Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Sato, A.
Results
2011 / IEEE
By: Munakata, M.; Sato, A.; Yabukami, S.; Shiokawa, T.; Takahashi, J.; Shimada, Y.; Yanagi, K.; Miyazawa, Y.; Ozawa, T.;
By: Munakata, M.; Sato, A.; Yabukami, S.; Shiokawa, T.; Takahashi, J.; Shimada, Y.; Yanagi, K.; Miyazawa, Y.; Ozawa, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Brates, N.; Sato, A.; Kushner, M.J.; Babaeva, N.Y.; Yamamoto, S.;
By: Brates, N.; Sato, A.; Kushner, M.J.; Babaeva, N.Y.; Yamamoto, S.;
2011 / IEEE / 978-1-936968-36-7
By: Fei Guo; Shinjo, Y.; Sato, A.; Taniuchi, T.; Matsuyama, T.; Kaneko, N.;
By: Fei Guo; Shinjo, Y.; Sato, A.; Taniuchi, T.; Matsuyama, T.; Kaneko, N.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2190-8
By: Masada, Y.; Sato, A.; Torii, T.; Iramina, K.; Iwahashi, M.; Nakahara, Y.;
By: Masada, Y.; Sato, A.; Torii, T.; Iramina, K.; Iwahashi, M.; Nakahara, Y.;
1992 / IEEE / 0-8186-2880-4
By: Takeuchi, H.; Tomobe, M.; Sato, A.; Yamanouchi, T.; Watanabe, M.; Takamura, J.;
By: Takeuchi, H.; Tomobe, M.; Sato, A.; Yamanouchi, T.; Watanabe, M.; Takamura, J.;
1994 / IEEE
By: Morishige, T.; Araki, T.; Wilson, B.; Ler, K.W.; Aoki, K.; Takeno, H.; Akiyama, T.; Senoh, T.; Aono, H.; Nakatani, S.; Sato, A.;
By: Morishige, T.; Araki, T.; Wilson, B.; Ler, K.W.; Aoki, K.; Takeno, H.; Akiyama, T.; Senoh, T.; Aono, H.; Nakatani, S.; Sato, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Sudo, Y.; Kobayashi, T.; Sato, A.; Tanaka, T.; Adachi, T.; Morimoto, T.; Kimura, K.; Kato, M.; Nishida, T.; Kume, H.;
By: Sudo, Y.; Kobayashi, T.; Sato, A.; Tanaka, T.; Adachi, T.; Morimoto, T.; Kimura, K.; Kato, M.; Nishida, T.; Kume, H.;
1994 / IEEE / 0-7803-2012-3
By: Sato, A.; Inaba, M.; Koda, T.; Nagata, Y.; Tsukahara, Y.; Nishino, H.; Cho, H.; Yamanaka, K.;
By: Sato, A.; Inaba, M.; Koda, T.; Nagata, Y.; Tsukahara, Y.; Nishino, H.; Cho, H.; Yamanaka, K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3136-2
By: Kobayashi, T.; Kawahara, T.; Kimura, K.; Kume, H.; Yugami, J.; Jyouno, Y.; Sato, A.; Kato, M.; Adachi, T.; Miyamoto, N.; Saeki, S.;
By: Kobayashi, T.; Kawahara, T.; Kimura, K.; Kume, H.; Yugami, J.; Jyouno, Y.; Sato, A.; Kato, M.; Adachi, T.; Miyamoto, N.; Saeki, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2940-6
By: Sato, H.; Cho, H.; Yamanaka, K.; Nakano, S.; Tsukahara, Y.; Takemoto, M.; Sato, A.; Inaba, M.; Nishino, H.;
By: Sato, H.; Cho, H.; Yamanaka, K.; Nakano, S.; Tsukahara, Y.; Takemoto, M.; Sato, A.; Inaba, M.; Nishino, H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2495-1
By: Galbi, D.; Bird, E.; Bose, S.; Chai, E.; Yen-Ning Chang; Dermy, P.; Fernando, N.; Fritsch, J.-G.; Hamilton, E.; Hu, B.; Hua, E.; Liao, F.; Ming Lin; Ming Ma; Paluch, E.; Purcell, S.; Yanagi, H.; Sun Yang; Chow, M.; Fujii, T.; Fujiwara, A.; Goto, H.; Ihara, K.; Isozaki, S.; Jao, J.; Kaneda, I.; Koyama, M.; Mineo, T.; Miyashita, I.; Ono, G.; Otake, S.; Sato, A.; Sato, H.; Sugiyama, A.; Tagami, K.; Tsuge, K.; Udagawa, T.; Yamasaki, K.; Yasura, S.; Yoshimura, T.;
