Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sakao, M.
Results
1992 / IEEE
By: Saeki, T.; Sakao, M.; Kunio, T.; Shibahara, K.; Hada, H.; Kasai, N.; Tanigawa, T.; Ishijima, T.; Takada, M.; Aimoto, Y.; Koike, H.; Takeshima, T.; Tanabe, A.; Okuda, T.; Koyama, K.; Murotani, T.; Ohya, S.; Nozue, H.; Miyamoto, H.;
By: Saeki, T.; Sakao, M.; Kunio, T.; Shibahara, K.; Hada, H.; Kasai, N.; Tanigawa, T.; Ishijima, T.; Takada, M.; Aimoto, Y.; Koike, H.; Takeshima, T.; Tanabe, A.; Okuda, T.; Koyama, K.; Murotani, T.; Ohya, S.; Nozue, H.; Miyamoto, H.;
1992 / IEEE / 0-7803-0573-6
By: Murotani, T.; Koyama, K.; Nozue, H.; Miyamoto, H.; Sakao, M.; Saeki, T.; Tanigawa, T.; Kunio, T.; Ohya, S.; Shibahara, K.; Hada, H.; Kasai, N.; Ishijima, T.; Takada, M.; Aimoto, Y.; Takeshima, T.; Tanabe, A.; Koike, H.; Okuda, T.;
By: Murotani, T.; Koyama, K.; Nozue, H.; Miyamoto, H.; Sakao, M.; Saeki, T.; Tanigawa, T.; Kunio, T.; Ohya, S.; Shibahara, K.; Hada, H.; Kasai, N.; Ishijima, T.; Takada, M.; Aimoto, Y.; Takeshima, T.; Tanabe, A.; Koike, H.; Okuda, T.;
1993 / IEEE
By: Yamashita, Y.; Machida, H.; Furutani, K.; Yasuda, K.; Ando, H.; Nakashima, H.; Nakaya, M.; Sakao, M.; Nakajima, K.; Takeda, Y.;
By: Yamashita, Y.; Machida, H.; Furutani, K.; Yasuda, K.; Ando, H.; Nakashima, H.; Nakaya, M.; Sakao, M.; Nakajima, K.; Takeda, Y.;
1990 / IEEE
By: Terada, K.; Watanabe, H.; Ikawa, E.; Ishijima, T.; Kasai, N.; Sakao, M.; Kikkawa, T.;
By: Terada, K.; Watanabe, H.; Ikawa, E.; Ishijima, T.; Kasai, N.; Sakao, M.; Kikkawa, T.;
1993 / IEEE
By: Hinata, J.; Nishiwaki, Y.; Shirai, K.; Fujioka, I.; Shimotsuma, Y.; Shimizu, T.; Shimazu, Y.; Saito, Y.; Sakao, M.;
By: Hinata, J.; Nishiwaki, Y.; Shirai, K.; Fujioka, I.; Shimotsuma, Y.; Shimizu, T.; Shimazu, Y.; Saito, Y.; Sakao, M.;
1994 / IEEE
By: Nakao, H.; Matsumoto, H.; Miyanishi, A.; Hishimaki, H.; Kitada, O.; Tsujihashi, Y.; Sakao, M.; Kayano, S.; Iwade, S.;
By: Nakao, H.; Matsumoto, H.; Miyanishi, A.; Hishimaki, H.; Kitada, O.; Tsujihashi, Y.; Sakao, M.; Kayano, S.; Iwade, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Sakoh, T.; Takaishi, Y.; Komuro, M.; Sakao, M.; Yoshida, K.; Okonogi, K.; Saino, K.; Horiba, S.; Koyama, K.;
By: Sakoh, T.; Takaishi, Y.; Komuro, M.; Sakao, M.; Yoshida, K.; Okonogi, K.; Saino, K.; Horiba, S.; Koyama, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Takai, Y.; Fujita, M.; Okuda, T.; Kobayashi, Y.; Koyama, K.; Yamaguchi, H.; Hashimoto, T.; Miyamoto, H.; Tanabe, H.; Igeta, M.; Olkawa, T.; Nakanishi, N.; Sekine, J.; Takada, Y.; Uchiyama, S.; Saino, K.; Sakoh, T.; Uchida, T.; Komuro, M.; Matsuo, M.; Takaishi, Y.; Fukase, T.; Horiba, S.; Nagata, K.; Isa, S.; Nakazawa, S.; Hirobe, A.; Ohkubo, H.; Sakao, M.;
By: Takai, Y.; Fujita, M.; Okuda, T.; Kobayashi, Y.; Koyama, K.; Yamaguchi, H.; Hashimoto, T.; Miyamoto, H.; Tanabe, H.; Igeta, M.; Olkawa, T.; Nakanishi, N.; Sekine, J.; Takada, Y.; Uchiyama, S.; Saino, K.; Sakoh, T.; Uchida, T.; Komuro, M.; Matsuo, M.; Takaishi, Y.; Fukase, T.; Horiba, S.; Nagata, K.; Isa, S.; Nakazawa, S.; Hirobe, A.; Ohkubo, H.; Sakao, M.;
