U.; Mechain, G.; Lederer, F.; Kumm, T.; Kasparian, J.;
By: Bourayou, R.; Frey, S.; Berge, L.; Ackermann, R.; Mejean, G.; Wolf, J.-P.; Bergman, V.; Woste, L.; Sauerbrey, R.; Kalkner, W.; Yu, J.; Weise, B.; Stelmazszyk, K.; Skupin, S.; Schaper, S.; Salmon, E.; Rohwetter, P.; Rodriguez, M.; Rethmeier, K.; Peschel, U.; Mechain, G.; Lederer, F.; Kumm, T.; Kasparian, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Bodefeld, R.; Hornung, M.; Sauerbrey, R.; Hein, J.; Schnepp, M.; Kaluza, M.C.; Podleska, S.; Siebold, M.;
By: Bodefeld, R.; Hornung, M.; Sauerbrey, R.; Hein, J.; Schnepp, M.; Kaluza, M.C.; Podleska, S.; Siebold, M.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Pfotenhauer, S.M.; Ledingham, K.W.D.; Sauerbrey, R.; Gibbon, P.; Polz, J.; Jackel, O.; Schwoerer, H.; Kaluza, M.C.; Schlenvoigt, H.-P.; Robinson, A.P.L.;
By: Pfotenhauer, S.M.; Ledingham, K.W.D.; Sauerbrey, R.; Gibbon, P.; Polz, J.; Jackel, O.; Schwoerer, H.; Kaluza, M.C.; Schlenvoigt, H.-P.; Robinson, A.P.L.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Ziegler, W.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Schwoerer, H.; Sauerbrey, R.; Jackel, O.; Pfotenhauer, S.; Esirkepov, T.; Ledingham, K.W.D.;
By: Ziegler, W.; Liesfeld, B.; Amthor, K.-U.; Schwoerer, H.; Sauerbrey, R.; Jackel, O.; Pfotenhauer, S.; Esirkepov, T.; Ledingham, K.W.D.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Amthor, K.-U.; Liesfeld, B.; Schlenvoigt, H.-P.;
By: Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Amthor, K.-U.; Liesfeld, B.; Schlenvoigt, H.-P.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Vartsky, D.; Sauerbrey, R.; Amthor, K.U.; Jackel, O.; Pfotenhauer, S.; Mor, I.; Debus, A.; Tittelmeier, K.; Dangendorf, V.; Lauck, R.;
By: Vartsky, D.; Sauerbrey, R.; Amthor, K.U.; Jackel, O.; Pfotenhauer, S.; Mor, I.; Debus, A.; Tittelmeier, K.; Dangendorf, V.; Lauck, R.;