By: Galbi, D.; Bird, E.; Bose, S.; Chai, E.; Yen-Ning Chang; Dermy, P.; Fernando, N.; Fritsch, J.-G.; Hamilton, E.; Hu, B.; Hua, E.; Liao, F.; Ming Lin; Ming Ma; Paluch, E.; Purcell, S.; Yanagi, H.; Sun Yang; Chow, M.; Fujii, T.; Fujiwara, A.; Goto, H.; Ihara, K.; Isozaki, S.; Jao, J.; Kaneda, I.; Koyama, M.; Mineo, T.; Miyashita, I.; Ono, G.; Otake, S.; Sato, A.; Sato, H.; Sugiyama, A.; Tagami, K.; Tsuge, K.; Udagawa, T.; Yamasaki, K.; Yasura, S.; Yoshimura, T.;
1996 / IEEE
By: Oshima, N.; Sato, A.; Momose, S.; Aoyagi, T.; Kawahara, H.; Sakairi, T.; Tsukamoto, Y.; Baba, K.;
By: Oshima, N.; Sato, A.; Momose, S.; Aoyagi, T.; Kawahara, H.; Sakairi, T.; Tsukamoto, Y.; Baba, K.;
1996 / IEEE
By: Kato, M.; Adachi, T.; Miyamoto, N.; Saeki, S.-i.; Jyouno, Y.; Sato, A.; Kawahara, T.; Kimura, K.; Kobayashi, T.; Kume, H.; Yugami, J.;
By: Kato, M.; Adachi, T.; Miyamoto, N.; Saeki, S.-i.; Jyouno, Y.; Sato, A.; Kawahara, T.; Kimura, K.; Kobayashi, T.; Kume, H.; Yugami, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3376-4
By: Komatsuzaki, T.; Nakamura, Y.; Iwasa, A.; Fukushima, A.; Sakamoto, Y.; Sato, A.;
By: Komatsuzaki, T.; Nakamura, Y.; Iwasa, A.; Fukushima, A.; Sakamoto, Y.; Sato, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1453-0
By: Akiyama, T.; Aono, H.; Senoh, T.; Horiike, K.; Nakatani, S.; Sato, A.; Boon, C.; Takeno, H.; Takahashi, T.; Araki, T.; Wilson, B.; Ler, K.W.; Aoki, K.;
By: Akiyama, T.; Aono, H.; Senoh, T.; Horiike, K.; Nakatani, S.; Sato, A.; Boon, C.; Takeno, H.; Takahashi, T.; Araki, T.; Wilson, B.; Ler, K.W.; Aoki, K.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Nakamura, S.; Sasaki, N.; Suzuki, R.; Kurahashi, T.; Sato, A.; Kobayashi, M.; Minakata, H.; Hatada, A.; Kosugi, M.;
By: Nakamura, S.; Sasaki, N.; Suzuki, R.; Kurahashi, T.; Sato, A.; Kobayashi, M.; Minakata, H.; Hatada, A.; Kosugi, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Miura, A.; Kurata, H.; Katayama, A.; Sato, A.; Mastsuzaki, N.; Kobayashi, T.; Mine, T.; Kure, T.; Kimura, K.; Kume, H.; Morimoto, T.; Goto, Y.;
By: Miura, A.; Kurata, H.; Katayama, A.; Sato, A.; Mastsuzaki, N.; Kobayashi, T.; Mine, T.; Kure, T.; Kimura, K.; Kume, H.; Morimoto, T.; Goto, Y.;
1999 / IEEE / 0-9651577-3-3
By: Sato, A.; Iida, H.; Noguchi, K.; Samukawa, S.; Ohtake, H.; Xue-yu Qian;
By: Sato, A.; Iida, H.; Noguchi, K.; Samukawa, S.; Ohtake, H.; Xue-yu Qian;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Koike, M.; Wang, D.; Namihira, T.; Tsukamoto, S.; Katsuki, S.; Uchida, Y.; Sato, A.; Nakashima, E.; Akiyama, H.;
By: Koike, M.; Wang, D.; Namihira, T.; Tsukamoto, S.; Katsuki, S.; Uchida, Y.; Sato, A.; Nakashima, E.; Akiyama, H.;
2000 / IEEE / 0-7695-0571-6
By: Masuoka, R.; Tanaka, K.; Sugasaka, T.; Maruyama, F.; Kitajima, H.; Sato, A.;