1993 / IEEE
By: Sakao, M.; Takaishi, Y.; Kajiyana, K.; Akimoto, K.; Oguro, S.; Ohya, S.; Shishiguchi, S.;
By: Sakao, M.; Takaishi, Y.; Kajiyana, K.; Akimoto, K.; Oguro, S.; Ohya, S.; Shishiguchi, S.;
2000 / IEEE
By: Okuda, T.; Kobayashi, Y.; Koyama, K.; Yamaguchi, H.; Hashimoto, T.; Miyamoto, H.; Tanabe, H.; Igeta, M.; Oikawa, T.; Nakanishi, N.; Sekine, J.; Takada, Y.; Uchiyama, S.; Saino, K.; Sakoh, T.; Uchida, T.; Komuro, M.; Matsuo, M.; Takaishi, Y.; Fukase, T.; Horiba, S.; Sakao, M.; Ohkubo, H.; Hirobe, A.; Nakazawa, S.; Isa, S.; Nagata, K.; Fujita, M.; Takai, Y.;
By: Okuda, T.; Kobayashi, Y.; Koyama, K.; Yamaguchi, H.; Hashimoto, T.; Miyamoto, H.; Tanabe, H.; Igeta, M.; Oikawa, T.; Nakanishi, N.; Sekine, J.; Takada, Y.; Uchiyama, S.; Saino, K.; Sakoh, T.; Uchida, T.; Komuro, M.; Matsuo, M.; Takaishi, Y.; Fukase, T.; Horiba, S.; Sakao, M.; Ohkubo, H.; Hirobe, A.; Nakazawa, S.; Isa, S.; Nagata, K.; Fujita, M.; Takai, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5410-9
By: Takeuchi, M.; Taguwa, T.; Kubota, R.; Inoue, K.; Hamada, M.; Kishi, S.; Shirakawa, I.; Nagai, N.; Yamamoto, T.; Sakao, M.; Urabe, K.; Mikagi, K.; Koyanagi, K.; Onishi, S.; Kitamura, H.; Yamaguchi, H.; Kawamoto, H.; Abiko, H.;
By: Takeuchi, M.; Taguwa, T.; Kubota, R.; Inoue, K.; Hamada, M.; Kishi, S.; Shirakawa, I.; Nagai, N.; Yamamoto, T.; Sakao, M.; Urabe, K.; Mikagi, K.; Koyanagi, K.; Onishi, S.; Kitamura, H.; Yamaguchi, H.; Kawamoto, H.; Abiko, H.;
2001 / IEEE / 4-89114-012-7
By: Aoki, Y.; Inoue, K.; Takeuchi, M.; Kishi, S.; Kubota, R.; Hamada, M.; Sakao, M.; Shirai, H.; Yamamoto, T.; Iizuka, T.; Arai, S.; Kitamura, T.; Sakoh, T.;
By: Aoki, Y.; Inoue, K.; Takeuchi, M.; Kishi, S.; Kubota, R.; Hamada, M.; Sakao, M.; Shirai, H.; Yamamoto, T.; Iizuka, T.; Arai, S.; Kitamura, T.; Sakoh, T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Aoki, Y.; Noda, K.; Shirai, H.; Sakoh, T.; Kitamura, T.; Arai, S.; Sakao, M.; Inoue, K.; Takeuchi, M.; Sugimura, H.; Hamada, M.; Wake, T.; Naritake, I.; Iizuka, T.; Yamamoto, T.; Ando, K.; Ueda, T.;
By: Aoki, Y.; Noda, K.; Shirai, H.; Sakoh, T.; Kitamura, T.; Arai, S.; Sakao, M.; Inoue, K.; Takeuchi, M.; Sugimura, H.; Hamada, M.; Wake, T.; Naritake, I.; Iizuka, T.; Yamamoto, T.; Ando, K.; Ueda, T.;
A new soft-error immune DRAM cell with a transistor on a lateral epitaxial silicon layer (TOLE cell)
1987 / IEEEBy: Sakao, M.; Ishijima, T.; Kubota, T.; Kitajima, H.; Hamaguchi, T.; Terada, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0076-7
By: Inoue, K.; Wake, T.; Arai, S.; Sugimura, H.; Sakoh, T.; Yamagata, Y.; Tanigawa, T.; Shirai, H.; Sakao, M.;
By: Inoue, K.; Wake, T.; Arai, S.; Sugimura, H.; Sakoh, T.; Yamagata, Y.; Tanigawa, T.; Shirai, H.; Sakao, M.;