By: Masuoka, R.; Tanaka, K.; Sugasaka, T.; Maruyama, F.; Kitajima, H.; Sato, A.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: Morikado, M.; Sato, M.; Asao, Y.; Aochi, H.; Kajiyama, T.; Hamamoto, T.; Miyawaki, N.; Watanabe, S.; Koyama, H.; Sakuma, M.; Kido, M.; Sato, A.; Kito, M.; Hosotani, K.; Ishibashi, S.; Sugimae, K.;
By: Morikado, M.; Sato, M.; Asao, Y.; Aochi, H.; Kajiyama, T.; Hamamoto, T.; Miyawaki, N.; Watanabe, S.; Koyama, H.; Sakuma, M.; Kido, M.; Sato, A.; Kito, M.; Hosotani, K.; Ishibashi, S.; Sugimae, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: Suzuki, T.; Sato, A.; Fukuzumi, Y.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Tomita, H.; Kurahashi, T.; Shimada, A.; Minakata, H.; Nakabayashi, M.; Lin, J.; Fukuda, M.; Tsunoda, K.; Nakamura, K.; Hatada, A.; Ishibashi, Y.;
By: Suzuki, T.; Sato, A.; Fukuzumi, Y.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Tomita, H.; Kurahashi, T.; Shimada, A.; Minakata, H.; Nakabayashi, M.; Lin, J.; Fukuda, M.; Tsunoda, K.; Nakamura, K.; Hatada, A.; Ishibashi, Y.;
2001 / IEEE / 0-7803-6608-5
By: Noda, S.; Manita, K.; Sato, H.; Oshima, K.; Ishii, T.; Hosogane, A.; Nakayama, T.; Koda, K.; Kishimoto, J.; Kubano, S.; Sato, A.; Takaheshi, M.; Kato, M.; Yoshitake, T.; Furusawa, K.; Nozoe, A.; Kotani, H.;
By: Noda, S.; Manita, K.; Sato, H.; Oshima, K.; Ishii, T.; Hosogane, A.; Nakayama, T.; Koda, K.; Kishimoto, J.; Kubano, S.; Sato, A.; Takaheshi, M.; Kato, M.; Yoshitake, T.; Furusawa, K.; Nozoe, A.; Kotani, H.;
2001 / IEEE
By: Hackam, R.; Katsuki, S.; Douyan Wang; Namihira, T.; Akiyama, H.; Tsukamoto, S.; Koike, M.; Uchida, Y.; Sato, A.;
By: Hackam, R.; Katsuki, S.; Douyan Wang; Namihira, T.; Akiyama, H.; Tsukamoto, S.; Koike, M.; Uchida, Y.; Sato, A.;
2001 / IEEE
By: Wada, H.; Yoshikawa, M.; Matsumoto, S.; Itoh, K.; Takeuchi, T.; Sato, A.; Kiyoshi, T.; Hirose, R.; Kawate, Y.; Hayashi, S.; Hamada, M.; Ozaki, O.; Hase, T.; Miki, T.; Ito, S.; Kamikado, T.;
By: Wada, H.; Yoshikawa, M.; Matsumoto, S.; Itoh, K.; Takeuchi, T.; Sato, A.; Kiyoshi, T.; Hirose, R.; Kawate, Y.; Hayashi, S.; Hamada, M.; Ozaki, O.; Hase, T.; Miki, T.; Ito, S.; Kamikado, T.;
2001 / IEEE / 0-7803-6591-7
By: Miyano, S.; Ohkubo, T.; Nakayama, A.; Kaneko, T.; Haga, R.; Amano, T.; Andou, T.; Takenaka, H.; Tazawa, M.; Mimoto, K.; Kouchi, T.; Sato, A.; Hojo, T.; Koinuma, H.; Numata, K.;
By: Miyano, S.; Ohkubo, T.; Nakayama, A.; Kaneko, T.; Haga, R.; Amano, T.; Andou, T.; Takenaka, H.; Tazawa, M.; Mimoto, K.; Kouchi, T.; Sato, A.; Hojo, T.; Koinuma, H.; Numata, K.;
2001 / IEEE
By: Matsubara, T.; Ishihara, K.; Sato, A.; Ohashi, K.; Ishiwata, N.; Tsuge, H.; Mitsuzuka, T.;
By: Matsubara, T.; Ishihara, K.; Sato, A.; Ohashi, K.; Ishiwata, N.; Tsuge, H.; Mitsuzuka, T.;
2001 / IEEE
By: Kubono, S.; Manita, K.; Takahashi, M.; Kato, M.; Yoshitake, T.; Furusawa, K.; Sato, A.; Nozoe, A.; Kotani, H.; Kishimoto, J.; Noda, S.; Sato, H.; Oshima, K.; Ishii, T.; Hosogane, A.; Nakayama, T.; Koda, K.;
By: Kubono, S.; Manita, K.; Takahashi, M.; Kato, M.; Yoshitake, T.; Furusawa, K.; Sato, A.; Nozoe, A.; Kotani, H.; Kishimoto, J.; Noda, S.; Sato, H.; Oshima, K.; Ishii, T.; Hosogane, A.; Nakayama, T.; Koda, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-6520-8
By: Hatada, A.; Sato, A.; Kurahashi, T.; Fukuda, M.; Fukuzumi, Y.; Tsunoda, K.; Shimada, A.; Minakata, H.; Suzuki, T.; Lin, J.; Shiah, C.M.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Nakabayashi, M.; Suzuki, R.; Chu, C.M.; Liu, W.C.; Ito, E.; Nishikawa, N.; Tomita, H.; Ishibashi, Y.; Sun, P.H.;
By: Hatada, A.; Sato, A.; Kurahashi, T.; Fukuda, M.; Fukuzumi, Y.; Tsunoda, K.; Shimada, A.; Minakata, H.; Suzuki, T.; Lin, J.; Shiah, C.M.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Nakabayashi, M.; Suzuki, R.; Chu, C.M.; Liu, W.C.; Ito, E.; Nishikawa, N.; Tomita, H.; Ishibashi, Y.; Sun, P.H.;
2002 / IEEE
By: Ahn, J.K.; Akikawa, H.; Yoshida, M.; Yokkaichi, S.; Yamamoto, K.; Torii, H.; Trusty, P.; Takeutchi, F.; Tabaru, T.; Sim, K.S.; Sato, H.D.; Sato, A.; Ozawa, K.; Nakazawa, K.; Nakai, K.; Mihara, S.; Masaike, A.; Lee, J.M.; Kreslo, I.E.; Kozarenko, E.N.; Kondo, Y.; Kim, Y.D.; Kanda, H.; Ishino, M.; Imai, K.; Ieiri, M.; Ichikawa, A.; Arvieux, J.; Bassalleck, B.; Chung, M.S.; En'yo, H.; Fukuda, T.; Funahashi, H.; Golovkin, S.V.; Gorin, A.M.; Goto, Y.; Hanabata, M.; Hayakawa, T.;
By: Ahn, J.K.; Akikawa, H.; Yoshida, M.; Yokkaichi, S.; Yamamoto, K.; Torii, H.; Trusty, P.; Takeutchi, F.; Tabaru, T.; Sim, K.S.; Sato, H.D.; Sato, A.; Ozawa, K.; Nakazawa, K.; Nakai, K.; Mihara, S.; Masaike, A.; Lee, J.M.; Kreslo, I.E.; Kozarenko, E.N.; Kondo, Y.; Kim, Y.D.; Kanda, H.; Ishino, M.; Imai, K.; Ieiri, M.; Ichikawa, A.; Arvieux, J.; Bassalleck, B.; Chung, M.S.; En'yo, H.; Fukuda, T.; Funahashi, H.; Golovkin, S.V.; Gorin, A.M.; Goto, Y.; Hanabata, M.; Hayakawa, T.;
2002 / IEEE
By: Yoshikawa, M.; Kamikado, T.; Fukushima, K.; Ozaki, O.; Wada, H.; Matsumoto, S.; Itoh, K.; Takeuchi, T.; Sato, A.; Kiyoshi, T.; Hirose, R.; Kawate, Y.; Hayashi, S.; Hamada, M.; Hase, T.; Miki, T.; Ito, S.;
By: Yoshikawa, M.; Kamikado, T.; Fukushima, K.; Ozaki, O.; Wada, H.; Matsumoto, S.; Itoh, K.; Takeuchi, T.; Sato, A.; Kiyoshi, T.; Hirose, R.; Kawate, Y.; Hayashi, S.; Hamada, M.; Hase, T.; Miki, T.; Ito, S.;
2002 / IEEE
By: Hayashi, S.; Kawate, Y.; Hamada, A.; Yoshikawa, M.; Miki, T.; Ito, S.; Sato, A.; Fukui, S.; Wada, H.; Noguchi, T.; Nagai, H.; Matsumoto, F.; Kiyoshi, I.;
By: Hayashi, S.; Kawate, Y.; Hamada, A.; Yoshikawa, M.; Miki, T.; Ito, S.; Sato, A.; Fukui, S.; Wada, H.; Noguchi, T.; Nagai, H.; Matsumoto, F.; Kiyoshi, I.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Yoshida, J.; Nakae, M.; Kimura, T.; Shimizu, T.; Matsuura, H.; Sato, A.; Iizuka, S.;
By: Yoshida, J.; Nakae, M.; Kimura, T.; Shimizu, T.; Matsuura, H.; Sato, A.; Iizuka, S.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap